CN113287094A - 以容错性进行存储器组件的测试 - Google Patents

Abstract

可接收测试平台的测试资源已故障的指示。所述测试资源可与进行存储器组件的测试的一部分相关联。可确定出故障的所述测试资源的特性。可基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的另一测试资源。可基于所述测试平台的所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分。

Description

以容错性进行存储器组件的测试

技术领域

本公开大体上涉及一种存储器子系统，且更具体来说，涉及针对存储器子系统的存储器组件以容错性进行存储器组件的测试。

背景技术

存储器子系统可以是存储系统，如固态驱动器(SSD)或硬盘驱动器(HDD)。存储器子系统可以是存储器模块，如双列直插式存储器模块(DIMM)、小型DIMM(SO-DIMM)或非易失性双列直插式存储器模块(NVDIMM)。存储器子系统可包含存储数据的一或多个存储器组件。存储器组件可以是例如非易失性存储器组件和易失性存储器组件。一般来说，主机系统可利用存储器子系统将数据存储在存储器组件处且从存储器组件检索数据。

附图说明

根据下文给出的详细描述和本公开的各种实施方案的附图，将更充分地理解本公开。

图1说明根据本公开的一些实施例的进行具有测试的一部分的容错性的存储器组件的测试的实例环境。

图2是根据本公开的一些实施例的进行存储器组件的测试的实例方法的流程图。

图3是根据一些实施例的通过基于另一测试资源的故障在新测试资源处起始测试的一部分而进行存储器组件的测试的实例方法的流程图。

图4A说明根据本公开的一些实施例的进行存储器组件的测试的测试资源的分配。

图4B说明根据本公开的一些实施例的其中测试的一部分已故障的存储器组件的测试。

图4C说明根据本公开的一些实施例的其中已在新测试资源处重新启动故障的测试的部分的存储器组件的测试。

图5是根据一些实施例的基于测试资源之间的相依性来进行存储器组件的测试的实例方法的流程图。

图6是其中可操作本公开的实施方案的实例计算机系统的框图。

具体实施方式

本公开的各方面涉及以容错性进行存储器组件的测试。存储器子系统在下文也称为“存储器装置”。存储器子系统的实例是经由外围互连件(例如，输入/输出总线、存储区域网络)耦合到中央处理单元(CPU)的存储装置。存储装置的实例包含固态驱动器(SSD)、快闪驱动器、通用串行总线(USB)快闪驱动器和硬盘驱动器(HDD)。存储器子系统的另一实例是经由存储器总线耦合到CPU的存储器模块。存储器模块的实例包含双列直插式存储器模块(DIMM)、小型DIMM(SO-DIMM)、非易失性双列直插式存储器模块(NVDIMM)等。存储器子系统可以是混合式存储器/存储子系统。一般来说，主机系统可利用包含一或多个存储器组件的存储器子系统。主机系统可提供将存储在存储器子系统处的数据且可请求将从存储器子系统检索的数据。

可在存储器子系统中利用之前测试在存储器子系统中使用的存储器组件。在常规测试过程中，存储器组件可放置到在各种温度条件下测试存储器组件的室(即，烘箱)中。举例来说，单个室可用于在特定温度下一次性地测试多个存储器组件。测试过程可指导将在特定温度下在存储器组件处进行的各种操作。这种操作可包含但不限于读取操作、写入操作和擦除操作。当进行测试过程时可观察存储器组件的性能和行为。举例来说，可在测试过程期间测量和记录存储在存储器组件处的性能特性(例如，读取或写入时延)和数据的可靠性。然而，由于室可在任何特定时间仅将单个温度应用于存储器组件，因此在许多不同温度下对存储器组件的测试可需要大量时间，因为将需要针对每一所要温度进行测试过程。另外，室一次仅可进行单个测试过程。因而，如果需要针对存储器组件的测试过程的许多不同条件，那么在不同操作条件(例如，不同温度)下进行存储器组件的不同测试可利用大量时间。

本公开的各方面通过进行具有测试的一部分的容错性的存储器组件的测试而解决以上和其它缺陷。存储器组件的测试可由包含多个测试资源的分布式测试平台进行。测试平台的每一测试资源可以是测试插座，所述测试插座包含可由测试利用的存储器组件和用于将特定温度条件应用于存储器组件作为测试的部分的温度控制组件。测试平台可进一步包含多个测试板，所述多个测试板各自包含测试插座中的一或多个。测试板可组织成组或架，且多个架可在特定位置或地点处。因而，测试平台可包含多个测试插座。

