CN113030573A - 基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法包括获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度；使用最佳扫描速度对待测传感器阵列进行扫描检测。本发明采用对无关阵元进行_电势屏蔽、对阵列输入输出进行双端隔离、对基准采样电路进行温度补偿以及对扫描速度进行自适应分配等方式，实现了对传感器阵列的高效率、高精度以及低串扰的检测，尤其是极大的提高了小阻值(传感器基础阻值小，阻值变化小)传感器阵列的检测精度，而且本发明实现了对任意规模的传感器阵列的自适应输入，能够适应多种规模的传感器阵列和多种测试环境，有效的降低电阻式传感器阵列的研发经费并缩短其研发周期。

Description

基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法及系统

技术领域

本发明涉及电路技术领域，尤其是指一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法及系统。

背景技术

阵列式传感装置是将具有相同性能的多个传感元件按照二维阵列的结构组合在一起，它可以通过检测聚焦在阵列上的参数变化，改变或生成相应的形态与特征。这个特性被广泛应用于生物传感、温度触觉和基于红外传感器等的热成像等方面。早前的检测系统对传感器阵列进行检测时，通过加入多路选择器来提高检测速度，但是为了屏蔽阵列内的非待测阵元，其在阵列的每一行和每一列都引入了电压跟随器，导致其检测电路复杂，且跟随器的一致性也会极大的影响电路的整体性能。

2011年，吴等人(吴剑锋,王蕾,李建清,等.一种阵列式小尺寸温度传感装置.传感技术学报,2011,24(11):1649-1652.)研制一种8×16阵列的阵列式小尺寸温度传感装置，采用阵列式微小热敏电阻进行温度传感，提出了一种反馈隔离驱动测量方法进行阵列电阻检测方法。2016年，公告号为CN102322974A的发明专利公开了基于二线制等电势法的阻性传感器阵列读出电路，其具体公开了技术方案为：待测阵列中每一个测温电阻一端与所在的列线相连，另一端与所在的行线相连。N×M个温度传感器检测所需的连接线数目为N+M根，可大大减少温度传感器阵列检测连线数。采用多路电子模拟开关、反馈驱动隔离电路从阵列中虚拟隔离出每一个温度敏感阵元，并通过该温度敏感阵元实现该点温度的精确测量，通过逐一高速扫描测量阵列中的每个器件实现阵列上所有温度点的快速测量，其电路示意图如图1所示。

上述两种检测系统均着重解决传感器阵列不同阵元之间的串扰问题，“反馈隔离驱动测量法”和“基于二线制等电势法”的本质就是采用了电势屏蔽，电势屏蔽也是目前所有方案中相对的最优解。

但是在实际的工程应用中，串扰的来源有很多，阵元间的串扰只是其中之一，还有系统中多路复用器的动态导通电阻，基准采样电阻的温漂以及高速扫描时不同传输回路的耦合串扰等因素均会对整个传感器阵列检测系统的检测精度造成影响，这种影响在单个阵元的满偏量程仅为几十欧姆时尤为明显，极大的降低了检测系统的检测精度与稳定性，使得目前的检测系统无法做到检测小阻值传感器阵列并适应多种规模的传感器阵列。

发明内容

为此，本发明所要解决的技术问题在于克服现有技术中检测系统无法做到检测小阻值传感器阵列并适应多种规模的传感器阵列的缺陷。

为解决上述技术问题，本发明的一个目的是提供一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，包括：

获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度；

使用所述最佳扫描速度对所述待测传感器阵列进行扫描检测，包括：

控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至所述待测阵元进行检测，其中多路复用器部署有隔离电路，用于在所述待测传感器阵列的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻；

在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值，其中所述待测传感器阵列的输出端部署有带温度补偿的基准采样电路。

在本发明的一个实施例中，获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度包括：

对所述待测传感器阵列按照行数和列数进行顺序扫描；

当检测到高阻逻辑时，获取所述待测传感器阵列的规模(m*n)，其中m表示待测传感器阵列的行数，n表示待测传感器阵列的列数；

根据所述待测传感器阵列的规模(m*n)分配与其自适应的最佳扫描速度。

在本发明的一个实施例中，在确定最佳扫描速度后，对所述待测传感器阵列进行预扫描，自动检测所述待测传感器阵列的阵元阻值是否在预设阻值区间内，若检测结果为是，则执行检测操作；若检测结果为否，则返回阵元阻值在预设阻值区间之外的阵元坐标。

