CN113447064A - 一种校准方法和电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种校准方法和电子设备，其方法包括：建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。本发明简化传感器校准流程，并且提高传感器校准精度。
Description
技术领域
本发明涉及数据处理技术领域，尤指一种校准方法和电子设备。
背景技术
传感器是电子产品中重要的元器件，而传感器通常都存在精度要求，所以在电子产品运行过程中需要时常进行校准传感器，以保证传感器的精度满足精度要求。
而不同电子产品(不同品牌、不同型号的)的结构设计不同，相应地，传感器在不同电子产品中的放置位置也存在差异，进而带来校准数据的差异。因而只要是具有不同结构设计的电子产品，即使包含的传感器是相同型号，也需要对应进行传感器校准。
现有技术只能进行简单的校准，由于电子产品中的待校准传感器与处理器是相互独立的，因此现有技术中对电子产品中待校准传感器的校准流程比较复杂，并且校准精度不高。
发明内容
本发明的目的是提供一种校准方法和电子设备，实现解决简化传感器校准流程，并且提高传感器校准精度的目的。
本发明提供的技术方案如下：
本发明提供一种校准方法，包括步骤：
建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
进一步的，所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据包括步骤：
通过所述校准应用程序获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据，并传递所述测量数值至所述处理器；
所述处理器根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
进一步的，所述处理器根据接收的测量数据生成对应的校准数据包括步骤：
所述处理器按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
所述处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算；
所述处理器根据均值计算结果得到校准数据。
进一步的，所述处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果包括步骤：
所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准；
所述待校准传感器在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，传递所述测试结果至所述处理器；
所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；
在差值计算结果大于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准失败；
在差值计算结果小于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准成功。
进一步的，处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果之后包括步骤：
所述处理器将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
本发明还提供一种电子设备，包括：校准应用程序、处理器和待校准传感器；
所述校准应用程序包括应用接口，待校准传感器包括运行测试接口；所述校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接；所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器连接；
所述校准应用程序，用于触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
所述处理器，用于根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
进一步的，所述校准应用程序包括：输入模块；所述待校准传感器包括测量模块；
输入模块，用于获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
所述应用接口，用于通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
所述测量模块，用于根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据；
所述运行测试接口，用于传递所述测量数值至所述处理器；
所述处理器，还用于根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
进一步的，所述处理器包括：
获取模块，用于按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
计算模块，用于将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算，根据均值计算结果得到校准数据。
进一步的，所述处理器还包括：处理模块；
所述处理器，还用于发送所述校准数据至所述运行测试接口；
所述测量模块，还用于根据所述校准数据进行校准，并在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果；
所述运行测试接口，还用于传递所述测试结果至所述处理器；
所述处理模块，用于将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；在差值计算结果大于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准失败；在差值计算结果小于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准成功。
进一步的，所述处理器，还用于将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
通过本发明提供的一种校准方法和电子设备，能够简化传感器校准流程，并且提高传感器校准精度。
附图说明
下面将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施方式，对一种校准方法和电子设备的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是本发明一种校准方法的一个实施例的流程图；
图2是本发明一种校准方法的另一个实施例的流程图；
图3是本发明一种校准方法的另一个实施例的流程图；
图4是本发明一种校准方法的另一个实施例的流程图；
图5是本发明一种电子设备的一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本申请实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其他实施例中也可以实现本申请。在其他情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所述描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或集合的存在或添加。
