CN113257696A - 一种光伏组件el检测系统及其测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种光伏组件EL检测系统及其测试方法，属于光伏组件制造技术领域，解决了现有技术中EL检测系统无法针对不同尺寸光伏组件连续测试、且人工调整EL相机导致EL图片不良的问题。本发明包括EL测试单元(10)和测量单元(40)，测量单元(40)用于获取待测试件(50)的长度，EL测试单元(10)包括EL相机(13)和PC控制单元(14)，PC控制单元(14)根据待测试件(50)的长度调整EL相机(13)的位置。本发明通过获取待测试件的长度自动调整EL相机的位置，能够对不同尺寸光伏组件连续测试，无需人工对EL相机位置进行调整，同时避免了因人工调整EL相机位置不准确导致的EL图片不良的情况。
Description
技术领域
本发明涉及光伏组件制造技术领域，尤其涉及一种光伏组件EL检测系统及其测试方法。
背景技术
在光伏组件层压工艺后或者组框工艺完成后均需要对光伏组件进行测试，通常采用EL(Electro Luminescence；电致发光)测试仪检测光伏组件内电池片上肉眼很难发现甚至无法发现的问题，例如电池片的隐裂、破片、黑心片、断线、穿孔、边缘过刻、主栅线漏电、副栅线漏电、境界漏电、烧结缺陷、虚焊或过焊等多种缺陷；EL测试即电致发光缺陷检测，其原理是：在光伏组件的外部加正向偏置电压，电源向光伏组件注入大量非平衡载流子，电致发光依靠从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，放出光子；再利用CCD相机捕捉到这些光子，通过计算机进行处理后显示出来。
随着光伏组件尺寸变得越来越大和最新的EL检测国标(EL检测标准0.5mm/pixel)的公布，目前的行业内的单相机EL检测仪基本无法满足最新国标要求，为了满足EL检测国标，目前的EL测试仪标基本采用多EL相机(CCD相机)多次成像检测原理(例如：4EL相机拍摄，组件移动三次成像，相当于采用12台EL相机进行成像)，才可达到全画面的EL清晰度均可符合最新国际标准。
虽然EL测试仪EL相机数量的增多，可以有效的解决清晰度的问题，但是在测试不同尺寸光伏组件时，因为EL相机数量较多，每次EL相机的拍照位置调整会变得非常繁琐；同时，因为多相机多次成像属于拼图技术，一旦某一个EL相机的拍摄位置调整出现偏差，都将影响EL测试仪的成像效果。
目前，亟需一种可快速对不同尺寸光伏组件进行EL测试的测试系统和测试方法来解决以上问题。
发明内容
鉴于上述的分析，本发明实施例旨在提供一种光伏组件EL检测系统及其测试方法，用以解决现有EL检测系统无法针对不同尺寸光伏组件连续测试、且人工调整EL相机导致EL图片不良的问题。
一方面，本发明提供了一种光伏组件EL检测系统，包括EL测试单元和测量单元，测量单元用于获取待测试件的长度，EL测试单元包括EL相机和PC控制单元，PC控制单元根据待测试件的长度调整EL相机的位置。
进一步地，所述EL测试单元还包括EL测试主体机柜和水平传送机构，水平传送机构设于EL测试主体机柜内。
进一步地，所述EL相机设于水平传送机构的下方。
进一步地，所述EL测试主体机柜上设有用于待测试件通过的上下料口。
进一步地，还包括上下料单元，上下料单元的水平高度与所述上下料口的水平高度一致。
进一步地，所述上下料单元包括上下料支架和上下料水平传送机构，上下料支架正对所述上下料口设置，上下料水平传送机构设于上下料支架上。
进一步地，还包括驱动组件，驱动组件与PC控制单元连接，并控制所述水平传送机构、上下料水平传送机构运动和EL相机的运动。
进一步地，所述测量单元设于上下料单元上。
进一步地，所述测量单元水平高度高于上下料水平传送机构与待测试件的接触面。
进一步地，所述水平传送机构的顶部与上下料水平传送机构的顶部齐平。
另一方面，本发明提供了一种光伏组件EL测试方法，采用上述光伏组件EL检测系统，步骤包括：
S1：获取待测试件的长度；
S2：PC控制单元根据待测试件的长度调整EL相机的位置；
S3：待测试件移动至EL相机调整后的拍摄区域进行测试，得到EL图像。
进一步地，步骤S1具体包括：
S101：通过归正组件归正待测试件；
S102：通过测量单元获取待测试件的长度。
进一步地，步骤S102具体包括：
S1021：获取第一激光测距仪和第二激光测距仪间距L0，第一激光测距仪测试待测试件距离为L1，第二激光测距仪测试待测试件距离为L2；
S1022：第一激光测距仪和第二激光测距仪将获得的测量数据发送至PC控制单元，PC控制单元通过计算得到待测试件长度L＝L0-L1-L2。
与现有技术相比，本发明至少可实现如下有益效果之一：
(1)通过获取待测试件的长度自动调整EL相机的位置，在对不同尺寸光伏组件连续测试时，无需人工对EL相机位置进行调整，EL检测系统可以快速、准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的连续性和EL图片效果，同时可以避免因人工调整EL相机位置不准确导致的EL图片不良的情况；
(2)EL相机的位置根据待测试件的长度自动适应调整，使得检测系统能够对不同尺寸光伏组件进行连续测试，无需人工对EL相机位置进行调整，可以快速、准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的连续性、EL图片效果和生产效率；
