CN113359079A - 一种非接触式电压传感器校准方法及系统 - Google Patents

一种非接触式电压传感器校准方法及系统 Download PDF

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CN113359079A CN202110597158.1A CN202110597158A CN113359079A CN 113359079 A CN113359079 A CN 113359079A CN 202110597158 A CN202110597158 A CN 202110597158A CN 113359079 A CN113359079 A CN 113359079A
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周柯
王晓明
金庆忍
田兵
孙宏棣
奉斌
巫聪云
尹旭
林翔宇
宋益
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Abstract

本发明公开了一种非接触式电压传感器校准方法及系统，其方法包括：基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；获取传输矩阵的求解关系式，再导入上述三组采样电压和上述三组真实电压进行拟合运算得到最终传输矩阵。上述方法解决非接触式电压传感器无法测量三相导线真实电压的问题。

Description

一种非接触式电压传感器校准方法及系统
技术领域
本发明涉及设备校准技术领域，尤其涉及一种非接触式电压传感器校准方法及系统。
背景技术
在发输配变用的电力系统中，电压测量是系统运行状态评价的基础。电力系统中的电压等级较高，基于半导体和电阻分压的低电压测量技术并不适用于大电压测量。目前采用的大电压测量技术大多是利用各类互感器测量电压，但该类互感器存在体积大的问题，施工要求复杂，仅适合在变电站、配电房等总站使用，不适宜在系统内各个分布式的测量点使用。后来技术人员提出基于新的MEMS(Micro-Electro-Mechanical System，微机电系统)技术或者电容分压技术可实现非接触式的电压测量，但是这类测量方法均需要通过电场测量来反算电压值，由于电场将受到空间环境、装置布置等因素的影响，使得单独的传感器无法直接使用在被测点上，需要进行测量校准。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，本发明提供了一种非接触式电压传感器校准方法及系统，可解决非接触式电压传感器无法测量三相导线真实电压的问题，具有良好的实用性。
为了解决上述问题，本发明提出了一种非接触式电压传感器校准方法，所述方法包括：
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
可选的，所述利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压包括：
获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
可选的，所述利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压包括：
获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
可选的，所述利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压包括：
获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
可选的，所述获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure BDA0003091580330000031
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压。
另外，本发明实施例提供了一种非接触式电压传感器校准系统，所述系统包括：
第一获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
第二获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
第三获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
参数计算模块，用于获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
可选的，所述第一获取模块进一步用于获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
可选的，所述第二获取模块进一步用于获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
可选的，所述第三获取模块进一步用于获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
可选的，所述获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure BDA0003091580330000041
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压。
在本发明实施例中，通过按照特定规律依次向三相导线施加不同试验电压，获取非接触式电压传感器的采样电压以及三相导线上的真实电压，进而得到非接触式电压传感器校准所需的传输矩阵，克服现有校准技术需要依赖电场参数所带来的不确定性，由此可解决非接触式电压传感器无法测量三相导线真实电压的问题，具有良好的实用性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见的，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本发明实施例中的非接触式电压传感器校准方法的流程示意图；
图2是本发明实施例中的非接触式电压传感器校准系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例
请参阅图1，图1示出了本发明实施例中的非接触式电压传感器校准方法的流程示意图。
如图1所示，一种非接触式电压传感器校准方法，所述方法包括如下：
S101、基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时(保持第二相导线和第三相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
其中，本发明实施例设置所述第一相导线为A相导线、所述第二相导线为B相导线和所述第三相导线为C相导线，根据试验电压的个数可确定所述第一组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA,uEB,uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第一组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA，UB,UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{UA,0,0}。
S102、基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时(保持第一相导线和第三相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
其中，同理根据试验电压的个数可确定所述第二组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA,uEB,uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第二组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA,UB,UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{0,UB，0}。
S103、基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时(保持第一相导线和第二相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
其中，同理根据试验电压的个数可确定所述第三组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA，uEB，uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第三组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA,UB,UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{0，0，UC}。
S104、获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
在本发明具体实施过程中，首先获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure BDA0003091580330000071
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，m11～m33这九个参数均为传输矩阵M的元素，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压；
其次通过调用Matlab软件工具中的pinv函数，结合步骤S101至步骤S103所获取到的十二个采样电压对以及与其相对应的十二个真实电压对进行矩阵拟合求解运算，得到最终传输矩阵，即完成对非接触式电压传感器的校准动作。
基于三相导线上安装的非接触式电压传感器已完成校准，当三相导线投入正常运行状态时，技术人员可根据非接触式电压传感器所反馈回来的三相导线的采样电压，同时结合上述求解关系式和所述最终传输矩阵直接求解出三相导线的真实电压。
