CN113267251A - 光线传感器测试装置、方法和电子设备 - Google Patents

光线传感器测试装置、方法和电子设备 Download PDF

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Abstract

本公开提供一种光线传感器测试装置,包括面光源和测试台,其中,所述面光源与所述测试台平行设置,且所述面光源的光照范围覆盖所述测试台;所述测试台朝向所述面光源的发光面的测试平面上设置有多组测试夹具,每组测试夹具用于夹持固定一对待测设备;其中,每对所述待测设备包括照度计和待测光线传感器,每对所述待测设备被夹持固定在一组所述测试夹具上时,该对待测设备的感光面处于同一平面。本公开提供的光线传感器测试装置、方法和电子设备,可同时对多个光线传感器进行测试,可有效的提高测试效率,降低测试成本。

Description

光线传感器测试装置、方法和电子设备
技术领域
本公开涉及光线传感器技术领域,尤其涉及一种光线传感器测试装置、方法和电子设备。
背景技术
随着电子产品的普及,电子产品的功能越来越丰富,例如,电子产品均支持屏幕亮度调节功能。
为了实现屏幕亮度调节功能,电子产品中均需要布置光线传感器,以通过光线传感器检测到的环境光亮度进行屏幕亮度调节。而光线传感器测量的准确性直接影响屏幕亮度调节的精准性,因此,需要对光线传感器进行测试,以确保光线传感器的测量精准性。
发明内容
本公开提供一种光线传感器测试装置、方法和电子设备,以解决相关技术中的不足。
根据本公开实施例的第一方面,提出一种光线传感器测试装置,所述装置包括面光源和测试台,其中,
所述面光源与所述测试台平行设置,且所述面光源的光照范围覆盖所述测试台;
所述测试台朝向所述面光源的发光面的测试平面上设置有多组测试夹具,每组测试夹具用于夹持固定一对待测设备;其中,每对所述待测设备包括照度计和待测光线传感器,每对所述待测设备被夹持固定在一组所述测试夹具上时,该对待测设备的感光面处于同一平面。
在一些实施例中,所述装置还包括容置腔,所述容置腔的内部构成暗室环境,所述面光源和所述测试台设置在所述容置腔内部。
在一些实施例中,所述装置还包括测试主机,所述测试主机与每对所述待测设备连接,用于根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断该组待测设备中的光线传感器是否合格。
在一些实施例中,所述装置还包括信号转接板,所述测试主机与每对所述待测设备通过所述信号转接板连接;所述信号转接板,用于将来自每对所述待测设备的I2C信号转换为UART信号后传输给所述测试主机。
在一些实施例中,所述面光源包括多种测试光源,不同所述测试光源具有不同的光照强度。
在一些实施例中,所述测试主机,用于在一对所述待测设备的亮度数据差值小于或等于第一预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器合格。
在一些实施例中,所述测试主机,用于在一对所述待测设备的亮度数据差值大于或等于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器不合格。
在一些实施例中,所述测试主机,用于在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器。
在一些实施例中,所述测试台还包括整机测试部;所述整机测试部,用于放置组装有待标定光线传感器的电子设备和标定用照度计。
在一些实施例中,所述测试主机,还用于根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数,并将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
根据本公开实施例的第二方面,提出一种光线传感器测试方法,所述方法包括:
确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器;
根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
在一些实施例中,所述根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格,包括:
在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器;
其中,所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。
在一些实施例中,所述确定一对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器之后,所述方法包括:
在将所述待标定光线传感器组装至电子设备后,采用标定用照度计对所述待标定光线传感器进行标定。
在一些实施例中,所述采用标定用照度计对所述待标定光线传感器进行标定,包括:
根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数;
将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
根据本公开实施例的第三方面,提供一种电子设备,所述设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:
确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器;
根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
由上述实施例可知,本公开提供的光线传感器测试装置,通过在测试装置上设置面光源和测试台,并令面光源与测试台平行,且面光源覆盖测试台,以及在测试台朝向面光源的发光面的测试平面上设置多组测试夹具,这样,在具体测试时,可在每组测试夹具上夹持固定一对待测设备,这样,可同时对多个光线传感器进行测试,可有效地提高测试效率,降低测试成本。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。
