CN113419932A - 一种设备性能分析方法和装置 - Google Patents

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CN113419932A CN202110576516.0A CN202110576516A CN113419932A CN 113419932 A CN113419932 A CN 113419932A CN 202110576516 A CN202110576516 A CN 202110576516A CN 113419932 A CN113419932 A CN 113419932A
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Abstract

本申请实施例提供一种设备性能分析方法和装置，所述方法包括：获取第一时刻以及第一时刻对应的第一日志数据，所述第一日志数据为第一时刻对应的日志数据；根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，第二时刻为截屏数据集合中的一个截屏采样时刻；根据第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为第二时刻对应的截屏数据；根据第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析。通过第一映射关系可以将日志数据和截屏数据的时间轴统一，进而可以获得同一时刻的第一日志数据和第一截屏数据，当利用该第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析时，可以准确地判断出被测设备的性能问题。

Description

一种设备性能分析方法和装置
技术领域
本申请涉及设备检查领域，具体涉及一种设备性能分析方法和装置。
背景技术
对于设备的性能分析，可以通过分析被测设备在测试过程中产生的日志数据以及与日志数据对应时刻的截屏数据，查找被测设备是否存在的性能缺陷，以便于对被测设备进行优化和改进。其中，日志数据包括被测设备后台的运行参数信息，截屏数据包括被测设备显示的画面图片。
日志数据一般可利用追踪(Trace)工具来获取，通过Trace工具可以抓取被测设备在测试时间段内的日志数据，截屏数据的采集则可以利用截屏工具获取，例如利用Minicap工具采集被测设备在测试时间段内的截屏数据。Trace工具抓取的日志数据是以时间戳为时间轴，Minicap工具采集的截屏数据是以被测设备内核时间为时间轴。但是时间戳与被测设备内核时间不一致，即日志数据时间轴与截屏数据时间轴之间存在时间差，导致在某一时刻获取的日志数据，与在该时刻获取的截屏数据，并不完全对应，从而在利用日志数据和截屏数据对被测设备检测时，会出现误差，不能准确分析出被测设备性能出现的问题。
发明内容
本申请提供了一种设备性能分析方法和装置。以解决现有的设备性能分析方法获取的截屏数据与日志数据之间存在时间差，进而无法准确的分析出被测设备性能出现的问题。
第一方面，本申请实施例提供了一种设备性能分析方法，包括：获取第一时刻以及所述第一时刻对应的第一日志数据，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻；根据所述第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
其中，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据。
本方面提供的方法，通过在日志数据集合中选取第一时刻，根据第一时刻可以得到对应的第一日志数据。根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，通过第二时刻可以得到对应的第一截屏数据，即获得与第一日志数据同一时刻的第一截屏数据。通过第一映射关系可以将日志数据和截屏数据的时间轴统一，进而可以获得同一时刻的第一日志数据和第一截屏数据，当利用该第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行分析时，可以准确地判断出被测设备的性能问题，解决了由于日志数据和截屏数据的时间轴不统一，导致获取的日志数据与截屏数据之间存在时间差，进而无法准确检测出被测设备性能的问题。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，包括：根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差；根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻。
本实现方式中，首先，通过第二映射关系可以将第一时刻转换到第一截屏时刻。然后再根据第一截屏时刻在截屏数据集合中查找最接近的截屏采样时刻作为第二时刻。从而可以准确的获得第一时刻对应的第二时刻，根据第二时刻进一步得到与第一日志数据对应的第一截屏数据，进而提高设备性能分析的准确性。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
本实现方式中，根据日志数据时间轴和截屏数据时间轴之间的联系，获取可以建立两个时间轴转换关系的第一参数，第二参数和第三参数，从而确定第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差，实现两个时间轴的转换。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述标识时刻为parent_ts时刻。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