在本发明的一个实施例中，控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽包括：

所述多路复用器部署有电势屏蔽电路；

产生选通信号，选通信号控制多路复用器选通待测阵元，同时选通信号控制所述电势屏蔽电路将选通回路的电压反馈至未选通回路上，对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽。

在本发明的一个实施例中，所述电势屏蔽电路包括2选1复用器和译码器，选通信号通过所述译码器作用到所述2选1复用器上，用于将选通回路的电压反馈至未选通回路上，对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽，消除待测传感器阵列中的阵元间串扰。

在本发明的一个实施例中，所述基准采样电路包括基准采样单元和温度补偿单元，所述温度补偿单元对所述基准采样单元进行实时温度补偿。

在本发明的一个实施例中，在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值包括：

待测阵元阻值的计算公式为：

式中，R_mn为待测阵元阻值，V_in为基准检测电压，V_out为输出检测电压，R_J为基准采样电阻的阻值，r_T为温度补偿电阻的阻值。

在本发明的一个实施例中，所述待测传感器阵列的输出端部署有校准单元，所述校准单元连接基准采样电阻，通过调节所述校准单元使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配。

本发明的另一个目的是提供一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统，包括：

自适应接口模块，所述自适应接口模块用于获取待测传感器阵列的规模，根据所述待测传感器阵列的规模确定与其自适应的最佳扫描速度；

检测模块，所述检测模块用于使用所述最佳扫描速度对所述待测传感器阵列进行扫描检测，所述检测模块包括：

控制单元，所述控制单元用于控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至所述待测阵元进行检测，其中多路复用器部署有隔离电路，用于在所述待测传感器阵列的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻；

采集计算单元，所述采集计算单元用于在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值，其中所述待测传感器阵列的输出端部署有带温度补偿的基准采样电路。

在本发明的一个实施例中，所述检测模块包括：

校准单元，所述校准单元用于连接所述基准采样电阻，通过调节所述测试校准装置使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配。

本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

本发明采用对无关阵元进行_电势屏蔽、对阵列输入输出进行双端隔离、对基准采样电路进行温度补偿以及对扫描速度进行自适应分配等方式，实现了对传感器阵列的高效率、高精度以及低串扰的检测，尤其是极大的提高了小阻值(传感器基础阻值小，阻值变化小，例如单个阵元的满偏阻值变化在100欧姆以内)传感器阵列的检测精度，而且本发明实现了对任意规模的传感器阵列的自适应输入，能够适应多种规模的传感器阵列和多种测试环境，有效的降低电阻式传感器阵列的研发经费并缩短其研发周期。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚的理解，下面根据本发明的具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中

图1是现有技术基于二线制等电势法的阻性传感器阵列读出电路的原理示意图。

图2是本发明实施例一检测电路的原理示意图。

图3是本发明实施例三一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统的功能模块示意图。

图4是本发明实施例三电源模块的原理示意图。

图5是本发明实施例三电源模块输出三路电压的说明示意图。

附图标记说明：10、自适应接口模块；20、检测模块；21、控制单元；22、采集计算单元；23、校准单元；30、电源模块；40、显示模块；50、串口通信模块；

100、待测传感器阵列；210、行多路复用器；220、列多路复用器；300、隔离电路；400、电势屏蔽电路；510、基准采样单元；520、温度补偿单元。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本发明并能予以实施，但所举实施例不作为对本发明的限定。

为了更好的理解本发明实施例公开的一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法及系统，下面先对本发明实施例一进行详细的阐述。

