CN113344276B - 一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,包括以下步骤:采用标准筛序筛子对全粒级入料矿石颗粒进行筛分;从筛分产品中选择窄粒级矿石颗粒样本;检测每个窄粒级颗粒样本的形状指标;称量每个单颗粒矿石的质量,并根据颗粒质量与体积的比值,获得每个单颗粒的密度;计算每个形状、质量和密度性质指标数据集的平均值和标准偏差;颗粒的长度、宽度、高度、体积、面积、长径比和圆形度等形状指标的数据集分别采用最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布、对数正态分布、威布尔分布和威布尔分布来描述其概率分布密度;颗粒的质量和密度指标的数据集分别采用对数正态分布和Logistic分布来描述其概率分布密度。
Description
技术领域
本发明涉及矿石指标预测领域,具体涉及矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法。
背景技术
在矿业生产中,入料矿石颗粒的形状、质量和密度等性质会影响堆浸、搬运、碎磨、重选和浮选等矿物加工过程的效率。对包括颗粒形状、质量、密度等在内的入料矿石性质的精准探测是智能矿物加工的前提条件之一。然而,作为典型的非均质入料,每一粒矿石颗粒的形状、质量、密度指标均不同于其他矿石颗粒。对任一特定的矿石入料,如果采用从矿堆中随机取样并检验样品颗粒形状、质量、密度指标的概率分布规律这一常规做法的话,会存在以下两方面问题:第一,样品采集量大,并进而导致颗粒检测工作量大,增大了获取矿石颗粒性质指标概率分布规律的物质和时间成本;第二,所得结果仅反映颗粒形状、质量、密度等指标的具体概率分布规律,难以进一步从这些规律中提取能够反映矿石性质、处理过程是否发生变化的信息。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,实现快速精确获取矿石颗粒性质指标的概率密度分布。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,包括以下步骤:
步骤S2:从筛分产品中选择2~3个或以上数量的窄粒级矿石颗粒样本;
步骤S3:对每个窄粒级颗粒样本,采用给料机向表面水平的输送机给料,调整给料机以确保以重心最低的方式置于带式输送机上;
步骤S4:通过输送机上方的图像识别装置,检测每个窄粒级颗粒样本的形状指标;
步骤S5:通过带式输送机内置的称重装置称量每个单颗粒矿石的质量,并根据颗粒质量与体积的比值,获得每个单颗粒的密度;
步骤S6:对每个窄粒级颗粒样本,计算其每个形状、质量和密度性质指标数据集的平均值和标准偏差
步骤S7:颗粒的长度、宽度、高度、体积、面积、长径比和圆形度等形状指标的数据集分别采用最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布、对数正态分布、威布尔分布和威布尔分布来描述其概率分布密度;颗粒的质量和密度指标的数据集分别采用对数正态分布和Logistic分布来描述其概率分布密度。
进一步的,所述图像识别装置采用三维激光扫描仪或图像识别相机。
进一步的,所述步骤S3给料时颗粒以单队列形式转移到带式输送机上。
进一步的,所述最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度分布函数分别如下:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
对数正态分布:
Logistic分布:
其中,α、β、γ、δ分别代表概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数。
进一步的,所述最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数与对应数据集的平均值和标准偏差分别存在以下关系:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
δ可用下式计算,
对数正态分布:
Logistic分布:
进一步的,所述矿石颗粒的形状、质量、密度性质指标数据集的平均值和标准偏差通过形如式(12)、(13)、(14)的公式进行预测:
其中,颗粒的长度、宽度、高度、体积、质量、面积和圆形度数据集的平均值和标准偏差采用形如式(12)的公式进行预测:
其中,Yij代表第i的粒级的第j种颗粒性质的数据集的平均值μ或标准偏差σ,μix代表第i个粒级颗粒的几何平均粒度;参数a和b 为系数,其值根据对所检测的多个窄粒级颗粒的Yij和μix进行拟合确定;
当颗粒高度数据集的平均值μ或标准偏差σ采用形如式(12)的公式进行拟合时,如果b参数的值明显小于1,则采用形如式(13) 的公式进行拟合:
Yij=a{1-exp[-b(μix-c)]} (13)
其中,颗粒的密度和长径比数据集的平均值μ或标准偏差σ可以采用式(12)、(13)或(14)之一进行预测;
式(14)的形式如下:
Yij=a{exp[-b(μix)]}+c (14)。
