CN113295924A - 适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法和中子噪声测量装置，中子噪声测量方法其包括以下步骤：S1、获得频率信号；S2、将频率信号转为处理为电压信号；S3、将电压信号分为两路，第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号，第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号。本发明其具备良好的抗干扰能力，本发明输出的直流中子噪声信号0V～10V连续可调，输出的直流中子噪声信号误差不大于±0.08V，输出的交流中子噪声信号‑5V～+5V可调，输出的交流中子噪声信号频带范围0.5Hz～1000Hz连续可调。
Description
技术领域
本发明涉及核仪表系统领域，具体为适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法和装置。
背景技术
在压水堆核反应堆中，复杂的堆内构件在一回路冷却剂的高速冲刷下可能出现振动，随着这种振动的出现和加剧，会影响核反应堆的安全稳定运行。
在压水堆核电站核仪表系统中，松脱部件与振动监测系统通过分析“堆外核仪表系统RNI”输出的直流中子噪声信号和交流中子噪声信号，从而实现堆内构件的振动监测。因此，如何准确的从“微电流”的放大输出信号中提取出直流中子噪声信号和交流中子噪声信号是中子噪声监测首先需要解决的问题。
目前堆外核仪表系统的中子噪声信号处理均是:
基于线性多量程档微电流放大技术，对线性多量程档“I/V转换”后的电压信号进行滤波处理。即，现有堆外核仪表系统RNI是：采用基于I/V转换的直流中子噪声信号和交流中子噪声信号的处理系统。
这种方法和系统会由于“I/V转换”而使得抗干扰能力差。
发明内容
本发明目的提供用于核电厂的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法和中子噪声测量装置，该方法和装置通过信号类型的改变实现提升测量过程中的抗干扰能力。该方法首先通过频率/电压转换电路将核仪表系统输出的频率信号转换为电压信号，然后再对输出电压信号的直流成分和特定频带范围的交流成分进行提取。该方法填补了基于电流/频率转换的核仪表系统中子噪声信号测量的空白。
本发明通过下述技术方案实现：
适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，包括以下步骤：
S1、获得由中子探测器的感应电流信号经过转换处理的频率信号；
S2、将频率信号转为处理为电压信号；
S3、将电压信号分为两路，第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号，第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号。
本发明为了实现提升抗干扰能力，其采用了电流转频率、再由频率转电压的处理方式来实现对中子噪声信号的测量，由于中子噪声信号属于微电流范畴，因此，这种方式将感应到的微小脉冲视为微电流后，获得其微电流的频率，再由频率获得电压信号。由于频率信号具备很高的抗干扰能力，因此，本发明所获得电压信号比由电流信号转为电压的信号的质量更好。其具备更佳的抗干扰特性。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理包括以下过程：
将第一路电压信号经过电压跟随处理、再经过高通滤波处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得交流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理中：高通滤波处理的次数为1或2次，低通滤波处理的次数为1或2次。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理中：高通滤波处理采用二阶高通滤波处理，低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理包括以下过程：
将第二路电压信号经过电压跟随处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得直流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理中：低通滤波处理的次数为1或2次。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理中：低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
采用核仪表系统的电流/频率转换电路将中子探测器的感应微电流经过转换处理为频率信号。然后采用适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置，对频率信号进行处理，得到表征中子噪声的直流和交流中子噪声信号。
需要说明的是：
传统的核仪表系统是由I/V转换电路和后续电路获得直流和交流中子噪声信号；在本发明中，其提供了一种新的核仪表系统，该核仪表系统由电流/频率转换电路和适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置组成，而适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置又由频率/电压转换电路、交流成分提取处理电路、直流成分提取处理电路组成。
本发明可以形成具有频率/电压转换电路、频率/电压转换电路的核仪表系统。以此达到抗干扰的目的。
本发明提出对频率/电压转换电路、交流成分提取处理电路、直流成分提取处理电路组成的中子噪声测量装置部分的保护，其如何由中子探测器的感应微电流转为频率信号的电流/频率转换电路由另一发明进行保护。
适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置，包括：
将频率信号转为处理为电压信号的频率/电压转换电路；