测试可指定使用数个测试插座，所述测试插座包含存储器组件以及操作序列，所述操作序列将用经过测试的存储器组件和将在测试期间应用于存储器组件的温度条件进行。此外，用于进行测试的测试插座可在整个多个测试板、测试架和/或测试平台的位置中分布。因此，对于存储器组件的特定测试，在测试中使用的存储器组件可嵌入于不同位置处的不同测试插座处。如果特定测试插座在存储器组件的测试的操作期间故障(即，失灵)，那么由故障的测试插座进行的测试的部分可能未完成。举例来说，指定在故障的测试插座处测试的存储器组件的性能特性、数据的可靠性或其它这种观察结果的数据可能未完成。响应于测试插座故障，测试平台可指派将分配以供测试使用的新测试插座，以便完成由故障的测试插座进行的测试的部分。举例来说，测试平台可识别在未使用的测试插座处可用的另一存储器组件。此测试插座可称为可用测试插座，其是当前未由存储器组件的测试或未由在测试平台处同时进行的存储器组件的另一单独测试使用的测试插座。测试平台可确定可用测试插座处的另一存储器组件是否匹配包含在故障的测试插座中的存储器组件的特性。这种特性可以是存储器组件的先前使用特性、设计信息或其它这种信息。如果可用测试插座处的另一存储器组件匹配故障的测试插座处的存储器组件的特性，那么测试平台可在具有另一存储器组件的新测试插座处起始测试的部分。举例来说，在故障的测试插座处进行的测试的部分可在新测试插座处复制。接着可将操作和温度条件应用于新测试插座以完成测试的部分。随后，测试平台可组合(例如，在故障发生之前)来自故障的测试插座的测试部分的结果与新测试插座。在一些实施例中，新测试插座可进行测试的部分，且可在不从故障的测试插座检索任何数据的情况下从新测试插座检索结果。

在一些实施例中，测试平台可在测试插座已故障时提供警告通知。举例来说，当测试插座已故障时，包含具有故障的测试插座的测试板的测试架可传输指示测试插座已故障的通知。测试插座的故障可导致由故障的测试插座进行的测试的部分暂停。一旦已解决测试插座的故障(例如，更换测试插座或测试板)，那么测试平台可在更换的测试插座处恢复测试的部分的进行。

测试平台可进一步基于第二测试插座的故障来暂停第一测试插座处的测试的第一部分。测试的第一部分可取决于在第二测试插座处进行的测试的第二部分的结果。举例来说，测试的第一部分可指定将基于第二测试插座的结果在第一测试插座的存储器组件处应用特定操作条件(例如，待进行的操作和/或所应用的温度条件)。如果第二测试插座故障，那么测试平台还可暂停第一测试插座，因为第一测试插座将基于第二测试插座的结果来操作。随后，当已解决第二测试插座的故障时，测试平台可恢复测试的第一部分。

本公开的优点包含但不限于用以进行存储器组件的测试的时间量的减小。举例来说，存储器组件的测试可利用一段时间，且如果测试平台的特定部分在进行测试时出故障，那么测试平台可暂停出故障的测试的一部分，而测试平台的其它部分处的测试的其它部分可继续操作。因此，如果测试的一部分在存储器组件中的一个处出故障，那么不需要重新启动存储器组件的整个测试。因此，测试平台的资源还可用以进行存储器组件的更多测试，因为与重复已在测试的执行期间出故障的存储器组件的测试的部分相反，测试平台的资源可更可用以进行存储器组件的额外测试。

图1说明根据本公开的一些实施例的分配测试资源以进行存储器组件的测试的实例环境。测试平台100可包含一或多个架110A、110B和110N。架110A、110B和110N中的每一个可包含多个测试板120，其中每一测试板120包含一或多个测试插座(即，测试资源)。测试平台100可包含任何数目个架或测试插座。