图1为本公开根据一示例性实施例示出的一种光线传感器测试装置的示意图;
图2为本公开根据另一示例性实施例示出的另一种光线传感器测试装置的示意图;
图3为本公开根据一示例性实施例示出的一种测试台的示意图;
图4为本公开根据一示例性实施例示出的一种光线传感器测试方法的流程图;
图5为本公开根据一示例性实施例示出的一种电子设备的示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
当前智能电视产品的技术发展日新月异,用户也越来越享受科技带来的美好生活。在实际应用过程中,用户关注的已经不再是产品的技术参数,而是用户体验。因此,如何提高电视机的用户体验成为当前研究的重点。
很多用户喜欢在暗光环境下看电视,面对高亮度的屏幕显示,眼睛会非常疲劳,因此自动亮度调节功能就成为解决该问题的首选方法,而光线传感器则是实现该功能的基础。
当前带有光线传感器的智能电视凤毛麟角,而且由于光线传感器测试值和实际亮度的偏差带来的调节误差,使得自动亮度调节功能形同虚设。因此,为了提高自动亮度调节功能的调节精准,需要对光线传感器进行测试。
在整机的生产测试方面,由于电视产品的体积和重量原因,很难进行搬运和自动化测试,因此手机或者其他智能硬件产品的光线传感器测试方法都不适用于电视机用光线传感器。因此,如何提高电视机用光线传感器的测量精度和速度成为当前关注的重点。
本公开提供一种光线传感器测试装置,以对光线传感器进行测试,提高光线传感器的精准度。例如,可对用于电视机的光线传感器进行测试。
下面给出几个具体的实施例,用以详细介绍本公开的技术方案,下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。
图1为本公开根据一示例性实施例示出的一种光线传感器测试装置。请参照图1,本公开提供的光线传感器测试装置,可以包括面光源1和测试台2,其中,
所述面光源1与所述测试台2平行设置,且所述面光源1的光照范围覆盖所述测试台2;
所述测试台2朝向所述面光源1的发光面11的测试平面21上设置有多组测试夹具22,每组测试夹具22用于夹持固定一对待测设备;其中,每对所述待测设备包括照度计和待测光线传感器,每对所述待测设备被夹持固定在一组所述测试夹具22上时,该对待测设备的感光面处于同一平面。
面光源1可以为圆形、方形或不规则形状的面光源,本公开中,不对面光源的具体形状进行限定。
在一些实施例中,面光源1可以为LED光源,且该面光源的发光强度可调。例如,面光源可以包括多种测试光源,不同测试光源具有不同的光照强度。
可以根据面光源1距测试平面21的距离调节面光源的发光强度。例如,在一些可能的实现方式中,可以将面光源1的发光强度设置为70Lux,将测试平面21到面光源1的发光面11的垂直距离设置为30Cm。
此外,测试台2可以为圆形、方形、环形或不规则形态的平台,本公开中,不对测试台2的具体形状进行限定。
需要说明的是,面光源1与测试台2平行,且面光源1的光照范围覆盖测试台2,即面光源1发出的光线可以垂直照射在测试台2上。
在一些实施例中,请继续参照图1,测试台2的测试平面21(参照图1,测试台的测试平面为测试台2朝向面光源1的一面)上设置有多组测试夹具22,每组测试夹具用于夹持固定一对待测设备。
一对待测设备可以包括照度计和待测光线传感器,每对待测设备被夹持固定在一组所述测试夹具上时,该对待测设备的感光面处于同一平面。
需要说明的是,在一些实施例中,测试夹具22可以包括第一夹具和第二夹具,第一夹具和第二夹具之间的间隔小于预设值,且第一夹具用于夹持一对待测设备中的照度计,第二夹具用于夹持一对待测设备中的光线传感器。在另一些实施例中,该测试夹具22还可以是一个夹持盒,用于放置一对待测设备。
下面对该测试装置的工作原理进行简单介绍:
参照图1,面光源发出光线,被一对待测设备接收,通过比较一对待测设备的亮度数据,即可判断该对待测设备中的光线传感器是否合格。例如,可在一对待测设备的亮度数据差值小于第一预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器合格,并在一对所述待测设备的亮度数据差值大于或等于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器不合格,以及在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器。
需要说明的是,为了保证测试的准确性,上述测试过程在暗室中进行,且在测试的过程中,一对待测设备不能移动。
第一预设阈值和第二预设阈值是根据实际需要设定的,第一预设阈值的数值小于第二预设阈值的数值,本公开不对第一预设阈值和第二预设阈值的具体值进行限定。例如,在一些实施例中,第一预设阈值可以为5,第二预设阈值可以为15。
本实施例提供的光线传感器测试装置,通过设置面光源和测试台,并令面光源与测试台平行,且面光源覆盖测试台,以及在测试台朝向面光源的发光面的测试平面上设置多组测试夹具,这样,可在每组测试夹具上夹持固定一对待测设备,这样,可同时对多个光线传感器进行测试,可有效地提高测试效率,降低测试成本。此外,本实施例提供的测试装置,采用面光源进行测试,可降低一对待测设备处的亮度差异,可提高测试的准确性。
图2为本公开根据一示例性实施例示出的另一种光线传感器测试装置的示意图。请参照图2,本实施例提供的光线传感器测试装置,还包括容置腔3,所述容置腔3的内部构成暗室环境,所述面光源1和所述测试台2设置在所述容置腔3内部。
容置腔3可以选用不透光的材料制成。例如,可以采用PE制成。
本实施例提供的光线传感器测试装置,通过将面光源和测试台设置于容置腔内,这样,不需要在暗室中进行测试,可降低测试程序的环境要求,进一步提高测试人员的测试效率。