本实现方式中，通过上述第二映射关系的表达式，可以将第一时刻转换为对应的在截屏数据时间轴下的第一截屏时刻。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
获取追踪模块抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据生成；或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据生成所述日志数据集合。
本实现方式中，可以通过追踪模块获取得到日志数据集合，或者根据抓取被测设备的至少一组日志数据生成日志数据集合。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述追踪模块采用Systrace工具。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：
获取截屏模块抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据获取所述截屏数据集合。
本实现方式中，可以通过截屏模块得到截屏数据集合，或者根据抓取被测设备的至少一组截屏数据生成截屏数据集合。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述截屏模块采用Minicap工具。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：显示所述第一截屏数据。
本实现方式中，通过显示所述第一截屏数据，使用户更加直观的查看第一截屏数据，便于用户分析被测设备的性能。
结合第一方面，在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析。
本实现方式中，可以通过设备性能分析装置，根据第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析，也可以通过用户根据第一日志数据和第一截屏数据选择进一步数据处理操作，分析被测设备的性能。
第二方面，本申请实施例提供了一种设备性能分析装置，包括：
获取模块，用于获取第一时刻，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据。
处理模块，用于根据第一时刻获取第一日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；根据所述第一时刻在第一映射关系中获得第二时刻，根据所述第二时刻获取第一截屏数据；其中，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据；所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述处理模块，还用于根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻；其中，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述处理模块，还用于获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述标识时刻为parent_ts时刻。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述获取模块，还用于获取追踪模块抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据生成；或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据获取所述日志数据集合。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述追踪模块采用Systrace工具。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述获取模块，还用于获取截屏模块抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据获取所述截屏数据集合。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述截屏模块采用Minicap工具。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述装置还包括显示模块，用于显示所述第一截屏数据。
结合第二方面，在一种可能的实现方式中，所述处理模块，还用于根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析。
第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：处理器和存储器，所述处理器和所述存储器耦合，所述存储器存储有程序指令，当所述存储器存储的程序指令被所述处理器执行时，实现上述第一方面及第一方面各种实现方式的方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令，当所述计算机程序指令被运行时，实现上述第一方面及第一方面各种实现方式的方法。
另外，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行上述第一方面及第一方面各种实现方式的方法。
需要说明的是，上述第二方面至第四方面的各种实现方式的技术方案所对应的有益效果与前述第一方面以及第一方面的各种实现方式的有益效果相同，具体参见上述第一方面以及第一方面的各种实现方式中的有益效果描述，不再赘述。
附图说明
图1为设备性能分析装置与被测设备的连接示意图；
图2为本申请实施例提供的一种设备性能分析方法的流程图；
