CN101241025A - 光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置 - Google Patents
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Abstract
光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置,增加了动态范围。电压检出电路(4)以及放大电路(5)给运算装置(9)提供第1信号E-mon1,其是与受光元件(PD)1中的电流成比例的电压,DC检波电路(6)以及放大电路(7)给运算装置(9)提供第2信号E-mon2,其由包络线检波PD1中的电流成比例的TIA3的电压后获得。运算装置(9)对比第1信号的电平和规定的设定值之后,在第1信号电平为设定值以上的情况下,选择根据第1信号获得的光能值,小于情况下,选择根据第2信号获得的光能值,将此作为测量光能值Pout输出。可给外部装置提供TIA3的信号输出OUT,因此既具有光信号接收装置的功能,又可测量光能值。
Description
技术领域
本发明涉及光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置,更具体而言,涉及可高精度测量由输入口接收的,由光强度调制信号构成的光信号的能量的光能测量装置以及配置了该装置的光信号接收装置。
背景技术
在测量光信号的能量的现用装置之中,是用光二极管(PD)接收该光信号,通过检出该PD中的电流值,作为与该电流值对应的值获得光能测量值的。下面的专利文献1及2中公示出此种光能测量装置。
专利文献1:2003-322564号公报
专利文献2:特开平7-140001号公报
发明内容
通过检出电流检出电阻两端的电压检出现用的PD中的电流的方法存在动态范围较小的问题。也就是说,光能Pin和PD电流(I)的关系如图7所示,在输入光能Pin较大的区域内,由于变量ΔI/ΔPin大,且大致具有线形特性,因而能进行较高精度的测量,但在光能较小的区域内,即使光能发生了变化,PD电流的变化也极小。因此在光能相对较小的区域内,由于误差变大,因而导致测量精度低下,其结果是无法增大光能测定的动态范围。
不过,专利文献1所述的光能计意图扩大动态范围,配置了能量范围切换功能,其按照受光的光能电平选择放大器的增益。然而,由于该能量计由以下各部分构成——设置分光器,使受光光分支,通过用辅助测量系统监视该分支光,取得光能电平,并据此选择放大器的增益,因而需要配置分光器的同时,还需要在辅助测量系统中配置受光部以及光能测量功能。
此外,专利文献2的光能测定装置采用以下结构——利用配置了范围切换功能的变压器阻抗耦合放大器把光二极管中的电流变换为电压。因此,测量动态范围的扩大可通过控制变压器阻抗耦合放大器的增益来进行,因而存在与专利文献1的现用例相同的问题。
此外,现用的光能测量装置是作为测量装置单独存在的,也就是说,是独立于通过接收光信号,生成与该光信号对应的电信号,与其它装置通信的装置之外装置。因此,由于当打算在用光信号接收装置接收光信号期间测量光信号能量的情况下,需要用分光器等提取光信号的一部分,并测量该分支出的一部分光信号的能量,因而需根据更小的光能测定该值,结果出现测定精度低下的问题。此外,由于需要分光器等,因而难以实现装置的小型化以及低价格化。
尤其是在光信号是光强度调制信号的情况下,不同的接收环境下信号的动态范围有可能大幅度变动,而现在并不存在可用高精度且小型及低价的装置测量光强度调制信号能量的装置。
本发明的正是鉴于此种现用例的问题提出来的,其第1目的是在测量光强度调制信号的光能的光能量测量装置之中,提供一种动态范围大的光能测量装置。
此外,本发明的第2目的是提供一种配置了动态范围大的光能测量装置的光信号接收装置,其小型且低价格。
为了实现上述目的,本发明的主要观点是在光强度调制信号的光信号的能量大的区域内采用PD电流检出方式,而在光能量小的区域内采用波形DC检波方式。
此外,在本发明之中,通过把变压器阻抗耦合放大器的输出作为光信号接收装置的外部输出及能量测量用的信号使用,可在接收光强度调制信号的同时,测量其能量。
