CN113127277B - 一种设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,该方法包括:对测试设备的各个部件进行测试时,检测部件的严重报错信息;若检测到严重报错信息,则判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若是,则停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试;若否,则继续当前测试项对测试设备的测试;本发明在检测到的需要停止当前测试项的目标严重报错时,通过停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试,能够在某一测试项因其对应的目标严重报错停止后,继续进行后续测试项的测试,使得电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,节省了大量时间,提高了电子设备的诊断测试效率。

Description

一种设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
技术领域
本发明涉及计算机技术领域,特别涉及一种设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
背景技术
为了确保电子设备(如服务器)出厂前的质量,需要对电子设备进行出厂前的诊断测试。诊断测试的内容包括对电子设备的各个部件(如CPU、内存和硬盘等)进行压测。
现有技术中,利用诊断程序对电子设备的各个部件进行压测时,并不会对部件的报错进行详细处理,目前报错统一处理方式分为不重要报错,忽略继续进行诊断;或者严重报错,停止诊断等待人为处理。这样就使得如果一但出现严重报错,电子设备的诊断测试就会停止,等待人为处理;而在无人值守的情况下可能会存在长时间没人处理的严重报错的情况,这样测试工站就没有工作,浪费了大量的时间,降低了电子设备的诊断测试效率。
因此,如何能够使电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,在无人值守时节省大量时间,提高电子设备的诊断测试效率,是现今急需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,以使电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,在无人值守时节省大量时间,提高电子设备的诊断测试效率。
为解决上述技术问题,本发明提供一种设备测试方法,包括:
对测试设备的各个部件进行测试时,检测所述部件的严重报错信息;
若检测到所述严重报错信息,则判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;
若是,则停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试;
若否,则继续当前测试项对所述测试设备的测试。
可选的,所述判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错,包括:
判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错;
若否,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若是,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
可选的,所述判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错,包括:
判断是否存在任一历史严重报错信息的报错内容与当前严重报错信息的报错内容相同;其中,当前严重报错信息包括报错内容和报错时间;
若否,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,将当前严重报错信息作为所述历史严重报错信息存储,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若是,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
可选的,所述判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错,包括:
判断当前严重报错信息是否为当前测试项引发的严重报错;
若是,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若否,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
可选的,所述判断当前严重报错信息是否为当前测试项引发的严重报错,包括:
判断当前报错信息的报错时间是否在当前测试项的启动时间之后;
若是,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若否,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
可选的,所述检测所述部件的严重报错信息,包括:
根据获取的所述部件的报错日志,检测所述部件的严重报错信息。
可选的,所述启动下一测试项对所述测试设备进行测试之前,还包括:
判断当前测试项是否为最后一个测试项;
若是,则上报各个停止的测试项对应的目标严重报错;
若否,则执行所述启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤。
本发明还提供了一种设备测试装置,包括:
检测模块,用于对测试设备的各个部件进行测试时,检测所述部件的严重报错信息;
判断模块,用于若检测到所述严重报错信息,则判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若不为所述目标严重报错,则继续当前测试项对所述测试设备的测试;
报错控制模块,用于若为所述目标严重报错,则停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试。