图3为本申请实施例提供的截屏数据集合中的一组截屏图片；
图4为本申请实施例提供的一种Systrace工具的显示界面图；
图5为本申请实施例提供的一种根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻的流程图；
图6为本申请实施例提供的一种日志数据时间轴系统与截屏数据时间轴系统转换示意图；
图7为本申请实施例提供的一种以文本方式打开的日志数据内容示意图；
图8是本申请实施例提供的一种设备性能分析装置的结构示意图；
图9是本申请实施例提供的一种获取模块和处理模块传送第一时刻的信令图；
图10是本申请实施例提供的一种设备性能分析装置显示示意图；
图11是本申请又一实施例提供的一种设备性能分析装置的结构示意图；
图12是本申请另一实施例提供的一种设备性能分析装置的结构示意图；
图13是本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将详细地对实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下实施例中描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。仅是与权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的系统和方法的示例。
本申请实施例的技术方案可应用于一种设备性能分析的应用场景。如图1所示，包括设备性能分析装置10和被测设备20。性能分析装置10和被测设备20可以通过USB有线，或者，通过无线通信模块进行无线连接，比如WLAN，WiFi等。
其中，被测设备20为一种终端设备，该终端设备包括但不限于：手机、平板电脑、个人电脑、大屏设备(例如：智慧屏、智能电视)等。设备性能分析装置10具有获取被测设备20的日志数据和截屏数据，并根据日志数据和截屏数据对被测设备20性能分析的功能。
具体的，日志数据包括被测设备20后台的运行参数信息，可以通过追踪模块抓取被测设备20的日志数据。截屏数据包括被测设备20显示的画面图片，可以通过截屏模块采集被测设备20的截屏数据。设备性能分析装置10通过对日志数据以及与日志数据对应时刻的截屏数据分析处理，可以获得被测设备20的性能分析结果，检测被测设备20是否存在性能问题。但是，追踪模块以时间戳为时间轴抓取的日志数据，截屏模块以被测设备内核时间为时间轴采集的截屏数据，由于时间戳时间和被测设备内核时间不一致，二者存在时间差，导致在某一时刻获取的日志数据，与在该时刻获取的截屏数据，并不完全对应。从而在利用日志数据和截屏数据对被测设备检测时，会出现误差，不能准确分析出被测设备性能出现的问题。
为可以根据日志数据和截屏数据准确的分析出被测设备的性能问题，本申请实施例提供了一种设备性能分析方法，如图2所示，该方法可以包括以下步骤S101-S106：
S101：获取被测设备的日志数据集合和截屏数据集合。
其中，所述日志数据集合中包括至少一个日志采样时刻，每个日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据，日志数据集合中的每一个日志采样时刻都处于日志数据时间轴内。日志数据包括：抓取的事件名称，类型，动态过程参数以及启动，停止和持续时间等属性信息。
所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据，截屏数据集合中的每一个截屏采样时刻都处于截屏数据时间轴内。截屏数据包括：截屏图片、像素以及大小等图像信息，如图3所示，为获取的截屏数据集合中的一组截屏图片。其中，每个截屏图片对应一个截屏采样时刻被测设备显示的画面图片。
可选的，S101具体包括：性能分析装置通过追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据，生成日志数据集合，将日志数据集合发送至获取模块。
在一种实现方式中，追踪模块可以采用Systrace工具，Systrace是由Android平台提供的一款性能数据采样和分析工具，用于追踪和记录短期内的设备活动。如图4所示，Systrace工具可以很直观地查看CPU周期消耗的具体时间，显示每个轨迹线程和进程的跟踪信息，通过使用不同颜色来突出问题的严重性，并提供如何解决这些问题的建议。Systrace的功能包括跟踪系统的I/O操作、内核工作队列、CPU负载等，在UI显示性能分析上提供很好的数据，特别是在动画播放不流畅、渲染卡等问题上。因此，在本实施例中，可以采用Systrace工具针对被测设备的卡顿、掉帧等图像显示问题进行性能分析。
可选的，S101还包括：性能分析装置10通过截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据，生成截屏数据集合，将截屏数据集合发送至获取模块。
在一种实现方式中，截屏模块可以采用Minicap工具，Minicap工具是开源项目移动设备管理控制工具(Smartphone Test Farm，STF)中的一个截屏并实时传输的工具。Minicap工具是用NDK开发的，属于Android的底层开发，Minicap工具的使用有很强的针对性，分为两个部分，一个是动态连接库.so文件，一个是Minicap执行文件。针对不同架构的CPU和SDK制作了不同的Minicap执行文件和Minicap.so文件。在进行截屏应用时，将与被测设备对应的Minicap执行文件和Minicap.so文件推送(push)到被测设备中，再通过映射一个端口用来获取Minicap的截屏数据。在本实施例中，采用Minicap工具不仅可以对被测试设备在测试过程中展示的画面进行截图，而且还可以将截图实时的传送至分析装置，提高性能分析的效率。
