CN113381810A - 一种接收光功率免校准免测试方法、存储介质及芯片 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及光模块测试技术领域，为一种接收光功率免校准免测试方法、存储介质及芯片，包括：S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。通过采用光模块来料及生产测试系统，记录ROSA的相关数据，以此来自动计算接收斜率配置值K。即通过反算出来对应该或需要的响应度的最优放大系数，然后写入光模块内部，来保证光模块接收光功率上报的精度，免除了生产校准和测试步骤，提高生产效率。

Description

一种接收光功率免校准免测试方法、存储介质及芯片
技术领域
本发明涉及光模块测试技术领域，具体涉及一种接收光功率免校准免测试方法、存储介质及芯片。
背景技术
随着技术的发展，光通信模块的传输速率越来越高，传输距离也越来越远。对于100G光模块而言，要实现低成本，则必须使用低成本的通用元器件，同时也要提高生产和测试效率，节省人力资源和测试资源。
传统的光模块输入光功率的测量需要使用光功率计分别测量各通道输入光功率，该种测量方式需要多次插拔光纤，或者通过光衰减器进行多个不同输入光功率测量。但是，多次插拔光纤和通过光衰减器测量容易引入系统误差和增大人为错误风险，而且耗时比较长、效率低等缺点。因此亟需开发新的思路和方法去提高光模块的接收光功率校准及误差精度检测，以满足市场需求。
发明内容
本发明提供了一种接收光功率免校准免测试方法、存储介质及芯片，解决了以上所述的光接收功率的校准及误差精度测试效率低的技术问题。
本发明为解决上述技术问题提供了一种接收光功率免校准免测试方法，包括：
S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；
S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；
S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。
可选地，所述S1具体包括：对于外购ROSA物料，记录光模块序列号SN和供应商来料报告中的综合响应度数据；对于自制ROSA物料，记录SN和综合响应度的对应关系，并全部保存到光模块物料来料记录跟踪系统中。
可选地，所述S2具体包括：根据公式计算得到光模块MCU的ADC管脚输入电压值Vout=Pi*Responsivity*RSSI slope*Resisitor。
可选地，所述S3之后还包括：根据ADC管脚输入电压值Vout及接收斜率配置值K计算得到接收光功率上报值，所述接收光功率上报值= ADC输入电压值*接收斜率配置值K，所述ADC输入电压值为通过ADC管脚输入电压值Vout变换得到的十进制数。
可选地，所示ADC输入电压值=2n*Vout/Vref；
其中，n为ADC的MCU的位数，Vref为参考电压值。
可选地，所述接收斜率配置值K=S/( Responsivity* RSSI slope* Resistor)，S=Vref*107/2n；
其中，S为预设值，Vref为参考电压值。
可选地，所述Responsivity的单位为A/W，RSSI slope的单位为A/A，Pi的单位为瓦，Resistor的单位为欧姆，所述接收光功率上报值的单位为0.1μW。
可选地，所述S1具体包括：使用了光模块物料来料记录跟踪系统来记录ROSA综合响应度，通过电路设计原理图及BOM清单记录ROSA的电子元器件芯片参数，所述综合参数包括ROSA综合响应度及电子元器件芯片参数。
本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。
本发明还提供了一种芯片，包括：处理器，用于从存储器中调用并运行计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。
有益效果：本发明提供了一种接收光功率免校准免测试方法，包括：S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。通过采用光模块来料及生产测试系统，记录ROSA的相关数据，以此来自动计算接收斜率配置值K。即通过反算出来对应该或需要的响应度的最优放大系数，然后写入光模块内部，来保证光模块接收光功率上报的精度，免除了生产校准和测试步骤，提高生产效率。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1为本发明接收光功率免校准免测试方法的流程示意图；
图2为本发明接收光功率免校准免测试方法的具体综合参数的示例图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及／或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图1和图2所示，本发明提供了一种接收光功率免校准免测试方法，包括：S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。通过采用光模块来料及生产测试系统，记录ROSA的相关数据，以此来自动计算接收斜率配置值K。即通过反算出来对应该或需要的响应度的最优放大系数，然后写入光模块内部，来保证光模块接收光功率上报的精度，免除了生产校准和测试步骤，提高生产效率。