如所展示，测试板120可包含一或多个测试插座。举例来说，测试板120可包含第一测试插座121、第二测试插座122和第三测试插座123。尽管展示三个测试插座，但测试板120可包含任何数目个测试插座。每一测试插座可包含已嵌入于相应测试插座内的存储器组件。另外，每一测试插座可包含用于将温度条件应用于嵌入式存储器组件的温度控制组件。在一些实施例中，温度控制组件可以是双珀尔帖(Peltier)装置(例如，两个珀尔帖装置)，所述双珀尔帖装置利用珀尔帖效应在耦合到嵌入式存储器组件的双珀尔帖装置的表面处应用加热或冷却效应。在相同或替代实施例中，温度控制组件可放置在相应测试插座中的存储器组件的顶部上。

如所展示，每一测试架110A、110B和110N可包含多个测试板120。特定测试架的测试板120中的每一个可与本地测试组件耦合。举例来说，每一测试架110A、110B和110N可分别包含本地测试组件111A、111B和111N。本地测试组件111A、111B和111N中的每一个可接收进行待在相应测试架的测试插座处进行的测试或测试的一部分的指令。举例来说，资源分配器组件132可(例如，从用户)接收待进行的测试的条件，且资源分配器组件132可确定跨可通过测试使用的测试架110A、110B和110N中的一或多个处的不同测试板120的特定测试插座。在一些实施例中，资源分配器组件132可由服务器131提供。在一些实施例中，服务器131是在网络上与本地测试组件111A、111B和111N耦合的计算装置或系统。

每一测试板120的每一测试插座121、122和123的温度控制组件可用于将不同温度条件应用于相应嵌入式存储器组件。此外，每一测试插座121、122和123可用于在嵌入式存储器组件处进行不同操作。

资源分配器组件132可从用户接收测试输入。测试输入可指定待用一或多个存储器组件进行的测试的条件。举例来说，测试可指定待应用于存储器组件的特定温度条件和待在特定温度条件下在存储器组件处进行的操作序列。资源分配器132可检索数据结构或数据库133，所述数据结构或数据库133包含识别跨测试平台100的可用测试插座以及可用测试插座的特性的测试资源数据。数据库133可包含可用于将测试资源指派给测试的存储器组件的使用特性和设计信息。资源分配器组件130可指派测试平台100处的测试插座，所述测试插座包含匹配或满足测试的条件的嵌入式存储器组件。资源分配器组件133接着可将指令传输到包含待用于测试的测试插座的测试架的本地测试组件。另外，资源分配器组件133可从不同测试插座接收测试结果。

测试平台100可进一步包含用于为在测试平台100的测试资源处进行的测试提供容错性的容错性组件130。举例来说，容错性组件130可接收测试资源(即，测试插座)的指示，所述测试资源已故障且已变得无法完成在测试平台100的各种测试资源处进行的测试的一部分。容错性组件130可基于所指示的故障来暂停测试或在另一测试资源处重新启动测试的部分。下文描述相对于容错性组件130的另外细节。

图2说明根据本公开的一些实施例的进行存储器组件的测试的实例方法200。方法200可由处理逻辑进行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路系统、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法200由图1的容错性组件130进行。尽管以特定顺序或次序展示，但除非另外规定，否则所述过程的次序可修改。因此，应理解所说明实施例仅为实例，且所说明过程可以不同次序进行，且一些过程可并行地进行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并非需要全部过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作210处，处理逻辑确定进行存储器组件的测试的测试平台的测试资源。举例来说，可检索数据结构，其中数据结构识别存在于测试平台处的测试资源。数据结构可指定每一测试资源、每一测试资源处的存储器组件的特性、测试资源的位置、特定测试资源是否由特定测试使用的指示，和其它测试资源是否由测试平台处的存储器组件的其它测试使用。在操作220处，处理逻辑接收已进行存储器组件的测试的一部分的测试平台的特定测试资源已故障的指示。当测试资源无法完成已调度以待进行或在测试资源处进行的测试的一部分时，测试资源可视为故障。举例来说，如果包含测试资源的测试板变得无法传输将在存储器组件处进行的操作，那么测试资源可能故障。因此，如果包含测试资源的测试板已故障，那么测试资源可视为故障。如果嵌入于测试资源内的存储器组件变得受损，或如果测试资源的温度控制元件不能够将所请求的温度条件应用于包含在测试资源中的存储器组件，那么测试资源可另外视为故障。