在本发明实施例中，通过按照特定规律依次向三相导线施加不同试验电压，获取非接触式电压传感器的采样电压以及三相导线上的真实电压，进而得到非接触式电压传感器校准所需的传输矩阵，克服现有校准技术需要依赖电场参数所带来的不确定性，由此可解决非接触式电压传感器无法测量三相导线真实电压的问题，具有良好的实用性。
实施例
请参阅图2，图2示出了本发明实施例中的非接触式电压传感器校准系统的结构示意图。
如图2所示，一种非接触式电压传感器校准系统，所述系统包括如下：
第一获取模块201，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时(保持第二相导线和第三相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
其中，本发明实施例设置所述第一相导线为A相导线、所述第二相导线为B相导线和所述第三相导线为C相导线，根据试验电压的个数可确定所述第一组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA,uEB,uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第一组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA，UB,UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{UA,0,0}。
第二获取模块202，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时(保持第一相导线和第三相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
其中，同理根据试验电压的个数可确定所述第二组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA，uEB，uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第二组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA，UB，UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{0,UB，0}。
第三获取模块203，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
在本发明具体实施过程中，首先获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；其次，当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时(保持第一相导线和第二相导线上的电压值始终为0)，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
其中，同理根据试验电压的个数可确定所述第三组采样电压包含有四个采样电压对，且任意一个采样电压对为{uEA，uEB，uEC}；根据试验电压的个数可确定所述第三组真实电压包含有四个真实电压对，且任意一个真实电压对为{UA，UB，UC}，更为准确的，此处的任意一个真实电压对为{0，0，UC}。
参数计算模块204，用于获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
在本发明具体实施过程中，首先获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure BDA0003091580330000091
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，m11～m33这九个参数均为传输矩阵M的元素，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压；
其次通过调用Matlab软件工具中的pinv函数，结合所述第一获取模块201至所述第三获取模块203所获取到的十二个采样电压对以及与其相对应的十二个真实电压对进行矩阵拟合求解运算，得到最终传输矩阵，即完成对非接触式电压传感器的校准动作。
基于三相导线上安装的非接触式电压传感器已完成校准，当三相导线投入正常运行状态时，技术人员可根据非接触式电压传感器所反馈回来的三相导线的采样电压，同时结合上述求解关系式和所述最终传输矩阵直接求解出三相导线的真实电压。
在本发明实施例中，通过按照特定规律依次向三相导线施加不同试验电压，获取非接触式电压传感器的采样电压以及三相导线上的真实电压，进而得到非接触式电压传感器校准所需的传输矩阵，克服现有校准技术需要依赖电场参数所带来的不确定性，由此可解决非接触式电压传感器无法测量三相导线真实电压的问题，具有良好的实用性。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可包括：只读存储器(ROM，Read Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random AccessMemory)、磁盘或光盘等。
以上对本发明实施例所提供的一种非接触式电压传感器校准方法及系统进行了详细介绍，本文中采用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种非接触式电压传感器校准方法，其特征在于，所述方法包括：
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
2.根据权利要求1所述的非接触式电压传感器校准方法，其特征在于，所述利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压包括：
获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
3.根据权利要求1所述的非接触式电压传感器校准方法，其特征在于，所述利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压包括：
获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
4.根据权利要求1所述的非接触式电压传感器校准方法，其特征在于，所述利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压包括：
获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；
当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
5.根据权利要求1所述的非接触式电压传感器校准方法，其特征在于，所述获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure FDA0003091580320000021
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压。
6.一种非接触式电压传感器校准系统，其特征在于，所述系统包括：
第一获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第一相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第一组采样电压和第一组真实电压；
第二获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第二相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第二组采样电压和第二组真实电压；
第三获取模块，用于基于三相导线的当前电压为清零状态，利用试验变压器向第三相导线施加不同试验电压，记录三相导线上的第三组采样电压和第三组真实电压；
参数计算模块，用于获取传输矩阵的求解关系式，将上述三组采样电压和上述对应的三组真实电压导入所述求解关系式中进行拟合运算，得到最终传输矩阵。
7.根据权利要求6所述的非接触式电压传感器校准系统，其特征在于，所述第一获取模块进一步用于获取第一相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第一相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第一相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第一组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第一组真实电压。
8.根据权利要求6所述的非接触式电压传感器校准系统，其特征在于，所述第二获取模块进一步用于获取第二相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第二相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第二相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第二组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第二组真实电压。
9.根据权利要求6所述的非接触式电压传感器校准系统，其特征在于，所述第三获取模块进一步用于获取第三相导线的额定电压，确定试验变压器依次向所述第三相导线所施加的试验电压分别为50％的额定电压、80％的额定电压、100％的额定电压和120％的额定电压；当所述试验变压器向所述第三相导线施加不同试验电压时，利用三相导线上安装的非接触式电压传感器采集在每一个试验电压作用下三相导线的采样电压，形成第三组采样电压；同时利用高压探头测量在每一个试验电压作用下三相导线的真实电压，形成第三组真实电压。
10.根据权利要求6所述的非接触式电压传感器校准系统，其特征在于，所述获取传输矩阵的求解关系式为：
Figure FDA0003091580320000041
其中，UA为第一相导线的真实电压，UB为第二相导线的真实电压，UC为第三相导线的真实电压，M为传输矩阵，uEA为第一相导线的采样电压，uEB为第二相导线的采样电压，uEC为第三相导线的采样电压。
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