本发明还提供了一种电子设备,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如上述所述的设备测试方法的步骤。
本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上述所述的设备测试方法的步骤。
本发明所提供的一种设备测试方法,包括:对测试设备的各个部件进行测试时,检测部件的严重报错信息;若检测到严重报错信息,则判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若是,则停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试;若否,则继续当前测试项对测试设备的测试;
可见,本发明在检测到的需要停止当前测试项的目标严重报错时,通过停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试,能够在某一测试项因其对应的目标严重报错停止后,继续进行后续测试项的测试,从而使得电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,在无人值守时节省了大量时间,提高了电子设备的诊断测试效率。此外,本发明还提供了一种设备测试装置、电子设备及计算机可读存储介质,同样具有上述有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种设备测试方法的流程图;
图2为本发明实施例所提供的一种设备测试装置的结构框图;
图3为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构示意图;
图4为本发明实施例所提供的一种电子设备的具体结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参考图1,图1为本发明实施例所提供的一种设备测试方法的流程图。该方法可以包括:
步骤101:对测试设备的各个部件进行测试时,检测部件的严重报错信息。
其中,本步骤中的测试设备可以为需要进行诊断测试的电子设备,如出厂前需要进行压测的服务器。
可以理解的是,本实施例所提供的设备测试方法可以应用于测试设备,即测试设备的处理器可以执行本实施例所提供的设备测试方法对自身的各个部件进行测试,例如在服务器出厂前,服务器的处理器可以执行本实施例所提供的设备测试方法,运行诊断程序对服务器的各个部件(如CPU、内存,硬盘等)进行压测。本实施例所提供的设备测试方法也可以应用于测试设备之外的电子设备,如与测试设备连接的电子设备的处理器可以执行本实施例所提供的设备测试方法对测试设备的各个部件进行测试,本实施例对此不作任何限制。
对应的,本步骤中部件的严重报错信息可以为现有技术中需要人为处理的部件的报错信息,如现有技术中需要停止测试设备的诊断测试的严重报错。本实施例并不限定严重报错信息的具体内容,如本实施例中部件的报错信息可以采用现有的报错统一处理方式相同或相似的方式进行划分,可以分为能够忽略的不重要报错信息和需要人为处理的严重报错信息;部件的报错信息可以为均作为严重报错信息。
具体的,对于本步骤中处理器在对测试设备的各个部件进行测试时,检测部件的严重报错信息的具体方式,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如处理器可以根据获取的部件的报错日志,检测部件的严重报错信息;例如服务器的处理器运行诊断程序对该服务器的CPU、内存和硬盘等部件进行压测时,处理器可以收集BMC(BaseboardManager Controller,基板管理控制器)上报的各部件的报错日志,读取报错日志中的严重报错信息。
步骤102:若检测到严重报错信息,则判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若是,则进入步骤103;若否,则进入步骤104。
其中,本步骤中的目标严重报错可以为需要停止当前测试项的严重报错信息,如当前测试项所测试出的新的严重报错信息。本步骤中的当前测试项可以为对测试设备的各个部件的测试过程中当前正在进行的一个测试项(如内存压测或CPU压测等)。本步骤中处理器通过判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错,可以确定检测出的严重报错信息是否需要停止当前测试项,从而避免目标严重报错之外的严重报错信息对当前测试项的
具体的,对于本步骤中处理器在检测到严重报错信息时,判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错的具体方式,可以由设计人员根据实用场景和用户需求自行设置,如目标严重报错为当前测试项引发的严重报错时,处理器可以判断当前严重报错信息是否为当前测试项引发的严重报错;若为当前测试项引发的严重报错,则可以确定当前严重报错信息为目标严重报错,并进入步骤103;若不为当前测试项引发的严重报错,则可以确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并进入步骤104;从而筛选过滤掉当前测试项之前停止的测试项(即历史测试项)对应的严重报错信息;其中,当前严重报错信息可以为当前检测到的一条严重报错信息。例如之前在进行服务器的内存压测这一测试项时检测到了“|08/28/2020|11:00:57|Memory DIMM170|Correctable ECC logging limitreached|Deasserted”这一严重报错信息,使得内存压测停止并显示失败结果,之后继续进行下一测试项的测试,比如硬盘压测;这时候当前测试项为硬盘压测,当检测到硬盘的报错日志时,虽然BMC依然会将上条严重报错信息的报错日志上报给处理器,但是处理器能够通过确定该条严重报错信息不为当前测试项引发的严重报错,筛选过滤掉该严重报错信息。