此外,本发明的第1发明涉及的,测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的能量电平的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出由电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,其接收第1信号,对比第1信号电平与规定的设定值之后,当第1信号电平为设定值以上的情况下选择第1运算装置的输出,小于情况下选择第2运算装置的输出,将此作为光能测量值输出。
在上述本发明的第1发明涉及的光能测量装置之中,其选择装置最好还具有以下结构:当第1信号电平为设定值以上情况下仅使第1运算装置动作,当第1信号电平小于设定值情况下仅使第2运算装置动作。
此外,本发明的第2发明涉及的测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的光能电平的光能测量装置,其特征在于,具有:
第1输出装置,其输出由电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,其接收第2信号,对比第2信号电平与规定的设定值之后,当第2信号电平为设定值以上的情况下选择第1运算装置的输出,小于情况下选择第2运算装置的输出,将此作为光能测量值输出。
在上述本发明的第2发明涉及的光能测量装之中,选择装置最好还具有以下结构:当第2信号电平为设定值以上情况下仅使第1运算装置动作,小于情况下仅使第2运算装置动作。
此外,本发明的第3发明涉及的测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的能量的光能测量装置,其特征在于,具有:
第1输出装置,其输出由电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,当第1运算装置运算出的光能电平为规定的设定值以上情况下选择该光能电平,小于情况下选择第2运算装置运算出的光能电平,将此作为光能测量值输出。
此外,本发明的第4发明涉及的测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的光能的光能测量装置,其特征在于,具有:
第1输出装置,其输出由电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,当第2运算装置运算出的光能电平小于规定的设定值的情况下选择该光能电平,大于等于情况下选择第1运算装置运算出的光能电平,将此作为光能测量值输出。
在上述第1~第4发明涉及的光能测量装置之中,该装置最好还具有:
温度检出装置,其测定光能测量装置的温度;
温度补偿装置,其根据检出的温度实施由选择装置输出的光能测量值的温度补偿。此外,第1及第2运算装置最好分别配置把第1及第2信号变换为光能电平的第1及第2图表;
温度补偿装置最好配置按照温度校正光能测量值的第3图表。此外,受光元件接收的光信号最好是数字视频传送规格的光强度调制信号。或者是模拟视频信号。
上述本发明的第1~第4发明涉及的能量测量装置,第1输出装置最好配置平滑电路;光能测量装置最好还配置DC检波电路,其连接在第2输出装置和第2运算装置之间,进行包括包络线成分在内的检波;
利用平滑电路及DC检波电路,即可将第1及第2信号作为DC信号分别提供给第1及第2运算装置。
此外,该装置最好还配置:
第1模/数变换器,其连接在第1输出装置和第1运算装置之间;
第2模/数变换器,其连接在第2输出装置和第2运算装置之间;
利用这些变换器即可将第1及第2信号作为数字信号分别提供给第1及第2运算装置。
此外,本发明的第5发明提供一种接收由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号之后,输出与该信号对应的电信号的光信号接收装置,其特征在于:该装置配置有上述光能测量装置,把与光信号对应的电信号作为第2输出装置配备的变压器阻抗耦合放大器的输出或其反转输出来输出。
本发明的第5发明涉及的光信号接收装置最好还配置有显示装置,其接收变压器阻抗耦合放大器输出的,与光信号对应的电信号,并显示其波形,还可显示用光能测量装置获得的光能测量值。该显示装置最好是波形监视器或读出示波器。