请参阅图2所示，图2是本发明实施例一的结构示意图。在图2所示的检测电路原理图中，其包括待测传感器阵列100、驱动信号输入端、多路复用器、隔离电路300、电势屏蔽电路400、基准采样电路和输出检测端。具体的，待测传感器阵列100的输入端和输出端分别部署有隔离电路300，隔离电路300连接多路复用器，多路复用器包括一个M选1的行多路复用器210和一个N选1的列多路复用器220，行多路复用器210的输入端接5V的高精度(纹波≤50mV)基准电压。列多路复用器220的输入端接入到待测传感器阵列100输出端的隔离电路300的输入端，多路复用器连接电势屏蔽电路400，其中待测传感器阵列100输入端的多路复用器连接驱动信号输入端，待测传感器阵列100输出端的多路复用器连接输出检测端，待测传感器阵列100的输出端部署有基准采样电路。

在图2的基础上，本发明实施例二提供一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，该方法包括如下步骤：

步骤1：获取待测传感器阵列100的规模，根据待测传感器阵列100的规模自适应分配最佳扫描速度。

示例地，检测系统上电后，自适应接口模块10首先获取待测传感器阵列100的规模。具体操作为:对待测传感器阵列100按照行数和列数进行顺序扫描；当检测到高阻逻辑时，获取待测传感器阵列100的规模(m*n)，其中m表示待测传感器阵列100的行数，n表示待测传感器阵列100的列数。例如对行数进行顺序扫描时，扫描算法(行，列)为(1，1)，(2，1)，...(m，1)，当扫描到m+1行时，检测到高阻逻辑，即可获取待测传感器阵列100的行数。同样的，也可以获取其列数。综上，即可获取待测传感器阵列100的规模。假设自适应接口模块10可检测的最大传感器阵列规模为M×N，则对于任意m×n(m≤M，n≤N)的待测传感器阵列100，自适应接口模块10都可以自动检测待测传感器阵列100规模并自适应分配最佳扫描速度。

示例地，待测传感器阵列100扫描速度的变化也会带来串扰。对于整个检测系统而言，希望在保持精度的同时，提高其扫描速度，但是随着扫描速度的提高，不同传输回路的耦合串扰也会越来越严重。因此为了保证待测传感器阵列100规模发生变化时，其扫描速度依旧保持稳定，本发明采用“扫描时钟动态分配”的方法进行设计，在获取待测传感器阵列100规模(m*n)后，根据传感器阵列规模分配与其自适应的最佳扫描速度，以保证每个阵元的扫描时间保持基本稳定。从而实现不同规模的待测传感器阵列100与最佳扫描速度的自适应匹配。

示例地，在确定最佳扫描速度后，在正式进行检测之前，检测系统会对待测传感器阵列100进行预扫描，自动检测待测传感器阵列100的阵元阻值是否在预设阻值区间内，若检测结果为是，则执行后续的检测操作；若检测结果为否，则返回阵元阻值在预设阻值区间之外的阵元坐标，其目的是对待测传感器阵列100进行故障自检，能够快速的检测出在预设阻值区间之外的阵元。

步骤2：使用最佳扫描速度对待测传感器阵列100进行扫描检测。

其具体包括以下步骤：

步骤2.1：控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至待测阵元进行检测。

示例地，多路复用器的选通控制端连接控制单元21，控制单元21产生选通信号，选通信号控制多路复用器选通待测阵元，例如行多路复用器210导通第x路，列多路复用器220导通第y路。即选通(x,y)阵元。同时选通信号控制电势屏蔽电路400将选通回路的电压反馈至未选通回路上，对未选通回路上的阵元进行电势屏蔽，电势屏蔽电路400包括2选1复用器和译码器，采用一组译码器将列端非选通回路上的电势反馈回行端的非选通回路上，使非选通回路的行端与列端等电势，形成等电势屏蔽，以避免传感器阵列阵元间的彼此串扰。

示例地，多路复用器所带来的串扰是由于多路复用器的导通电阻会随着扫描速度的变化而变化，对于这个动态导通电阻无法很好的检测。即使是比较优质的多路复用器，其动态导通电阻也只能控制在50欧姆以内，当传感器阵列阵元的阻值变化较小时，就很容易被多路复用器的动态电阻所淹没，这种串扰问题在单个阵元的满偏量程仅为几十欧姆时尤为明显。因此关于待测传感器阵列100输入端和输出端的隔离电路300是为了屏蔽多路复用器的动态导通电阻所带来的串扰，对于M选1的行多路复用器210需要M个运放组成电压跟随电路进行串扰隔离，对于N选1的列多路复用器220仅需要1个运放组成电压跟随电路进行串扰隔离。