在一些实施例中,请继续参照图2,本实施例提供的光线测试装置,还可以包括测试主机4,所述测试主机4与每对所述待测设备连接,用于根据一对所述待测设备的亮度数据差值,判断该对待测设备中的光线传感器是否合格。
测试主机4可以为电脑、手机等,本实施例中不对其进行限定。
在一些实施例中,测试主机4,主要用于在一对所述待测设备的亮度数据差值小于或等于第一预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器合格,并在一对所述待测设备的亮度数据差值大于或等于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器不合格,以及在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器。
参见前面的介绍,第一预设阈值和第二预设阈值是根据实际需要设定的,本实施例中,不对第一预设阈值和第二预设阈值的具体值进行限定。例如,一实施例中,第一预设阈值为5,第二预设阈值为15。
例如,参照图2,在图2所示示例中,测试台2上共设置有三组测试夹具,为方便说明,按照从左到右的顺序,将上述三组测试夹具依次记为测试夹具A、测试夹具B和测试夹具C。
在一些实施例中,请继续参照图2,在图2所示示例中,测试夹具A和测试夹具B上夹具固定有待测设备(为方便说明,将测试夹具A上的一对待测设备记为照度计A1和光线传感器A2,将测试夹具B上的一对待测设备记为照度计B1和光线传感器B2)。
例如,在一些实施例中,照度计A1和光线传感器A2上报的亮度数据分别为65Lux、68Lux,此时,两者的亮度数据差值为3,小于第一预设阈值,此时,确定光线传感器A2合格。
再例如,照度计B1和光线传感器B2上报的亮度数据分别为68Lux、51Lux,此时,两者的亮度数据差值为17,大于第二预设阈值,此时,确定光线传感器B2不合格。
需要说明的是,在确定一个光线传感器为待标定光线传感器时,需要对该光线传感器进行标定,具体方法可以为:
将该光线传感器组装到电子设备上,采用如上所述方法(在电子设备上靠近光线传感器的位置放置照度计,在暗室中,采用光源照射电视机,)对已组装好的光线传感器进行测试,得到照度计上报的亮度数据a和光线传感器上报的亮度数据b,根据a和b,确定修正系数K,其中,K=a/b,最后将修正系数写入该电子设备的内存,后续,在利用光线传感器检测环境光亮度时,利用标定系统对检测到的亮度数据进行修正。
图3为本公开根据一示例性实施例示出的一种测试台的示意图。请参照图3,在本公开一可能的实现方式中,所述测试台2还包括整机测试部23;所述整机测试部23,用于放置组装有待标定光线传感器的电子设备和标定用照度计。
在确定一个光线传感器为待标定光线传感器后,在将该待标定光线传感器组装至电子设备后,可采用本公开提供的光线传感器测试装置对该待标定光线传感器进行标定(将电子设备和标定用照度计放置在整机测试部,采用面光源照射测试台),具体方法可以参考前面的描述,此处不再赘述。
在一些实施例中,请同时参照图2和图3,所述测试主机,还用于根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数,并将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
例如,在一些实施例中,标定用照度计上报的亮度数据a,待标定的光线传感器上报的亮度数据b,根据a和b,确定修正系数K,其中,K=a/b。
在一些实施例中,请继续参照图2,所述测试装置还可以包括信号转接板5,所述测试主机4与每组所述待测设备通过所述信号转接板连接;所述信号转接板5,用于将来自每组所述待测设备的I2C信号转换为UART信号传输给所述测试主机。
例如,在一些实施例中,信号转接板5可以同时支持3路独立的I2C总线和中断,用于将I2C信号转换为UART信号传输给所述测试主机4,这样,既能解决大部分PC不支持I2C总线的问题,还可以解决总线上多个设备负载过大的传输问题。
本实施例提供的测试装置,通过设置信号转接板,可解决总线上多个设备负载过大的传输问题。
图4为本公开根据一示例性实施例示出的一种光线传感器测试方法的流程图。请参照图4,所述方法利用前面所述的测试装置对光线传感器进行测试,所述方法可以包括:
S401、确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器。
请参照图1,具体实现时,将多对待测设备夹持固定在测试台上的测试夹具内,采用所述面光源照射所述测试台,以使固定在所述测试台上的所述待测设备检测环境光亮度。
需要说明的是,整个测试过程在暗室环境中进行,且测试过程中,每对待测设备不可移动。
S402、根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
具体实现时,可在一对所述待测设备的亮度数据差值小于或等于第一预设阈值时,确定该组待测设备中的光线传感器合格;在一对所述待测设备的亮度数据差值大于或等于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器不合格;在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器。
本实施例提供的光线传感器测试方法,可同时对多个光线传感器进行测试,可有效地提高测试效率,降低测试成本。
在一些实施例中,所述确定一对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器之后,所述方法包括:
将所述待标定光线传感器组装至电子设备,并采用所述标定用照度计对所述待标定光线传感器进行标定。
可根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数,进而将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
