CN113433431B - 局部放电检测设备 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种局部放电检测设备，包括偶极子天线、采样电路、信号调理电路、控制电路和电源装置。采样电路连接偶极子天线和信号调理电路，控制电路连接信号调理电路；电源装置连接信号调理电路和控制电路；偶极子天线用于感应得到被测线缆的局部放电信号并发送至采样电路；采样电路用于接收局部放电信号，并根据局部放电信号输出采样信号；信号调理电路用于对采样信号进行调理后输出放电检测信号；控制电路用于根据放电检测信号得到局部放电检测结果并输出。上述局部放电检测设备，无需接触被测线缆，只要将偶极子天线接近被测线缆，就可以进行被测线缆的局部放电检测，有利于扩展局部放电检测设备的应用场景。

Description

局部放电检测设备

技术领域

本申请涉及电力系统中局部放电检测技术领域，特别涉及一种局部放电检测设备。

背景技术

随着科技的进步和人们生活水平的提高，我国电力需求量不断增长，电网规模不断扩大。电网的高压电缆绝缘中，某些薄弱部位在高电场作用下发生局部放电是不可避免的。若不及时检测出局部放电，排除故障，可能会导致绝缘的劣化，甚至击穿，引起电网安全事故。

传统的局部放电检测设备，对操作的要求非常高，在进行局部放电检测时，需要紧密接触或穿过被测目标，才能测试到放电信号。因此，传统的局部放电检测设备，具有应用场景受限的缺点。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种局部放电检测设备，扩展局部放电检测设备的应用场景。

一种局部放电检测设备，包括偶极子天线、采样电路、信号调理电路、控制电路和电源装置，所述采样电路连接所述偶极子天线和所述信号调理电路，所述控制电路连接所述信号调理电路；所述电源装置连接所述信号调理电路和所述控制电路；

所述偶极子天线用于感应得到被测线缆的局部放电信号并发送至所述采样电路；所述采样电路用于接收所述局部放电信号，并根据所述局部放电信号输出采样信号；所述信号调理电路用于对所述采样信号进行调理后输出放电检测信号；所述控制电路用于根据所述放电检测信号得到局部放电检测结果并输出。

在其中一个实施例中，所述局部放电检测设备还包括同步电路，所述同步电路连接所述控制电路。

在其中一个实施例中，所述采样电路包括簧片和采集电容，所述簧片连接所述偶极子天线和所述采集电容，所述采集电容连接所述信号调理电路。

在其中一个实施例中，所述信号调理电路包括前置放大模块、带通滤波放大模块和低通滤波放大模块，所述前置放大模块连接所述采样电路和所述带通滤波放大模块，所述低通滤波放大模块连接所述带通滤波放大模块和所述控制电路。

在其中一个实施例中，所述带通滤波放大模块包括芯片U1、芯片U2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电容C1、电容C2和电容C3；

所述芯片U1的输入端连接所述前置放大模块，所述芯片U1的第一输出端通过所述电阻R1连接所述芯片U2的第一输入端；所述芯片U1的第二输出端通过所述电阻R2连接所述芯片U2的第二输入端；所述芯片U2的初级中间抽头端通过所述电容C1接地，所述芯片U2的输出端连接所述低通滤波放大模块；

所述电阻R3和所述电阻R4串联，所述电阻R3的另一端连接所述芯片U1的第一输出端，所述电阻R4的另一端连接所述芯片U1的第二输出端；所述电阻R3和所述电阻R4的公共端通过所述电容C2接地，所述电容C3和所述电容C4并联。

在其中一个实施例中，所述低通滤波放大模块包括芯片U3、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C4、电容C5、电容C6、电容C7和电容C8；

所述芯片U3的输入正极通过所述电阻R5连接所述带通滤波放大模块，所述芯片U3的输入负极通过所述电阻R6接地；

所述芯片U3的正电源端连接所述电源装置，并通过所述电容C4接地，所述电容C5与所述电容C4并联；所述芯片U3的负电源端连接所述电源装置，并通过所述电容C6接地，所述电容C7与所述电容C6并联；所述芯片U3的正电源端通过所述电容C8连接所述芯片U3的负电源端；