(发明效果)
由于本发明具有上述结构,因而可增大光强度调制信号的能量测定动态范围,所以可在从光能大的区域到小的区域范围内减少误差,获得与光能处于线性关系的检出电压。
此外,若采用本发明,可在具有光信号接收装置功能的同时,使能够测量接收到的光信号能量的装置小型化及低价格化。
附图说明
图1是本发明涉及的,配置了光能测量装置的光信号接收装置的整体框图。
图2A是在图1所示的装置之中,表示用PD1接收的光信号的能量电平和从放大电路5输入运算装置9的电压信号E-mon1的关系的曲线图,等效性示出输入PD的光信号能量电平和PD中的电流间的关系。
图2B是在图2A的曲线上增加了温度特性的曲线图。
图3A是在图1所示的装置之中,表示用PD1接收的光信号的能量电平和从放大电路7输入运算装置9的电压信号E-mon2的关系的曲线图。
图3B是在图2A的曲线上增加了温度特性的曲线图。
图4是表示在图1所示装置的运算装置9之中实施的动作的一种方式的流程图。
图5是表示在图1所示装置的运算装置9之中实施的动作的另一种方式的流程图。
图6是表示用图1所示的装置,通过实机测试测量光能时的曲线图。
图7是表示输入PD的光信号的能量电平和PD中的电流之间关系的曲线图。
具体实施方式
图1是表示本发明涉及的光能测量装置的一种实施方式的整体框图。在图1之中,1是构成光耦合器的受光部的光二极管(PD),接收光强度调制信号。光强度调制信号例如可以是基于SD-SDI(Standard Definition Serial Digital Interface)、HD-SDI(HighDefinition Serial Digital Interface)、DVB-ASI(Digital VideoBrodcasting-Asychronous Serial Interface)信号等的数字视频传输规格的信号。2是电流检出电阻(阻值已知),其连接在电源VCC和PDI之间,用于提取与PD中的电流成比例的电压;3是变压器阻抗耦合放大器(TIA),用于输出与电源VCC流入PD1的电流对应的电压,配置有作为非反转输出端子的信号输出端子OUT、以及反转输出端子OUT*。TIA3的信号输出端子OUT用于将与PD1接收的光信号对应的电压信号输出到其它外部电路装置。作为外部电路装置,虽可连接任何装置,但最好是例如波形监视器、读出示波器之类波形观察装置。此外,作为外部装置还可连接波形观察装置,在该装置上显示后文说明的从运算装置获得的光能值。
4是由平滑电路构成的电压检出电路,其接收电流检出电阻2两端的电压,作为结果输出与PD1中的电流对应的DC电压,5是放大电路,其放大电压检出电路4的输出。还可不用电压检出电路4,而是构成电流检出(再生)电路,其根据电流检出电阻2的电压降,再生与该电阻2中的电流相同的(或与该电流成比例的)电流,使用输出与放大电路5的电流对应的电压的电路取代。
此外,6是DC检波电路,其DC检波TIA3的反转输出端子OUT*的输出;7是放大电路,其放大DC检波电路6的输出。还可根据需要,将反转输出端子OUT*用于给外部的电路装置输出信号,将非反转输出端子OUT的输出提供给DC检波电路6。DC检波电路6通过将TIA3的输出的平均值或峰值检出后平滑化,输出与输入的光信号的能量电平对应的DC电压。而DC检波电路6最好不采用Peak toPeak检波,而采用包络线检波。这是因为前者会因调制程度的不同在输出DC电压上产生误差。
8是温度检出电路,其输出与光信号接收装置的温度对应的电压。
9是CPU等的运算装置,输入放大电路5及7提供的信号E-mon1以及E-mon2,还有温度检出电路8提供的信号Temp,通过根据这些信号进行运算处理,输出测量光能值Pout。
而运算装置9具有A/D(模/数)变换功能,利用该功能可把从放大电路5、7以及温度检出电路8输入的电压信号变换为数字信号。运算装置9也可不具有A/D变换功能,而是通过在适当的位置上配置A/D变换器,以数字形态将信号输入运算装置9。
此外,也可不配置电压检出电路(平滑电路)4以及DC检波电路6,而是通过用A/D变换器取样电流检出电阻2两端的电压及TIA3的反转输出OUT*的电压输出作为数字信号,并使这些数字信号输入运算装置9。