在一种具体实现中，截屏模块对被测设备截屏的频率可以根据实际对性能分析精度的要求而确定。例如，当手机画面以60帧/秒显示，用户会感觉画面显示流畅，为了可以观察出丢帧或卡顿的情况，可以将截屏频率设置为16.6ms时。此时，通过获取的截屏数据进行对比分析，以便于用户发现被测设备显示画面出现丢帧或卡顿的情况。
S102：获取第一时刻以及所述第一时刻对应的第一日志数据，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据。
第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，用户根据对被测设备的性能分析需求，每次需要在日志数据集合中选取一个日志采样时刻。可以理解的是，在对被测设备进行性能分析的过程中，用户会通过多次操作，选取多个日志采样时刻，以通过不同日志采样时刻获得的数据进行对比分析，便于快速定位问题。
通过获取模块可以获取用户选择的日志数据集合中的日志采样时刻，即作为第一时刻，再通过在日志数据集合中日志采样时刻与日志数据对应的映射关系，可以获得与第一时刻对应的第一日志数据，第一日志数据用于用户进行被测设备的性能分析。由于第一时刻为日志数据集合中的某一个日志采样，因此，第一时刻处于日志数据时间轴内。
S103：根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻。
具体的，首先，通过第二映射关系找到与的第一时刻相对应的第一截屏时刻，其中，第一截屏时刻处于截屏数据时间轴内。然后，再在截屏数据集合中找到与第一截屏时刻最接近的截屏采样时刻作为第二时刻。由于生成日志数据和截屏数据的工具不同，第一时刻处于日志数据时间轴内，而第二时刻为截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，即第二时刻处于截屏数据时间轴。
示例地，当追踪模块采用Systrace工具时，通过Systrace工具抓取被测设备的日志数据从开始抓取日志数据的时刻开始计时，即日志数据时间轴的起始时刻为0。当截屏模块采用Minicap工具时，Minicap的时间轴是基于被测设备的内核时间轴，是从被测设备系统启动一刻的时间戳起开始计时，不受系统时间被用户改变的影响。此时，Minicap工具获得的截屏数据的时间轴起始时刻并不是从0开始。因此，为了准确的找到与第一日志数据对应时刻的第一截屏数据，需要通过第一映射关系找到与第一时刻对应的第二时刻。
如图5所示，在一种实现方式中，S103具体包括：
S1031：根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，所述第二映射关系为所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
因为，第二映射关系为第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差，因此，根据第二映射关系和第一时刻可以消除时间差，得到与第一时刻对应的第一截屏时刻。
在一种实现方式中，根据第二映射关系获得与所述第一时刻对应的第一截屏时刻包括：
S10311：获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳。
示例地，当追踪模块采用Systrace工具，截屏模块采用Minicap工具时。由上述可知，Minicap工具获得的截屏数据时间轴是基于被测设备的内核时间轴，是从被测设备系统启动一刻的时间戳起开始计时。被测设备系统的时间戳是能够表示一份数据在一个特定时间点已经存在的完整的可验证的数据，时间戳时间轴是一种基于被测设备系统的时间轴，时间戳时间轴由可信时间源为起始点开始计时。因此，首先将日志数据时间轴转换为时间戳时间轴，再将时间戳时间轴转换为截屏数据时间轴，从而实现日志数据时间轴到截屏数据时间轴的转换。
如图6所示，在本实施例中，日志数据时间轴的起始时刻为0s，而时间戳时间轴的起始时刻为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，比如为20176.473244s。因此，可以将第一参数设置为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，通过第一参数消除日志数据时间轴和时间戳时间轴起始时刻的时间差，从而实现将日志数据时间轴转换为时间戳时间轴。
在将时间戳时间轴转换为截屏数据时间轴的过程中，需要一个可以联系两个时间轴的标识时刻作为转换的参照值。在通过Systrace工具获得的日志数据中，可以获得一个parent_ts时刻，比如为20176.472656s。parent_ts时间为被测设备系统的单调时间(monotonic time)。parent_ts时间是指被测设备系统启动以后流逝的时间，是从系统启动的一刻开始计时，不会受到用户改变的影响。可见，parent_ts时间轴与Minicap工具获得的截屏数据时间轴都是基于相同的时间轴。同时，由于parent_ts时刻(20176.472656s)和与parent_ts对应的时间戳时刻(20176.473353s)之间受系统影响而存在时间差。因此，可以将parent_ts时刻作为标识时刻即第二参数，parent_ts时刻对应的时间戳即为第三参数，通过消除第二参数和第三参数之间的时间差，可以实现将时间戳时间轴转换为parent_ts时间轴，也就是转换为截屏数据时间轴。
需要说明的是，如图7所示，第一参数，第二参数和第三参数均可以通过Systrace工具获得的日志数据中获取得到。例如，Systrace工具获得的日志数据为.sys格式的文件，解压后，通过文本读取工具打开日志数据文件，读取TIMESTAMP[0]时刻即为第一参数，parent_ts时刻即为第二参数，TIMESTAMP[parent_ts]即为第三参数。
S10312：根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
