CN113219262A - 设备测试方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种设备测试方法、装置、设备及存储介质。该方法包括，当得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断多个测试端口中是否存在未测试端口；若存在未测试端口，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。可见，采用本申请的方案可以根据天线口的测试结果自动实现从一个天线口到另一个天线口的测试切换，因此在完成一个天线口的测试后，无需人为更改接线，即可自动实现多个天线口的连续性测试。

Description

设备测试方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及测试领域，尤其涉及一种设备测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

目前为了提升传输速率，许多UE(用户设备)采用了MIMO(multiple inputmultiple output，多进多出)技术，因此UE内往往存在多个接收天线。开发阶段需要对每个天线的天线口进行传导灵敏度测试。

目前测试方法是人为采用固定仪表逐个对每个天线口进行测试，具体地，采用固定仪表对一个天线口测试完毕后，手动更改固定仪表与天线接口的接线，以实现对另一个天线口的测试。然而，由于每测试完一个天线口，均需要人为更改接线，因此无法实现多个天线口的连续性测试。

发明内容

本申请提供了一种设备测试方法、装置、设备及存储介质，用以解决相关技术中无法实现多个天线口的连续性测试的问题。

第一方面、提供一种设备测试方法，应用于具有多个测试端口的测试设备，所述多个测试端口用于对被测试设备的多个天线口进行测试；所述方法包括：

当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；

若存在所述未测试端口，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

可选地，通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的天线口进行测试，包括：

控制所述当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据；

从所述待测试天线口获取与所述下行数据对应的测试参数；

基于所述测试参数得到待测试天线口的测试结果。

可选地，控制所述当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据，包括：

判断是否通过接收端口接收到上行信令，其中所述接收端口为所述多个测试端口中的任一测试端口；

若通过所述接收端口接收到所述上行信令，控制所述当前测试端口按照所述第一发射参数向待测试天线口发射下行信令。

可选地，基于所述测试参数得到待测试天线口的测试结果，包括：

基于所述测试参数得到待测试天线口的当前测试结果；

当所述当前测试结果小于测试阈值时，将所述第一发射参数更新为第二发射参数，并返回执行所述通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试的步骤，直至得到的当前测试结果不小于所述测试阈值；

当所述当前测试结果不小于所述测试阈值时，将所述当前测试结果作为所述测试结果。

可选地，从所述未测试端口中选择当前测试端口，包括：

获取所述多个测试端口的测试顺序；

按照所述测试顺序，从所述未测试端口中选择所述当前测试端口。

第二方面、提供一种测试系统，包括：

具有多个测试端口的测试设备、以及具有多个天线口的被测试设备；

所述测试设备，用于当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；若存在所述未测试端口，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

可选地，所述测试设备的测试端口的数量与所述被测试设备的天线口的数量相同，且所述多个测试端口中的每一测试端口与所述每一测试端口匹配的天线口，通过物理线缆连接。

第三方面、提供一种设备测试模组，应用于具有多个测试端口的测试设备，所述多个测试端口用于对被测试设备的多个天线口进行测试；所述模组包括：

判断模块，用于当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；

测试模块，用于当确定存在所述未测试端口时，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

第四方面、提供一种测试设备，包括：处理器、存储器和通信总线，其中，处理器和存储器通过通信总线完成相互间的通信；

所述存储器，用于存储计算机程序；

所述处理器，用于执行所述存储器中所存储的程序，实现第一方面所述的设备测试方法。

第五方面、提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面所述的设备测试方法。

本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请实施例提供的技术方案，当得到与被测设备的天线口对应的测试结果时，即对被测设备的一个天线口测试完毕后，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口对待测试设备中的待测试天线口进行测试。可见，采用本申请的方案可以根据天线口的测试结果自动实现从一个天线口到另一个天线口的测试切换，因此在完成一个天线口的测试后，无需人为更改接线，即可自动实现多个天线口的连续性测试。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本发明的实施例，并与说明书一起用于解释本发明的原理。

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例中一种测试系统的结构示意图；

图2为本申请实施例中一种设备测试方法的流程示意图；

图3为本申请实施例中又一种设备测试方法的流程示意图；

图4为本申请实施例中又一种设备测试方法的流程示意图；

图5为本申请实施例中又一种设备测试方法的流程示意图；

图6为本申请实施例中又一种测试系统的结构示意图；

图7为本申请实施例中设备测试模组的结构示意图；

图8为本申请实施例中电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本申请实施例提供一种设备测试方法，在本实施例中，该设备测试方法可以应用于如图1所示的由测试设备101和被测试设备102构成的测试系统中。