(3)水平传送机构接触待测试件的平面高度与上下料水平传送机构接触待测试件平面高度保持一致，使得待测试件在上下料支架归正后的位置仅发生沿传输方向的移动，不发生沿垂直于传输方向的偏移，能够准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的EL图片效果。
本发明中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本发明的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
图1为光伏组件EL检测系统整机结构示意图；
图2为伏组件EL检测系统的上下料单元与测量单元结构示意图；
图3为测量单元测试待测试件长度L原理图；
图4为EL相机通过PC控制单元调整后与待测试件相对位置示意图；
图5为待测试件第一拍摄的位置示意图；
图6为待测试件第二拍摄的位置示意图；
图7为待测试件第二拍摄的位置示意图。
附图标记：
10-EL测试单元；11-EL测试主体机柜；12-上下料口；13-EL相机；14-PC控制单元；15-水平传送机构；16-图像显示单元；17-稳流稳压电源；20-上下料单元；21-上下料支架；22-上下料水平传送机构；23-归正组件；24-挡缸；30-驱动组件；40-测量单元；41a-第一激光测距仪；41b-第二激光测距仪；50-待测试件；60-接触面。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本发明一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。
在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接，可以是机械连接，也可以是电连接，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
全文中描述使用的术语“顶部”、“底部”、“在……上方”、“下”和“在……上”是相对于装置的部件的相对位置，例如装置内部的顶部和底部衬底的相对位置。可以理解的是装置是多功能的，与它们在空间中的方位无关。
实施例1
本发明的一个具体实施例，如图1-图2所示，公开了一种光伏组件EL检测系统，包括EL测试单元10和测量单元40，测量单元40用于获取待测试件50的长度L，EL测试单元10包括EL相机13和PC控制单元14，PC控制单元14根据待测试件50的长度调整EL相机13的位置。
与现有技术相比，本实施例提供的光伏组件EL检测系统，通过获取待测试件的长度自动调整EL相机的位置，在对不同尺寸光伏组件连续测试时，无需人工对EL相机位置进行调整，可以快速、准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的连续性和EL图片效果，同时可以避免因人工调整EL相机位置不准确导致的EL图片不良的情况。
EL测试单元10还包括EL测试主体机柜11、水平传送机构15、图像显示单元16和稳流稳压电源17，EL测试主体机柜11上设有上下料口12，用于待测试件50的通过，具体地，上下料口12设于EL测试主体机柜11的侧面。
值得注意的是，水平传动机构15可以为水平移动滚轮、传动带或者其他能够实现待测试件50水平移动的机构。
EL相机13、PC控制单元14、水平传送机构15和稳压稳流电源17均设于EL测试主体机柜11内，能够避免外部环境中的灰尘对电子器件的损坏，EL相机13和PC控制单元14相连，PC控制单元14能够控制EL相机13的位置变化。
水平传送机构15设于EL测试主体机柜11上，具体地，水平传送机构15与EL测试主体机柜11的内壁连接，EL相机13设于水平传送机构15的下方，图像显示单元16设于EL测试主体机柜11的外部，具体地，图像显示单元16设于EL测试主体机柜11的顶部。
值得注意的是，EL相机13透过水平传送机构15设有的空隙对待测试件50拍摄，示例性地，当水平传送机构15为水平移动滚轮时，滚轮之间非均布而是设有一段空隙，EL相机13透过空隙对待测试件50拍摄，避免均布的滚轮遮挡EL相机13。
值得注意的是，EL相机13设有N个，2≤N≤10，多个EL相机13垂直于待测试件50传输方向排列。
EL相机13、图像显示单元16和稳压稳流电源17均与PC控制单元14电连接，稳压稳流电源17为系统提供稳定的电压电流，图像显示单元16用于显示EL相机13获取的待测试件50的图像。
光伏组件EL检测系统还包括上下料单元20，上下料单元20的水平高度与上下料口12一致，保证待测试件50能够从上下料单元20平稳进入水平传送机构15上。
上下料单元20包括上下料支架21和上下料水平传送机构22，上下料支架21正对上下料口12设置，上下料水平传送机构22设于上下料支架21上，且上下料水平传送机构22顶部与水平传送机构15的顶部齐平，保证待测试件50从上下料支架21进入EL测试主体机柜11时平稳，避免待测试件50发生位移偏转，保证EL成像的准确性。
具体地，上下料支架21包括横梁、纵梁和立柱，由横梁和纵梁形成方形框架，立柱作为方形框架的支腿设于方向框架上，上下料水平传送机构22设置于上述方形框架内。需要说明的是，沿待测试件50传输方向的梁为横梁，相应地，垂直于待测试组件50传输方向的梁为纵梁；上下料水平传送机构22可以为上下料水平移动滚轮、传动带或其他能够实现待测试件50水平传输的机构。