如图2中所展示，在操作230处，处理逻辑基于在测试期间特定测试资源已故障的指示来进行存储器组件的测试的剩余部分。举例来说，在故障的测试资源处进行的测试的部分可暂停，而在其它测试资源处进行的测试的其它部分仍可进行。在一些实施例中，当前未由另一测试使用且匹配故障的测试资源的存储器组件的特性的另一测试资源可用于进行测试的剩余部分。结合图3描述相对于在另一测试资源处进行测试的剩余部分的另外细节。在一些实施例中，测试资源的故障可导致另一测试资源的暂停，直到故障的测试资源已更换。举例来说，如果另一测试资源取决于故障的测试资源的结果，那么可暂停另一测试资源。结合图5描述相对于暂停基于相依性的测试资源的另外细节。

图3是根据一些实施例的通过基于另一测试资源的故障在新测试资源处起始测试的一部分而进行存储器组件的测试的实例方法300的流程图。方法300可由处理逻辑进行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路系统、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法300由图1的容错性组件130进行。尽管以特定顺序或次序展示，但除非另外规定，否则所述过程的次序可修改。因此，应理解所说明实施例仅为实例，且所说明过程可以不同次序进行，且一些过程可并行地进行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并非需要全部过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作310处，处理逻辑接收已进行存储器组件的测试的一部分的测试平台的特定测试资源已故障的指示。举例来说，包含测试资源的测试板或包含测试板的测试架可传输测试资源已故障的通知。测试资源可以是用于进行存储器组件的测试的多个测试资源中的单个测试资源。在一些实施例中，通知可识别已故障的特定测试且可识别故障的测试资源的位置。举例来说，当用户提供输入以具有在测试平台处进行的测试时，用户可为测试提供名称或另一这种识别。通知可因此包含测试的识别。此外，通知可指定包含故障的特定测试资源(即，测试插座)的位置、测试架和测试板。

在操作320处，处理逻辑识别测试平台的匹配故障的测试资源的特性的另一测试资源。测试资源的特性可以是包含在故障的测试资源中的存储器组件的使用特性。举例来说，使用特性可指定已对故障的测试资源的存储器组件进行的数个操作。在一些实施例中，使用特性可指定在测试和任何先前测试期间已对存储器组件进行的数个编程擦除操作或循环和特定数目个读取操作。在一些实施例中，使用特性可指定在测试和先前测试中存储器组件的使用期间已应用于存储器组件的先前温度条件。举例来说，可指定在其下已在用于先前测试的存储器组件处进行操作的先前温度(即，存储器组件的温度曲线)。因此，特性可基于存储器组件的使用历史。在一些实施例中，特性可指定包含在故障的测试资源中的存储器组件的类型。举例来说，可指定存储器组件的特定版本(即，设计或制造修订)。

匹配测试资源可以是当前未由测试平台处的任何测试使用的测试平台的测试资源。举例来说，匹配测试资源可以是具有匹配包含在故障的测试资源中的存储器组件的特性的存储器组件且当前未由测试平台处的测试或另一测试使用的测试资源。

如图3中所展示，在操作330处，处理逻辑在测试平台的另一测试资源处进行存储器组件的测试的剩余部分。举例来说，由于测试资源的故障而未完成的测试的部分可在另一测试资源处进行。在一些实施例中，当测试资源故障时，测试资源(或包含测试资源的测试板)可提供分配给已完成的测试资源的测试的部分和分配给未完成的测试资源的测试的剩余部分的指示。举例来说，分配给测试资源的测试的部分可以是在一或多个温度下对所包含的存储器组件进行操作序列。指示可识别已进行所请求温度下的操作中的哪一个，且尚未进行所请求温度下的操作中的哪一个。举例来说，指示可识别分配给已进行的测试资源的操作序列中的最后操作。接着可在包含在另一测试资源中的存储器组件处的所请求的一或多个温度下进行操作序列中的后续操作。

在操作340处，处理逻辑从用于存储器组件的测试的测试资源和另一测试资源接收结果。举例来说，可从相应测试资源接收到由出故障的测试资源进行的测试的部分的结果和由另一测试资源进行的测试的剩余部分的结果。在操作350处，处理逻辑组合来自用于存储器组件的测试的部分的测试资源和另一测试资源的结果。举例来说，在故障之前在测试资源处进行的操作序列的部分的结果可与在另一测试资源处进行的操作序列的剩余部分组合。

在一些实施例中，可从新测试资源(即，另一测试资源)处的开始进行由出故障的测试资源进行的测试的部分。举例来说，可在新测试资源处在一或多个所请求的温度下进行整个操作序列。因此，将在出故障的测试资源处进行的操作序列可在新测试资源处进行。