在一些实施例中,标定用照度计上报的亮度数据为a,待标定的光线传感器上报的亮度数据为b,可以根据a和b的具体数值,确定修正系数K,其中,K=a/b。
根据本实施例提供的方法,在确定光线传感器为待标定光线传感器后,可对该光线传感器进行标定,进而在光线传感器工作时,基于修正系统对光线传感器的亮度数据进行修正,可保证光线传感器正常工作。
本公开还提供一种电子设备,所述设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:
确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器;
根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
需要说明的是,该电子设备可以作为测试主机,有关测试主机的相关介绍可以参考前面实施例中的描述,此处不再赘述。
图5为本公开根据一示例性实施例示出的一种电子设备的示意图。参照图5,电子设备500可以包括以下一个或多个组件:处理组件502,存储器504,电源组件506,多媒体组件508,音频组件510,输入/输出(I/O)的接口512,传感器组件514,以及通信组件516。
处理组件502通常控制电子设备500的整体操作,诸如与显示,电话呼叫,数据通信,相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件502可以包括一个或多个处理器520来执行指令,以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外,处理组件502可以包括一个或多个模块,便于处理组件502和其他组件之间的交互。例如,处理组件502可以包括多媒体模块,以方便多媒体组件508和处理组件502之间的交互。
存储器504被配置为存储各种类型的数据以支持在电子设备500的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备500上操作的任何应用程序或方法的指令,联系人数据,电话簿数据,消息,图片,视频等。存储器504可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
电源组件506为电子设备500的各种组件提供电力。电源组件506可以包括电源管理系统,一个或多个电源,及其他与为电子设备500生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件508包括在所述电子设备500和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中,屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板,屏幕可以被实现为触摸屏,以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界,而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中,多媒体组件508包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当电子设备500处于操作模式,如拍摄模式或视频模式时,前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件510被配置为输出和/或输入音频信号。例如,音频组件510包括一个麦克风(MIC),当电子设备500处于操作模式,如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时,麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器504或经由通信组件516发送。在一些实施例中,音频组件510还包括一个扬声器,用于输出音频信号。
I/O接口512为处理组件502和外围接口模块之间提供接口,上述外围接口模块可以是键盘,点击轮,按钮等。这些按钮可包括但不限于:主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件514包括一个或多个传感器,用于为电子设备500提供各个方面的状态评估。例如,传感器组件514可以检测到电子设备500的打开/关闭状态,组件的相对定位,例如所述组件为电子设备500的显示器和小键盘,传感器组件514还可以检测电子设备500或电子设备500一个组件的位置改变,用户与电子设备500接触的存在或不存在,电子设备500方位或加速/减速和电子设备500的温度变化。传感器组件514可以包括接近传感器,被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件514还可以包括光传感器,如CMOS或CCD图像传感器,用于在成像应用中使用。在一些实施例中,该传感器组件514还可以包括加速度传感器,陀螺仪传感器,磁传感器,压力传感器或温度传感器。
通信组件516被配置为便于电子设备500和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备500可以接入基于通信标准的无线网络,如WiFi,2G或3G,4G LTE、5G NR或它们的组合。在一个示例性实施例中,通信组件516经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中,所述通信组件516还包括近场通信(NFC)模块,以促进短程通信。例如,在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术,红外数据协会(IrDA)技术,超宽带(UWB)技术,蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中,电子设备500可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行上述任一实施例所述的方法。