进一步的,所述步骤S2中窄粒级的数量应大于等于式(12)、 (13)、(14)在应用于特定颗粒性质指标时所需的公式系数的数量。
本发明与现有技术相比具有以下有益效果:
1、本发明仅使用少量参数(a、b、c)预测和描述不同粒级矿石颗粒的形状、质量、密度等性质指标数据集的平均值和标准偏差,并进而预测其概率密度分布;
2、本发明可在智能矿物加工中起到精准描述选矿厂入料矿石颗粒的形状、质量和密度等性质指标的概率密度分布情况,并对矿石性质、处理过程的改变做出预警。
附图说明
图1是本发明一实施例中检测装置示意图;
图2是本发明一实施例中G值曲线图。
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明做进一步说明。
请参照图1,本发明提供一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测装置,包括振动给料机、带式传输机、三维激光扫描仪或图像识别相机;所述三维激光扫描仪或图像识别相机设置于输送机上方;所述带式输送机内置有称重装置。
本实施例中提供一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,包括以下步骤;
步骤S3:对每个窄粒级颗粒样本,采用振动给料机(1)向表面水平的带式输送机(2)给料,调整给料机振动频率以确保以重心最低的方式置于带式输送机上。给料时颗粒(3)以单队列形式转移到带式输送机上;
步骤S4:通过输送机上方的三维激光扫描仪或图像识别相机(4),检测每个窄粒级颗粒样本的形状指标L
步骤S5:通过带式输送机内置的称重装置(5)称量每个单颗粒矿石的质量。根据颗粒质量与体积的比值,获得每个单颗粒的密度;
步骤S6:对每个窄粒级颗粒样本,计算其每个形状、质量和密度性质指标数据集的平均值和标准偏差。在下文中,数据集均指在某个窄粒级内的颗粒的某项颗粒性质指标的数据集合。
步骤S7:颗粒的长度、宽度、高度、体积、面积、长径比和圆形度等形状指标的数据集分别采用最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布、对数正态分布、威布尔分布和威布尔分布来描述其概率分布密度。颗粒的质量和密度指标的数据集分别采用对数正态分布和Logistic分布来描述其概率分布密度。
在本实施例中,根据统计学原理,最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度分布函数分别如下:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
对数正态分布:
Logistic分布:
其中,α、β、γ、δ分别代表概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数。以上5种分布的概率密度函数均可用该4种参数的2~3种来进行描述。
根据统计学原理,最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数与对应数据集的平均值和标准偏差分别存在以下关系:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
对数正态分布:
Logistic分布:
其中,μ和σ分别代表某数据集的平均值和标准偏差,E代表欧拉系数,其值约等于0.57722。г(x)代表伽马函数,此处用G1、G2分别代表在本应用场景范围内,伽马函数无恰当的解析表达式,但G1、G2可通过图2进行插值来确定。
在本实施例中,颗粒的高度、圆形度和长径比的数据集均符合威布尔分布。其中,高度的威布尔分布的δ默认取值为0,圆形度的威布尔分布的δ取值固定为0,长径比的威布尔分布的δ取值固定为1。
矿石颗粒的形状、质量、密度等性质指标数据集的平均值和标准偏差通过形如式(12)、(13)、(14)的公式进行预测:
其中,颗粒的长度、宽度、高度、体积、质量、面积和圆形度数据集的平均值和标准偏差采用形如式(12)的公式进行预测:
其中,Yij代表第i的粒级的第j种颗粒性质的数据集的平均值μ或标准偏差σ,μix代表第i个粒级颗粒的几何平均粒度(粒度上下限的乘积的开方)。参数a和b为系数,其值根据对所检测的多个窄粒级颗粒的Yij和μix进行拟合确定。
特别地,当颗粒高度数据集的平均值μ或标准偏差σ采用形如式 (12)的公式进行拟合时,如果b参数的值明显小于1,则采用形如式(13)的公式进行拟合:
Yij=a{1-exp[-b(μix-c)]} (13)
其中,颗粒的密度和长径比数据集的平均值μ或标准偏差σ可以采用式(12)、(13)或(14)之一进行预测。式(14)的形式如下:
Yij=a{exp[-b(μix)]}+c (14)
在智能矿物加工中,需要根据选矿厂入料颗粒性质指标的具体概率密度分布,而不是入料颗粒性质的平均测试结果针对性地设定系统运行条件。这要求对矿石颗粒的形状、质量和密度等性质指标的具体概率密度分布进行精准的预测与描述。本发明可使用少量窄粒级颗粒的检测结果预测和描述不同粒级矿石颗粒的形状、质量和密度等性质指标的具体概率密度分布。