为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。
还应当进一步理解，在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
另外，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。
本发明的一个实施例，如图1所示，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
具体的，待校准传感器包括但是不限于陀螺仪、距离传感器、光传感器、激光雷达等等测距传感器，还包括温度传感器、压力传感器、湿度传感器、陀螺仪等等。运行测试接口是指待校准传感器的runtest接口。电子设备中包括处理器和待校准传感器，此外，电子设备可安装运行校准应用程序。这样，电子设备中的校准应用程序与处理器通过无线方式建立连接，待校准传感器与处理器通过有线或者无线方式建立连接，并且，校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间建立通信连接。
示例性的，待校准传感器使用了runtest接口与处理器(例如ADSP芯片)取得通讯连接，runtest接口包括sensor_open，sensor_write()，sensor_close()接口。
S200所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
S300处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
本发明自行提供一个校准应用程序，通过电子设备提供的应用接口，与待校准传感器的运行测试接口进行通讯联系，然后，电子设备在运行测试接口下启动校准线程，通过运行测试接口获取待校准传感器在校准线程过程中进行测试得到的校准数据，然后，电子设备根据校准数据对待校准传感器进行校准并且获得待校准传感器对应的校准结果。
本发明的一个实施例，如图2所示，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
S210通过所述校准应用程序获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
具体的，本实施例是上述实施例的优化实施例，本实施例中与上述实施例相同的部分参见上述实施例，在此不再一一赘述。本发明需要定义校准类型，以及预先储存实现校准类型相应的流程和方法。例如：添加sns_ddf_test_e也就是校准类型信息的定义如下：
SNS_DDF_TEST_PS_25CM，/**<ps_25cm校准*/
SNS_DDF_TEST_PS_CROSS，/**<无障碍校准*/
S220所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
S230所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据，并传递所述测量数值至所述处理器；
S240所述处理器根据接收的测量数据得到对应的校准数据；
具体的，校准应用程序提供一个人机交互界面，用于获取校准输入参数以发起校准流程，传感器类型信息包括上述温度传感器、湿度传感器、测距传感器等。校准类型信息是根据传感器类型来设定的。例如，对于距离传感器而言，校准类型包括无障碍校准、距离10cm校准以及距离25cm校准等自定义校准(即设定测量参照物与电子设备之间的距离作为预设距离)。
通过所述校准应用程序获取到校准输入参数之后，校准应用程序把校准输入参数传递给处理器，再由处理器根据传感器类型信息，将所述校准输入参数传递给对应传感器的运行测试接口。然后，待校准传感器根据所述校准类型信息对应的测试流程，控制自身进行测得到对应的测量数据，待校准传感器将所述测量数值发送给所述处理器。处理器根据接收的测量数据进行判断分析判断得到对应的校准数据。
例如，通过校准应用程序发起校准的方法为通过调用校准Native方法。
校准Native方法：
a)该native方法需要获取的校准输入参数为：校准的传感器类型信息(光传感器，距离传感器等)，校准类型信息(自定义，如距离25cm校准，无障碍校准)。
b)该native方法使用了sensor_open，sensor_write()，sensor_close()接口与处理器建立通讯，进而将上层的校准应用程序发下来的校准输入参数，也就是校准应用程序获取的校准输入参数传递到具体待校准传感器所对应的runtest接口处。
S300处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
本发明的一个实施例，如图3所示，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
S210通过所述校准应用程序获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
S220所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
S230所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据，并传递所述测量数值至所述处理器；
S241所述处理器按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
S242所述处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算；
S243所述处理器根据均值计算结果得到校准数据；
具体的，本实施例是上述实施例的优化实施例，本实施例中与上述实施例相同的部分参见上述实施例，在此不再一一赘述。由于处理器通过校准应用程序获取到校准输入参数，因此处理器能够知道需要进行什么类型的校准，校准的传感器类型。并且，处理器还可以启动线程获取待校准传感器的测量数据，根据测量数据对待校准传感器进行相应的校准。然后，处理器按照预设时间间隔(例如5s或者10s)周期性，通过所述运行测试接口从待校准传感器处获取到测量数据，处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算，进而根据均值计算结果得到校准数据。
示例性的，处理器实现对应待校准传感器例如距离传感器，选择的校准类型为SNS_DDF_TEST_PS_25CM(即上述实施例中的距离25cm校准)的简单流程如下：处理器开启线程间隔周期性获取距离传感器的距离值(即本发明测量数据的一种)，将距离值去除最大值和最小值，然后，处理器将其他距离值进行取平均值计算，根据距离平均值与25cm进行比较，根据比较结果就可以得到对应的校准数据。
S300处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
本发明的一个实施例，如图4所示，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
S200所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据；