所述芯片U3的输出端连接所述电阻R7的第一端，所述电阻R7的第二端连接所述控制电路，所述电阻R7的第一端通过所述电阻R8连接所述芯片U3的输入负极；所述电阻R7的第二端还通过所述电阻R9接地。

在其中一个实施例中，所述局部放电检测设备还包括连接所述控制电路的通信电路、显示电路、存储电路中的至少一种。

在其中一个实施例中，所述偶极子天线包括第一金属半球壳、第二金属半球壳和绝缘体；所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳分别设置于所述绝缘体的两侧，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳连接所述采样电路。

在其中一个实施例中，所述偶极子天线还包括中空的第一中心轴和第二中心轴；所述第一中心轴固定于所述第一金属半球壳顶端与所述绝缘体之间，且垂直于所述绝缘体；所述第二中心轴固定于所述第二金属半球壳顶端与所述绝缘体之间，且垂直于所述绝缘体；

所述采样电路设置于所述第一中心轴和所述第二中心轴，且连接所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳。

在其中一个实施例中，所述局部放电检测设备还包括固定支架、第一壳体和第二壳体，所述第一壳体固定于所述第二壳体，所述偶极子天线和所述采样电路设置于所述第一壳体内；所述偶极子天线通过所述固定支架与所述第二壳体固定，所述信号调理电路、所述控制电路和所述电源装置设置于所述第二壳体内。

上述局部放电检测设备，通过偶极子天线感应得到被测线缆的局部放电信号，再由采样电路、信号调理电路和控制电路对局部放电信号进行处理后，得到局部放电检测结果并输出。即局部放电检测设备无需接触被测线缆，只要将偶极子天线接近被测线缆，就可以进行被测线缆的局部放电检测，有利于扩展局部放电检测设备的应用场景。

附图说明

图1为一实施例中局部放电检测设备的组成框图；

图2为另一实施例中局部放电检测设备的组成框图；

图3为一实施例中局部放电检测设备的结构示意图；

图4为一实施例中信号调理电路的组成框图；

图5为一实施例中前置放大模块的结构原理图；

图6为一实施例中带通滤波放大模块的结构原理图；

图7为一实施例中低通滤波放大模块的结构原理图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。

可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。同时，在本说明书中使用的术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。

考虑到现有的局部放电检测设备应用场景受限的缺点，本申请提供了一种局部放电检测设备，可以应用于变压器、开关柜和电力电缆等场景的局部放电检测。当应用于变压器时，将偶极子天线对准变压器处的接地线即可；当应用于开关柜时，将偶极子天线靠近开关柜即可；当应用于电力电缆时，将偶极子天线对准中间接头或终端处的接地线即可。

在一个实施例中，如图1所示，提供了一种局部放电检测设备，包括偶极子天线100、采样电路200、信号调理电路300、控制电路400和电源装置500。采样电路200连接偶极子天线100和信号调理电路300，控制电路400连接信号调理电路300，电源装置500连接信号调理电路300和控制电路400。偶极子天线100用于感应得到被测线缆的局部放电信号并发送至采样电路200；采样电路200用于接收局部放电信号，并根据局部放电信号输出采样信号；信号调理电路300用于对采样信号进行调理后输出放电检测信号；控制电路400用于根据放电检测信号得到局部放电检测结果并输出。

其中，偶极子天线100又称共振天线，由一对对称放置的导体构成，是一种超带宽天线。该导体的形状，可以是平板形、半球形或笼形。采样电路200的类型并不唯一，可以包括分流电阻或分压电阻，基于分流或分压原理进行电信号采样；也可以包括电容或电感等储能设备，基于充放电原理进行电信号采样。信号调理电路300对采样信号的调理方式，可以是模数转换、放大、稳压和滤波中的一种或多种，对应的，该信号调理电路300可以由模数转换电路、放大电路、稳压电路和滤波电路中的一个或多个电路模块组成。控制电路400可以是包含控制芯片及其外围电路的电路。该控制芯片，可以是单片机、复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable Logic Device，CPLD)或现场可编程门阵列(Field-ProgrammableGate Array，FPGA)。电源装置500可以是接口电源模块，用于连接外部电源，也可以是储能电源模块，用于向信号调理电路300和控制电路400提供工作所需的电能。该储能电源模块，可以是储能电池组或超级电容，例如锂离子电池。在一个实施例中，电源装置500还包括电源转换模块，用于同时实现多种电压的输出，匹配不同负载的使用需求。

