CN113054974A - 电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统。该电路中第一开关模块在第二导通方向上导通，第二开关模块在第一导通方向上导通，第一导通方向和第二导通方向相反；第一开关模块的第一端连接至第一端子，第一开关模块的第二端连接至第二开关模块的第一端，第一开关模块的控制端连接至第一节点；第二开关模块的第二端连接至第二端子，第二开关模块的控制端连接至第一节点；控制模块的第一端连接至第一节点，控制模块的第二端接地，控制模块的控制端连接至第三端子；控制模块用于控制第一开关模块在第一导通方向上导通且第二开关模块在第二导通方向上导通。本发明实施例实现了可靠性高且开关速度快的可控开关。

Description

电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统

【技术领域】

本发明涉及电源测试领域，尤其涉及一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统。

【背景技术】

电源管理芯片(Power Management IC，简称PMIC)作为给手机系统供电的芯片时，对稳定性要求非常高，新的PMIC在设计成型后需要进行上千次甚至几万次的压力测试和功能测试才能应用到项目产品上，因此需要一个可靠性高且响应及时的可控开关在测试过程中对PMIC进行控制。

相关技术中，通常采用程控电源或者继电器实现可控开关的功能。程控电源的开关瞬态响应的时间为几十至几百us甚至达到ms级别，响应时间慢，造成开关速度慢；程控电源有内阻，无法完全模拟电源断开。继电器的开关时间为5ms至10ms，开关瞬态响应的时间更大，开关速度慢；继电器的开关寿命在百万次，使用寿命有限制；继电器体积大。

【发明内容】

有鉴于此，本发明实施例提供了一种电源测试开关电路及其驱动方法和电源测试开关系统，用于实现可靠性高且开关速度快的可控开关。

第一方面，本发明实施例提供了一种电源测试开关电路，包括：第一开关模块、第二开关模块、控制模块、第一端子、第二端子和第三端子，所述第一开关模块在第二导通方向上导通，所述第二开关模块在第一导通方向上导通，所述第一导通方向和所述第二导通方向相反；

