CN113295953B - 一种过压保护测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种过压保护测试系统及方法，该系统包括主控设备，与主控设备连接的第一电源、示波器，还包括：第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；第二电源与至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接；控制器与每个MOS管分别连接，用于根据主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备。在过压保护测试过程中，测试电压输出前需要经过缓冲电路，从而示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，根据输出电压脉冲信号由高电平转变为低电平的开始时刻对应的输出电压，就可以得到待测设备准确的过压保护电压。

Description

一种过压保护测试系统及方法

技术领域

本申请涉及过压保护技术领域，尤其涉及一种过压保护测试系统及方法。

背景技术

目前对电子设备进行过压保护测试时，都是采用一个直流电源给电子设备供电，然后采用另一个直流电源给电子设备提供一个瞬间的测试电压，这个测试电压高于电子设备的工作电压范围，然后通过检测电子设备是否掉电来测试电子设备是否能进行过压保护操作及计算过压保护电压。如果这个测试电压无法使得电子设备掉电，则需要人工多次调节测试电压的电压值。因此这种测试方法，测试效率低，且测试电压上升过快，无法得到准确的过压保护电压。

发明内容

本发明实施例通过提供一种过压保护测试系统及方法，用以解决现有技术中过压保护测试效率低、无法得到准确的过压保护电压的问题。

为了解决上述问题，第一方面，本发明实施例提供了一种过压保护测试系统，包括主控设备，与主控设备连接的第一电源、示波器，还包括：第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；第二电源与至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接；控制器与每个MOS管分别连接，用于根据主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备；主控设备用于获取待测设备的工作电压值，根据工作电压值生成MOS管开关连通指令，向控制器发送MOS管开关连通指令，控制第一电源给待测设备上电和下电，控制示波器采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，测试电压的电压值大于工作电压值。

可选地，主控设备还用于获取示波器采集到的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压，将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

可选地，主控设备还用于检查第一电源、示波器、控制器与主控设备的连接正确性。

可选地，第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块设置在硬件主板上。

可选地，缓冲电路包括缓冲电阻和缓冲电容。

可选地，过压保护测试系统还包括：USB模块，用于给控制器供电。

第二方面，本发明实施例提供了一种过压保护测试方法，包括：获取待测设备的工作电压值；控制第一电源给待测设备上电；根据工作电压值确定示波器的运行参数，向示波器发送运行参数，以使示波器根据运行参数运行，采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；根据工作电压值生成MOS管开关连通指令；向控制器发送MOS管开关连通指令，以使控制器根据MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备，MOS管与第二电源连接，并经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接，测试电压的电压值大于工作电压值。

可选地，在向控制器发送MOS管开关连通指令之后，过压保护测试方法还包括：获取示波器获取到的待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压；将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

可选地，根据波形图计算过压保护电压，包括：设置输出电压及输出电压脉冲信号的波形图中输出电压的光标，光标的竖线经过输出电压脉冲信号由高电平转变为低电平的开始时刻，光标的横线经过竖线与输出电压的交点；确定光标的横线与竖线交点处的输出电压值，得到待测设备的过压保护电压。

可选地，根据工作电压值确定示波器的运行参数，包括：查询到工作电压值对应的测试电压的电压值；查询到测试电压的电压值对应的缓冲电路的缓冲时间；根据缓冲时间确定示波器X轴的刻度，根据工作电压值确定示波器Y轴的刻度；确定示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式；根据示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式，示波器X轴的刻度及示波器Y轴的刻度得到示波器的运行参数。

第三方面，本发明实施例提供了一种主控设备，包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行如第二方面或第二方面任意实施方式中和的过压保护测试方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使计算机执行如第二方面或第二方面任意实施方式中的过压保护测试方法。