S310所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准；
S320所述待校准传感器在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，传递所述测试结果至所述处理器；
S330所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；
S340在差值计算结果大于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准失败；
S350在差值计算结果小于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准成功。
具体的，本实施例是上述实施例的优化实施例，本实施例中与上述实施例相同的部分参见上述实施例，在此不再一一赘述。处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器从运行测试接口处获取校准数据，并且待校准传感器根据获取到的校准数据进行校准。待校准传感器在根据校准数据完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，然后，待校准传感器通过运行测试接口将测试结果发送给处理器。处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算，如果差值计算结果大于预设阈值时，处理器确定所述校准结果为校准失败，如果差值计算结果小于预设阈值时，处理器确定所述校准结果为校准成功。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
本发明的一个实施例，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
S200所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据；
S300处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果；
S400所述处理器将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
具体的，本实施例是上述实施例的优化实施例，本实施例中与上述实施例相同的部分参见上述实施例，在此不再一一赘述。处理器将获取的校准结果和校准数据，通过sns_ddf_smgr_notify_test_complete_with_data()，以及sns_ddf_smgr_notify_event()返回到上述native方法中，也就是返回到校准应用程序的应用接口。本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。而且，校准应用程序可以通过所提供的人机交互界面进行显示待校准传感器对应的校准数据和校准结果，有利于直观、方便查看待校准传感器的校准情况，进而决定是否重新发起新的校准，简化了查阅。
本发明的一个实施例，一种校准方法，包括：
S100建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
S200所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据；
S310所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准；
S320所述待校准传感器在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，传递所述测试结果至所述处理器；
S330所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；
S340在差值计算结果大于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准失败；
S350在差值计算结果小于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准成功；
S400所述处理器将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
具体的，本实施例是上述实施例的优化实施例，本实施例中与上述实施例相同的部分参见上述实施例，在此不再一一赘述。
示例性的，通过在所述电子设备下载安装一校准应用程序，再提供具有测量参照物(例如挡板、手等)，进而通过距离传感器检测电子设备与测量参照物之间的距离值，由处理器根据距离值及所述预设距离计算得到校准数据，从而将所述校准数据写入所述电子设备，将校准方法加入每台电子设备测试或制造过程，能够无需外围设备的情况下自动检测校准，成本低效率高。
本发明自行实现了距离传感器校准应用程序，以及通过高通平台提供的接口，与测距传感器的runtest接口进行通讯联系，然后通过runtest接口启动校准线程，对距离传感器进行无障碍校准和25CM校准。
示例性的，通过在所述电子设备下载安装一校准应用程序，再提供具有所述预设光强值且对应照射所述光传感器的测试光源，进而通过光传感器检测其被测试光源照射时光照强度，由处理器根据光照强度及所述预设光强值计算得到校准数据，从而将所述校准数据写入所述电子设备，将校准方法加入每台电子设备测试或制造过程，能够无需外围设备的情况下自动检测校准，成本低效率高。
本发明的一个实施例，一种电子设备，如图5所示，包括：校准应用程序、处理器和待校准传感器；
所述校准应用程序包括应用接口，待校准传感器包括运行测试接口；所述校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接；所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器连接；
所述校准应用程序，用于触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
所述处理器，用于根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
具体的，待校准传感器包括但是不限于陀螺仪、距离传感器、光传感器、激光雷达等等测距传感器，还包括温度传感器、压力传感器、湿度传感器、陀螺仪等等。运行测试接口是指待校准传感器的runtest接口。电子设备中包括处理器和待校准传感器，此外，电子设备可安装运行校准应用程序。这样，电子设备中的校准应用程序与处理器通过无线方式建立连接，待校准传感器与处理器通过有线或者无线方式建立连接，并且，校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间建立通信连接。
示例性的，待校准传感器使用了runtest接口与处理器(例如ADSP芯片)取得通讯连接，runtest接口包括sensor_open，sensor_write()，sensor_close()接口。
本发明自行提供一个校准应用程序，通过电子设备提供的应用接口，与待校准传感器的运行测试接口进行通讯联系，然后，电子设备在运行测试接口下启动校准线程，通过运行测试接口获取待校准传感器在校准线程过程中进行测试得到的校准数据，然后，电子设备根据校准数据对待校准传感器进行校准并且获得待校准传感器对应的校准结果。