所述第一开关模块的第一端连接至所述第一端子，所述第一开关模块的第二端连接至所述第二开关模块的第一端，所述第一开关模块的控制端连接至第一节点；

所述第二开关模块的第二端连接至所述第二端子，所述第二开关模块的控制端连接至所述第一节点；

所述控制模块的第一端连接至第一节点，所述控制模块的第二端接地，所述控制模块的控制端连接至所述第三端子；

所述控制模块用于控制所述第一开关模块在所述第一导通方向上导通且所述第二开关模块在所述第二导通方向上导通。

在一种可能的实现方式中，所述第一开关模块为第一PMOS晶体管，所述第二开关模块为第二PMOS晶体管。

在一种可能的实现方式中，所述第一PMOS的第一端为源极，所述第一PMOS的第二端为漏极；

所述第二PMOS的第一端为漏极，所述第二PMOS的第二端为源极。

在一种可能的实现方式中，所述控制模块为NMOS晶体管。

在一种可能的实现方式中，所述NMOS晶体管的第一端为漏极，所述NMOS晶体管的第二端为源极。

在一种可能的实现方式中，还包括下拉电阻，所述下拉电阻的一端连接至第二节点，所述下拉电阻的另一端接地；

所述第三端子和所述NMOS晶体管的控制端均连接至所述第二节点。

在一种可能的实现方式中，所述第一端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹；

所述第二端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹。

第二方面，本发明实施例提供了一种电源测试系统，包括：电子设备和与所述电子设备连接的第一方面或第一方面任一可能的实现方式中的电源测试开关电路。

在一种可能的实现方式中，所述电子设备包括电源管理芯片PMIC，所述系统还包括供电端；

所述第一端子连接至所述供电端，所述第二端子连接至所述PMIC。

在一种可能的实现方式中，所述电子设备包括PMIC和供电端；

所述第一端子连接至所述供电端，所述第二端子连接至所述PMIC。

第三方面，本发明实施例提供了一种第一方面或第一方面任一可能的实现方式中的电源测试开关电路的驱动方法，包括：

所述第三端子上加载第一控制信号，所述控制模块在所述第一控制信号的控制下导通，以使所述第一开关模块和所述第二开关模块在所述控制模块的控制下导通；

所述第三端子上加载第二控制信号，所述控制模块在所述第二控制信号的控制下关闭，以使所述第一开关模块和所述第二开关模块在所述控制模块的控制下关闭。

在一种可能的实现方式中，所述第一控制信号为高电平信号，所述第二控制信号为低电平信号；或者，

所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号。

本发明实施例提供的技术方案中，电源测试开关电路包括第一开关模块、第二开关模块和控制模块，其中，第一开关模块在第二导通方向上导通，第二开关模块在第一导通方向上导通，控制模块用于控制第一开关模块在第一导通方向上导通且第二开关模块在第二导通方向上导通，使得电源测试开关电路实现双向可控导通，从而实现了可靠性高且开关速度快的可控开关。

【附图说明】

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种电源测试开关电路的结构示意图；

图2为本发明实施例二提供的一种电源测试开关电路的结构示意图；

图3为本发明实施例三提供的一种电源测试系统的结构示意图；

图4为本发明实施例四提供的一种电源测试系统的结构示意图。

【具体实施方式】

为了更好的理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。

应当明确，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。

应当理解，本文中使用的术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，甲和/或乙，可以表示：单独存在甲，同时存在甲和乙，单独存在乙这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

图1为本发明实施例一提供的一种电源测试开关电路的结构示意图，如图1所示，该电路包括：第一开关模块11、第二开关模块12、控制模块13、第一端子a、第二端子b和第三端子c。

第一开关模块11的第一端连接至第一端子a，第一开关模块11的第二端连接至第二开关模块12的第一端，第一开关模块11的控制端连接至第一节点d。第二开关模块12的第二端连接至第二端子b，第二开关模块12的控制端连接至第一节点d。控制模块13的第一端连接至第一节点d，控制模块13的第二端接地，控制模块13的控制端连接至第三端子c。

本发明实施例中，第一开关模块11和第二开关模块12是对称设置且反向连接的，因此第一开关模块11和第二开关模块12可以起到双向导通的作用。

控制模块13可用于控制第一开关模块11在第一导通方向上导通且第二开关模块12在第二导通方向上导通。第一导通方向和第二导通方向相反。其中，第一导通方向为从第一端子a至第二端子b的方向，第二导通方向为从第二端子b至第一端子a的方向。

第一开关模块11在第二导通方向上导通，第二开关模块12在第一导通方向上导通。本发明实施例中，第一开关模块11未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第二导通方向上导通，第二开关模块12未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第一导通方向上导通。

本发明实施例中，第一开关模块11和第二开关模块12均为可控开关，具有大电流和瞬态响应快的特点。在受到控制模块13的控制时第一开关模块11和第二开关模块12均可在第一导通方向上和第二导通方向上导通，从而实现了双向可控导通。

第一端子a和第二端子b均可以为输入输出端子。例如：第一端子a为输入端子时，第二端子b为输出端子；又例如：第二端子b为输入端子时，第一端子a为输出端子。

本发明实施例中，第一端子a和第二端子b均可采用多种类型的接口。例如，第一端子a包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹；第二端子b包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹。其中，USB接口和Type-C接口为标准接口，例如，USB接口为USB microB接口。本发明实施例中，第一端子a和第二端子b可采用多种标准接口和其它类型的接口，兼容性强。

第三端子c可用于加载控制信号，例如，控制信号可以为高电平信号或者低电平信号。第三端子c上加载控制信号，以使控制模块13的控制端加载控制信号，控制模块13在控制信号的控制下导通或者关闭，从而实现了控制模块13通过第三端子c上加载的控制信号控制自身的导通或者关闭。

本发明实施例中，控制模块13的开关状态可以控制第一开关模块11和第二开关模块12的开关状态。例如，控制模块13导通时，可控制第一开关模块11和第二开关模块12导通；或者，控制模块13关闭时，可控制第一开关模块11和第二开关模块12关闭。控制模块13可用于隔离控制信号以及第一开关模块11和第二开关模块12导通时流经的大电流信号。