其中，原材料记录跟踪方式具体是通过物料跟踪系统进行索引获取，每一个原材料即光模块（包括ROSA和TOSA等）的相关参数或系数均可以根据需要进行记录在案供索引提取。在本实施例中采用现有的物料跟踪系统记录光接收组件（ROSA）的综合参数，综合参数包括且不限于以下ROSA里的参数：光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor，还可以根据需要去记录其他更多的参数。根据上述参数来约束反推计算得到一个接收斜率配置值K即最优放大系数。然后将K写入到光模块MCU中，这样就可以自动对光模块进行校准，不需要额外再重新对光模块进行校准。
具体的原理如下：
首先通过物料跟踪系统记录ROSA综合响应度，然后根据ROSA综合响应度、电路原理图及BOM清单等，计算最优放大系数即接收斜率配置值K，最后将K写入光模块内部，保证接收光功率上报精度。图2中的各个参数的值可以通过综合参数直接获取或者通过后续相应的公式进行计算得到。根据综合参数自动计算出来的Rx slope配置值(免校准)，能够实现上报的Rx DDM和接收光功率极其接近，监控精度非常高。免除接收光功率校准及测试步骤，节省了时间，提高了生产效率。
可选的方案，所述S1具体包括：对于外购ROSA物料，记录光模块序列号SN和供应商来料报告中的综合响应度数据；对于自制ROSA物料，记录SN和综合响应度的对应关系，并全部保存到光模块物料来料记录跟踪系统中。ROSA物料出厂时都有参数标记和序列号SN，在使用物料前将这些参数标记都进行对应记录，全部记录到光模块物料来料记录跟踪系统中，便于后续调用和计算之用。
可选的方案，所述S2具体包括：根据公式计算得到光模块MCU的ADC管脚输入电压值Vout=Pi*Responsivity*RSSI slope*Resisitor。光模块中的ADC参数与ROSA的综合参数相关，且通过上述公式可以自动进行计算得到。ROSA的Pi、Responsivity、RSSI slope及Resisitor这些参数均可以查询并直接引用。有了ADC管脚输入电压值Vout，然后结合接收斜率配置值K便可以计算得到接收光功率上报值，将该接收光功率上报值写入光模块便可以得到想要的光功率，该光功率非常准确，可以理解成理论值。不需要借助额外的设备或装置去对接收光功率校准和误差精度测试。
可选的方案，根据ADC管脚输入电压值Vout及接收斜率配置值K计算得到接收光功率上报值，所述接收光功率上报值= ADC输入电压值*接收斜率配置值K，所述ADC输入电压值为通过ADC管脚输入电压值Vout变换得到的十进制数。转化成十进制数是为了更方便的计算接收光功率上报值。
可选的方案，所示ADC输入电压值=2n*Vout/Vref；其中，n为ADC的MCU的位数，Vref为参考电压值。当光模块MCU（这里即ADC的MCU）为12位且参考电压值为2.5V，所述ADC输入电压值=4096*Vout/2.5。其他位数及参考电压值根据相同方法进行对应转化，以使得最后计算接收光功率上报值的数据精确性。比如其它非12位ADC(n位)的MCU或者非2.5V参考电压值(Vref)的MCU，ADC输入电压值=2n*Vout/Vref，若用到本发明的，也在本发明的保护范围内。
可选的方案，所述接收斜率配置值K=S/( Responsivity* RSSI slope*Resistor)，S=Vref*107/2n；其中，S为预设值，Vref为参考电压值。当所述ADC的MCU为12位且参考电压值为2.5V时，所述接收斜率配置值K=S/( Responsivity* RSSI slope*Resistor)，其中预设值S=6103=2.5*107/4096；当所述ADC的MCU为n位且非12位或者参考电压值Vref不为2.5V时，上述预设值S=Vref*107/2n。
接收斜率配置值K=6103/( Responsivity* RSSI slope* Resistor)。所述Responsivity的单位为A/W，RSSI slope的单位为A/A，Pi的单位为瓦，Resistor的单位为欧姆，所述接收光功率上报值的单位为0.1μW。每个参数都按照固定单位进行统一，最后得到单位为0.1μW的接收光功率上报值。使用该计算出来的Rx slope配置值(免校准)，能够实现上报的Rx DDM功能监控和接收光功率极其接近，监控精度非常高。
需要特别指出的是，本申请实施例中所有的公式的计算都不参与符号的运算，在代入数值前，只需将对应的每个参数按照上述的单位进行获取数值即可。
可选的方案，所述S1具体包括：使用了光模块物料来料记录跟踪系统来记录ROSA综合响应度，通过电路设计原理图及BOM清单记录ROSA的电子元器件芯片参数，所述综合参数包括ROSA综合响应度及电子元器件芯片参数。首先通过物料跟踪系统记录ROSA综合响应度，然后根据ROSA综合响应度、电路原理图及BOM清单等，计算最优放大系数即接收斜率配置值K，最后将K写入光模块内部，保证接收光功率上报精度。
本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。该储存介质用于存储的计算机程序具体实现方法如下：
S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；