以上下料水平移动滚轮为例，横梁之间设有多根转轴，转轴的两端分别与纵梁连接，上下料水平移动滚轮设于转轴上，且每个转轴上均设有多个上下料水平移动滚轮。
为了保证待测试件50运动到EL测试区域内不发生位置偏移，保证测试的准确性，上下料单元20还包括归正组件23，归正组件23设于上下料支架21上，具体地，归正组件23设于上下料支架21的横梁上，且对称设置有两组，每组设有两个，待测试件50运动到归正区域时，归正组件23对待测试件50进行归正。
值得注意的是，上下料支架21上同侧设置的相邻归正组件23之间的间距不大于待测试件50的宽度。
本发明实施例提供的EL测试系统既可以单独使用，通过人工搬运的方式将待测试件50放置在上下料支架21上或者从上下料支架21上取走，也可以设置在光伏组件生产流水线上，待测试件50自上一生产工作自动传输至上下料支架21上。
当该EL测试系统单独使用时，当测试完成后，可以改变水平传送机构15和上下料水平传送机构22的传输方向，使待测试件50从主体机柜11中输出回上下料支架21上。考虑到待测试件50从EL测试主体机柜11输出时可能从上下料支架21上掉落，可以在上下料支架21上设置挡缸24。挡缸24设于上下料支架21的纵梁上且位于远离上下料口12的纵梁上，用于限制待测试件50在上下料水平传送机构22上的移动，避免待测试件50从EL测试主体机柜11内输出时从上下料支架21上掉落。
当待测试件50从生产流水线的其他工位传送到上下料支架21上时，为了避免阻碍待测试件50的传送，上下料支架21上不设置挡缸24。同时，可以在主体机柜11与上下料支架21相对的一侧开设另一个上下料口，并设置另一个上下料支架，使得待测试件50完成测试后从主体机柜另一侧输出进入后续生产工位。
光伏组件EL检测系统还包括驱动组件30，驱动组件30与PC控制单元14连接，控制水平传送机构15和上下料水平传送机构22运动以及EL相机13的运动，具体地，驱动组件为伺服电机。
本实施例中，测量单元40设于上下料单元20上，包括两个激光测距仪，分别为第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b，测量单元40与PC控制单元14连接，具体地，测量单元40设于上下料支架21上，第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b分别位于上下料支架21的横梁上，且水平正对设置。
为了能够准确获得待测试件50的长度，第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b水平高度高于上下料水平传送机构22与待测试件50的接触面60，具体地，第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b水平高度比上下料水平传送机构22与待测试件50的接触面60高1mm～3mm。
本实施例中，水平传送机构15接触待测试件50平面高度与上下料水平传送机构22接触待测试件50平面高度保持一致，以保证待测试件50从上下料单元20平稳进入EL测试单元10内，且不发生待测试件50的偏移，即待测试件50在上下料支架21归正后的位置仅发生沿传输方向的移动，待测试件50进入EL测试主体机柜11内刚好位于调整好EL相机13位置的EL测试区域，能够准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的EL图片效果。
本实施例提供的光伏组件EL检测系统，上下料单元20上设有测量单元40，上下料单元20对待测试件50进行归正后，测量单元40获得待测试件50的长度，PC控制单元14根据待测试件50的长度调整EL相机13的位置，使得多个EL相机13形成EL待测区域，并与归正后的待测试件50的位置对应，待测试件50运动到EL待测区域后成像，PC控制单元14根据待测试件50的长度自动对EL相机13调整，避免了人工调整EL相机13位置不准确导致的EL图片不良的情况。
本实施例中，EL相机13的位置根据待测试件50的长度自动适应调整，使得EL检测系统能够对不同尺寸光伏组件进行连接测试，无需人工对EL相机位置进行调整，可以快速、准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的连续性、EL图片效果和生产效率。
实施例2
本发明的另一个具体实施例，如图3-图4所示，公开了一种光伏组件EL测试方法，采用实施例1的光伏组件EL检测系统，步骤包括：
S1：获取待测试件50的长度。
具体步骤包括：
S101：通过归正组件23归正待测试件50；
将待测试件50放置在上下料单元20的上下料水平传送机构22上，归正组件23对待测试件50进行归正，将待测试件50调整至上下料水平传送机构22正中间，同时待测试件50的四边分别与待测试件50的移动方向保持平行或垂直。例如，待测试件50的宽度方向与待测试件50的移动方向保持平行，待测试件50的长度方向与待测试件50的移动方向垂直。
S102：通过测量单元40获取待测试件50的长度；
通过设置于上下料单元20上的测量单元40对待测试件50长度进行测试，得到待测试件50长度L。
测量步骤具体为：