下面结合图1对实施例一中的电源测试开关电路的驱动方法进行详细描述。该驱动方法包括：

步骤102、第三端子上加载第一控制信号，控制模块在第一控制信号的控制下导通，以使第一开关模块和第二开关模块在控制模块的控制下导通。

本实施例中，步骤102具体可包括：在第三端子c上加载第一控制信号以使控制模块13的控制端上加载第一控制信号；控制模块13在第一控制信号的控制下导通，例如，若第一控制信号为高电平信号时控制模块13在高电平信号的控制下导通，控制模块13为NMOS晶体管时高电平信号控制NMOS晶体管导通；或者，若第一控制信号为低电平信号时控制模块13在低电平信号的控制下导通，控制模块13为PMOS晶体管时低电平信号控制PMOS晶体管导通；控制模块13导通时，第一开关模块11的控制端和第二开关模块12的控制端接地，第一开关模块11的控制端和第二开关模块12的控制端的电压被拉低，使得第一开关模块11和第二开关模块12导通。第一开关模块11导通使得第一开关模块11在第一导通方向上导通，第二开关模块12导通使得第二开关模块12在第二导通方向上导通。由于第一开关模块11在未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第二导通方向上导通，因此第一开关模块11在第一导通方向和第二导通方向上均导通；由于第二开关模块12在未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第一导通方向上导通，因此第二开关模块12在第一导通方向和第二导通方向上均导通。此时，第一端子a和第二端子b之间的线路导通。

步骤104、第三端子上加载第二控制信号，控制模块在第二控制信号的控制下关闭，以使第一开关模块和第二开关模块在控制模块的控制下关闭。

本实施例中，步骤104具体可包括：在第三端子c上加载第二控制信号以使控制模块13的控制端上加载第二控制信号；控制模块13在第二控制信号的控制下关闭，例如，若第一控制信号为高电平信号时，第二控制信号为低电平信号，控制模块13在低电平信号的控制下关闭，控制模块13为NMOS晶体管时低电平信号控制NMOS晶体管关闭；或者，若第一控制信号为低电平信号时，第二控制信号为高电平信号，控制模块13在高电平信号的控制下关闭，控制模块13为PMOS晶体管时高电平信号控制PMOS晶体管关闭；控制模块13关闭时，第一开关模块11的控制端和第二开关模块12的控制端的电压处于高电平，从而使得第一开关模块11和第二开关模块12关闭。第一开关模块11关闭使得第一开关模块11在第一导通方向上不导通，第二开关模块12关闭使得第二开关模块12在第二导通方向上不导通。由于第一开关模块11在未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第二导通方向上导通，因此第一开关模块11仅在第二导通方向上导通；由于第二开关模块12在未受控制模块13的控制时和受到控制模块13的控制时均在第一导通方向上导通，因此第二开关模块12仅在第一导通方向上导通。此时，第一端子a和第二端子b之间的线路断开。

进一步地，可重复执行步骤102和步骤104，以实现电源测试开关电路的多次导通与关闭，从而实现电源测试开关电路的开关功能。

需要说明的是：本发明实施例中可以变更步骤102和步骤104的执行顺序，例如，先执行步骤104，而后执行步骤102。此种情况下，可重复执行步骤104和步骤102，以实现电源测试开关电路的多次导通与关闭，从而实现电源测试开关电路的开关功能。

本实施例中，电源测试开关电路包括第一开关模块、第二开关模块和控制模块，其中，第一开关模块在第二导通方向上导通，第二开关模块在第一导通方向上导通，控制模块用于控制第一开关模块在第一导通方向上导通且第二开关模块在第二导通方向上导通，使得电源测试开关电路实现双向可控导通，从而实现了可靠性高且开关速度快的可控开关。

图2为本发明实施例二提供的一种电源测试开关电路的结构示意图，如图2所示，在上述实施例一的基础上，本实施例中的电源测试开关电路中，第一开关模块11和第二开关模块12均可采用P沟道金属氧化物半导体场效应(positive channel Metal OxideSemiconductor，简称PMOS)晶体管。具体地，第一开关模块11为第一PMOS晶体管，第二开关模块12为第二PMOS晶体管。