具体的，被测线缆放电时将产生电磁场，当偶极子天线100靠近被测线缆时，相当于将偶极子天线100放置在电磁场中。基于电磁感应原理，偶极子天线100内部会产生时变电流，即为感应得到的被测线缆的局部放电信号。采样电路200接收局部放电信号，并根据局部放电信号输出采样信号，再由信号调理电路300对采样信号进行调理后输出放电检测信号，最后由控制电路400根据放电检测信号得到局部放电检测结果并输出。

上述局部放电检测设备，通过偶极子天线感应得到被测线缆的局部放电信号，再由采样电路、信号调理电路和控制电路对局部放电信号进行处理后，得到局部放电检测结果并输出。即局部放电检测设备无需接触被测线缆，只要将偶极子天线接近被测线缆，就可以进行被测线缆的局部放电检测，有利于扩展局部放电检测设备的应用场景。

进一步的，在一个实施例中，局部放电检测设备还包括连接控制电路400的通信电路、显示电路、存储电路中的至少一种。

其中，通信电路可以是无线通信电路、蓝牙通信电路或蜂窝通信电路。显示电路是包含显示装置及其外围电路的电路结构，该显示装置可以是指示灯或显示屏。存储电路是包含存储器及其外围电路的电路结构，该存储器可以是随机存储器或只读存储器。具体的，控制电路400输出局部放电检测结果的方式和对象并不唯一，例如，控制电路400可以通过通信电路将局部放电检测结果输出至终端，还可以通过显示电路将局部放电检测结果输出至显示装置，以及将局部放电检测结果输出至存储电路。其中，终端包括不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。

上述实施例中，即是提供了多种局部放电检测结果的输出途径，可以根据实际使用需求匹配不同的硬件结构，便于工作人员及时获取局部放电检测结果，有利于进一步扩展局部放电检测设备的应用场景。

在一个实施例中，如图2所示，局部放电检测设备还包括同步电路600，该同步电路600连接控制电路400。

其中，同步电路600用于对控制电路400进行时钟校准。该同步电路600可以是时钟电路，通过向控制电路400提供时钟信号实现时钟校准；也可以是同步时序逻辑电路，通过改变控制电路400的输出触发时间实现时钟校准。具体的，控制电路400接收同步电路600提供的校准信号，进行时钟校准后，可以输出具备时间戳的局部放电检测结果，能便于工作人员根据局部放电检测结果进行故障诊断和分析，提高工作效率。

在一个实施例中，如图3所示，偶极子天线100包括第一金属半球壳110、第二金属半球壳120和绝缘体130；第一金属半球壳110和第二金属半球壳120分别设置于绝缘体130的两侧，第一金属半球壳110和第二金属半球壳120连接采样电路200。

其中，第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的材质并不唯一，可以是金、银、铜、铝或铁等。金属半球壳是指形状为半球状的中空壳体。第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的壳体厚度可以是1mm、1.5mm、2mm、2.5mm或3mm。金属半球壳的外直径可以是20mm、40mm、60mm、80mm或100mm。绝缘体130的材质，可以是橡胶、塑料或陶瓷等。绝缘体130的厚度，可以是1mm、1.5mm、2mm、2.5mm或3mm，绝缘体130的形状，可以是圆片状或圆环状。

具体的，第一金属半球壳110和第二金属半球壳120为形状相同的金属半球壳，以绝缘体130为对称轴对称分布，形成一对偶极子，构成新型的球状宽带低增益天线。被测线缆放电产生的电磁信号，耦合到第一金属半球壳110和第二金属半球壳120，得到的被测线缆的局部放电信号并发送至采样电路200。进一步的，可以采用HFSS(High FrequencyStructure Simulator，高频结构仿真)软件，分析确定第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的尺寸和相对位置。