图4A说明根据本公开的一些实施例的进行存储器组件的测试的测试资源的分配。测试资源可由处理逻辑分配，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路系统、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，测试资源可由图1的容错性组件130分配。

如所展示，可在包含测试架410和420的测试平台处进行存储器组件的测试。举例来说，具有检查标记的测试资源411可指示当前用于进行存储器组件的测试的测试资源。不具有检查标记的测试资源指示当前可用且未由测试平台处的任何测试使用的测试资源。

图4B说明根据本公开的一些实施例的其中测试的一部分已出故障的存储器组件的测试。如所展示，可发生测试资源412、413和414的故障。在一些实施例中，测试资源412、413和414的故障可以是包含由于测试板的物理失灵、测试板的网络连接故障等而出故障的测试资源412、413和414的测试板。因此，测试板的故障可导致位于测试板上的测试资源412、413和414中的每一个的故障。在一些实施例中，个别测试资源可出故障。举例来说，如果测试资源的温度控制元件无法将所请求的温度条件应用于测试资源的所包含的存储器组件，那么特定测试资源可视为出故障。进行测试的其它部分的其它测试资源(例如，如由检查标记所指示)仍可进行测试。

图4C说明根据本公开的一些实施例的其中已在新测试资源处重新启动故障的测试的部分的存储器组件的测试。如所展示，在故障的测试资源412、413和414处进行的测试的部分可在新测试资源423、424和425处重新启动。新测试资源423、424和425可进行分配给故障的测试资源412、413和414的操作序列，或可进行当测试资源412、413和414已故障时尚未进行的操作序列中的剩余操作。

在一些实施例中，新测试资源可选择为在与包含故障的测试资源的测试架分离的新测试架中。在一些实施例中，可基于故障的测试资源的位置来选择新测试资源。举例来说，新测试资源可以是匹配故障的测试资源且在相同测试架或距故障的测试资源更近的位置处的测试资源。

图5是根据一些实施例的基于测试资源之间的相依性来进行存储器组件的测试的实例方法500的流程图。方法500可由处理逻辑进行，所述处理逻辑可包含硬件(例如，处理装置、电路系统、专用逻辑、可编程逻辑、微码、装置的硬件、集成电路等)、软件(例如，在处理装置上运行或执行的指令)或其组合。在一些实施例中，方法500由图1的容错性组件130进行。尽管以特定顺序或次序展示，但除非另外规定，否则所述过程的次序可修改。因此，应理解所说明实施例仅为实例，且所说明过程可以不同次序进行，且一些过程可并行地进行。另外，可在各种实施例中省略一或多个过程。因此，在每一实施例中并非需要全部过程。其它过程流程是可能的。

如所展示，在操作510处，处理逻辑接收已进行存储器组件的测试的一部分的测试平台的第一测试资源已故障的指示。举例来说，指示可识别第一资源无法完成已分配给第一测试资源的操作序列。指示可识别作为第一资源已进行的最后操作的操作序列中的特定操作。在操作520处，处理逻辑确定已进行存储器组件的测试的另一部分的测试平台的第二测试资源是否取决于第一测试资源。第一测试资源与第二测试资源之间的相依性可以是在第二测试资源处的测试的部分的进行是基于第一测试资源的一或多个结果。举例来说，第二测试资源可基于第一测试资源的存储器组件如何在定义的温度下进行定义的操作来指定将进行特定温度下的特定操作(例如，读取操作、写入操作或擦除操作)。因此，待进行的特定操作和/或待应用于第二测试资源处的特定温度条件可基于包含于第一测试资源处的存储器组件的行为或操作的结果。因而，第二测试资源可视为取决于第一测试资源。

在一些实施例中，相依性可基于测试资源处的测试的结果。举例来说，可针对存储器组件设定或定义各种设定(即，修整)，其中不同设定可影响存储器组件的操作和行为。举例来说，针对存储器组件定义的特定设定可改变存储器组件的功能性、可靠性和性能。可更新或改变存储器组件的设定或修整。在一些实施例中，可通过反复地修改测试资源处的存储器组件的设定或修整而对多个测试资源进行测试。举例来说，测试的第一部分可在第一测试资源处用第一设定下的存储器组件进行，且测试的第二部分可在第二测试资源处用第二设定下的另一存储器组件进行等。可接着组合来自存储器组件中的每一个处的测试的结果以确定待在下一测试或测试的后续部分处进行的存储器组件的新设定。因此，当测试资源中的每一个的结果用于基于设定或修整来进行后续测试时，测试资源可取决于另一测试资源，所述设定或修整基于在测试资源处进行的测试的结果。