基于前述实施例，所述校准应用程序包括：输入模块；所述待校准传感器包括测量模块；
输入模块，用于获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
所述应用接口，用于通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
所述测量模块，用于根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据；
所述运行测试接口，用于传递所述测量数值至所述处理器；
所述处理器，还用于根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
具体的，本发明需要定义校准类型，以及预先储存实现校准类型相应的流程和方法。例如：添加sns_ddf_test_e也就是校准类型信息的定义如下：
SNS_DDF_TEST_PS_25CM，/**<ps_25cm校准*/
SNS_DDF_TEST_PS_CROSS，/**<无障碍校准*/
校准应用程序提供一个人机交互界面，用于获取校准输入参数以发起校准流程，传感器类型信息包括上述温度传感器、湿度传感器、测距传感器等。校准类型信息是根据传感器类型来设定的。例如，对于距离传感器而言，校准类型包括无障碍校准、距离10cm校准以及距离25cm校准等自定义校准(即设定测量参照物与电子设备之间的距离作为预设距离)。
通过所述校准应用程序获取到校准输入参数之后，校准应用程序把校准输入参数传递给处理器，再由处理器根据传感器类型信息，将所述校准输入参数传递给对应传感器的运行测试接口。然后，待校准传感器根据所述校准类型信息对应的测试流程，控制自身进行测得到对应的测量数据，待校准传感器将所述测量数值发送给所述处理器。处理器根据接收的测量数据进行判断分析判断得到对应的校准数据。
例如，通过校准应用程序发起校准的方法为通过调用校准Native方法。
校准Native方法：
a)该native方法需要获取的校准输入参数为：校准的传感器类型信息(光传感器，距离传感器等)，校准类型信息(自定义，如距离25cm校准，无障碍校准)。
b)该native方法使用了sensor_open，sensor_write()，sensor_close()接口与处理器建立通讯，进而将上层的校准应用程序发下来的校准输入参数，也就是校准应用程序获取的校准输入参数传递到具体待校准传感器所对应的runtest接口处。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
基于前述实施例，所述处理器包括：
获取模块，用于按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
计算模块，用于将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算，根据均值计算结果得到校准数据。
具体的，由于处理器通过校准应用程序获取到校准输入参数，因此处理器能够知道需要进行什么类型的校准，校准的传感器类型。并且，处理器还可以启动线程获取待校准传感器的测量数据，根据测量数据对待校准传感器进行相应的校准。然后，处理器按照预设时间间隔(例如5s或者10s)周期性，通过所述运行测试接口从待校准传感器处获取到测量数据，处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算，进而根据均值计算结果得到校准数据。
示例性的，处理器实现对应待校准传感器例如距离传感器，选择的校准类型为SNS_DDF_TEST_PS_25CM(即上述实施例中的距离25cm校准)的简单流程如下：处理器开启线程间隔周期性获取距离传感器的距离值(即本发明测量数据的一种)，将距离值去除最大值和最小值，然后，处理器将其他距离值进行取平均值计算，根据距离平均值与25cm进行比较，根据比较结果就可以得到对应的校准数据。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
基于前述实施例，所述处理器还包括：处理模块；
所述处理器，还用于发送所述校准数据至所述运行测试接口；
所述测量模块，还用于根据所述校准数据进行校准，并在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果；
所述运行测试接口，还用于传递所述测试结果至所述处理器；
所述处理模块，用于将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；在差值计算结果大于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准失败；在差值计算结果小于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准成功。
具体的，处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器从运行测试接口处获取校准数据，并且待校准传感器根据获取到的校准数据进行校准。待校准传感器在根据校准数据完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，然后，待校准传感器通过运行测试接口将测试结果发送给处理器。处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算，如果差值计算结果大于预设阈值时，处理器确定所述校准结果为校准失败，如果差值计算结果小于预设阈值时，处理器确定所述校准结果为校准成功。
本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。
基于前述实施例，所述处理器，还用于将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
具体的，处理器通过上述方式获取到将校准数据和校准结果后，将校准结果和校准数据通过sns_ddf_smgr_notify_test_complete_with_data()，以及sns_ddf_smgr_notify_event()返回到上述native方法中，也就是返回到校准应用程序的应用接口。本发明解决了电子设备系统平台下无法自动化对待校准传感器进行校准的问题，能基于简单的计算得到的校准数据，对待校准传感器进行校准，使待校准传感器在校准成功后的使用效果更佳，性能更佳，从而为用户提供更好的体验。而且，校准应用程序可以通过所提供的人机交互界面进行显示待校准传感器对应的校准数据和校准结果，有利于直观、方便查看待校准传感器的校准情况，进而决定是否重新发起新的校准，简化了查阅。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为了描述的方便和简洁，仅以上述各程序模块的划分进行举例说明，实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的程序模块完成，即将所述装置的内部结构划分成不同的程序单元或模块，以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各程序模块可以集成在一个处理单元中，也可是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个处理单元中，上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件程序单元的形式实现。另外，各程序模块的具体名称也只是为了便于相互区分，并不用于限制本申请的保护范围。