第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管对称设置，反向连接。具体地，如图2所示，第一PMOS晶体管的第一端为源极，第一PMOS晶体管的第二端为漏极，第一PMOS晶体管的控制端为栅极；第二PMOS晶体管的第一端为漏极，第二PMOS晶体管的第二端为源极，第二PMOS晶体管的控制端为栅极。则第一PMOS晶体管的源极连接至第一端子a，第一PMOS晶体管的漏极连接至第二PMOS晶体管的漏极，第一PMOS晶体管的栅极至第一节点d；第二PMOS晶体管的源极连接至第二端子b，第二PMOS晶体管的栅极连接至第一节点d。

如图2所示，本实施例中，控制模块13为NMOS晶体管。NMOS晶体管的第一端为漏极，NMOS晶体管的第二端为源极，NMOS晶体管的控制端为栅极。NMOS晶体管的漏极连接至第一节点d，NMOS晶体管的源极接地，NMOS晶体管的栅极连接至第三端子c。控制模块13采用NMOS晶体管作为开关以控制第一PMOS晶体管的导通和关闭以及第二PMOS晶体管的导通和关闭。

本发明实施例中，第一PMOS晶体管未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第二导通方向上导通，第二PMOS晶体管未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第一导通方向上导通。

NMOS晶体管可用于控制第一PMOS晶体管在第一导通方向上导通且第二PMOS晶体管在第二导通方向上导通。又由于第一PMOS晶体管在第二导通方向上一直是导通的，而第二PMOS晶体管在第一导通方向上一直是导通的，在受到NMOS晶体管的控制时第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管均可在第一导通方向上和第二导通方向上导通，从而实现了双向可控导通，即实现了双向开关。因此，第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管需要反向连接，才能达到双向开关的目的，如果同向连接就无法达到双向开关的目的。第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管在NMOS晶体管的控制下同时导通以及同时关闭，从而能够控制第一导通方向和第二导通方向上的电流。

第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管均为可控开关，具有大电流和瞬态响应快的特点。在将电源测试开关电路应用于电源测试过程中时，可实现较高的瞬态响应要求，例如，几us甚至ns级别。

进一步地，该电路还可包括下拉电阻R，下拉电阻R的一端连接至第二节点e，下拉电阻R的另一端接地；第三端子c连接至第二节点e，NMOS晶体管的控制端连接至第二节点e，即NMOS晶体管的栅极连接至第二节点e。采用下拉电阻R可以在第三端子c上未加载第一控制信号时拉低第二节点e的电压，从而能够保证NMOS晶体管处于关闭状态。

作为另一种可选方案，控制模块13可以为PMOS晶体管。此种情况下，该电路还可以包括上拉电阻，上拉电阻的一端连接至第二节点e，上拉电阻的另一端连接至电源，第三端子c连接至第二节点e，PMOS晶体管的控制端连接至第二节点e，即PMOS晶体管的栅极连接至第二节点e。采用上拉电阻可以在第三端子c上未加载第二控制信号时拉高第二节点e的电压，从而能够保证PMOS晶体管处于关闭状态。需要说明的是：此种情况图中未画出。

下面结合图2对实施例二中的电源测试开关电路的驱动方法进行详细描述。该驱动方法包括：

步骤202、第三端子上加载高电平信号，NMOS晶体管在高电平信号的控制下导通，以使第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管在NMOS晶体管的控制下导通。

本实施例中，步骤202具体可包括：在第三端子c上加载高电平信号以使NMOS晶体管的栅极上加载高电平信号；NMOS晶体管在高电平信号的控制下导通；NMOS晶体管导通时，第一PMOS晶体管的栅极和第二PMOS晶体管的栅极接地，第一PMOS晶体管的栅极和第二PMOS晶体管的栅极的电压被拉低，使得第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管导通。第一PMOS晶体管导通使得PMOS晶体管在第一导通方向上导通，第二PMOS晶体管导通使得第二PMOS晶体管在第二导通方向上导通。由于第一PMOS晶体管在未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第二导通方向上导通，因此第一PMOS晶体管在第一导通方向和第二导通方向上均导通；由于第二PMOS晶体管在未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第一导通方向上导通，因此第二PMOS晶体管在第一导通方向和第二导通方向上均导通。此时，第一端子a和第二端子b之间的线路导通。