其中，测试设备101包括多个测试端口，被测试设备102包括多个天线口。

可选地，本实施例中，测试设备101包括但不限于综测仪；被测试设备包括但不限于用户设备。

在一个具体实施例中，测试端口和天线口可以是一对一的测试匹配关系，也可以是一对多的测试匹配关系。

当测试端口和天线口为一对一的测试匹配关系时，一个测试端口只对一个天线口测试，并不能对其它的天线口测试。此时，测试端口的数量与被测试端口的数量相同。

可选地，为了实现测试端口和天线口之间的一对一测试，可以预先将具有匹配关系的测试端口和天线口通过物理线缆连接。例如，通过射频线缆连接。

当测试端口和天线口为一对多的测试匹配关系时，一个测试端口可以对多个天线口进行测试。此时测试端口的数量小于被测试端口的数量。

例如，当一个测试端口可以对两个天线口进行测试时，若天线口的数量为4个，那么测试端口的数量可以为2个。

实际应用中，考虑到存在预留备用的测试端口的可能，因此，在一对多的测试匹配关系中，测试端口的数量也存在不小于被测试端口的数量的情况。

测试设备101用于当得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断多个测试端口中是否存在未测试端口；若存在未测试端口，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口，对被测试设备102中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

以下从测试设备的角度对本实施例中的设备测试方法进行描述。

示例性地，本实施例中的设备测试方法具体可以由与测试设备通信的自动化测试软件执行。

在一个例子中，该自动化测试软件可以安装于测试设备中；在另一个例子中，该自动化测试软件可以安装于能够与测试设备通信的外部硬件环境(如PC)中。

其中，当自动化测试软件安装于测试设备中时，测试设备具体可以为能够实现测试功能的模组或包含模组的终端设备等，终端设备具体可以为移动终端和/或智能设备等，移动终端具体可以为手机、平板电脑、笔记本电脑中的至少一种，智能设备具体可以为智能综测仪等，模组具体可以为2G通信模组、3G通信模组、4G通信模组、5G通信模组、NB-TOT通信模组等中的任意一种。

其中，当自动化测试软件安装于外部硬件环境中时，该外部硬件环境可以通过通用接口总线(General-Purpose Interface Bus，GPIB)与测试设备通信，并通过USB与被测试设备通信。

如图2所示，该设备测试方法可以包括以下步骤：

步骤201、当得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断多个测试端口中是否存在未测试端口，若是，执行步骤202，否则结束流程。

可选地，与测试结果对应的天线口可以为被测试设备的多个天线口中的任一天线口。

可选地，本实施例中，测试结果包括但不限于天线口的传导灵敏度。

可选地，对于已测试端口，测试设备可以对已测试端口进行标记，从而根据标记确定多个测试端口中是否存在未测试端口。

针对测试端口和天线口之间的测试匹配关系，提供以下两种标记方式：

当测试端口和天线口为一对一的测试匹配关系时，对于任一测试端口，测试设备可以仅标记该测试端口为已测试端口或未测试端口。

当测试端口和天线口为一对多的测试匹配关系时，对于任一测试端口，只要该测试端口没有完成对其所匹配的所有天线口的测试，则将该测试端口标记为未测试端口，同时还要进一步标记该测试端口未测试的天线口的端口号。

例如，设置测试端口A用于对天线口a以及天线口b进行测试，当测试端口A已对天线口a(或天线口b)进行测试、而未对天线口b(或天线口a)进行测试，则标记测试端口A为未测试端口，同时标记测试端口A所未测试的天线口为b(或a)。

可选地，本实施例中，可以在执行设备测试方法之前，将测试设备的各测试端口统一标记为未测试端口。在测试端口和天线口为一对多的测试匹配关系时，还需要标记各测试端口所匹配的天线口的端口号。当执行设备测试方法后，按照上述标记方式对各测试端口进行标记的更新，即将已参与测试的测试端口的标记更更新为已测试端口。

步骤202、从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

其中，本实施例提供以下两种选择当前测试端口的实现方式：

其一、从未测试端口中随机选择一个测试端口作为当前测试端口。

其二、获取多个测试端口的测试顺序；按照测试顺序，从未测试端口中选择当前测试端口。

其中，测试顺序可以包括按照多个测试端口的端口号降序的方式进行测试、以及按照多个测试端口的端口号升序的方式进行测试。

当测试顺序为按照多个测试端口的端口号降序的方式进行测试时，意味着此时测试设备是按照测试端口的端口号由大到小的顺序对天线口进行测试，此时，将未测试端口中端口号最大的测试端口确定为当前测试端口。