本发明实施例提供的过压保护测试系统、方法、主控设备及计算机可读存储介质，通过设置主控设备，与主控设备连接的第一电源、示波器，第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；第二电源与至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接；控制器与每个MOS管分别连接，用于根据主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备；主控设备用于获取待测设备的工作电压值，根据工作电压值生成MOS管开关连通指令，向控制器发送MOS管开关连通指令，控制第一电源给待测设备上电和下电，控制示波器采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，测试电压的电压值大于工作电压值；从而在过压保护测试过程中，提供给待测设备的测试电压是由第二电源经过缓冲电路得到的，从而测试电压上升比较缓慢，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，然后根据输出电压脉冲信号由高电平长时间转变为低电平的开始时刻对应的输出电压，就可以得到待测设备准确的过压保护电压；并且由于缓冲电路的设置，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，因此，相比采用直流电源提供一个瞬间的测试电压，并多次调节测试电压的方式，可以设置输出模块输出一个更高一些的测试电压，通过一次测试就实现得到准确的过压保护电压，提高测试的效率，并实现过压保护测试的自动化，减少人力资源及减少直流电源的占用。

上述说明仅是本申请技术方案的概述，为了能够更清楚了解本申请的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本申请的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本申请的具体实施方式。

附图说明

图1为本发明实施例中一种过压保护测试系统的结构示意图；

图2为本发明实施例中输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；

图3为本发明实施例中硬件主板结构示意图；

图4为本发明实施例中一种过压保护测试方法的流程示意图；

图5为本发明实施例中一种主控设备的硬件结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供了一种过压保护测试系统，如图1所示，包括主控设备11，与主控设备11连接的第一电源12、示波器13，还包括：第二电源14、控制器15、至少一个MOS管16及电压输出模块17；第二电源14与至少一个MOS管16分别连接，每个MOS管16经过分压电阻18、缓冲电路19与电压输出模块17连接；控制器15与每个MOS管16分别连接，用于根据主控设备11的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管16的开关连通，使得电压输出模块17输出相应的测试电压给待测设备20；主控设备11用于获取待测设备20的工作电压值，根据工作电压值生成MOS管开关连通指令，向控制器15发送MOS管开关连通指令，控制第一电源12给待测设备20上电和下电，控制示波器13采集待测设备20的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，测试电压的电压值大于工作电压值。

在本发明实施例中，过压保护测试前，需要按照过压保护测试系统的结构图连接各设备，连接完成，即可开始测试。待测设备可以为待测电路板上的一个待测元件，可以是一个单独的待测元件，在此不做限定。对于待测设备20为待测电路板上的一个待测元件，第一电源可以用于给待测电路板供电，从而主控设备11可以通过控制第一电源给待测电路板上电、下电，实现控制第一电源给待测设备20上电、下电。第一电源可以为直流电源、交流电源等，实际使用时，根据待测设备的需求设定即可。

示波器13的运行参数通过主控设备11进行设置，从而主控设备11可以控制示波器13采集待测设备20的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图。

在图1中，示例性地示出了4个MOS管16，但并不以此为限，MOS管16设置的个数及每个MOS管16对应的输出电路能够输出的测试电压，可以根据需要进行设定。例如，一个待测电路板具有多个待测元件，每个待测元件具有一个工作电压，为了对所有的待测元件进行过压保护测试，则可以针对待测电路板的每一个待测元件设置一个MOS管，并在MOS管后设置分压电阻、缓冲电路，实现每个待测元件对应的MOS管的输出电路都能够输出与该待测元件匹配的测试电压，满足对待测电路板各待测元件的过压保护测试需求，并且，只需要设置一个第二电源，就可以提供多种电压值的测试电压，可以减少电源设备的使用，减少电源设备采购及维护费用。

缓冲电路19用于调节测试电压上升的速度，从而使得待测电压缓慢上升。如图2所示，待测电压缓慢上升，从而待测设备20的输出电压缓慢上升。图2中，输出电压波形图中，横轴(X轴)代表时间，纵轴(Y轴)代表输出电压；输出电压脉冲信号波形图中，横轴(X轴)代表时间，纵轴(Y轴)代表脉冲信号；输出电压脉冲信号由高电平变为低电平的开始时刻对应的输出电压即为过压保护电压。