将第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号的交流成分提取处理电路；
将第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号的直流成分提取处理电路。
优选进一步的的技术方案：所述频率/电压转换电路为集成频率/电压转换芯片。
优选进一步的的技术方案：频率/电压转换电路用于执行高通滤波、整流、积分、平滑滤波处理，将输入频率信号转换为与之成正比的电压信号；频率/电压转换电路配置有调节电位器Radj，调节电位器Radj用于电压信号的连续可调。
优选进一步的的技术方案：调节电位器Radj为精密多圈电位器。
优选进一步的的技术方案：交流成分提取处理电路包括：第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器，
优选进一步的的技术方案：频率/电压转换电路输出的电压信号依次经过第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器的处理获得交流中子噪声信号；
优选进一步的的技术方案：直流成分提取处理电路包括：第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器；
频率/电压转换电路输出的电压信号依次经过第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器的处理获得直流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：第一高通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶高通滤波器，第一低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器；
第二低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器。
优选进一步的的技术方案：压控电压源二阶低通滤波器包括电容C1、电容C2、电阻R1、电阻R2、运算放大器A11，电阻R1的A端引入信号，电阻R1的B端与电阻R2的A端连接，电阻R2的B端与运算放大器A11的正相A端连接，电容C1的A端与电阻R1的B端连接，电容C1的B端与运算放大器A11的反相A端和运算放大器A11的B端连接，电容C2的A端与电阻R1的B端连接，电容C2的B端接地。
压控电压源二阶高通滤波器包括电容C3、电容C4、电阻R3、电阻R4、运算放大器A12，电容C3的A端引入信号，电容C3的B端与电容C4的A端连接，电容C4的B端与运算放大器A12的正相A端连接，电阻R3的A端与电容C3的B端连接，电阻R3的B端与运算放大器A12的反相A端和运算放大器A12的B端连接，电阻R4的A端与电容C3的B端连接，电阻R4的B端接地；
运算放大器A11、运算放大器A12为增益为1的轨至轨双通道输出运算放大器。
优选进一步的的技术方案：第一隔离放大器为：隔离放大电路A6，第二隔离放大器为隔离放大电路A10，第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用变压器耦合型集成隔离放大器。
优选进一步的的技术方案：第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用干簧管继电器切换不同的反馈电阻来调节其增益放大倍数。
优选进一步的的技术方案：第一电压跟随器、第二电压跟随器采用轨至轨双通道输出运算放大器，所述轨至轨双通道输出运算放大器的输入电压噪声密度
输入失调电压≤0.4mV。
在核仪表系统中，电流/频率转换电路为第一级处理单元，电流/频率转换电路后输出的是频率信号，不能直接从频率信号中获得中子噪声信号。因此必须首先将频率信号转换为电压信号，然后再进行后续的处理，以此中子噪声测量装置转为第二级处理单元。中子噪声测量装置：频率/电压转换电路通过高通滤波、整流、积分、平滑滤波等处理过程将输入频率信号转换为与之成正比的电压信号，频率/电压转换电路还可以通过调节电位器Radj可以实现输出电压的连续可调。
2个电压跟随器为第二级处理单元，用于将频率/电压转换后的输出电压信号分为两路，分别进行直流中子噪声信号处理和交流中子噪声信号处理。
交流中子噪声信号处理电路和直流中子噪声信号处理电路为第三级处理单元；交流中子噪声信号处理电路由1个或两个二阶高通滤波电路、1个或两个二阶低通滤波电路和一个隔离放大电路组成，通过调节高通滤波电路和低通滤波电路的截止频率，可以实现交流中子噪声信号的频带范围调节。此外，交流中子噪声信号输出端隔离放大电路的放大倍数多档可调，以满足后续中子噪声信号分析系统的不同信号输入需求。直流中子噪声信号处理电路由1个或两个二阶低通滤波电路和一个隔离放大电路组成，用于对频率/电压转换后的输出电压信号进行滤波和隔离输出。
直流中子噪声信号表示中子噪声信号的幅度特性，而交流中子噪声信号可以表征中子噪声信号的波动特性。
进一步，所述频率/电压转换电路使用集成频率/电压转换芯片来实现，所述电位器Radj采用精密多圈电位器，以实现输出电压的连续可调。
进一步，所述电压跟随器采用低噪声、高精度、轨至轨双通道输出运算放大器，所述电压跟随器所采用的运算放大器输入电压噪声密度不超过
输入失调电压不超过0.4mV。
进一步，所述二阶高通滤波电路和二阶低通滤波电路的增益为1，采用低噪声、高精度、轨至轨双通道输出运算放大器。
进一步，所述隔离放大电路采用变压器耦合型隔离放大器，放大倍数通过干簧管继电器切换不同的反馈电阻来实现。
综上所述，本发明提出的堆外核仪表系统功率量程测量装置所具有的优点及有益的技术效果为：
第一：本发明适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法和装置能够对核仪表系统的频率信号进行处理，并从中获得直流中子噪声信号和交流中子噪声信号，可应用于核仪表系统以及其他需要监测中子噪声信号的测量系统；