步骤204、第三端子上加载低电平信号，NMOS晶体管在低电平信号的控制下关闭，以使第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管在控制模块的控制下关闭。

本实施例中，步骤104具体可包括：在第三端子c上加载低电平信号以使NMOS晶体管的栅极上加载低电平信号；NMOS晶体管在低电平信号的控制下关闭；NMOS晶体管关闭时，第一PMOS晶体管的栅极和第二PMOS晶体管的栅极的电压处于高电平，从而使得第一PMOS晶体管和第二PMOS晶体管关闭。第一PMOS晶体管关闭使得第一PMOS晶体管在第一导通方向上不导通，第二PMOS晶体管关闭使得第二PMOS晶体管在第二导通方向上不导通。由于第一PMOS晶体管在未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第二导通方向上导通，因此第一PMOS晶体管仅在第二导通方向上导通；由于第二PMOS晶体管在未受NMOS晶体管的控制时和受到NMOS晶体管的控制时均在第一导通方向上导通，因此第二PMOS晶体管仅在第一导通方向上导通。此时，第一端子a和第二端子b之间的线路断开。

进一步地，可重复执行步骤202和步骤204，以实现电源测试开关电路的多次导通与关闭，从而实现电源测试开关电路的开关功能。

需要说明的是：本发明实施例中可以变更步骤202和步骤204的执行顺序，例如，先执行步骤204，而后执行步骤202。此种情况下，可重复执行步骤204和步骤202，以实现电源测试开关电路的多次导通与关闭，从而实现电源测试开关电路的开关功能。第三端子c上加载的控制信号在高电平信号和低电平信号之间反复变化，从而可重复执行设定次数上述步骤202和步骤204，例如，设定次数为上千次或者上万次，从而实现了上千次或者上万次的开关控制过程。

本实施例中，电源测试开关电路包括第一PMOS晶体管、第二PMOS晶体管和NMOS晶体管，其中，第一PMOS晶体管在第二导通方向上导通，第二PMOS晶体管在第一导通方向上导通，NMOS晶体管用于控制第一PMOS晶体管在第一导通方向上导通且第二PMOS晶体管在第二导通方向上导通，使得电源测试开关电路实现双向可控导通，从而实现了可靠性高且开关速度快的可控开关。

本实施例中的电源测试开关电路中的第一开关模块和第二开关模块均采用了PMOS晶体管，PMOS晶体管具有大电流和瞬态响应快的特点，从而进一步降低了电源测试开关电路的开关瞬态响应的时间，进而进一步提高了开关速度。

本实施例中的电源测试开关电路与程控电源相比内阻很小，从而可以最大程度上模拟电源开关。

本实施例中的电源测试开关电路与继电器相比开关寿命长。且与继电器相比，本实施例中的电源测试开关电路体积小。

本发明实施例中，第一开关模块、第二开关模块和控制模块均可替换成其它器件，从而实现模块的升级或降级。

本发明实施例中的电源测试开关电路布局简单，使用可靠性高，且成本低廉。

本发明实施例中的电源测试开关电路具有直流控制和大电流大功率(例如电流高达5A以上甚至功率高达40W)的特点。

本发明实施例还提供了一种电源测试系统，该系统包括：电子设备和与电子设备连接的电源测试开关电路。电源测试开关电路可采用上述实施例一中的电源测试开关电路，此处不再重复描述。

图3为本发明实施例三提供的一种电源测试系统的结构示意图，如图3所示，电子设备包括PMIC，该系统还包括供电端，则第一端子a连接至供电端，第二端子b连接至PMIC。本实施例中，供电端位于电子设备的外部，该供电端为外部电源，因此电源测试系统采用的是外部电源为PMIC进行外部电源供电。

图4为本发明实施例四提供的一种电源测试系统的结构示意图，如图4所示，电子设备包括PMIC和供电端，第一端子a连接至供电端，第二端子b连接至PMIC。本实施例中，供电端位于电子设备内部，该供电端可以为内部电池，因此电源测试系统采用的是内部电池为PMIC进行内部电池供电。