本发明实施例提供的过压保护测试系统，通过设置主控设备，与主控设备连接的第一电源、示波器，第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；第二电源与至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接；控制器与每个MOS管分别连接，用于根据主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备；主控设备用于获取待测设备的工作电压值，根据工作电压值生成MOS管开关连通指令，向控制器发送MOS管开关连通指令，控制第一电源给待测设备上电和下电，控制示波器采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，测试电压的电压值大于工作电压值；从而在过压保护测试过程中，提供给待测设备的测试电压是由第二电源经过缓冲电路得到的，从而测试电压上升比较缓慢，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，然后根据输出电压脉冲信号由高电平长时间转变为低电平的开始时刻对应的输出电压，就可以得到待测设备准确的过压保护电压；并且由于缓冲电路的设置，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，因此，相比采用直流电源提供一个瞬间的测试电压，并多次调节测试电压的方式，可以设置输出模块输出一个更高一些的测试电压，通过一次测试就实现得到准确的过压保护电压，提高测试的效率，并实现过压保护测试的自动化，减少人力资源及减少直流电源的占用。

在一个可选的实施例中，主控设备11还用于获取示波器13采集到的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压，将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

具体地，主控设备11根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压时，可以具体通过如下步骤进行计算：设置输出电压及输出电压脉冲信号的波形图中输出电压的光标，光标的竖线经过输出电压脉冲信号由高电平转变为低电平的开始时刻，光标的横线经过竖线与输出电压的交点；确定光标的横线与竖线交点处的输出电压值，得到待测设备的过压保护电压。

在本发明实施例中，主控设备通过获取示波器采集到的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压，将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告，从而可以在主控设备上自动生成待测设备过压保护测试的测试报告，实现待测设备过压保护测试及测试报告形成的自动化，减少人力资源。

在一个可选的实施例中，主控设备11还用于检查第一电源12、示波器13、控制器15与主控设备11的连接正确性。

在本发明实施例中，通过检查第一电源12、示波器13、控制器15与主控设备11的连接正确性，可以在各设备连接正确的情况下，开展过压保护测试，防止进行无用的测试。

在一个可选的实施例中，第二电源14、控制器15、至少一个MOS管16及电压输出模块17设置在硬件主板上。

具体地，如图3所示，第二电源14可以为电源供应盒，包括正极和负极。第二电源14可以为普通电池、锂电池等。电压输出模块17包括正极和负极。

在本发明实施例中，通过将第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块设置在硬件主板上，可以便于第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块的规整及放置。

在一个可选的实施例中，如图3所示，缓冲电路19包括缓冲电阻和缓冲电容。

在本发明实施例中，通过将缓冲电路设置为缓冲电阻和缓冲电容的形式，既可以实现测试电压缓慢上升的作用，同时又可以使得缓冲电路也比较简单。

在一个可选的实施例中，如图3所示，过压保护测试系统还包括：USB模块21，用于给控制器15供电。

具体地，USB模块还可以实现控制器15的通信功能。

本发明实施例还提供了一种过压保护测试方法，应用于图1中的主控设备。如图4所示，过压保护测试方法包括：

S101.获取待测设备的工作电压值；具体地，待测设备的工作电压值可以为用户通过主控设备的输入模块进行输入。如果需要对多个待测设备进行过压保护测试，则用户可以同时输入多个待测设备的工作电压值。主控设备获取到待测设备的工作电压值后，可以将待测设备的工作电压值设置到主控设备的显示界面上。

S102.控制第一电源给待测设备上电；具体地，控制第一电源给待测设备上电，从而待测设备开始通电。

S103.根据工作电压值确定示波器的运行参数，向示波器发送运行参数，以使示波器根据运行参数运行，采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；具体地，示波器的运行参数包括示波器各通道的测试项，也即各通道的参数，例如第一通道用于获取待测设备的输出电压，第二通道用于获取待测设备输出电压的脉冲信号；示波器的运行参数还包括波形触发位置与触发方式，示波器X轴的刻度及示波器Y轴(包括输出电压波形Y轴和输出电压脉冲信号波形Y轴)的刻度等。通过工作电压值设置示波器合适的运行参数，可以获得合适的波形图，便于计算过压保护电压。