在一种实现方式中，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
在一种实现方式中，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
根据上述第二映射关系的表达式可以获得与处于日志数据时间轴的第一时刻处完全对应的处于截屏数据时间轴的第一截屏时刻。
S1032：根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻。
因为用户通过截屏模块采集被测设备截屏数据时，所选的截屏采样频率不同，采样时刻的间隔不同，所以会导致第一截屏时刻不一定会完全对应找到相同的截屏采样时刻作为所述第二时刻。例如，截屏采样频率为3s，截屏采样时间持续12s，即在0s、3s、6s、9s、12s五个截屏采样时刻分别获得一组截屏数据。当用户选择的第一时刻所对应的第一截屏时刻为5s时，可见上述五个截屏采样时刻并不完全对应。因此，需要选择与5s最接近的截屏采样时刻6s作为第二时刻，从而获得与第一日志数据相对应最接近的第一截屏数据，进一步提高设备性能分析的准确性。
S104：根据所述第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
在截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据，截屏采样时刻与截屏数据具有一一对应的截屏映射关系。由于第二时刻为截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，因此，根据截屏映射关系可以获得与第二时刻相对应的截屏数据作为第一截屏数据。
S105：显示所述第一截屏数据。使用户更加直观的查看第一截屏数据，便于用户分析被测设备的性能。
S106：根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析。
在本实施例中，根据第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析的过程可以通过设备性能分析装置自动处理完成。或者，还可以通过用户根据获取的第一日志数据、第一截屏数据以及对被测设备性能分析的需求，选择进一步需要进行的数据处理操作。数据处理操作的实现可以通过本申请实施例提供的设备性能分析装置，也可以通过其他数据处理装置，本申请对此不做限定。
由以上技术方案可知，本申请实施例提供一种设备性能分析方法通过在日志数据集合中选取第一时刻，根据第一时刻可以得到对应的第一日志数据。根据第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，通过第二时刻可以得到对应的第一截屏数据，即获得与第一日志数据同一时刻的第一截屏数据。通过第一映射关系可以将日志数据和截屏数据的时间轴统一，进而可以获得同一时刻的第一日志数据和第一截屏数据，当利用该第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行分析时，可以准确地判断出被测设备的性能问题，解决了由于日志数据和截屏数据的时间轴不统一，导致获取的日志数据与截屏数据之间存在时间差，进而无法准确检测出被测设备性能的问题。
如图8所示，在又一个实施例中提供了一种设备性能分析装置，包括：
获取模块11，用于获取第一时刻，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据。
处理模块12，用于根据第一时刻获取第一日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；根据所述第一时刻在第一映射关系中获得第二时刻，根据所述第二时刻获取第一截屏数据，根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析；其中，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据；所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
在一些实现方式中，获取模块11和处理模块12之间可通过套接字(socket)建立双向通信连接，传送用户选择的第一时刻。如图9所示，具体的，包括以下步骤：
S201：处理模块创建socket，绑定端口号，并监听所述端口号。
S202：获取模块创建socket，向所述端口号发送连接请求。
S203：处理模块接收并通过所述连接请求，与所述服务器建立连接。
S204：获取模块通过所述socket发送第一时刻，关闭所述socket。
S205：处理模块接收所述第一时刻，关闭所述socket。
在本实施例中，通过socket建立处理模块和获取模块的短连接，每进行一次用户选择的第一时刻的数据传输，就建立一次连接，但数据传输结束就关闭socket，断开连接。这种短连接的连接方式所占用的资源量小，对处理器的压力小。并且由于每次都建立新的连接，每次数据传输之间没有联系，即使上一次数据传输出现异常波动，也不会影响本次传输，数据传输的有效率更高。
在一种实现方式中，还包括显示模块15，通过显示模块15向用户展示第一截屏数据，以便于用户更加直观的查看第一截屏数据。可选的，显示模块15还可以显示第一日志数据。如图10所示，用户在日志数据集合中选取第一时刻后，即可展示出与第一时刻对应的第一日志数据，以及与第一日志数据同一时刻的第一截屏数据，用户根据第一日志数据和第一截屏数据对被测设备进行性能分析。
通过本申请实施例提供的设备性能分析装置，用户通过在日志数据集合中选取第一时刻，通过第一时刻可以得到对应的第一日志数据。根据第一时刻在第一映射关系中获得第二时刻，通过第二时刻可以得到对应的第一截屏数据，即获得与第一日志数据同一时刻的第一截屏数据。用户根据与第一日志数据同一时刻对应的第一截屏数据，便于直观快速的定位到被测设备出现的问题，根据第一日志数据进一步进行性能分析，从而可以提高设备性能分析的效率。