在一个实施例中，第一金属半球壳110和第二金属半球壳120均为紫铜材质的外直径为80mm的金属半球壳，且第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的壳体厚度为2mm；绝缘体130的厚度为2.5mm，即第一金属半球壳110和第二金属半球壳120之间的间隔为2.5mm。

根据HFSS软件的分析结果，可知第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的壳体厚度和间距对偶极子天线的性能影响不大，而第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的外直径越大天线增益越大，外直径越小偶极子天线辐射范围小。考虑到设备小型化需求，仅考虑外直径小于等于100mm的情况。HFSS软件的分析结果显示，金属半球壳外直径为100mm和80mm时，增益相差很小，而当金属半球壳外直径小于60mm时，偶极子天线辐射能力明显减弱，且当金属半球壳外直径为80mm时，偶极子天线在高频段的辐射能力要比其他尺寸更强一些，在低频段金属半球壳外直径变化影响较小。因此，选择上述尺寸和材料的第一金属半球壳110和第二金属半球壳120，可以在兼顾性能和成本，提升局部放电检测设备的实用性。

在一个实施例中，请继续参考图3，偶极子天线100还包括中空的第一中心轴140和第二中心轴150；第一中心轴140固定于第一金属半球壳110顶端与绝缘体130之间，且垂直于绝缘体130；第二中心轴150固定于第二金属半球壳120顶端与绝缘体130之间，且垂直于绝缘体130。采样电路200设置于第一中心轴140和第二中心轴150，且连接第一金属半球壳110和第二金属半球壳120。

其中，第一中心轴140和第二中心轴150用于确定信号采集点，第一金属半球壳110和第二金属半球壳120分别通过第一中心轴140和第二中心轴150，与绝缘体130形成球形偶极子传感器。进一步的，绝缘体130上第一中心轴140和第二中心轴150的对应位置，设置有线路通道，便于采样电路200的布线。

上述实施例中，将第一金属半球壳110和第二金属半球壳120的顶端设置为信号采集点，可以感应采集到强度更大的局部放电信号，便于进行后续的处理和分析。

在一个实施例中，请继续参考图3，局部放电检测设备还包括固定支架700、第一壳体800和第二壳体900。第一壳体800固定于第二壳体900，偶极子天线100和采样电路200设置于第一壳体800内；偶极子天线100通过固定支架700与第二壳体900固定，信号调理电路300、控制电路400和电源装置500设置于第二壳体900内。

其中，固定支架700与偶极子天线100之间、固定支架700与第二壳体900之间、以及第一壳体800与第二壳体900之间的连接方式，可以相同也可以不同，且连接方式并不唯一，例如可以通过焊接、卡扣、螺丝或铆钉等方式连接。在第一壳体800和/或第二壳体900上，还可以设置手柄。此外，如图3所示，信号调理电路300、同步电路600和控制电路400等电路结构可以设置于电路板30上，并通过导线20连接采用电路200。电路板30连接电源装置500。

进一步的，信号调理电路300、同步电路600、控制电路400和电源装置500的位置并不唯一。在另一个实施例中，当电路尺寸足够小时，可以将它们均设置于第一壳体800与偶极子天线100之间，或将信号调理电路300、控制电路400和电源装置500设置于偶极子天线100内部，将同步电路600设置于第一壳体800与偶极子天线100之间。

在一个实施例中，请继续参考图3，采样电路200包括簧片210和采集电容220，该簧片210连接偶极子天线100和采集电容220，采集电容220连接信号调理电路300。

其中，簧片210由导电材质制成，或表面镀有导电材质，用于将偶极子天线100感应得到的局部放电信号引出至采集电容220。采集电容220可以是极性电容或非极性电容。具体的，当被测线缆放电时，偶极子电线100内部产生时变电流，该时变电流由簧片210引出至采集电容220，在采集电容220两极形成时变电压，得到采样信号并输出至信号调理电路300。