步骤2.2：在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算待测阵元的阻值。

示例地，基准采样电路包括基准采样单元510，基准采样单元510包括基准采样电阻，其稳定性直接影响整个检测系统的检测精度。基准采样电阻的温漂会导致串扰，尤其是所检测的传感器阵列的阵元满偏量程变化较小时较为明显。因此需要严格控制基准采样电阻的温漂，本发明基准采样电路包括温度补偿单元520，利用温度补偿单元520对基准采样电阻进行实时的温度补偿。优选的，基准采样电阻选取高精度(<％0.1)低温度系数的电阻，温度补偿电阻选取高精度温敏电阻，通过比对基准采样电阻与温敏电阻的温度曲线，对基准采样电阻进行实时的温度补偿。具体为采集到的基准电压通过一个独立的电压跟随器进入到温度补偿单元520中去，其后，一个温敏电阻，一个可调电阻和一个运放共同构成加减运算电路，通过调节可调电阻使运算电路的输出(TC_OUT)与基准采样电阻的温漂的线性关系保持一致，然后将TC_OUT通过算法对基准采样电阻进行温度补偿。

示例地，待测传感器阵列100的输出端还部署有校准单元23，校准单元23连接基准采样电阻，校准单元23是在基准采样电阻的基础上做的进一步改进。对于最大可检测M×N阵列的检测系统而言，其有N个基准采样电阻，这N个基准采样电阻共用校准单元23。优选的，校准单元23为电位器，电位器与基准采样电阻串联，可以在检测系统参数偏移时对基准采样电阻进行调节校正。同时，当待测传感器阵列100的阵元阻值变化由几十欧姆到几千欧姆时，可以通过调节电位器使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配，本实施例提供了三级阻值匹配，分别是100R，1K和10K，如此能够实现任意规模的传感器阵列的自适应输入。

示例地，在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算待测阵元的阻值，待测阵元阻值的计算公式为：

式中，R_mn为待测阵元阻值，V_in为基准检测电压，V_out为输出检测电压，R_J为基准采样电阻的阻值，r_T为温度补偿电阻的阻值。

综上，本发明采用对无关阵元进行电势屏蔽、对阵列输入输出进行双端隔离、对基准采样电阻进行温度补偿以及对扫描速度进行自适应分配等方式，实现了对传感器阵列的高效率、高精度以及低串扰的检测，尤其是极大的提高了小阻值(传感器基础阻值小，阻值变化小，例如单个阵元的满偏阻值变化在100欧姆以内)传感器阵列的检测精度，而且本发明实现了对任意规模的传感器阵列的自适应输入，能够适应多种规模的传感器阵列和多种测试环境，有效的降低电阻式传感器阵列的研发经费并缩短其研发周期。

下面对本发明实施例三提供的一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统进行介绍，下文描述的一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统与上文描述的一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法可相互对应参照。

请参阅图3所示，本实施例三一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统包括：

自适应接口模块10：自适应接口模块10用于获取待测传感器阵列100的规模，根据待测传感器阵列100的规模自适应分配最佳扫描速度；

检测模块20，检测模块20用于使用最佳扫描速度对待测传感器阵列100进行扫描检测。

具体的，其中检测模块20包括：

控制单元21：控制单元21用于控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至待测阵元进行检测，其中多路复用器部署有隔离电路300，用于在待测传感器阵列100的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻；

采集计算单元22：采集计算单元22用于在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算待测阵元的阻值，其中待测传感器阵列100的输出端部署有带温度补偿的基准采样电路。

本实施例控制单元21对控制芯片的要求不高，传统的51核架构芯片即可满足要求，主时钟20KHz以内即可满足要求，控制单元21需要具备一颗12位的ADC。

本实施例的基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统用于实现前述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，因此该系统的具体实施方式可见前文中的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法的实施例部分，所以，其具体实施方式可以参照相应的各个部分实施例的描述，在此不再展开介绍。

另外，由于本实施例的基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统用于实现前述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，因此其作用与上述方法的作用相对应，这里不再赘述。