在一种实现方式中，所述处理模块12，还用于根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻；其中，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
在一种实现方式中，所述处理模块12，还用于获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
在一种实现方式中，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
在一种实现方式中，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
在一种实现方式中，所述获取模块12，还用于获取追踪模块13抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块13抓取被测设备的至少一组日志数据生成；或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据获取所述日志数据集合。获取模块12可以通过追踪模块13获取得到日志数据集合，或者获取模块12根据抓取被测设备的至少一组日志数据生成日志数据集合。
在一种实现方式中，所述获取模块12，还用于获取截屏模块14抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块14抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据获取所述截屏数据集合。获取模块12可以通过截屏模块14得到截屏数据集合，或者获取模块12根据抓取被测设备的至少一组截屏数据生成截屏数据集合。
可选的，如图8所示的设备性能分析装置，追踪模块13、截屏模块14和显示模块15集成在设备性能分析装置中，以使设备性能分析装置具有获取被测设备日志数据、截屏数据以及显示数据的功能。
可选的，如图11所示的设备性能分析装置，追踪模块13和截屏模块14和显示模块15设置在设备性能分析装置的外部，通过与设备性能分析装置建立连接，传输日志数据和截屏数据，并可以显示截屏数据。以此可以减小设备性能分析装置的体积，降低设备性能分析装置运行的能耗。
可选的，如图12所示的设备性能分析装置，显示模块15集成在设备性能分析装置中，追踪模块13和截屏模块14设置在设备性能分析装置的外部，追踪模块13和截屏模块14通过与设备性能分析装置建立连接，传输日志数据和截屏数据，设备性能分析装置通过显示模块15可以显示截屏数据。
如图13所示，本申请实施例还提供了一种电子设备，该设备包括：处理器301和存储器302，所述处理器301和所述存储器302耦合，所述存储器存储有程序指令303，当所述存储器302存储的程序指令303被所述处理器301执行时，实现以上所述的方法。处理器301，用于支持上述装置实现上述方面中所涉及的功能，例如，生成或处理上述方法中所涉及的信息。存储器302，用于保存性能分析装置必要的程序指令303和数据。
当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。例如，在前述图4和图5所示的装置中的获取模块11可以通过移动通信模块或无线通信模块来实现，处理模块12可以由处理器来实现。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括一个或多个计算机程序指令。在计算机加载和执行所述计算机程序指令时，全部或部分地产生按照上述图2和图3所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。
所述计算机程序指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网络节点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个节点进行传输。
此外，在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或多于两个。另外，为了便于清楚描述本申请实施例的技术方案，在本申请的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。本领域技术人员可以理解“第一”、“第二”等字样并不对数量和执行次序进行限定，并且“第一”、“第二”等字样也并不限定一定不同。
以上所述的本申请实施方式并不构成对本申请保护范围的限定。

Claims (26)

1.一种设备性能分析方法，其特征在于，包括：
获取第一时刻以及所述第一时刻对应的第一日志数据，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；
根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，所述第一映射关系为所述日志数据集合和截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据；
根据所述第二时刻获取第一截屏数据，所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一时刻和第一映射关系获得第二时刻，包括：
根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差；
根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：
获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；