在一些实施例中，当在测试资源处进行相同类型的测试时，测试资源可取决于另一测试资源。举例来说，测试可在包含具有类似特性的存储器组件的测试资源处在类似条件下进行类似操作。如果测试的测试资源中的一个检测到异常或故障(如未预期的存储器组件的行为类型)，那么可暂停进行相同测试的另一测试资源。在一些实施例中，具有检测到异常的测试资源的测试板可将中断或指令传输到另一测试资源以暂停在另一测试资源处的测试的部分。在一些实施例中，在暂停另一测试资源之后，可在测试资源处进行动作。此动作可以是在使得异常出现于先前测试资源处的事件序列在另一测试资源处进行之前对另一测试资源的状态的特性或观察的测量。

在操作530处，处理逻辑基于第二测试资源取决于第一测试资源的确定来暂停在第二测试资源处的测试的另一部分。举例来说，可将指令传输到第二测试资源以暂停在第二测试资源处进行的测试的部分的进行。指令可指示第二测试资源所取决于的第一测试资源已故障。在一些实施例中，指令可指示其中第二测试资源将暂停的第二测试资源处的操作序列中的特定操作。举例来说，指令可指示第二测试资源将暂停且不进行操作序列中的后续操作的操作序列中的点。在操作540处，处理逻辑接收第一测试资源的故障已解决的指示。举例来说，指示可识别第一测试资源已恢复分配给第一测试资源的测试的部分。在一些实施例中，故障的解决可以是分配给第一测试资源的测试的部分已在如先前所识别的新测试资源处重新启动或恢复。在一些实施例中，指示可指定第一测试资源与已更换第一测试资源的新测试资源之间的差异。所述差异可指定第一测试资源与第二测试资源的使用特性之间的差异。第二测试资源可接着使用使用特性之间的差异来调整在第二测试资源处的测试的进行。举例来说，可在第二测试资源处进行不同温度或增加数目个操作。在操作550处，在已解决第一测试资源的故障之后，处理逻辑在第二测试资源处恢复测试的另一部分。举例来说，可将指示传输到第二测试资源以恢复分配给第二测试资源的测试的剩余部分。

图6说明计算机系统600的实例机器，可在其内执行用于使得机器进行本文中所论述的方法中的任何一或多种的指令集。在一些实施例中，计算机系统600可对应于主机或服务器系统，所述主机或服务器系统包含、耦合到或利用测试平台(例如，以执行对应于图1的容错性组件130的操作)。在替代性实施例中，机器可连接(例如，联网)到LAN、内联网、外联网和/或互联网中的其它机器。机器可作为对等(或分布式)网络环境中的对等机器或作为云计算基础设施或环境中的服务器或客户端机器而在客户端-服务器网络环境中的服务器或客户端机器的容量中操作。

机器可以是个人计算机(PC)、平板PC、机顶盒(STB)、个人数字助理(PDA)、蜂巢式电话、网络器具、服务器、网络路由器、交换机或桥接器，或能够(依序或以其它方式)执行指定将由所述机器采取的动作的指令集的任何机器。另外，尽管说明单个机器，但也应认为术语“机器”包含机器的任何集合，所述集合单独地或共同地执行指令集(或多个指令集)以进行本文中所论述的方法中的任何一或多种。

实例计算机系统600包含处理装置602、主存储器604(例如，只读存储器(ROM)、快闪存储器、动态随机存取存储器(DRAM)(如同步DRAM(SDRAM)或Rambus DRAM(RDRAM))等)、静态存储器606(例如，快闪存储器、静态随机存取存储器(SRAM)等)和数据存储系统618，其经由总线630彼此通信。

处理装置602表示一或多个通用处理装置，如微处理器、中央处理单元或其类似物。更特定来说，处理装置可以是复杂指令集计算(CISC)微处理器、精简指令集计算(RISC)微处理器、超长指令字(VLIW)微处理器或实施其它指令集的处理器，或实施指令集的组合的处理器。处理装置602也可以是一或多个专用处理装置，如专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、数字信号处理器(DSP)、网络处理器或其类似物。处理装置602配置成执行用于进行本文中所论述的操作和步骤的指令626。计算机系统600可进一步包含网络接口装置608以在网络620上通信。