本实施例还包括电源模块30，电源模块30为整个检测系统进行供电。其中电源模块30的电路原理图如图4所示，本模块采用多组DCDC模块对电源进行稳压设计，并通过0欧电阻和磁珠进行模数隔离。接通电源后，首先是电源模块30进行动作，外部电源电压(12V)经由两路DCDC电路，形成两路独立的5V输出，由于本发明中电路部分是模数混合电路，且需要一路高精度的基准电压作为传感器阵列的检测电压。因此检测系统的电源模块30需要同时提供数字芯片需要的5V电压，模拟电路需要的15V电压以及一路独立的5V高精度电压。即如图5所示的三路电压，从而为整个检测系统进行供电。

当然本实施例检测系统还可以包括显示模块40以及串口通信模块50，显示模块40与串口通信模块50为本发明的拓展模块，显示模块40可以通过LCD或者OLED实现，串口通信模块50可以通过USB或者I2C实现。

本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (10)

1.一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于，包括：

获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度；

使用所述最佳扫描速度对待测传感器阵列进行扫描检测，包括：

控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至所述待测阵元进行检测，其中多路复用器部署有隔离电路，用于在所述待测传感器阵列的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻；

在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值，其中所述输出检测端部署有带温度补偿的基准采样电路。

2.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度包括：

对所述待测传感器阵列按照行数和列数进行顺序扫描；

当检测到高阻逻辑时，获取所述待测传感器阵列的规模(m*n)，其中m表示待测传感器阵列的行数，n表示待测传感器阵列的列数；

根据所述待测传感器阵列的规模(m*n)分配与其自适应的最佳扫描速度。

3.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：在确定最佳扫描速度后，对所述待测传感器阵列进行预扫描，自动检测所述待测传感器阵列的阵元阻值是否在预设阻值区间内，若检测结果为是，则执行检测操作；若检测结果为否，则返回阵元阻值在预设阻值区间之外的阵元坐标。

4.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽包括：

所述多路复用器部署有电势屏蔽电路；

产生选通信号，选通信号控制多路复用器选通待测阵元，同时选通信号控制所述电势屏蔽电路将选通回路的电压反馈至未选通回路上，对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽。

5.根据权利要求4所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：所述电势屏蔽电路包括2选1复用器和译码器，选通信号通过所述译码器作用到所述2选1复用器上，用于将选通回路的电压反馈至未选通回路上，对所述未选通回路上的阵元进行电势屏蔽，消除待测传感器阵列中的阵元间串扰。

6.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：所述基准采样电路包括基准采样单元和温度补偿单元，所述温度补偿单元对所述基准采样单元进行实时温度补偿。

7.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值包括：

待测阵元阻值的计算公式为：

式中，R_mn为待测阵元阻值，V_in为基准检测电压，V_out为输出检测电压，R_J为基准采样电阻的阻值，r_T为温度补偿电阻的阻值。

8.根据权利要求1所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测方法，其特征在于：所述待测传感器阵列的输出端部署有校准单元，所述校准单元连接基准采样电阻，通过调节所述校准单元使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配。

9.一种基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统，其特征在于，包括：

自适应接口模块，所述自适应接口模块用于获取待测传感器阵列的规模，根据待测传感器阵列的规模自适应分配最佳扫描速度；

检测模块，所述检测模块用于使用所述最佳扫描速度对所述待测传感器阵列进行扫描检测，所述检测模块包括：

控制单元，所述控制单元用于控制多路复用器选通待测阵元，同时对未选通的阵元进行电势屏蔽，将基准检测电压输入至所述待测阵元进行检测，其中多路复用器部署有隔离电路，用于在所述待测传感器阵列的输入端和输出端隔绝多路复用器的动态导通电阻；

采集计算单元，所述采集计算单元用于在多路复用器的输出检测端采集输出检测电压，计算所述待测阵元的阻值，其中所述输出检测端部署有带温度补偿的基准采样电路。

10.根据权利要求9所述的基于电阻式传感器阵列的自适应检测系统，其特征在于，所述检测模块包括：

校准单元，所述校准单元用于连接所述基准采样电阻，通过调节所述测试校准装置使得基准采样电阻的阻值与待测阵元的阻值相匹配。

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