根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述标识时刻为parent_ts时刻。
5.根据权利要求3-4任一项所述的方法，其特征在于，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，还包括：
获取追踪模块抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据生成；
或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据生成所述日志数据集合。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述追踪模块采用Systrace工具。
9.根据权利要求1-8任一项所述的方法，其特征在于，还包括：
获取截屏模块抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；
或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据生成所述截屏数据集合。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述截屏模块采用Minicap工具。
11.根据权利要求1-10任一项所述的方法，其特征在于，还包括：显示所述第一截屏数据。
12.根据权利要求1-11任一项所述的方法，其特征在于，还包括：根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析。
13.一种设备性能分析装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取第一时刻，所述第一时刻为用户在日志数据集合中选择的日志采样时刻，所述日志数据集合中包括至少一个所述日志采样时刻，每个所述日志采样时刻对应一组被测设备抓取的日志数据；
处理模块，用于根据第一时刻获取第一日志数据，所述第一日志数据为所述第一时刻对应的日志数据；根据所述第一时刻在第一映射关系中获得第二时刻，根据所述第二时刻获取第一截屏数据；
其中，所述第一映射关系为所述日志数据集合和所述截屏数据集合的对应关系，所述第二时刻为所述截屏数据集合中的一个截屏采样时刻，所述截屏数据集合中包括至少一个截屏采样时刻，每个所述截屏采样时刻对应一组所述被测设备的截屏数据；所述第一截屏数据为所述第二时刻对应的截屏数据。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述处理模块，还用于根据第二映射关系确定与所述第一时刻对应的第一截屏时刻，根据所述第一截屏时刻在所述截屏数据集合中查找，获得与所述第一截屏时刻的差值最小的截屏采样时刻，所述截屏采样时刻作为所述第二时刻；其中，所述第二映射关系为所述所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述处理模块，还用于获取第一参数，第二参数和第三参数，所述第一参数为抓取被测设备日志数据的起始时刻时间戳，所述第二参数为日志数据的标识时刻，所述第三参数所述标识时刻对应的时间戳；根据所述第一参数，所述第二参数和所述第三参数确定所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差。
16.根据权利要求15所述的装置，其特征在于，所述标识时刻为parent_ts时刻。
17.根据权利要求15-16任一项所述的装置，其特征在于，所述第一时刻与第一截屏时刻之间的时间差的表达式为：
ΔT＝A1+(A2-A3)；
其中，ΔT为时间差，A1为所述第一参数，A2为所述第二参数，A3为所述第三参数。
18.根据权利要求17所述的装置，其特征在于，所述第二映射关系的表达式为：
T2＝T1+ΔT；
其中，T2为所述第一截屏时刻，T1为所述第一时刻，ΔT为时间差。
19.根据权利要求13-18任一项所述的装置，其特征在于，所述获取模块，还用于获取追踪模块抓取的所述日志数据集合，所述日志数据集合由所述追踪模块抓取被测设备的至少一组日志数据生成；或，获取被测设备的至少一组日志数据，根据所述抓取被测设备的日志数据获取所述日志数据集合。
20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述追踪模块采用Systrace工具。
21.根据权利要求13-20任一项所述的装置，其特征在于，所述获取模块，还用于获取截屏模块抓取的所述截屏数据集合，所述截屏数据集合由所述截屏模块抓取被测设备的至少一组截屏数据生成；
或，获取被测设备的至少一组截屏数据，根据所述抓取被测设备的截屏数据获取所述截屏数据集合。
22.根据权利要求21所述的装置，其特征在于，所述截屏模块采用Minicap工具。
23.根据权利要求13-22任一项所述的装置，其特征在于，还包括显示模块，用于显示所述第一截屏数据。
24.根据权利要求13-23任一项所述的装置，其特征在于，所述处理模块，还用于根据所述第一日志数据和所述第一截屏数据对所述被测设备进行性能分析。
25.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器和存储器，所述处理器和所述存储器耦合，所述存储器存储有程序指令，当所述存储器存储的程序指令被所述处理器执行时，实现如权利要求1至12中任一项所述的方法。
26.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序指令，当所述计算机程序指令被运行时，实现如权利要求1至12中任一项所述的方法。
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