上述实施例中，采用簧片210和采集电容220构成采样电路200，结构简单，有利于简化电路结构，降低成本。

在一个实施例中，如图4所示，信号调理电路300包括前置放大模块310、带通滤波放大模块320和低通滤波放大模块330，前置放大模块310连接采样电路200和带通滤波放大模块320，低通滤波放大模块330连接带通滤波放大模块320和控制电路400。

其中，前置放大模块310可以是电压敏感前置放大模块或电荷敏感前置放大模块。带通滤波放大模块320是指能通过并放大某一频率范围内的频率分量、但将其他范围的频率分量衰减到极低水平的电路模块。低通滤波放大模块330是指能通过并放大低于截止频率的信号，阻止高于截止频率的信号通过的电路模块。具体的，来自采样电路200的采样信号，经过前置放大模块310、带通滤波放大模块320和低通滤波放大模块330处理后，可以得到预设频域范围内的放电检测信号，并输出至控制电路400。

需要说明的是，根据实际使用需求，通过设计各放大模块的具体电路结构，可以实现所需的频谱范围和灵敏度。在一个实施例中，前置放大模块310用于提供30DB的增益，带通滤波放大模块320用于通过0.1MHz-130MHz的信号，并提供20DB的增益，低通滤波放大模块330的截止频率为100MHz，用于提供20DB的增益，可以使放电检测信号的频带处于0.1MHz-100MHz频谱范围，灵敏度达到5pc。

在一个实施例中，如图5所示，前置放大模块310包括运算放大器UA1、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电容C8、电容C9、电容C10、电容C11、电容C12、电容C13和电容C14。其中，电阻R10和电阻R11串联，电阻R11的另一端接地，电阻R10的另一端连接运算放大器UA1的反相输入端，电阻R10和电阻R11的公共端连接采样电路200。运算放大器UA1的同相输入端通过电阻R12接地；运算放大器UA1的输出端连接带通滤波放大模块320，并通过电容C14接地。

运算放大器UA1的正电源端连接电源装置500的输出正极VCC1+，并通过电容C8接地，电容C9和电容C8并联。电阻R13和电容C10串联，电阻R13的另一端连接运算放大器UA1的正电源端，电容C10的另一端接地；电阻R13和电容C10的公共端连接运算放大器UA1的反馈电阻引出端。运算放大器UA1的负电源端连接电源装置500的输出负极VCC1-，并通过电容C11接地，电容C12和电容C11并联。电阻R14和电容C13串联，电阻R14的另一端连接运算放大器UA1的负电源端，电容C13的另一端接地；电阻R14和电容C13的公共端连接运算放大器UA1的输出推挽电路负端。

在一个实施例中，如图6所示，带通滤波放大模块320包括芯片U1、芯片U2、电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电容C1、电容C2和电容C3。芯片U1的输入端连接前置放大模块320，芯片U1的第一输出端通过电阻R1连接芯片U2的第一输入端；芯片U1的第二输出端通过电阻R2连接芯片U2的第二输入端；芯片U2的接地端通过电容C1接地，芯片U2的输出端连接低通滤波放大模块330。电阻R3和电阻R4串联，电阻R3的另一端连接芯片U1的第一输出端，电阻R4的另一端连接芯片U1的第二输出端；电阻R3和电阻R4的公共端通过电容C2接地，电容C3和电容C4并联。其中，芯片U2的输出端具体连接运算放大器UA1的输出端。

在一个实施例中，如图7所示，低通滤波放大模块330包括芯片U3、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C4、电容C5、电容C6、电容C7和电容C8。芯片U3的输入正极IN+通过电阻R5连接带通滤波放大模块320。芯片U3的输入负极IN-通过电阻R6接地；芯片U3的正电源端VS+连接电源装置500的输出正极VCC2+，并通过电容C4接地，电容C5与电容C4并联；芯片U3的负电源端VS-连接电源装置500的输出负极VCC2-，并通过电容C6接地，电容C7与电容C6并联。芯片U3的正电源端VS+通过电容C8连接芯片U3的负电源端VS-。芯片U3的输出端Vout连接电阻R7的第一端，电阻R7的第二端连接控制电路400，电阻R7的第一端通过电阻R8连接芯片U3的输入负极IN-；电阻R7的第二端还通过电阻R9接地。其中，电阻R5具体连接芯片U2的输出端。