它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现，从而，可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述或记载的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
在本申请所提供的实施例中，应该理解到，所揭露的装置/终端设备和方法，可以通过其他的方式实现。例如，以上所描述的装置/终端设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如，多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通讯连接，可以是电性、机械或其他的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本申请各个实施例中的各功能单元可能集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。
应当说明的是，上述实施例均可根据需要自由组合。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种校准方法，包括步骤：
建立校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接，并将所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器建立连接；
所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
2.根据权利要求1所述的校准方法，所述校准应用程序触发所述运行测试接口启动校准线程，以获取校准数据包括步骤：
通过所述校准应用程序获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
所述校准应用程序通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
所述待校准传感器根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据，并传递所述测量数值至所述处理器；
所述处理器根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
3.根据权利要求2所述的校准方法，所述处理器根据接收的测量数据生成对应的校准数据包括步骤：
所述处理器按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
所述处理器将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算；
所述处理器根据均值计算结果得到校准数据。
4.根据权利要求1所述的校准方法，所述处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果包括步骤：
所述处理器发送所述校准数据至所述运行测试接口，使得所述待校准传感器根据所述校准数据进行校准；
所述待校准传感器在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果，传递所述测试结果至所述处理器；
所述处理器将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；
在差值计算结果大于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准失败；
在差值计算结果小于预设阈值时，所述处理器确定所述校准结果为校准成功。
5.根据权利要求1-4任一项所述的校准方法，处理器根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果之后包括步骤：
所述处理器将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
6.一种电子设备，包括：校准应用程序、处理器和待校准传感器；
所述校准应用程序包括应用接口，待校准传感器包括运行测试接口；所述校准应用程序的应用接口与待校准传感器的运行测试接口之间的通信连接；所述校准应用程序、待校准传感器分别与处理器连接；
所述校准应用程序，用于触发所述运行测试接口启动校准线程以获取校准数据；
所述处理器，用于根据所述校准数据对所述待校准传感器进行校准，并从所述待校准传感器处获取对应的校准结果。
7.根据权利要求6所述的电子设备，所述校准应用程序包括：输入模块；所述待校准传感器包括测量模块；
输入模块，用于获取校准输入参数；所述校准输入参数包括传感器类型信息以及校准类型信息；
所述应用接口，用于通过处理器将所述校准输入参数，传递到所述传感器类型信息对应的运行测试接口；
所述测量模块，用于根据所述校准类型信息进行测量并得到测量数据；
所述运行测试接口，用于传递所述测量数值至所述处理器；
所述处理器，还用于根据接收的测量数据得到对应的校准数据。
8.根据权利要求7所述的电子设备，所述处理器包括：
获取模块，用于按照预设时间间隔周期性，通过所述运行测试接口获取所述测量数据；
计算模块，用于将所述测量数据中的最大值和最小值删除，对剩余的测量数据进行均值计算，根据均值计算结果得到校准数据。
9.根据权利要求7所述的电子设备，所述处理器还包括：处理模块；
所述处理器，还用于发送所述校准数据至所述运行测试接口；
所述测量模块，还用于根据所述校准数据进行校准，并在完成校准操作后，再次进行测量得到测试结果；
所述运行测试接口，还用于传递所述测试结果至所述处理器；
所述处理模块，用于将所述校准类型信息中的设定数值与所述测试结果进行差值计算；在差值计算结果大于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准失败；在差值计算结果小于预设阈值时，所述待校准传感器确定所述校准结果为校准成功。
10.根据权利要求6-9任一项所述的电子设备，其特征在于：
所述处理器，还用于将所述校准数据和校准结果，传递至所述校准应用程序以进行显示。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| CN202110741732.6A CN113447064A (zh) | 2021-06-30 | 2021-06-30 | 一种校准方法和电子设备 |
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|---|---|---|---|
| CN202110741732.6A CN113447064A (zh) | 2021-06-30 | 2021-06-30 | 一种校准方法和电子设备 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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