S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；
S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。
本发明还提供了一种芯片，包括：处理器，用于从存储器中调用并运行计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。
该处理用于执行所述的接收光功率免校准免测试方法的指令具体包括：
S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；
S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；
S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质（包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等）上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备（系统）、和计算机程序产品的流程图和／或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和／或方框图中的每一流程和／或方框、以及流程图和／或方框图中的流程和／或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和／或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

Claims (10)

1.一种接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，包括：
S1，采用原材料记录跟踪方式记录光接收组件（ROSA）的综合参数；
S2，根据所述综合参数里的光电二极管参数Responsivity、跨阻放大器的接收信号强度指示的斜率RSSI slope、接收光功率Pi及采样电阻值Resistor自动计算接收斜率配置值K；
S3，将所述接收斜率配置值K写入光模块MCU中，以免去接收光功率的校准和误差精度测试。
2.根据权利要求1所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述S1具体包括：对于外购ROSA物料，记录光模块序列号SN和供应商来料报告中的综合响应度数据；对于自制ROSA物料，记录SN和综合响应度的对应关系，并全部保存到光模块物料来料记录跟踪系统中。
3.根据权利要求1所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述S2具体包括：根据公式计算得到光模块MCU的ADC管脚输入电压值Vout=Pi*Responsivity*RSSIslope*Resisitor。
4.根据权利要求3所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述S3之后还包括：根据ADC管脚输入电压值Vout及接收斜率配置值K计算得到接收光功率上报值，所述接收光功率上报值= ADC输入电压值*接收斜率配置值K，所述ADC输入电压值为通过ADC管脚输入电压值Vout变换得到的十进制数。
5.根据权利要求4所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所示ADC输入电压值=2n*Vout/Vref；
其中，n为ADC的MCU的位数，Vref为参考电压值。
6.根据权利要求5所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述接收斜率配置值K=S/( Responsivity* RSSI slope* Resistor)，S=Vref*107/2n；
其中，S为预设值，Vref为参考电压值。
7.根据权利要求4所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述Responsivity的单位为A/W，RSSI slope的单位为A/A，Pi的单位为瓦，Resistor的单位为欧姆，所述接收光功率上报值的单位为0.1μW。
8.根据权利要求1所述的接收光功率免校准免测试方法，其特征在于，所述S1具体包括：使用了光模块物料来料记录跟踪系统来记录ROSA综合响应度，通过电路设计原理图及BOM清单记录ROSA的电子元器件芯片参数，所述综合参数包括ROSA综合响应度及电子元器件芯片参数。
9.一种存储介质，其特征在于：所述存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行权利要求1至8任一项所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。
10.一种芯片，其特征在于，包括：处理器，用于从存储器中调用并运行计算机程序，所述计算机程序包括：用于执行权利要求1至8任一项所述的接收光功率免校准免测试方法的指令。
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