图2A是表示向PD1输入的光信号的能量Pin和通过电流检出电阻2以及电压检出电路4从放大电路5输出的电压信号Emon1之间关系的曲线图。正如上文所述,由于放大电路5的输出与PD1中的电流值具有比例关系,因而该图2A的曲线与图7表示光能Pin和PD1的电流值之间关系的曲线本质上相同。
图2B表示图2A的曲线所示的输入光能Pin和信号E-mon1之间关系的温度特性(温度依赖性),图中的粗线表示温度Tc为常温25℃(Tc=Ta=25℃)时的情况,细线表示温度Tc高于25℃(Tc>Ta)时的情况,虚线表示温度TC低于25℃(Tc<Ta)时的情况。
图3A是模式性表示向PD1输入的光信号的能量Pin和通过TIA3以及DC检波电路6从放大电路7获得的电压信号E-mon2之间关系的曲线图。
图3B表示图3A的曲线中所示的输入光能Pin和信号E-mon2之间关系的温度特性,粗线为温度Tc为常温25℃时的情况,细线为Tc高于25℃(Tc>Ta)时的情况,虚线为温度低于25℃(Tc<Ta)时的情况。
运算装置9正如图1中所示,配置有初始设定信息存储单元91以及程序单元92。
初始设定信息存储单元91内可通过适当的输入装置预先输入必要的初始设定信息。初始设定信息内包括第1以及第2数据图表,切换点、温度补偿用图表,分别具有以下结构,并可按照下述使用。
第1数据图表(E-mon1用):
是用于检索与信号E-mon1的电平对应的光能电平的检索图表,用于根据图2A的曲线所示的函数输出光能值
第2数据图表(E-mon2用):
是用于检索与信号E-mon2的电平对应的光能电平的检索图表,用于根据图3A的曲线表示的函数输出光能值。
切换点:
用于切换输出第1数据图表以及第2数据图表中的某一种光能值,是规定的设定电压值或设定光能值。当把切换点设定为设定电压值的情况下,该电压值是图2A的E-set1(图3A的E-set2),当信号E-mon1(信号E-mon2)大于等于(小于)该电压值的情况下,使用从第1数据图表(第2数据图表)中检索出的值,当小于(大于等于)该电压值的情况下,使用从第2数据图表(第1数据图表)中检索出的值。此外,使用设定光能值的情况下,该能量值Power-Set与图2A的Power-Set1以及图3A的Power-Set2相等(Power-Set=Power-Set1=Power-Set2),当获得的能量值Power-mon1(以及信号Power-mon2)为该设定能量值以上Power-Set的情况下,使用第1数据图表(第2数据图表)的检索输出,小于该设定能量值的情况下,使用第2数据图表(第1数据图表)的检索输出。
温度补偿用数据图表:
该检索图表是用于补偿与图1所示的光信号接收装置的温度(模块温度)对应的光能值的变化的,其可用于根据图2B以及图3B中所示的温度特性、以及温度检出电路8提供的信号Temp、修正参照第1或第2数据图表获得的光能值。
下表例示出根据图2B以及图3B中所示的实测温度特性制作成的温度补偿图表。在该表之中,示出以常温25℃为基准,0℃以及50℃下应补偿的光能值,当信号Temp显示出在此之外的温度的情况下,可通过插补处理设定应补偿的光能值。此外,还可根据需要在温度补偿表中存储包含0℃以及50℃在内的或其余温度下的补偿值。
表1测量光能值=[Power-mon1或Power-mon2]+[修正值]
测量光能值 | 修正值 | ||
P | 0℃ | 25℃ | 50℃ |
P(1) | Pa(1)-Pc(1) | 0 | Pa(1)-Pb(1) |
P(2) | Pa(2)-Pc(2) | 0 | Pa(2)-Pb(2) |
P(3) | Pa(3)-Pc(3) | 0 | Pa(3)-Pb(3) |
P(4) | Pa(4)-Pc(4) | 0 | Pa(4)-Pb(4) |
P(5) | Pa(5)-Pc(5) | 0 | Pa(5)-Pb(5) |
: | : | : | |
P(n) | Pa(n)-Pc(n) | 0 | Pa(n)-Pb(n) |
表1温度补偿图表的例示
上述初始设定信息可通过预先实机测试图1所示的光信号接收装置获得,预先存储在运算装置9的初始设定信息存储单元91中。在实机测试中,例如在改变光信号能量的同时,取得从放大电路5以及7输出的信号E-mon1以及E-mon2,获得图2A及图3A所示的相关关系。并制作出与这些相关关系对应的第1及第2数据图表,并运算这些相关关系的斜度,将前者的斜度和后者的斜度的大小关系反转的点设定为切换点。对于温度补偿图表,同样可设想使用环境下的温度范围,通过使温度在该范围内变更进行实机测试,制作出用于补偿的图表。