例如，测试设备的多个测试端口可以为RF1、RF2、RF3、RF4，测试设备在对被测试设备的天线口进行测试时，按照RF4→RF3→RF2→RF1的顺序进行测试，若未测试端口为RF1、RF2、RF3，那么此时确定的当前测试端口可以为RF3对应的测试端口。

当测试顺序为按照多个测试端口的端口号升序的方式进行测试时，意味着此时测试设备是按照测试端口的端口号由小到大的顺序对天线口进行测试，此时，将未测试端口中端口号最小的测试端口确定为当前测试端口。

例如，测试设备的多个测试端口可以为RF1、RF2、RF3、RF4，测试设备在对被测试设备的天线口进行测试时，按照RF1→RF2→RF3→RF4的顺序进行测试，若未测试端口为RF2、RF3、RF4，那么此时确定的当前测试端口可以为RF2对应的测试端口。

可选地，本实施例中，为了便于记录以及识别，被测试设备侧天线口的端口号的排序方式可以和测试设备侧测试端口的端口号的排序方式相同。

具体地，当测试设备侧测试端口的端口号的排序方式为升序排序时，被测试设备侧测试端口的端口号的排序方式也为升序排序，即按照端口号由小到大的方式，由测试端口逐一对天线口进行测试；

当测试设备侧测试端口的端口号的排序方式为降序排序时，被测试设备侧测试端口的端口号的排序方式也为降序排序，即按照端口号由大到小的方式，由测试端口对天线口逐一进行测试。

例如，当测试端口为RF1、RF2、RF3、RF4，天线口为ANT1、ANT2、ANT3、ANT4时，按照升序排序的方式的测试过程可以为：由RF1对ANT1进行测试→由RF2对ANT2进行测试→由RF3对ANT3进行测试→由RF4对ANT4进行测试；而按照降序排序的方式的测试过程可以为：由RF4对ANT4进行测试→由RF3对ANT3进行测试→由RF2对ANT2进行测试→由RF1对ANT1进行测试。

可选地，本实施例中，测试端口和天线口均可以具有发射和接收两种功能。当测试端口和天线口为一对一的测试匹配关系时，在确定当前测试端口后，可以打开当前测试端口的发射功能以及待测试天线口的接收功能，以便利用当前测试端口对待测试天线口进行测试。

相应的，为了节省测试设备和被测试设备的电能消耗，对于已测试端口和已测试天线口，还可以关闭已测试端口和已测试天线口的发射功能。

可选地，本实施例中，当前测试端口可以通过向待测试天线口发射下行数据的方式得到待测试天线口的测试结果。

具体地，请参见图3，可以包括以下步骤：

步骤301、控制当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据；

其中，第一发射参数可以为初始信号发射强度。

步骤302、从待测试天线口获取与下行数据对应的测试参数；

步骤303、基于测试参数得到待测试天线口的测试结果。

可选地，当没有得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，可以按照多个测试端口的测试顺序，从多个测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口。

其中当测试顺序为按照测试端口的端口号升序的方式进行测试时，将多个测试端口中端口号最小的测试端口作为当前测试端口；当测试顺序为按照测试端口的端口号降序的方式进行测试时，将多个测试端口中端口号最大的测试端口作为当前测试端口。

本申请实施例提供的技术方案，当得到与被测设备的天线口对应的测试结果时，即对被测设备的一个天线口测试完毕后，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口对待测试设备中的待测试天线口进行测试。可见，采用本申请的方案可以根据天线口的测试结果自动实现从一个天线口到另一个天线口的测试切换，因此在完成一个天线口的测试后，无需人为更改接线，即可自动实现多个天线口的连续性测试。

为了尽可能模仿被测试设备真实地使用场景，本实例还可以通过上下行交互的方式完成对待测试天线口的测试。

如图4所示，步骤301可以包括：

步骤401、判断是否通过接收端口接收到上行信令，若是执行步骤402，否则结束流程；

本申请实施例中并不限定该接收端口的具体实现，即该接收端口可以为多个端口中的任一测试端口。

为了实现任一测试端口均可以作为接收端口，可以将各个测试端口的接收功能均打开，从而只要有一个测试端口接收到上行信令，即可以实现接收端口对上行信令的接收。

可选地，本实施例中，在对不同的天线口进行测试时，接收端口可以不为同一个测试端口。当然，考虑到为了节省测试设备的电能消耗，也可以在对不同的天线口进行测试时，将接收端口设为同一测试端口，如将端口号最小的测试端口设为接收端口。此时可以仅打开接收端口的接收功能，而无需打开其它测试端口的接收功能。

