CN113393555B - 一种基于着色器的屏幕填充率统计方法及其系统 - Google Patents

一种基于着色器的屏幕填充率统计方法及其系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种基于着色器的屏幕填充率统计方法,所述方法设置有一着色器模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef并得到片元颜色color中,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据;所述方法包括如下步骤:步骤S1、查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;步骤S2、利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;步骤S3、根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率。本发明将Overdraw的表现数值化,变成一个衡量标准,从而能快速得知GPU的性能瓶颈。

Description

一种基于着色器的屏幕填充率统计方法及其系统
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,特别是一种基于着色器的屏幕填充率统计方法及其系统。
背景技术
屏幕填充率是指GPU每秒可写入或渲染的像素总数,大多数GPU的性能瓶颈来自于填充率,尤其在移动设备上,Overdraw是指当同一个像素被进行多次绘制导致的一种现象,是反应屏幕填充率的一个指标,Overdraw与屏幕填充率是成正比。而现有技术中,只有对Overdraw进行图形展示,没有数值化,无法形成一个衡量,即不能确定GPU的性能瓶颈。
片元是光栅化过程的产物;光栅化是将一个图元转变为一个二维图象,二维图象上每个点都包含了颜色、深度和纹理数据,将该点和相关信息叫做一个片元。
发明内容
为克服上述问题,本发明的目的是提供一种基于着色器的屏幕填充率统计方法,能将Overdraw的表现数值化,变成一个衡量标准,从而能快速得知GPU的性能瓶颈。
本发明采用以下方案实现:一种基于着色器的屏幕填充率统计方法,所述方法设置有一着色器模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color,同时保存到纹理数据;
所述方法包括如下步骤:步骤S1、查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
步骤S2、利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;
步骤S3、根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率。
进一步的,所述步骤S2进一步具体为:步骤S21、从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;
步骤S22、根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
①color=colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加。
进一步的,所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
本发明还提供了一种基于着色器的屏幕填充率统计系统,所述系统包括着色器模块、替换模块、数据处理模块、以及Overdraw值获取模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据;
所述替换模块,用于查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
所述数据处理模块利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;
所述Overdraw值获取模块根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率。
进一步的,所述数据处理模块进一步具体为:从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
①color=colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加。
进一步的,所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
本发明的有益效果在于:本发明将Overdraw的表现数值化,变成一个衡量标准,对GPU的性能瓶颈的定位变成比较简单,即Overdraw数值越大,GPU性能越低,比如Overdraw数值为4代表同一个像素绘制4次,则同一个像素绘制次数越多,则GPU性能越低。
附图说明
图1是本发明的方法流程示意图。
图2是本发明的系统框图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明做进一步说明。
请参阅图1所示,本发明的一种基于着色器的屏幕填充率统计方法,所述方法设置有一着色器模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color(即物体的片元颜色),同时保存到纹理数据;其中,colordef=(colordef.R,colordef.G,colordef.B)(如:colordef=(0.01,0.01,0.01)此值可以自定义,为全局唯一性)
所述方法包括如下步骤:步骤S1、查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
步骤S2、利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;
步骤S3、根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率。
进一步的,所述步骤S2进一步具体为:步骤S21、从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;
步骤S22、根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color(即将颜色参数colordef赋值给片元颜色color),然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
①color=colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加(即为framecolor=framecolor+color)。
其中,所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
本发明的应用场景如下:
如:在游戏引擎Unity渲染队列中,几何体的渲染不透明队列默认是按照从前到后的,由于有深度缓存,可以判断该像素是否需要写入帧缓存,这样可以最小化减少Overdraw;对于透明队列是按照从后到前的渲染实现物体的透明效果,从而使一个物体重复渲染多次,因此造成Overdraw非常高,将Overdraw的表现数值化,变成一个衡量标准,具有重要的意义。
请参阅图2所示,本发明还提供了一种基于着色器的屏幕填充率统计系统,所述系统包括着色器模块、替换模块、数据处理模块、以及Overdraw值获取模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据;
所述替换模块,用于查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
所述数据处理模块利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;
所述Overdraw值获取模块根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率。
所述数据处理模块进一步具体为:从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
①color=colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加。
进一步的,所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
总之,本发明将Overdraw的表现数值化,变成一个衡量标准,对GPU的性能瓶颈的定位变成比较简单,即Overdraw数值越大,GPU性能越低,比如Overdraw数值为4代表同一个像素绘制4次,则同一个像素绘制次数越多,则GPU性能越低。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。

Claims (2)

1.一种基于着色器的屏幕填充率统计方法,其特征在于:所述方法设置有一着色器模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据;
所述方法包括如下步骤:步骤S1、查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
步骤S2、利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;
步骤S3、根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率;所述步骤S2进一步具体为:步骤S21、从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;
步骤S22、根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
① color = colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加;所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
2.一种基于着色器的屏幕填充率统计系统,其特征在于:所述系统包括着色器模块、替换模块、数据处理模块、以及Overdraw值获取模块,所述着色器模块用于传入颜色参数colordef,且能根据物体绘制颜色参数colordef获得片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据;
所述替换模块,用于查找所有物体的材质的着色器,将所述着色器模块替换所有材质的着色器;
所述数据处理模块利用所述着色器模块渲染所有物体到帧缓存,并保存到纹理数据;所述Overdraw值获取模块根据纹理数据计算出Overdraw值,所述Overdraw值与所述屏幕填充率是成正比,从而统计出所述屏幕填充率;所述数据处理模块进一步具体为:从CPU端传入物体绘制参数colordef到GPU端;根据物体绘制颜色参数colordef计算出片元颜色color,然后合并所有片元颜色,并生成纹理数据framecolor,具体算法如下:
①color=colordef;
②framecolor=每个片元颜色color相加;所述根据纹理数据计算出Overdraw值中的计算方式为:pixwrite=framecolor/colordef;pixtotal=width*height;overdraw=pixwrite/pixtotal;
其中,colordef为物体绘制颜色参数,framecolor为生成的纹理数据,width为指定屏幕分辨率宽度,height为指定屏幕分辨率高度,pixtotal为当前屏幕像素总和,pixwrite为当前写入像素总和,overdraw为平均像素写入次数。
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