第二：本发明其具备良好的抗干扰能力，本发明输出的直流中子噪声信号0V～10V连续可调，输出的直流中子噪声信号误差不大于±0.08V，输出的交流中子噪声信号-5V～+5V可调，输出的交流中子噪声信号频带范围0.5Hz～1000Hz连续可调。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：
图1为本发明所述核仪表系统的原理框图。
图2为本发明所述的压控电压源二阶低通滤波器电路。
图3为本发明所述的压控电压源二阶高通滤波器电路。
图4为本发明的输出直流中子噪声信号随输入微电流的关系曲线。
图5为本发明的输出交流中子噪声信号幅频特性曲线。
在附图中：的附图标记分别表示为：1、电位器Radj；2、电容Cint；3、频率/电压转换电路；4、电压跟随器A1；5、电压跟随器A7；6、二阶高通滤波电路A2；7、二阶高通滤波电路A3；8、二阶低通滤波电路A8；9、二阶低通滤波电路A4；10、二阶低通滤波电路A5；11、二阶低通滤波电路A9；12、隔离放大电路A6；13、隔离放大电路A10；14、电阻R1；15、电阻R2；16、电容C1；17、电容C2；18、运算放大器A18；19、电容C3；20、电容C4；21、电阻R3；22、电阻R4；23、运算放大器A12；24、电流/频率转换电路。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。
实施例1
如图1-图5所示：
适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，包括以下步骤：
S1、获得由中子探测器的感应电流信号经过转换处理的频率信号；
S2、将频率信号转为处理为电压信号；
S3、将电压信号分为两路，第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号，第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号。
本发明为了实现提升抗干扰能力，其采用了电流转频率、再由频率转电压的处理方式来实现对中子噪声信号的测量，由于中子噪声信号属于微电流范畴，因此，这种方式将感应到的微小脉冲视为微电流后，获得其微电流的频率，再由频率获得电压信号。由于频率信号具备很高的抗干扰能力，因此，本发明所获得电压信号比由电流信号转为电压的信号的质量更好。其具备更佳的抗干扰特性。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理包括以下过程：
将第一路电压信号经过电压跟随处理、再经过高通滤波处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得交流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理中：高通滤波处理的次数为1或2次，低通滤波处理的次数为1或2次。
优选进一步的的技术方案：所述交流成分提取处理中：高通滤波处理采用二阶高通滤波处理，低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理包括以下过程：
将第二路电压信号经过电压跟随处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得直流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理中：低通滤波处理的次数为1或2次。
优选进一步的的技术方案：所述直流成分提取处理中：低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
实施例2
如图1-图5所示：
采用核仪表系统的电流/频率转换电路24将中子感应电流信号经过转换处理为频率信号。然后采用适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置，对频率信号进行处理，得到表征中子噪声的直流和交流中子噪声信号。
基于频率信号的中子噪声测量装置，包括：
将频率信号转为处理为电压信号的频率/电压转换电路3；
将第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号的交流成分提取处理电路；
将第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号的直流成分提取处理电路。
优选进一步的的技术方案：所述频率/电压转换电路3为集成频率/电压转换芯片。
优选进一步的的技术方案：频率/电压转换电路3用于执行高通滤波、整流、积分、平滑滤波处理，将输入频率信号转换为与之成正比的电压信号；频率/电压转换电路3配置有调节电位器Radj 1，调节电位器Radj用于电压信号的连续可调。
优选进一步的的技术方案：调节电位器Radj 1为精密多圈电位器。
优选进一步的的技术方案：交流成分提取处理电路包括：第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器，
优选进一步的的技术方案：频率/电压转换电路3输出的电压信号依次经过第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器的处理获得交流中子噪声信号；
优选进一步的的技术方案：直流成分提取处理电路包括：第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器；
频率/电压转换电路3输出的电压信号依次经过第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器的处理获得直流中子噪声信号。
优选进一步的的技术方案：第一高通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶高通滤波器，第一低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器；
第二低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器。