需要说明的是，上述实施例中，电源装置500的输出正极VCC1+和电源装置500的输出正极VCC2+为电源装置500中不同的输出正极，分别向运算放大器UA1和芯片U3提供不同幅值的工作电压。在一个实施例中，电源装置500的输出正极VCC1+和电源装置500的输出正极VCC2+的输出电压分别为+15V和5V。此外，各电容的类型并不唯一，可以是极性电容或非极性电容。

上述实施例中，即是提供了信号调理电路300中各模块的具体电路结构，可以实现信号的滤波和放大，有利于提高局部放电检测设备的检测性能。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上该实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种局部放电检测设备，其特征在于，包括偶极子天线、采样电路、信号调理电路、控制电路、电源装置、固定支架、第一壳体和第二壳体，所述采样电路连接所述偶极子天线和所述信号调理电路，所述控制电路连接所述信号调理电路；所述采样电路包括簧片和采集电容，所述簧片连接所述偶极子天线和所述采集电容，所述采集电容连接所述信号调理电路，所述电源装置连接所述信号调理电路和所述控制电路，所述信号调理电路包括前置放大模块、带通滤波放大模块和低通滤波放大模块，所述前置放大模块连接所述采样电路和所述带通滤波放大模块，所述低通滤波放大模块连接所述带通滤波放大模块和所述控制电路；低通滤波放大模块包括芯片U3、电阻R5、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、电容C4、电容C5、电容C6、电容C7和电容C8；

所述芯片U3的输入正极通过所述电阻R5连接所述带通滤波放大模块，所述芯片U3的输入负极通过所述电阻R6接地；

所述芯片U3的正电源端连接所述电源装置，并通过所述电容C4接地，所述电容C5与所述电容C4并联；所述芯片U3的负电源端连接所述电源装置，并通过所述电容C6接地，所述电容C7与所述电容C6并联；所述芯片U3的正电源端通过所述电容C8连接所述芯片U3的负电源端；

所述芯片U3的输出端连接所述电阻R7的第一端，所述电阻R7的第二端连接所述控制电路，所述电阻R7的第一端通过所述电阻R8连接所述芯片U3的输入负极；所述电阻R7的第二端还通过所述电阻R9接地；

所述偶极子天线用于感应得到被测线缆的局部放电信号并发送至所述采样电路；所述采样电路用于接收所述局部放电信号，并根据所述局部放电信号输出采样信号；所述信号调理电路用于对所述采样信号进行调理后输出放电检测信号；所述控制电路用于根据所述放电检测信号得到局部放电检测结果并输出；

所述偶极子天线包括第一金属半球壳、第二金属半球壳和绝缘体；所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳分别设置于所述绝缘体的两侧，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳连接所述采样电路；根据高频结构仿真软件确定所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳的尺寸和相对位置；

所述偶极子天线还包括中空的第一中心轴和第二中心轴；所述第一中心轴固定于所述第一金属半球壳顶端与所述绝缘体之间，且垂直于所述绝缘体；所述第二中心轴固定于所述第二金属半球壳顶端与所述绝缘体之间，且垂直于所述绝缘体；

所述采样电路设置于所述第一中心轴和所述第二中心轴，且连接所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳的顶端；

所述第一壳体固定于所述第二壳体，所述偶极子天线和所述采样电路设置于所述第一壳体内；所述偶极子天线通过所述固定支架与所述第二壳体固定，所述信号调理电路、所述控制电路和所述电源装置设置于所述第二壳体内。

2.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，还包括同步电路，所述同步电路连接所述控制电路。

3.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，还包括连接所述控制电路的通信电路、显示电路、存储电路中的至少一种。

4.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述绝缘体的材质是橡胶。

5.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳材质为金。

6.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳材质为银。

7.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳材质为铝。

8.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳材质为铁。

9.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述第一金属半球壳和所述第二金属半球壳材质为铜。

10.根据权利要求1所述的局部放电检测设备，其特征在于，所述绝缘体的材质是塑料。

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