实机测试以及初始设定信息的纳入既可在光信号接收装置出厂时进行,也可在使用光信号接收装置时适当进行。后者的情况下,还可将多个初始设定信息,即,第1数据图表,第2数据图表、切换点、温度补偿图表预先分别存储到初始设定信息存储单元91之中,由工作人员根据使用时等实机测试时获得的适当的数据样品,决定应选择其中的哪一个。
下面参照图4的流程图说明可由运算装置9的程序单元92实行的处理。而上述初始设定信息为预先存储在初始设定信息存储单元91之中。
光信号被输入之后,PD1一受到该光信号照射,正如上述,即可从放大电路5及7按照光信号的能量电平,输出图2A及图3A的曲线所示的信号E-mon1以及E-mon2,输入运算装置9。此外,还可将温度检出电路8提供的温度信号Temp也输入运算装置9。
运算装置9在步骤S1中,将这些信号A/D变换后成为数字信号。下文中,无论数字信号还是模拟信号均用同一标号标示。
接着,在步骤S2中,判定信号E-mon1是否大于等于初始设定信息存储单元91中存储的作为切换点的设定电压E-set1。当使用信号E-mon2的情况下,判定E-mon2是否为设定电压E-set2以上。当判定结果为“是”的情况下,过渡到步骤S3,参照第1数据图表,获得与信号E-mon1对应的光能值。另外,当步骤S2中的判定结果为“否”的情况下,前进到步骤S4,参照第2数据图表,获得与信号E-mon2对应的光能值。当作为切换点,设定电压E-set2被存储在初始设定信息存储单元91中的情况下,步骤S2中的判定成为信号E-mon2是否设定电压E-Set2以上的判定,“是”的情况下前进到步骤S3,“否”的情况下前进到步骤S4。
在此之后,在步骤S5中,参照温度补偿用图表利用步骤S3或S4中获得的光能值和表示温度的信号Temp,对该光能值进行温度补偿。并在步骤S6中,直接把数字值或根据需要把光能值D/A变换后使之成为模拟值,作为测量光能值Pout向监视器等输出。
在上述的例中,是把切换点作为用来与信号E-mon1或E-mon2对比的规定设定电压值的,但正如上文所述,也可将切换点作为用来与参照第1数据图表或第2数据图表获得的光能对比的规定的设定光能值。在此情况下,运算装置9中的处理按照图5所示的流程图实施。
也就是说,在步骤S11中把输入的信号A/D变换后,通过从步骤S1实行步骤S12以及S13双方,从第1数据图表中检索与E-mon1对应的光能值的同时,从第2数据图表中检索与E-mon2对应的光能值。接着,在步骤S14中,把从第1数据图表获得的光能值与设定光能值Power-Set对比,当为设定光能值以上的情况下,在步骤S15中温度补偿从第1数据图表获得的光能值,当小于设定光能值的情况下,在步骤S16中温度补偿从第2数据图表获得的光能值。并将温度补偿后的光能值,在步骤S17中作为测量光能值Pout输出。
图6表示用本发明涉及的光能测定装置实施实机测试,把已知的各种电平的光能照射到PD1上时的测试结果。在图6之中,横轴表示输入光能Pin,纵轴表示把从运算装置9输出的光能值D/A变换后获得的电压值,即测量能量值Pout。正如图6所示,可在广大范围内获得与光能处于线性关系的输出电压,因此,若采用本发明,可增大光能测量的动态范围。
此外,若采用本发明,可在接收装置接收光信号的同时,测量其能量电平,并且在此情况下无须使用分光器等。尤其是在作为外部电路装置,把波形监视器,读出显示器等波形观察装置与TIA3的输出OUT连接,在该波形观察装置上显示光信号波形的同时,还可显示运算装置9输出的光能值的情况下,可在一个装置上观察接收到的光信号的波形以及能量值。很显然,还可把本发明的光能测量装置组合进波形观察装置等外部装置之中。
Claims (15)
1、一种测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的光能电平的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,其接收第1信号,对比第1信号电平与规定的设定值之后,当第1信号电平为设定值以上的情况下选择第1运算装置的输出,小于情况下选择第2运算装置的输出,将此作为光能测量值输出。