数据存储系统618可包含机器可读存储介质624(也称为计算机可读介质)，在其上存储有一或多个指令626集或体现本文中所描述的方法或功能中的任何一或多种的软件。指令626还可在其由计算机系统600执行期间完全或至少部分地驻存在主存储器604内和/或处理装置602内，主存储器604和处理装置602也构成机器可读存储介质。机器可读存储介质624、数据存储系统618和/或主存储器604可对应于存储器子系统。

在一个实施例中，指令626包含用以实施对应于容错性组件(例如，图1的容错性组件130)的功能性的指令。尽管在实例实施例中机器可读存储介质624展示为单个介质，但应认为术语“机器可读存储介质”包含存储一或多个指令集的单个介质或多个介质。还应认为术语“机器可读存储介质”包含能够存储或编码供机器执行的指令集且使得机器进行本公开的方法中的任何一或多种的任何介质。因此，应认为术语“机器可读存储介质”包含但不限于固态存储器、光学介质和磁性介质。

已关于计算机存储器内的数据位的操作的算法和符号表示而呈现先前详细描述的一些部分。这些算法描述和表示是数据处理领域的技术人员用以将其工作的主旨最有效地传达给所属领域的其它技术人员的方式。在本文中，且一般将算法构想为产生所要结果的操作的自洽序列。操作是要求对物理量进行物理操纵的操作。通常(但未必)，这些量呈能够存储、组合、比较和以其它方式操纵的电或磁信号的形式。有时，主要出于通用的原因，已证明将这些信号称为位、值、元件、符号、字符、术语、数目或其类似物是方便的。

然而，应牢记，所有这些和类似术语应与适当物理量相关联，且仅是应用于这些量的方便标签。本公开可指操纵计算机系统的寄存器和存储器内的表示为物理(电子)量的数据且将所述数据变换成计算机系统存储器或寄存器或其它这种信息存储系统内的类似地表示为物理量的其它数据的计算机系统或类似电子计算装置的动作和过程。

本公开还涉及用于进行本文中的操作的设备。这一设备可以出于所需目的而专门建构，或其可包含通过存储在计算机中的计算机程序选择性地激活或重新配置的通用计算机。这种计算机程序可存储在计算机可读存储介质中，例如但不限于任何类型的盘，包含软盘、光盘、CD-ROM和磁性光盘、只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、EPROM、EEPROM、磁卡或光卡，或适合于存储电子指令的任何类型的介质，其各自耦合到计算机系统总线。

本文中呈现的算法和显示本质上并不与任何特定计算机或其它设备相关。各种通用系统可与根据本文中的教示的程序一起使用，或可证明建构用以进行所述方法更加专用的设备是方便的。将如下文描述中所阐述而表现用于各种这些系统的结构。此外，不参考任何特定编程语言来描述本公开。应了解，可使用各种编程语言来实施如本文中所描述的本公开的教示。

本公开可提供为计算机程序产品或软件，其可包含在其上存储有可用于编程计算机系统(或其它电子装置)以进行根据本公开的过程的指令的机器可读介质。机器可读介质包含用于以机器(例如，计算机)可读的形式存储信息的任何机构。在一些实施例中，机器可读(例如，计算机可读)介质包含机器(例如，计算机)可读存储介质，如只读存储器(“ROM”)、随机存取存储器(“RAM”)、磁盘存储介质、光学存储介质、快闪存储器组件等。

在前述说明书中，本公开的实施例已经参考其特定实例实施例进行描述。将显而易见的是，可在不脱离如所附权利要求书中所阐述的本公开的实施例的更广精神和范围的情况下对其进行各种修改。因此，应在说明性意义上而非限制性意义上看待本说明书和附图。

Claims (20)

1.一种方法，其包括：

接收测试平台的测试资源已故障的指示，其中所述测试资源与进行存储器组件的测试的一部分相关联；

确定出故障的所述测试资源的特性；

基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的另一测试资源；以及

由处理装置基于所述测试平台的所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分。

2.根据权利要求1所述的方法，其中测试资源包括存储器组件，且其中所述测试资源的所述特性对应于所述测试资源的所述存储器组件的使用特性。

3.根据权利要求2所述的方法，其中所述基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的所述另一测试资源包括确定所述另一测试资源的另一存储器组件的使用特性匹配所述测试资源的所述存储器组件的所述使用特性。