在一个可选的实施方式中，根据工作电压值确定示波器的运行参数，包括：查询到工作电压值对应的测试电压的电压值；查询到测试电压的电压值对应的缓冲电路的缓冲时间；根据缓冲时间确定示波器X轴的刻度，根据工作电压值确定示波器Y轴的刻度；确定示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式；根据示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式，示波器X轴的刻度及示波器Y轴的刻度得到示波器的运行参数。

在本发明实施例中，波形触发位置为(X，0)，(Y，比工作电压值高出10％)；触发方式选用single触发。

S104.根据工作电压值生成MOS管开关连通指令。具体地，工作电压值对应有一个测试电压，测试电压的电压值大于工作电压值，而测试电压对应有一个MOS管，因此，根据工作电压值可以生成对应MOS管的开关连通指令。

S105.向控制器发送MOS管开关连通指令，以使控制器根据MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备，MOS管与第二电源连接，并经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接，测试电压的电压值大于工作电压值。

本发明实施例提供的过压保护测试方法，通过设置主控设备，与主控设备连接的第一电源、示波器，第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；第二电源与至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与电压输出模块连接；控制器与每个MOS管分别连接，用于根据主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备；主控设备用于获取待测设备的工作电压值，根据工作电压值生成MOS管开关连通指令，向控制器发送MOS管开关连通指令，控制第一电源给待测设备上电和下电，控制示波器采集待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，测试电压的电压值大于工作电压值；从而在过压保护测试过程中，提供给待测设备的测试电压是由第二电源经过缓冲电路得到的，从而测试电压上升比较缓慢，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，然后根据输出电压脉冲信号由高电平长时间转变为低电平的开始时刻对应的输出电压，就可以得到待测设备准确的过压保护电压；并且由于缓冲电路的设置，示波器可以采集到待测设备缓慢上升的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，因此，相比采用直流电源提供一个瞬间的测试电压，并多次调节测试电压的方式，可以设置输出模块输出一个更高一些的测试电压，通过一次测试就实现得到准确的过压保护电压，提高测试的效率，并实现过压保护测试的自动化，减少人力资源及减少直流电源的占用。

在一个可选的的实施例中，在向控制器发送MOS管开关连通指令之后，过压保护测试方法还包括：获取示波器获取到的待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压；将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

具体地，根据输出电压脉冲信号由高电平长时间转变为低电平的开始时刻对应的输出电压，就可以得到待测设备准确的过压保护电压。

在一个可选的实施方式中，根据波形图计算过压保护电压，包括：设置输出电压及输出电压脉冲信号的波形图中输出电压的光标，光标的竖线经过输出电压脉冲信号由高电平转变为低电平的开始时刻，光标的横线经过竖线与输出电压的交点；确定光标的横线与竖线交点处的输出电压值，得到待测设备的过压保护电压。

在本发明实施例中，通过获取示波器获取到的待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；根据输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压；将过压保护电压及输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告，从而可以在主控设备上自动生成待测设备过压保护测试的测试报告，实现待测设备过压保护测试及测试报告形成的自动化，减少人力资源。

基于与前述实施例中一种过压保护测试方法同样的发明构思，本发明实施例还提供一种主控设备，如图5所示，包括：处理器31和存储器32，其中处理器31和存储器32可以通过总线或者其他方式连接，图5中以通过总线连接为例进行说明。

处理器31可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器31还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。

存储器32作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的过压保护测试方法对应的程序指令/模块。处理器31通过运行存储在存储器32中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的过压保护测试方法。

存储器32可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器31所创建的数据等。此外，存储器32可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器32可选包括相对于处理器31远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器31。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

上述的一个或者多个模块存储在存储器32中，当被处理器31执行时，执行如图4所示实施例中的过压保护测试方法。

上述主控设备具体细节可以对应参阅图4所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。

本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程信息处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程信息处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程信息处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程信息处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (12)