2、根据权利要求1所述的光能测量装置,其特征在于,选择装置还可采用以下构成:当第1信号电平为设定值以上情况下,仅使第1运算装置动作,当第1信号电平小于设定值情况下仅使第2运算装置动作。
3、一种测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的光能电平的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,其接收第2信号,对比第2信号电平与规定的设定值之后,当第2信号电平为设定值以上的情况下选择第1运算装置的输出,小于情况下选择第2运算装置的输出,将此作为光能测量值输出。
4、根据权利要求3所述的光能测量装置,其特征在于:选择装置还可采用以下构成:当第2信号电平为设定值以上情况下仅使第1运算装置动作,小于情况下仅使第2运算装置动作。
5、一种测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号能量的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,当第1运算装置运算出的光能电平为设定值以上的情况下选择该光能电平,小于情况下选择第2运算装置运算出的光能电平,将此作为光能测量值输出。
6、一种测量由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号的能量的光能测量装置,其特征在于,具有:第1输出装置,其输出电压构成的第1信号,该电压与受光元件中的电流成比例;
第2输出装置,其将受光元件中的电流用变压器阻抗耦合放大器变换为电压后作为第2信号输出;
第1运算装置,其接收第1信号,运算与该信号对应的光能电平;
第2运算装置,其接收第2信号,运算与该信号对应的光能电平;
选择装置,当第2运算装置运算出的光能电平小于设定值的情况下选择该光能电平,大于等于情况下选择第1运算装置运算出的光能电平,将此作为光能测量值输出。
7、根据权利要求1~6任一项所述的光能测量装置,其特征在于,该装置还具有:
温度检出装置,其测定光能测量装置的温度;
温度补偿装置,其根据检出的温度实施由选择装置输出的光能测量值的温度补偿。
8、根据权利要求1~7任一项所述的光能测量装置,其特征在于:第1及第2运算装置分别配置有把第1及第2信号变换为光能电平的第1及第2图表;
温度补偿装置配置有按照温度校正光能测量值的第3图表。
9、根据权利要求1~8任一项所述的光能测量装置,其特征在于:受光元件接收的光信号是数字视频传送规格的光强度调制信号。
10、根据权利要求1~8任一项所述的光能测量装置,其特征在于:受光元件接收的光信号是模拟视频信号。
11、根据权利要求1~10任一项所述的光能测量装置,其特征在于:第1输出装置配置有平滑电路;
光能测量装置还配置有DC检波电路,其连接在第2输出装置和第2运算装置之间,进行包括包络线成分在内的检波;
利用平滑电路及DC检波电路,即可将第1及第2信号作为DC信号分别提供给第1及第2运算装置。
12、根据权利要求1~10任一项所述的光能测量装置,其特征在于:该装置还配置有:
第1模/数变换器,其连接在第1输出装置和第1运算装置之间;
第2模/数变换器,其连接在第2输出装置和第2运算装置之间;
利用这些变换器即可将第1及第2信号作为数字信号分别提供给第1及第2运算装置。
13、一种接收由受光元件接收的光强度调制信号构成的光信号之后,输出与该信号对应的电信号的光信号接收装置,其特征在于:配置有权利要求1~12任一项所述的光能测量装置,把与光信号对应的电信号作为第2输出装置配备的变压器阻抗耦合放大器的输出或其反转输出输出。
14、根据权利要求13所述的光信号接收装置,其特征在于,该装置还配置有:
显示装置,其接收变压器阻抗耦合放大器输出的,与光信号对应的电信号并显示其波形,还可显示用光能测量装置获得的光能测量值。
15、根据权利要求14所述的光信号接收装置,其特征在于:显示装置是波形监视器或读出示波器。
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