4.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试对应于在所述存储器组件处进行的操作序列，且其中所述基于所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分包括：

确定在所述测试资源的所述故障之前所述操作序列中的在所述测试资源处进行的最后进行的操作；以及

在所述操作序列中的在所述另一测试资源的另一存储器组件处的所述最后进行的操作之后进行一或多个额外操作。

5.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：

接收在所述测试资源的所述故障之前在所述测试资源处进行的所述存储器组件的测试的所述部分的结果；以及

接收在所述测试资源的所述故障之后在所述另一测试资源处进行的所述存储器组件的测试的所述部分的额外结果。

6.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试资源的所述特性指示已在所述测试资源处进行的数个先前操作。

7.根据权利要求1所述的方法，其中所述测试资源的所述特性指示已应用于所述测试资源的先前温度条件。

8.一种系统，其包括：

存储器组件；以及

处理装置，其与所述存储器组件以操作方式耦合，所述处理装置用以：

接收已进行多个存储器组件的测试的第一部分的测试平台的第一测试资源已故障的指示；

确定已进行所述多个存储器组件的所述测试的第二部分的所述测试平台的第二测试资源是否取决于所述测试平台的所述第一测试资源；以及

响应于确定所述第二测试资源取决于所述第一测试资源，暂停由所述测试平台的所述第二测试资源进行所述测试的所述第二部分。

9.根据权利要求8所述的系统，其中为了确定所述第二测试资源是否取决于所述第一测试资源，所述处理装置进一步用以：

确定由所述第一测试资源进行的所述测试的所述第一部分的结果是否由所述第二测试资源用以进行所述测试的所述第二部分。

10.根据权利要求9所述的系统，其中所述测试的所述第一部分的所述结果指定将应用于所述第二测试资源的特定存储器组件的特定温度条件。

11.根据权利要求9所述的系统，其中所述测试的所述第一部分的所述结果指定将在所述第二测试资源的特定存储器组件处进行的特定操作。

12.根据权利要求9所述的系统，其中所述测试的所述第一部分的所述结果对应于包含在所述第一测试资源中的特定存储器组件响应于在特定温度条件下对所述特定存储器组件进行的特定操作的行为。

13.根据权利要求8所述的系统，其中所述处理装置进一步用以：

接收所述第一测试资源的所述故障已解决的指示；以及

提供恢复由所述测试平台的所述第二测试资源所述进行所述测试的所述第二部分的指令。

14.一种包括指令的非暂时性计算机可读介质，所述指令在由处理装置执行时使得所述处理装置进行包括以下的操作：

接收测试平台的测试资源已故障的指示，其中所述测试资源与进行存储器组件的测试的一部分相关联；

确定出故障的所述测试资源的特性；

基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的另一测试资源；以及

基于所述测试平台的所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分。

15.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质，其中测试资源包括存储器组件，且其中所述测试资源的所述特性对应于所述测试资源的所述存储器组件的使用特性。

16.根据权利要求15所述的非暂时性计算机可读介质，其中所述基于出故障的所述测试资源的所述特性来识别所述测试平台的所述另一测试资源包括确定所述另一测试资源的另一存储器组件的使用特性匹配所述测试资源的所述存储器组件的所述使用特性。

17.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质，其中所述测试资源的所述特性指示已在所述测试资源处进行的数个先前操作。

18.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质，其中所述测试对应于在所述存储器组件处进行的操作序列，且其中为了基于所述另一测试资源来进行所述存储器组件的测试的所述部分，所述操作进一步包括：

确定在所述测试资源的所述故障之前所述操作序列中的在所述测试资源处进行的最后进行的操作；以及

在所述操作序列中的在所述另一测试资源的另一存储器组件处的所述最后进行的操作之后进行一或多个额外操作。

19.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质，其中所述测试资源的所述特性指示已应用于所述测试资源的先前温度条件。

20.根据权利要求14所述的非暂时性计算机可读介质，所述操作进一步包括：

接收在所述测试资源的所述故障之前在所述测试资源处进行的所述存储器组件的测试的所述部分的结果；以及

接收在所述测试资源的所述故障之后在所述另一测试资源处进行的所述存储器组件的测试的所述部分的额外结果。

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