CN113315515A - 一种adc通道校准方法 - Google Patents

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刘振
吴华意
王西刚
刘睿恒
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    • H—ELECTRICITY
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    • H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10—Calibration or testing

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  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

本发明提供一种ADC通道校准方法，方法包括：在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。

Description

一种ADC通道校准方法
技术领域
本发明涉及单片机技术领域，更具体地，涉及一种ADC通道校准方法。
背景技术
现有的技术部分单片机由于没有外置模/数转换器ADC(Analog-to-DigitalConverter)外置参考通道，导致使用ADC的时候必须用芯片内置参考源，由于内置参考源的不稳定，温漂较大，一致性不好等问题。对于ADC采集要求较高的产品，内置参考源很难满足设计要求。而更换单片机平台会对软件架构带来较大的变化，需要更长的时间稳定。
因此，现在亟需一种新的ADC通道校准方法来解决上述问题。
发明内容
本发明提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种ADC通道校准方法，根据本发明提供的第一方面，本发明提供一种ADC通道校准方法，包括：
在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；
在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；
开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。
其中，所述单片机包括至少两个ADC通道。
其中，所述第一ADC通道外接参考电路为参考电源芯片。
其中，所述参考电源芯片为TLV431。
其中，所述开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压，包括：
获取第一ADC通道上采集的参考电压V0和参考量化值A0；
获取开启的第二ADC通道上采集的量化值A1；
根据公式
Figure BDA0003112335020000021
计算得到第二ADC通道上校准电压V1。
本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法流程示意图；
图2是本发明实施例提供的单片机ADC通道示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
图1是本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法流程示意图，如图1所示，包括：
101、在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；
102、在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；
103、开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。
具体的，在步骤101中，本发明实施例所采用的方式区别于现有技术，并未采用芯片内置参考源，而是在单片机本身具有的ADC通道上直接外接参考电路，从而能够在不更换单片机平台保持硬件软件架构不变的前提下，进行ADC准确度的校准。
进一步的，在步骤102中，本发明实施例通过测量外接电路的电压值，确定该ADC通道的参考电压和参考量化值。
最后开启需要校准的ADC通道，通过和参考通道的比值对比，实现校准。
本发明实施例提供的一种ADC通道校准方法，利用单片机多余的ADC通道，外加一个参考源芯片或者电路，解决部分单片机由于没有外置参考源，提高ADC采样准确度的方法，该方法对于电路的成本影响不大，提高了经济利用率。
在上述实施例的基础上，所述单片机包括至少两个ADC通道。图2是本发明实施例提供的单片机ADC通道示意图，如图2所示，本发明实施例提供的单片机包括多个ADC通道，分别由ADC0-ADCn，其中选用ADC0外接参考电路，其余ADC通道照常接模拟信号。
可以理解的是，对于最基础的单片机设备，需至少设置两个以上的ADC通道，才可完成采样标定。
在上述实施例的基础上，所述第一ADC通道外接参考电路为参考电源芯片。
如图2所示，本发明实施例所外接的参考电路还可以为参考电源芯片，其中优选的方案为所述参考电源芯片为TLV431或者其他参考电源电路。
在上述实施例的基础上，所述开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压，包括：
获取第一ADC通道上采集的参考电压V0和参考量化值A0；
获取开启的第二ADC通道上采集的量化值A1；
根据公式
Figure BDA0003112335020000031
计算得到第二ADC通道上校准电压V1。
具体的，当外接设计应用的各个ADC通道，如图2中所示的ADC1-ADCn需要采集模拟信号时，先用ADC0采集外置参考电压，得到量化值A0，已知参考电压为电压值V0。
然后分别开启ADC1–ADCn，能够得到各个ADC通道的量化值A1，A2-An。
最后通过公式即能分别计算出各个ADC通道的校准电压。
以ADC1为例，公式为：
Figure BDA0003112335020000041
其余通道可参照该方式测出，本发明实施例在此不再赘述。
以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
最后，本申请的方法仅为较佳的实施方案，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种ADC通道校准方法，其特征在于，包括：
在单片机的第一ADC通道上外接参考电路；
在所述第一ADC通道上采集所述参考电路对应的参考电压和参考量化值；
开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压。
2.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述单片机包括至少两个ADC通道。
3.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述第一ADC通道外接参考电路为参考电源芯片。
4.根据权利要求3所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述参考电源芯片为TLV431。
5.根据权利要求1所述的ADC通道校准方法，其特征在于，所述开启所述单片机上其余各个ADC通道，分别测得各个ADC通道对应的量化值，以计算得到各个ADC通道的校准电压，包括：
获取第一ADC通道上采集的参考电压V0和参考量化值A0；
获取开启的第二ADC通道上采集的量化值A1；
根据公式
Figure FDA0003112335010000011
计算得到第二ADC通道上校准电压V1。
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN103901336A (zh) * 2014-03-05 2014-07-02 江苏欣锐新能源技术有限公司 一种集成电路芯片内部参考电压的校准方法、装置
CN111865308A (zh) * 2020-08-15 2020-10-30 重庆百瑞互联电子技术有限公司 一种带参考通道的tiadc互校准方法、系统、存储介质及设备

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103901336A (zh) * 2014-03-05 2014-07-02 江苏欣锐新能源技术有限公司 一种集成电路芯片内部参考电压的校准方法、装置
CN111865308A (zh) * 2020-08-15 2020-10-30 重庆百瑞互联电子技术有限公司 一种带参考通道的tiadc互校准方法、系统、存储介质及设备

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