可以理解的是，当接收端口不为同一个测试端口时，为了保证不同的测试端口作为接收端口时均能接收到上行信令，被测试设备的各天线口的发射功能也要均打开；同理，当接收端口为同一测试端口时，可以仅打开与接收端口匹配的天线口的发射功能。

步骤402、控制当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行信令。

本实施例中，测试设备接收到被测试设备的上行信令后，才通过当前测试端口向待测试天线口发射下行信令，通过上、下行信令的交互实现了在模拟被测试设备真实的使用场景的基础上对被测试设备的天线口的测试。

实际应用中，由于测试结果的极限值往往更能反映天线口的性能，因此本实施例得到的测试结果可以为传导灵敏度的极限值。

可选地，如图5所示，步骤303可以包括以下步骤：

步骤501、基于测试参数得到待测试天线口的当前测试结果；

步骤502、当当前测试结果小于测试阈值时，将第一发射参数更新为第二发射参数，并返回执行通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试的步骤，直至得到的当前测试结果不小于测试阈值；

可选地，测试阈值可以为传导灵敏度的极限阈值，该测试阈值可以人为根据经验设置。

其中，第二发射参数大于第一发射参数。

示例性地，当发射参数为发射强度时，第二发射强度大于第一发射强度。

本实施例提供以下两种将第一发射参数更新为第二发射参数的实现方式：

其一、本实施例预设多个发射参数，当当前测试结果小于测试阈值时，从预设的多个发射参数中，获取参数值比第一发射参数大、且相邻地第二发射参数；

其二、本实施例预设发射参数变量，当当前测试结果小于测试阈值时，将第一发射参数与预设发射参数变量相加，得到第二发射参数。

步骤503、当当前测试结果不小于测试阈值时，将当前测试结果作为测试结果。

本实施例中，通过对发射参数进行不断更新，从而得到待测试天线口的极限测试结果。

请参阅图6，以下以多个测试端口为4个测试端口、多个天线口为4个天线口、测试端口与天线口为一对一的测试匹配关系、且自动化测试软件安装于能够与测试设备通信的PC中为例，阐述本申请实施例中的设备测试方法。

其中，4个测试端口分别为RF1、RF2、RF3、RF4，4个天线口为ANT1、ANT2、ANT3、ANT4，且RF1与ANT1匹配、RF2与ANT2匹配、RF3与ANT3匹配、RF4与ANT4匹配。

其中，预设测试设备侧的接收端口为RF1，与之匹配的被测试设备侧的发射端口则为ANT1。

具体实现过程如下所示：

测试开始；

测试设备通过RF1接收ANT1发出的上行信令，并通过RF1向ANT1发送下行信令，从ANT1获取下行信令中的测试参数，并基于测试参数得到ANT1的传导灵敏度；

控制将RF2作为当前测试端口，通过RF1接收ANT1发出的上行信令，并通过RF2向ANT2发送下行信令，从ANT2获取下行信令中的测试参数，并基于测试参数得到ANT2的传导灵敏度；

控制将RF3作为当前测试端口，通过RF3向ANT3发送下行信令，从ANT3获取下行信令中的测试参数，并基于测试参数得到ANT3的传导灵敏度；

控制将RF4作为当前测试端口，通过RF4向ANT4发送下行信令，从ANT4获取下行信令中的测试参数，并基于测试参数得到ANT4的传导灵敏度；

测试结束。

基于同一构思，本申请实施例中提供了一种设备测试模组，该设备测试模组应用于具有多个测试端口的测试设备，多个测试端口用于对被测试设备的多个天线口进行测试；

该模组的具体实施可参见方法实施例部分的描述，重复之处不再赘述，如图7所示，该模组主要包括：

判断模块701，用于当得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断多个测试端口中是否存在未测试端口；

测试模块702，用于当确定存在未测试端口时，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

可选地，测试模块702具体用于：

控制当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据；

从待测试天线口获取与下行数据对应的测试参数；

基于测试参数得到待测试天线口的测试结果。

可选地，测试模块702具体用于：

判断是否通过接收端口接收到上行信令，其中接收端口为多个测试端口中的任一测试端口；

若通过接收端口接收到上行信令，控制当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行信令。

可选地，测试模块702具体用于：

基于测试参数得到待测试天线口的当前测试结果；

当当前测试结果小于测试阈值时，将第一发射参数更新为第二发射参数，并返回执行通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试的步骤，直至得到的当前测试结果不小于测试阈值；