对应的,本实施例并不限定处理器判断当前严重报错信息是否为当前测试项引发的严重报错的具体方式,如处理器可以通过当前测试项的启动时间与严重报错信息中的报错时间的比较,将报错时间在启动时间之后的严重报错信息确定为当前测试项引发的严重报错,以过滤掉报错时间在启动时间之前的严重报错信息;也就是说,本步骤中处理器可以判断当前报错信息的报错时间是否在当前测试项的启动时间之后;若在当前测试项的启动时间之后,则确定当前严重报错信息为目标严重报错,并进入步骤103;若不在当前测试项的启动时间之后,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并进入步骤104。对应的,本实施例中部件的报错日志中可以包含报错时间这一时间标签,使得处理器可以利用报错日志检测到包含报错时间的严重报错信息;处理器可以在当前测试项启动时,记录当前测试项的启动时间;例如之前在进行服务器的内存压测这一测试项时检测到了“|08/28/2020|11:00:57|Memory DIMM170|Correctable ECC logging limit reached|Deasserted”这一严重报错信息,控制内存压测停止并显示失败结果,当前继续启动硬盘压测并记录硬盘压测开始的时间t0,由于t0一定晚于内存报错的时间“08/28/2020|11:00:57”,因此即便处理器检测到BMC上报的上条严重报错信息,也可以筛选过滤掉该条严重报错信息。处理器可以通过当前测试项对应的部件信息与严重报错信息中的报错位置的比较,将报错位置属于当前测试项所要测试的部件的严重报错信息确定为当前测试项引发的严重报错,以过滤掉报错位置不属于当前测试项所要测试的部件的严重报错信息;其中,当前测试项对应的部件信息可以为当前测试项所要测试的部件的信息。
可以理解的是,由于一些致使之前测试项的部件的严重报错在出现一次之后会重复一直出现,以及在当前测试项进行过程中可能再次引起之前测试项的部件的严重报错,因此,本步骤中目标严重报错还可以为未出现过的新的严重报错,即不重复的严重报错;相应的,本步骤中处理器可以判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错;若否,则确定当前严重报错信息为目标严重报错,并进入步骤103;若是,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并进入步骤104。例如之前在进行服务器的CPU压测这一测试项时首次检测到了“4f9|09/10/2020|00:1:28|Processor CPU1_Status|Correctable machine checkerror|Asserted”这一严重报错信息(即CPU压测对应的目标严重报错),使得CPU压测停止并显示失败结果,之后继续进行下一测试项的测试后,CPU会持续重复报错使得接下来的测试项的测试过程中会检测到“4fa|09/10/2020|00:10:33|Processor CPU1_Status|Correctable machine check error|Asserted”和“4fa|09/10/2020|00:20:39|ProcessorCPU1_Status|Correctable machine check error|Asserted”;为了避免这种重复报错对后续测试项的影响,处理器可以对CPU压测对应的目标严重报错的整体或报错内容(如Processor CPU1_Status|Correctable machine check error|Asserted)进行存储,使得后续测试项的测试过程能够筛选过滤掉相同报错内容的重复的严重报错信息,从而不影响后续测试项的测试。
对应的,本实施例并不限定处理器判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错的具体方式,如处理器可以通过严重报错信息的报错内容与存储的各历史严重报错信息(即历史测试项对应的目标严重报错)的报错内容的比较,将报错内容与各历史严重报错信息的报错内容均不同的严重报错信息确定为当前测试项引发的严重报错,以过滤掉报错内容与各历史严重报错信息的报错内容相同的严重报错信息;也就是说,本步骤中处理器可以判断是否存在任一历史严重报错信息的报错内容与当前严重报错信息的报错内容相同;若不存在,则确定当前严重报错信息为目标严重报错,将当前严重报错信息作为历史严重报错信息存储,并进入步骤103;若存在,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并步骤104;其中,当前严重报错信息可以包括报错内容(如Processor CPU1_Status|Correctable machine check error|Asserted)和报错时间(如09/10/2020|00:20:39)。
进一步的,为了减少严重报错信息的报错内容与存储的各历史严重报错信息的报错内容的比较次数,本步骤中处理器可以采用上述当前测试项引发的严重报错与重复的严重报错的这两种判断组合的方式,确定检测到的严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错。例如,本步骤中处理器可以判断当前报错信息的报错时间是否在当前测试项的启动时间之后;若不在当前测试项的启动时间之后,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错;若在当前测试项的启动时间之后,则判断是否存在任一历史严重报错信息的报错内容与当前严重报错信息的报错内容相同;若不存在,则确定当前严重报错信息为目标严重报错,将当前严重报错信息作为历史严重报错信息存储,并进入步骤103;若存在,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并步骤104。
步骤103:停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试。
可以理解的是,本步骤中处理器可以在确定检测到严重报错信息为当前测试项对应的目标严重报错时,停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备继续进行测试,以在无人值守的情况下,将对测试设备的诊断测试自动继续下去,从而节省大量的时间。