优选进一步的的技术方案：压控电压源二阶低通滤波器包括电容C1 14、电容C215、电阻R1 16、电阻R2 17、运算放大器A11 18，电阻R1 16的A端引入信号，电阻R1 16的B端与电阻R2 17的A端连接，电阻R2 17的B端与运算放大器A11 18的正相A端连接，电容C1 14的A端与电阻R1 16的B端连接，电容C1 14的B端与运算放大器A11 18的反相A端和运算放大器A11 18的输出端连接，电容C2 15的A端与电阻R1 16的B端连接，电容C2 15的B端接地。
压控电压源二阶高通滤波器包括电容C3 19、电容C4 20、电阻R3 21、电阻R4 22、运算放大器A12 23，电容C3 19的A端引入信号，电容C3 19的B端与电容C4 20的A端连接，电容C4 20的B端与运算放大器A12 23的正相A端连接，电阻R3 21的A端与电容C3 19的B端连接，电阻R3 21的B端与运算放大器A12 23的反相A端和运算放大器A12 23的输出端连接，电阻R422的A端与电容C3 19的B端连接，电阻R4 22的B端接地；
运算放大器A11 18、运算放大器A12 23为增益为1的轨至轨双通道输出运算放大器。
优选进一步的的技术方案：第一隔离放大器为：隔离放大电路A6 12，第二隔离放大器为隔离放大电路A10 13，第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用变压器耦合型集成隔离放大器。
优选进一步的的技术方案：第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用干簧管继电器切换不同的反馈电阻来调节其增益放大倍数。
优选进一步的的技术方案：第一电压跟随器、第二电压跟随器采用轨至轨双通道输出运算放大器，所述轨至轨双通道输出运算放大器的输入电压噪声密度
输入失调电压≤0.4mV。
所示的中子噪声信号测量装置，其结构和原理如图1、图2和图3所示，包括频率/电压转换电路、电压跟随器、二阶高通滤波电路、二阶低通滤波电路和隔离放大电路这些器件组成。其中，频率/电压转换电路使用集成频率/电压转换芯片实现，电压跟随器采用低噪声、高精度、轨至轨的双通道运算放大器，二阶高通和低通滤波器均采用低噪声、高精度、轨至轨的双通道运算放大器实现，隔离放大电路使用变压器耦合型集成隔离放大器。频率/电压转换电路的输出电压幅度可通过多圈精密电位器连续可调，高通和低通滤波电路的截止频率灵活可调，隔离放大电路的增益放大倍数可以通过干簧管继电器切换不同的反馈电阻来调节。
当输入频率信号时，频率/电压转换电路首先将频率信号转换为与之成正比的电压信号，输出的电压信号经过电压跟随器后分为两路，分别进行直流中子噪声信号处理和交流中子噪声信号处理。直流中子噪声信号通过两个二阶低通滤波电路获得电压信号里的直流成分，并通过隔离放大器电路隔离输出。交流中子噪声信号通过两个二阶高通滤波电路和两个二阶低通滤波电路获得电压信号里特定频带范围的交流成分，并通过隔离放大器隔离放大输出。
本实施例中，使用吉时利keithley 6430微电流源表产生(0～500)μA的微电流信号来代替核探测器产生的微电流信号，通过电流/频率转换微电流测量电路后转换为(0～1)MHz的频率信号。将上述频率信号输入本发明所述的中子噪声信号测量系统，使用万用表测量直流中子噪声信号输出。图4为输出直流中子噪声信号随输入微电流的变化关系曲线，在(0～500)μA范围内，输出电压U(V)与输入电流I(μA)成正比，该图可以反映出本发明的线性拟合优度达到0.999999。
为了验证交流中子噪声信号的测量结果，使用精密信号发生器产生幅度为10mV，偏置为1V的正弦波信号，并通过串联17.4kΩ的电阻后代替上述吉时利keithley 6430微电流源表的微电流信号。在(1～300)Hz范围内改变输入正弦波信号的频率，可得如图5所示的幅频特性曲线。
如图1和5所示，其图5对应于图1中所示的2个级联的压控电压源二阶高通滤波器和2个级联的压控电压源二阶低通滤波器所形成的交流成分提取处理电路。其图5中，所示的下降变化较为陡峭，若采用1个压控电压源二阶高通滤波器和1个级联的压控电压源二阶低通滤波器所形成的交流成分提取处理电路，则所示的下降变化较为平缓，因此优选2个级联的方式进行。
如图1所示，2个级联的压控电压源二阶高通滤波器为二阶高通滤波电路A2 6、二阶高通滤波电路A3 7串联组成一个第一高通滤波器组；2个级联的压控电压源二阶低通滤波器为二阶低通滤波电路A4 9、二阶低通滤波电路A5 10串联组成一个第一低通滤波器组；2个级联的压控电压源二阶低通滤波器为二阶低通滤波电路A8 8、二阶低通滤波电路A9 11串联组成一个第二低通滤波器组。
第一电压跟随器为电压跟随器A1 4，第二电压跟随器为电压跟随器A7 5，电压跟随器A1与后级的第一高通滤波器组连接，电压跟随器A7 5与后级的第二低通滤波器组连接。
电流/频率转换电路24将核仪表系统输出的微电流信号直接转换为与之成正比的频率信号。
以上所述的具体实施方式，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施方式而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (17)
1.适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、获得由中子探测器的感应电流信号经过转换处理的频率信号；
S2、将频率信号转为处理为电压信号；
S3、将电压信号分为两路，第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号，第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号。
2.根据权利要求1上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，所述交流成分提取处理包括以下过程：
将第一路电压信号经过电压跟随处理、再经过高通滤波处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得交流中子噪声信号。
3.根据权利要求2上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，所述交流成分提取处理中：高通滤波处理的次数为1或2次，低通滤波处理的次数为1或2次。