S1021：第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b间距为L0，第一激光测距仪41a测试待测试件50距其最近一边距离为L1，第二激光测距仪41b测试待测试件50距其最近一边距离为L2；
S1022：第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b将获得的测量数据信息发送至PC控制单元14，PC控制单元14通过计算得到待测试件50长度L＝L0-L1-L2。
S2：PC控制单元14根据待测试件50的长度调整EL相机13的位置。
待测试件50尺寸测试结束后，测量单元40将待测试件50长度L传输至PC控制单元14，PC控制单元14对N个EL相机13进行调整，使得N个EL相机13分别处于待测试件50长度L方向的L/2N、3L/2N、……、(2N-1)L/2N位置，如图4所示。
S3：待测试件50移动至EL相机13调整后的拍摄区域进行测试。
N个EL相机13位置调整结束后，待测试件50通过上下料水平传送机构22穿过上下料口12，运动至EL测试单元10的水平传送机构15上并运动至待测试位置准备测试。
值得注意的是，水平传送机构15接触待测试件50平面的高度与上下料水平传送机构22接触待测试件50的平面高度齐平，使得待测试件50从上下料单元20能够平稳进入EL测试单元10内，且不发生待测试件50的偏移。
本实施例中，待测试件50从上下料支架21运送到待测区域的过程中，待测试件50的位置仅发生沿传输方向的移动，即待测试件50距离第一激光测距仪41a和第二激光测距仪41b的所在横梁延长线的距离不变，待测试件50进入EL测试主体机柜11内刚好位于调整好EL相机13位置的EL测试区域，使EL测试单元10能够对光伏组件进行准确测试，提高了光伏组件的制作的EL图片效果。
S4：待测试件50进入EL相机13拍摄区域进行测试，得到EL图像，其中，EL图像为待测试件50在EL相机13拍摄移动三次成像拼接而成，具体地，待测试件50进入EL测试主体机柜11内并进入EL相机13形成的拍摄区域后，在前进的过程中EL相机13拍摄三次，如图5-图7所示，最后将三次形成的图像拼接为EL图像，待测试件50在EL测试过程中多次拍照，提高了EL图像的质量。
本实施例提供的光伏组件EL测试方法，待测试件50首先放置到上下料单元20上进行归正，待归正后，再通过测量单元40获得待测试件50的长度，PC控制单元14根据待测试件50的长度调整EL相机13的位置，使得多个EL相机13的拍摄区形成EL待测区域，待测试件50运动到EL待测区域后成像，PC控制单元14根据待测试件50的长度自动对EL相机13调整，避免了人工调整EL相机13位置不准确导致的EL图片不良的情况。
本实施例中，EL相机13的位置根据待测试件50的长度自动适应调整，使得EL检测系统能够对不同尺寸光伏组件进行连接测试，无需人工对EL相机位置进行调整，可以快速、准确的对光伏组件进行EL测试，提高了光伏组件的制作的连续性和生产效率。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种光伏组件EL检测系统，其特征在于，包括EL测试单元(10)和测量单元(40)，测量单元(40)用于获取待测试件(50)的长度，EL测试单元(10)包括EL相机(13)和PC控制单元(14)，PC控制单元(14)根据待测试件(50)的长度调整EL相机(13)的位置。
2.根据权利要求1所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述EL测试单元(10)还包括EL测试主体机柜(11)和水平传送机构(15)，水平传送机构(15)设于EL测试主体机柜(11)内。
3.根据权利要求2所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述EL相机(13)设于水平传送机构(15)的下方。
4.根据权利要求2所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述EL测试主体机柜(11)上设有用于待测试件(50)通过的上下料口(12)。
5.根据权利要求4所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，还包括上下料单元(20)，上下料单元(20)的水平高度与所述上下料口(12)的水平高度一致。
6.根据权利要求5所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述上下料单元(20)包括上下料支架(21)和上下料水平传送机构(22)，上下料支架(21)正对所述上下料口(12)设置，上下料水平传送机构(22)设于上下料支架(21)上。
7.根据权利要求6所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，还包括驱动组件(30)，驱动组件(30)与PC控制单元(14)连接，并控制所述水平传送机构(15)、上下料水平传送机构(22)运动和EL相机(13)的运动。
8.根据权利要求5所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述测量单元(40)设于上下料单元(20)上。