对应的,本步骤中在启动下一测试项对测试设备进行测试之前,还可以判断当前测试项是否为最后一个测试项;若是,则可以直接结束对测试设备的测试,并上报各个停止的测试项对应的目标严重报错;若否,再启动下一测试项对测试设备进行测试。
具体的,本步骤中处理器可以在确定检测到严重报错信息为当前测试项对应的目标严重报错时,还可以在测试日志中记录当前测试项对应的目标严重报错,如处理器可以在运行诊断程序对测试设备的各个部件进行测试的过程中,在诊断程序对应的测试日志中记录各停止的测试项对应的目标严重报错,即导致测试项停止的严重报错信息,以使用户可以通过测试日志了解测试设备的测试情况。
步骤104:继续当前测试项对测试设备的测试。
可以理解的是,本步骤中处理器可以在确定检测到严重报错信息不为当前测试项对应的目标严重报错时,忽略检测到严重报错信息,继续当前测试项对测试设备的测试。
本实施例中,本发明实施例在检测到的需要停止当前测试项的目标严重报错时,通过停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试,能够在某一测试项因其对应的目标严重报错停止后,继续进行后续测试项的测试,从而使得电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,在无人值守时节省了大量时间,提高了电子设备的诊断测试效率。
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种设备测试装置,下文描述的设备测试装置与上文描述的设备测试方法可相互对应参照。
请参考图2,图2为本发明实施例所提供的一种设备测试装置的结构框图。该装置可以包括:
检测模块10,用于对测试设备的各个部件进行测试时,检测部件的严重报错信息;
判断模块20,用于若检测到严重报错信息,则判断严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若不为目标严重报错,则继续当前测试项对测试设备的测试;
报错控制模块30,用于若为目标严重报错,则停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试。
可选的,判断模块20可以包括:
第一判断子模块,用于判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错;若为重复的严重报错,则继续当前测试项对测试设备的测试;若不为重复的严重报错,则向报错控制模块30发送启动信号。
可选的,第一判断子模块可以具体用于判断是否存在任一历史严重报错信息的报错内容与当前严重报错信息的报错内容相同;若存在,则继续当前测试项对测试设备的测试;若不存在,则向报错控制模块30发送启动信号;其中,当前严重报错信息包括报错内容和报错时间。
可选的,判断模块20可以包括:
第二判断子模块,用于判断当前严重报错信息是否为当前测试项引发的严重报错;若不为当前测试项引发的严重报错,则继续当前测试项对测试设备的测试;若为当前测试项引发的严重报错,则向报错控制模块30发送启动信号。
可选的,第二判断子模块可以具体用于判断当前报错信息的报错时间是否在当前测试项的启动时间之后;若不在当前测试项的启动时间之后,则继续当前测试项对测试设备的测试;若在当前测试项的启动时间之后,则向报错控制模块30发送启动信号。
可选的,检测模块10可以包括:
日志检测子模块,用于根据获取的部件的报错日志,检测部件的严重报错信息。
可选的,报错控制模块30可以包括:
测试项判断子模块,用于判断当前测试项是否为最后一个测试项;
测试上报子模块,用于上报各个停止的测试项对应的目标严重报错;
测试项启动子模块,用于启动下一测试项对测试设备进行测试。
本实施例中,本发明实施例在检测到的需要停止当前测试项的目标严重报错时,通过报错控制模块30停止当前测试项,并启动下一测试项对测试设备进行测试,能够在某一测试项因其对应的目标严重报错停止后,继续进行后续测试项的测试,从而使得电子设备的诊断测试能够在发生严重报错后自动继续测试,在无人值守时节省了大量时间,提高了电子设备的诊断测试效率。
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种电子设备,下文描述的一种电子设备与上文描述的一种设备测试方法可相互对应参照。
请参考图3,图3为本发明实施例所提供的一种电子设备的结构示意图。该电子设备可以包括:
存储器D1,用于存储计算机程序;
处理器D2,用于执行计算机程序时实现上述方法实施例所提供的设备测试方法的步骤。
具体的,请参考图4,图4为本发明实施例所提供的一种电子设备的具体结构示意图,该电子设备可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(central processing units,CPU)322(例如,一个或一个以上处理器)和存储器332,一个或一个以上存储应用程序342或数据344的存储介质330(例如一个或一个以上海量存储设备)。其中,存储器332和存储介质330可以是短暂存储或持久存储。存储在存储介质330的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出),每个模块可以包括对数据处理设备中的一系列指令操作。更进一步地,中央处理器322可以设置为与存储介质330通信,在电子设备310上执行存储介质330中的一系列指令操作。
电子设备310还可以包括一个或一个以上电源326,一个或一个以上有线或无线网络接口350,一个或一个以上输入输出接口358,和/或,一个或一个以上操作系统341。例如,Windows ServerTM,Mac OS XTM,UnixTM,LinuxTM,FreeBSDTM等。
具体的,电子设备310可以为上述方法实施例中的测试设备。
上文所描述的设备测试方法中的步骤可以由电子设备的结构实现。该电子设备可以是计算机,PC机,服务器,本发明实施例对此并不进行限定。
此外,本发明实施例还公开了一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如上述实施例所提供的设备测试方法的步骤。