4.根据权利要求2上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，所述交流成分提取处理中：高通滤波处理采用二阶高通滤波处理，低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
5.根据权利要求2上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，
所述直流成分提取处理包括以下过程：
将第二路电压信号经过电压跟随处理、再经过低通滤波处理、再经过隔离放大处理获得直流中子噪声信号。
6.根据权利要求1上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，所述直流成分提取处理中：低通滤波处理的次数为1或2次。
7.根据权利要求5上述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量方法，其特征在于，所述直流成分提取处理中：低通滤波处理采用二阶低通滤波处理。
8.适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量装置，其特征在于，包括：
将频率信号转为处理为电压信号的频率/电压转换电路(3)；
将第一路电压信号经过交流成分提取处理获得交流中子噪声信号的交流成分提取处理电路；
将第二路电压信号经过直流成分提取处理获得直流中子噪声信号的直流成分提取处理电路。
9.根据权利要求8所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，所述频率/电压转换电路(3)为集成频率/电压转换芯片。
10.根据权利要求8所述的基适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，频率/电压转换电路(3)用于执行高通滤波、整流、积分、平滑滤波处理，将输入频率信号转换为与之成正比的电压信号；频率/电压转换电路(3)配置有调节电位器Radj(1)，调节电位器Radj用于电压信号的连续可调。
11.根据权利要求10所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，调节电位器Radj(1)为精密多圈电位器。
12.根据权利要求8所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，
交流成分提取处理电路包括：第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器，
频率/电压转换电路(3)输出的电压信号依次经过第一电压跟随器、第一高通滤波器组、第一低通滤波器组、第一隔离放大器的处理获得交流中子噪声信号；
直流成分提取处理电路包括：第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器；
频率/电压转换电路(3)输出的电压信号依次经过第二电压跟随器、第二低通滤波器组、第二隔离放大器的处理获得直流中子噪声信号。
13.根据权利要求12所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，
第一高通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶高通滤波器，第一低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器；
第二低通滤波器组包括：1个或2个级联的压控电压源二阶低通滤波器。
14.根据权利要求13所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，
压控电压源二阶低通滤波器包括电容C1(14)、电容C2(15)、电阻R1(16)、电阻R2(17)、运算放大器A11(18)，电阻R1(16)的A端引入信号，电阻R1(16)的B端与电阻R2(17)的A端连接，电阻R2(17)的B端与运算放大器A11(18)的正相A端连接，电容C1(14)的A端与电阻R1(16)的B端连接，电容C1(14)的B端与运算放大器A11(18)的反相A端和运算放大器A11(18)的输出端连接，电容C2(15)的A端与电阻R1(16)的B端连接，电容C2(15)的B端接地。
压控电压源二阶高通滤波器包括电容C3(19)、电容C4(20)、电阻R3(21)、电阻R4(22)、运算放大器A12(23)，电容C3(19)的A端引入信号，电容C3(19)的B端与电容C4(20)的A端连接，电容C4(20)的B端与运算放大器A12(23)的正相A端连接，电阻R3(21)的A端与电容C3(19)的B端连接，电阻R3(21)的B端与运算放大器A12(23)的反相A端和运算放大器A12(23)的输出端连接，电阻R4(22)的A端与电容C3(19)的B端连接，电阻R4(22)的B端接地；
运算放大器A11(18)、运算放大器A12(23)为增益为1的轨至轨双通道输出运算放大器。
15.根据权利要求12所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，第一隔离放大器为：隔离放大电路A6(12)，第二隔离放大器为隔离放大电路A10(13)，第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用变压器耦合型集成隔离放大器。
16.根据权利要求12所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，第一隔离放大器、第二隔离放大器均采用干簧管继电器切换不同的反馈电阻来调节其增益放大倍数。
17.根据权利要求12所述的适用于频率输出的核仪表系统的中子噪声测量，其特征在于，
第一电压跟随器、第二电压跟随器采用轨至轨双通道输出运算放大器，所述轨至轨双通道输出运算放大器的输入电压噪声密度
输入失调电压≤0.4mV。
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