当当前测试结果不小于测试阈值时，将当前测试结果作为测试结果。

可选地，测试模块702具体用于：

获取多个测试端口的测试顺序；

按照测试顺序，从未测试端口中选择当前测试端口。

基于同一构思，本申请实施例中还提供了一种电子设备，如图8所示，该电子设备主要包括：处理器801、存储器802和通信总线803，其中，处理器801和存储器802通过通信总线803完成相互间的通信。其中，存储器802中存储有可被处理器801执行的程序，处理器801执行存储器802中存储的程序，实现如下步骤：

当得到与被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断多个测试端口中是否存在未测试端口；

若存在未测试端口，从未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过当前测试端口，对被测试设备中、与当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

上述电子设备中提到的通信总线803可以是外设部件互连标准(PeripheralComponent Interconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended IndustryStandard Architecture，简称EISA)总线等。该通信总线803可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图8中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。

存储器802可以包括随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)，也可以包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。可选地，存储器还可以是至少一个位于远离前述处理器801的存储装置。

上述的处理器801可以是通用处理器，包括中央处理器(Central ProcessingUnit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等，还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing，简称DSP)、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。

在本申请的又一实施例中，还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，当该计算机程序在计算机上运行时，使得计算机执行上述实施例中所描述的设备测试方法。

在上述实施例中，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时，可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。该计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行该计算机指令时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。该计算机可以时通用计算机、专用计算机、计算机网络或者其他可编程装置。该计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，计算机指令从一个网站站点、计算机、服务器或者数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、微波等)方式向另外一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。该计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。该可用介质可以是磁性介质(例如软盘、硬盘、磁带等)、光介质(例如DVD)或者半导体介质(例如固态硬盘)等。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所申请的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种设备测试方法，其特征在于，应用于具有多个测试端口的测试设备，所述多个测试端口用于对被测试设备的多个天线口进行测试；所述方法包括：

当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；

若存在所述未测试端口，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的天线口进行测试，包括：

控制所述当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据；

从所述待测试天线口获取与所述下行数据对应的测试参数；

基于所述测试参数得到待测试天线口的测试结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，控制所述当前测试端口按照第一发射参数向待测试天线口发射下行数据，包括：

判断是否通过接收端口接收到上行信令，其中所述接收端口为所述多个测试端口中的任一测试端口；

若通过所述接收端口接收到所述上行信令，控制所述当前测试端口按照所述第一发射参数向待测试天线口发射下行信令。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，基于所述测试参数得到待测试天线口的测试结果，包括：

基于所述测试参数得到待测试天线口的当前测试结果；

当所述当前测试结果小于测试阈值时，将所述第一发射参数更新为第二发射参数，并返回执行所述通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试的步骤，直至得到的当前测试结果不小于所述测试阈值；

当所述当前测试结果不小于所述测试阈值时，将所述当前测试结果作为所述测试结果。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述未测试端口中选择当前测试端口，包括：

获取所述多个测试端口的测试顺序；

按照所述测试顺序，从所述未测试端口中选择所述当前测试端口。

6.一种测试系统，其特征在于，包括：

具有多个测试端口的测试设备、以及具有多个天线口的被测试设备；

所述测试设备，用于当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；若存在所述未测试端口，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述测试设备的测试端口的数量与所述被测试设备的天线口的数量相同，且所述多个测试端口中的每一测试端口与所述每一测试端口匹配的天线口，通过物理线缆连接。

8.一种设备测试模组，其特征在于，应用于具有多个测试端口的测试设备，所述多个测试端口用于对被测试设备的多个天线口进行测试；所述模组包括：

判断模块，用于当得到与所述被测试设备的天线口对应的测试结果时，判断所述多个测试端口中是否存在未测试端口；

测试模块，用于当确定存在所述未测试端口时，从所述未测试端口中选择一个测试端口作为当前测试端口，并通过所述当前测试端口，对所述被测试设备中、与所述当前测试端口匹配的待测试天线口进行测试。

9.一种测试设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和通信总线，其中，处理器和存储器通过通信总线完成相互间的通信；

所述存储器，用于存储计算机程序；

所述处理器，用于执行所述存储器中所存储的程序，实现权利要求1-5任一项所述的设备测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现1-5任一项所述的设备测试方法。

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