在智能矿物加工中,需要及时发现选矿厂入料矿石类型和/或破碎作业状况的改变情况。当选矿厂入料之前的破碎系统运行正常时,对于颗粒的长度、宽度和高度数据集的平均值或标准偏差,式(12) 中的b参数的值应接近1,同时颗粒的体积、质量和面积数据集的b 参数的值应分别接近3、3和2。如果颗粒的长度和宽度数据集的b 参数的值明显小于1(高度的b参数会保持在接近1)且颗粒的体积、质量和面积数据集的b参数的值明显分别小于3、3和2,可判定破碎设备的排矿口宽度明显小于正常值;当不同批次的矿石颗粒数据集的a参数发生改变时,表明矿石类型和/或破碎作业状况发生了改变。
在现行的选矿厂流程设计中,入料颗粒性质的平均值被用于设备选型或回路设计,这有违于矿石颗粒作为非均质物料的本质。本发明可精确描述矿石颗粒性质指标的概率密度分布,可用于设计更精准的选矿厂流程。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,凡依本发明申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本发明的涵盖范围。
Claims (5)
1.一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S2:从筛分产品中选择2个或以上数量的窄粒级矿石颗粒样本;
步骤S3:对每个窄粒级颗粒样本,采用给料机向输送机给料,调整给料机以确保以重心最低的方式置于带式输送机上;
步骤S4:通过输送机上方的图像识别装置,检测每个窄粒级颗粒样本的形状指标;
步骤S5:通过输送机内置的称重装置称量每个单颗粒矿石的质量,并根据颗粒质量与体积的比值,获得每个单颗粒的密度;
步骤S6:对每个窄粒级颗粒样本,计算其每个形状、质量和密度性质指标数据集的平均值和标准偏差;
步骤S7:颗粒的长度、宽度、高度、体积、面积、长径比和圆形度形状指标的数据集分别采用最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布、对数正态分布、威布尔分布和威布尔分布来描述其概率分布密度;颗粒的质量和密度指标的数据集分别采用对数正态分布和Logistic分布来描述其概率分布密度;
所述最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度分布函数分别如下:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
对数正态分布:
Logistic分布:
其中,α、β、γ、δ依次代表概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数;
所述最大极值分布、正态分布、威布尔分布、对数正态分布和Logistic分布的概率密度函数的位置参数、尺度参数、形状参数和阈值参数与对应数据集的平均值和标准偏差分别存在以下关系:
最大极值分布:
正态分布:
威布尔分布:
δ用下式计算,
β可用下式之一计算;
对数正态分布:
Logistic分布:
所述矿石颗粒的形状、质量、密度性质指标数据集的平均值和标准偏差通过形如式(12)、(13)、(14)的公式进行预测:
其中,颗粒的长度、宽度、高度、体积、质量、面积和圆形度数据集的平均值和标准偏差采用形如式(12)的公式进行预测:
其中,Yij代表第i的粒级的第j种颗粒性质的数据集的平均值μ或标准偏差σ,μix代表第i个粒级颗粒的几何平均粒度;参数a和b为系数,其值根据对所检测的多个窄粒级颗粒的Yij和μix进行拟合确定;
当颗粒高度数据集的平均值μ或标准偏差σ采用形如式(12)的公式进行拟合时,如果b参数的值明显小于1,则采用形如式(13)的公式进行拟合:
Yij=a{1-exp[-b(μix-c)]} (13)
其中,颗粒的密度和长径比数据集的平均值μ或标准偏差σ可以采用式(12)、(13)或(14)之一进行预测;
式(14)的形式如下:
Yij=a{exp[-b(μix)]}+c (14)。
2.根据权利要求1所述的一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,其特征在于,所述图像识别装置采用三维激光扫描仪或图像识别相机。
3.根据权利要求1所述的一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,其特征在于,所述步骤S3给料时颗粒以单队列形式转移到带式输送机上。
4.根据权利要求1所述的一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,其特征在于,所述步骤S2中窄粒级的数量应大于等于式(12)、(13)、(14)在应用于特定颗粒性质指标时所需的公式系数的数量。
5.根据权利要求1所述的一种矿石颗粒形状、质量、密度指标概率分布的预测方法,其特征在于,所述数据集指在某个窄粒级内的颗粒的某项颗粒性质指标的数据集合。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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