在示例性实施例中,还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质,例如包括指令的存储器504,上述指令可由电子设备500的处理器520执行以完成上述方法。例如,所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的公开后,将容易想到本公开的其它实施方案。本公开旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (15)

1.一种光线传感器测试装置,其特征在于,所述装置包括面光源和测试台,其中,
所述面光源与所述测试台平行设置,且所述面光源的光照范围覆盖所述测试台;
所述测试台朝向所述面光源的发光面的测试平面上设置有多组测试夹具,每组测试夹具用于夹持固定一对待测设备;其中,每对所述待测设备包括照度计和待测光线传感器,每对所述待测设备被夹持固定在一组所述测试夹具上时,该对待测设备的感光面处于同一平面。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述装置还包括容置腔,所述容置腔的内部构成暗室环境,所述面光源和所述测试台设置在所述容置腔内部。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述装置还包括测试主机,所述测试主机与每对所述待测设备连接,用于根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断该对待测设备中的光线传感器是否合格。
4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述装置还包括信号转接板,所述测试主机与每对所述待测设备通过所述信号转接板连接;所述信号转接板,用于将来自每对所述待测设备的I2C信号转换为UART信号后传输给所述测试主机。
5.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述面光源包括多种测试光源,不同所述测试光源具有不同的光照强度。
6.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述测试主机,用于在一对所述待测设备的亮度数据差值小于或等于第一预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器合格。
7.根据权利要求6所述的测试装置,其特征在于,所述测试主机,还用于在一对所述待测设备的亮度数据差值大于或等于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器不合格。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于,所述测试主机,还用于在一对所述待测设备的亮度数据差值大于所述第一预设阈值、且小于所述第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器。
9.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述测试台还包括整机测试部;所述整机测试部,用于放置组装有待标定光线传感器的电子设备和标定用照度计。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,所述测试主机,还用于根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数,并将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
11.一种光线传感器测试方法,其特征在于,所述方法包括:
确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器;
根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
12.根据权利要求11所述的方法,其特征在,所述根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格,包括:
在一对所述待测设备的亮度数据差值大于第一预设阈值、且小于第二预设阈值时,确定该对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器;
其中,所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。
13.根据权利要求12所述的方法,其特征在于,所述确定一对待测设备中的光线传感器为待标定光线传感器之后,所述方法包括:
将所述待标定光线传感器组装至电子设备,并采用所述标定用照度计对所述待标定光线传感器进行标定。
14.根据权利要求13所述的方法,其特征在于,所述采用标定用照度计对所述待标定光线传感器进行标定,包括:
根据所述标定用照度计的亮度数据和所述待标定光线传感器的亮度数据,确定所述待标定光线传感器的修正系数;
将所述修正系数存储至所述电子设备,以在所述待标定光线传感器工作时,根据所述修正系数对所述待标定光线传感器的亮度数据进行修正。
15.一种电子设备,其特征在于,所述设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:
确定多对待测设备的多个亮度数据;其中,每对所述待测设备包括照度计和光线传感器;
根据每对所述待测设备的亮度数据差值,判断所述待测设备中的光线传感器是否合格。
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