1.一种过压保护测试系统，包括主控设备，与所述主控设备连接的第一电源、示波器，其特征在于，还包括：

第二电源、控制器、至少一个MOS管及电压输出模块；

所述第二电源与所述至少一个MOS管分别连接，每个MOS管经过分压电阻、缓冲电路与所述电压输出模块连接；

所述控制器与每个MOS管分别连接，用于根据所述主控设备的MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得所述电压输出模块输出相应的测试电压给待测设备；

所述主控设备用于获取所述待测设备的工作电压值，根据所述工作电压值生成MOS管开关连通指令，向所述控制器发送所述MOS管开关连通指令，控制所述第一电源给所述待测设备上电和下电，控制所述示波器采集所述待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，所述测试电压的电压值大于所述工作电压值；

其中，所述第一电源为直流电源或交流电源。

2.根据权利要求1所述的过压保护测试系统，其特征在于，所述主控设备还用于获取示波器采集到的所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图，根据所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压，将所述过压保护电压及所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

3.根据权利要求1所述的过压保护测试系统，其特征在于，所述主控设备还用于检查所述第一电源、所述示波器、所述控制器与所述主控设备的连接正确性。

4.根据权利要求1所述的过压保护测试系统，其特征在于，所述第二电源、所述控制器、所述至少一个MOS管及所述电压输出模块设置在硬件主板上。

5.根据权利要求1所述的过压保护测试系统，其特征在于，所述缓冲电路包括缓冲电阻和缓冲电容。

6.根据权利要求1所述的过压保护测试系统，其特征在于，还包括：

USB模块，用于给所述控制器供电。

7.一种过压保护测试方法，其特征在于，包括：

获取待测设备的工作电压值；

控制第一电源给所述待测设备上电；

根据所述工作电压值确定示波器的运行参数，向所述示波器发送所述运行参数，以使所述示波器根据所述运行参数运行，采集所述待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；

根据所述工作电压值生成MOS管开关连通指令；

向控制器发送所述MOS管开关连通指令，以使所述控制器根据所述MOS管开关连通指令控制相应的MOS管的开关连通，使得电压输出模块输出相应的测试电压给所述待测设备，所述MOS管与第二电源连接，并经过分压电阻、缓冲电路与所述电压输出模块连接，所述测试电压的电压值大于所述工作电压值；

其中，所述第一电源为直流电源或交流电源。

8.根据权利要求7所述的过压保护测试方法，其特征在于，在向控制器发送所述MOS管开关连通指令之后，还包括：

获取示波器获取到的所述待测设备的输出电压及输出电压脉冲信号的波形图；

根据所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图计算过压保护电压；

将所述过压保护电压及所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图存入测试报告。

9.根据权利要求8所述的过压保护测试方法，其特征在于，所述根据所述波形图计算过压保护电压，包括：

设置所述输出电压及输出电压脉冲信号的波形图中输出电压的光标，所述光标的竖线经过输出电压脉冲信号由高电平转变为低电平的开始时刻，所述光标的横线经过所述竖线与所述输出电压的交点；

确定所述光标的横线与竖线交点处的输出电压值，得到所述待测设备的过压保护电压。

10.根据权利要求7所述的过压保护测试方法，其特征在于，所述根据所述工作电压值确定示波器的运行参数，包括：

查询到所述工作电压值对应的测试电压的电压值；

查询到所述测试电压的电压值对应的缓冲电路的缓冲时间；

根据所述缓冲时间确定示波器X轴的刻度，根据所述工作电压值确定示波器Y轴的刻度；

确定示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式；

根据所述示波器第一通道和第二通道的参数，波形触发位置与触发方式，示波器X轴的刻度及示波器Y轴的刻度得到所述示波器的运行参数。

11.一种主控设备，其特征在于，包括：

至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如权利要求7-10任意一项所述的过压保护测试方法。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如权利要求7-10任意一项所述的过压保护测试方法。

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