9.根据权利要求6所述的光伏组件EL检测系统，其特征在于，所述测量单元(40)水平高度高于上下料水平传送机构(22)与待测试件(50)的接触面(60)。
10.一种光伏组件EL测试方法，其特征在于，采用权利要求1至9任一所述的光伏组件EL检测系统，步骤包括：
S1：获取待测试件(50)的长度；
S2：PC控制单元(14)根据待测试件(50)的长度调整EL相机(13)的位置；
S3：待测试件(50)移动至EL相机(13)调整后的拍摄区域进行测试，得到EL图像。
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN113921411A (zh) * | 2021-09-27 | 2022-01-11 | 华东理工大学 | 提高单晶光伏组串虚焊识别率的方法 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996011377A1 (fr) * | 1994-10-06 | 1996-04-18 | Advantest Corporation | Illuminateur pour inspecter l'aspect d'un dispositif et appareil automatique d'inspection de l'aspect d'un dispositif a l'aide dudit dispositif d'illumination |
| JP2009177166A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-08-06 | Horiba Ltd | 検査装置 |
| CN103743752A (zh) * | 2014-01-23 | 2014-04-23 | 四川大学 | 一种基于机器视觉的磁瓦在线检测设备 |
| CN206022315U (zh) * | 2016-09-09 | 2017-03-15 | 上海山晟太阳能科技有限公司 | 太阳能光伏组件el、功率一体测试仪 |
| CN209001909U (zh) * | 2018-10-08 | 2019-06-18 | 宁波黄硕太阳能有限公司 | 一种太阳能组件el测试仪 |
| CN209250578U (zh) * | 2018-12-14 | 2019-08-13 | 苏州诺威特测控科技有限公司 | 一种光伏电池组件el外观自动识别一体机 |
| CN110600393A (zh) * | 2019-10-10 | 2019-12-20 | 南京卓胜自动化设备有限公司 | 一种双工位离线式电池片el检测分选装置 |
| CN211374559U (zh) * | 2019-10-23 | 2020-08-28 | 内蒙古中环光伏材料有限公司 | 一种单晶硅片用可调检测装置 |
-
2021
- 2021-04-02 CN CN202110362729.3A patent/CN113257696A/zh active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996011377A1 (fr) * | 1994-10-06 | 1996-04-18 | Advantest Corporation | Illuminateur pour inspecter l'aspect d'un dispositif et appareil automatique d'inspection de l'aspect d'un dispositif a l'aide dudit dispositif d'illumination |
| JP2009177166A (ja) * | 2007-12-28 | 2009-08-06 | Horiba Ltd | 検査装置 |
| CN103743752A (zh) * | 2014-01-23 | 2014-04-23 | 四川大学 | 一种基于机器视觉的磁瓦在线检测设备 |
| CN206022315U (zh) * | 2016-09-09 | 2017-03-15 | 上海山晟太阳能科技有限公司 | 太阳能光伏组件el、功率一体测试仪 |
| CN209001909U (zh) * | 2018-10-08 | 2019-06-18 | 宁波黄硕太阳能有限公司 | 一种太阳能组件el测试仪 |
| CN209250578U (zh) * | 2018-12-14 | 2019-08-13 | 苏州诺威特测控科技有限公司 | 一种光伏电池组件el外观自动识别一体机 |
| CN110600393A (zh) * | 2019-10-10 | 2019-12-20 | 南京卓胜自动化设备有限公司 | 一种双工位离线式电池片el检测分选装置 |
| CN211374559U (zh) * | 2019-10-23 | 2020-08-28 | 内蒙古中环光伏材料有限公司 | 一种单晶硅片用可调检测装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113921411A (zh) * | 2021-09-27 | 2022-01-11 | 华东理工大学 | 提高单晶光伏组串虚焊识别率的方法 |
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