如图3和图4所示，电源测试开关电路可作为开关可控制供电端和PMIC之间的导通或断开。当电源测试开关电路导通时，供电端和PMIC之间电连接，供电端开启向PMIC的供电；当电源测试开关电路断开时，供电端和PMIC之间断开电连接，供电端断开向PMIC的供电。

本发明实施例中，电子设备包括但不限于手机、平板电脑、移动手持应用产品、小型直流供电产品等。

例如：采用图3或图4的电源测试系统，可实现如下测试内容：

第一种情况：对电子设备进行反复的上下电操作。电源测试开关电路反复导通和断开，反复开启和断开供电端给电子设备的供电，以实现模拟反复给PMIC上电和下电的操作。从而可以测试出是否会损坏PMIC，和/或测试出PMIC的输出对电子设备是否造成损坏。

第二种情况：在充电过程中通过电源测试开关电路对电子设备进行反复的开启和断开充电操作。从而可以测试出是否会损坏PMIC，和/或测试出PMIC的输出对电子设备是否造成损坏。

第三种情况：电源测试开关电路反复导通和断开，以实现反复模拟插拔电池，反复模拟插拔充电线(例如，USB充电线或Type C充电线)。从而可以测试出是否会损坏PMIC，和/或测试出PMIC的输出对电子设备是否造成损坏。

本发明实施例中，电源测试开关电路可适用于直流供电且需要反复开关的测试场景。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (12)

1.一种电源测试开关电路，其特征在于，包括：第一开关模块、第二开关模块、控制模块、第一端子、第二端子和第三端子，所述第一开关模块在第二导通方向上导通，所述第二开关模块在第一导通方向上导通，所述第一导通方向和所述第二导通方向相反；

所述第一开关模块的第一端连接至所述第一端子，所述第一开关模块的第二端连接至所述第二开关模块的第一端，所述第一开关模块的控制端连接至第一节点；

所述第二开关模块的第二端连接至所述第二端子，所述第二开关模块的控制端连接至所述第一节点；

所述控制模块的第一端连接至第一节点，所述控制模块的第二端接地，所述控制模块的控制端连接至所述第三端子；

所述控制模块用于控制所述第一开关模块在所述第一导通方向上导通且所述第二开关模块在所述第二导通方向上导通。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述第一开关模块为第一PMOS晶体管，所述第二开关模块为第二PMOS晶体管。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述第一PMOS的第一端为源极，所述第一PMOS的第二端为漏极；

所述第二PMOS的第一端为漏极，所述第二PMOS的第二端为源极。

4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述控制模块为NMOS晶体管。

5.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，所述NMOS晶体管的第一端为漏极，所述NMOS晶体管的第二端为源极。

6.根据权利要求4所述的电路，其特征在于，还包括下拉电阻，所述下拉电阻的一端连接至第二节点，所述下拉电阻的另一端接地；

所述第三端子和所述NMOS晶体管的控制端均连接至所述第二节点。

7.根据权利要求1至6任一所述的电路，其特征在于，所述第一端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹；

所述第二端子包括USB接口、Type-C接口或者鳄鱼夹。

8.一种电源测试系统，其特征在于，包括：电子设备和与所述电子设备连接的权利要求1至7任一所述的电源测试开关电路。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述电子设备包括电源管理芯片PMIC，所述系统还包括供电端；

所述第一端子连接至所述供电端，所述第二端子连接至所述PMIC。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述电子设备包括PMIC和供电端；

所述第一端子连接至所述供电端，所述第二端子连接至所述PMIC。

11.一种权利要求1至7任一所述的电源测试开关电路的驱动方法，其特征在于，包括：

所述第三端子上加载第一控制信号，所述控制模块在所述第一控制信号的控制下导通，以使所述第一开关模块和所述第二开关模块在所述控制模块的控制下导通；

所述第三端子上加载第二控制信号，所述控制模块在所述第二控制信号的控制下关闭，以使所述第一开关模块和所述第二开关模块在所述控制模块的控制下关闭。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述第一控制信号为高电平信号，所述第二控制信号为低电平信号；或者，

所述第一控制信号为低电平信号，所述第二控制信号为高电平信号。

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