其中,该存储介质可以包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、电子设备及计算机可读存储介质而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
以上对本发明所提供的一种设备测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。

Claims (7)

1.一种设备测试方法,其特征在于,包括:
对测试设备的各个部件进行测试时,检测所述部件的严重报错信息;
若检测到所述严重报错信息,则判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;
若是,则停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试;
若否,则继续当前测试项对所述测试设备的测试;
其中,所述判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错,包括:
判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错;
若否,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若是,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
2.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错,包括:
判断是否存在任一历史严重报错信息的报错内容与当前严重报错信息的报错内容相同;其中,当前严重报错信息包括报错内容和报错时间;
若否,则确定当前严重报错信息为所述目标严重报错,将当前严重报错信息作为所述历史严重报错信息存储,并执行所述停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤;
若是,则确定当前严重报错信息不为目标严重报错,并执行所述继续当前测试项对所述测试设备的测试的步骤。
3.根据权利要求1所述的设备测试方法,其特征在于,所述检测所述部件的严重报错信息,包括:
根据获取的所述部件的报错日志,检测所述部件的严重报错信息。
4.根据权利要求1至3任一项所述的设备测试方法,其特征在于,所述启动下一测试项对所述测试设备进行测试之前,还包括:
判断当前测试项是否为最后一个测试项;
若是,则上报各个停止的测试项对应的目标严重报错;
若否,则执行所述启动下一测试项对所述测试设备进行测试的步骤。
5.一种设备测试装置,其特征在于,包括:
检测模块,用于对测试设备的各个部件进行测试时,检测所述部件的严重报错信息;
判断模块,用于若检测到所述严重报错信息,则判断所述严重报错信息是否为当前测试项对应的目标严重报错;若不为所述目标严重报错,则继续当前测试项对所述测试设备的测试;
报错控制模块,用于若为所述目标严重报错,则停止当前测试项,并启动下一测试项对所述测试设备进行测试;
其中,所述判断模块可以包括:
第一判断子模块,用于判断当前严重报错信息是否为重复的严重报错;若为重复的严重报错,则继续当前测试项对测试设备的测试;若不为重复的严重报错,则向所述报错控制模块发送启动信号。
6.一种电子设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至4任一项所述的设备测试方法的步骤。
7.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至4任一项所述的设备测试方法的步骤。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101169465A (zh) * 2006-10-25 2008-04-30 国际商业机器公司 基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法
CN108733570A (zh) * 2018-05-25 2018-11-02 郑州云海信息技术有限公司 一种信息处理方法及装置
CN112463636A (zh) * 2020-12-11 2021-03-09 苏州浪潮智能科技有限公司 一种测试用例排序管理方法及系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101359304A (zh) * 2007-08-01 2009-02-04 华硕电脑股份有限公司 开机方法及系统
CN102665093B (zh) * 2012-03-13 2014-05-28 深圳市九洲电器有限公司 一种机顶盒测试方法及测试系统
CN104363324B (zh) * 2014-11-20 2017-09-29 惠州Tcl移动通信有限公司 一种对手机主板进行自动测试的测试方法及测试系统
CN105891733A (zh) * 2016-04-05 2016-08-24 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种在电源测试过程中进行调试的方法、装置及系统
CN108717388A (zh) * 2018-05-29 2018-10-30 郑州云海信息技术有限公司 一种dos环境下可实时定位的内存诊断测试方法
CN112148599A (zh) * 2020-09-16 2020-12-29 上海中通吉网络技术有限公司 性能压测方法、装置及设备

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101169465A (zh) * 2006-10-25 2008-04-30 国际商业机器公司 基于模型化和非模型化错误的重复测试生成和诊断方法
CN108733570A (zh) * 2018-05-25 2018-11-02 郑州云海信息技术有限公司 一种信息处理方法及装置
CN112463636A (zh) * 2020-12-11 2021-03-09 苏州浪潮智能科技有限公司 一种测试用例排序管理方法及系统

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