CN112945421A - 一种测温元件动态特性检测装置 - Google Patents
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Abstract
本发明所述的一种测温元件动态特性检测装置,属于温度测量技术领域,主要由控制系统、弹射机构、数据采集与处理等三部分组成;本发明实现了测温元件弹射前的恒温环境维持以及测温元件自动化弹射,解决测温元件自由下落慢、无法控制的问题;同时,针对用肉眼观察测温元件落入恒温炉进行计时的情况,本发明装置利用触发器检测测温元件是否落入恒温炉,并由微处理器采集处理得到温度曲线,实现对测温元件动态特性的检测。
Description
技术领域
本发明公开一种测温元件动态特性检测装置,涉及检测温度突变对测温元件影响的冲击试验,属于温度冲击检测的试验装置。
背景技术
温度测试研究已从稳态温度场转向瞬态温度场,尤其是针对瞬态高温的快速精准测试研究已成为时下热门。
在瞬态高温场中,对测温元件快速精准测量具有十分重要的现实意义。由于瞬态高温测试中被测温度信号持续时间短、幅值大,测试环境恶劣等对温度测试装置提出了相当严苛的要求。测温元件的动态特性测试目前一般采用传统的生产线人工抽样测试的方法,这种办法安全性低、效率低、成本高而且抽样过程中存在偶然性,从而造成了常用测温元件量大质低和精密测温元件量少价高的问题。解决这一问题需要统一的测温元件动态特性测试的相关设备,以此来增加测温元件动态特性测试效率,但现在还没有一套成熟的、统一的、规范化的测温元件动态特性测试的标准设备。
综上所述,为了解决目前存在的问题以及技术难关,本发明旨在公开一种测温元件动态特性检测装置,达到控制测温元件自动弹射、准确检测以及记录测温元件的动态特性的目的。
发明内容
本发明的目的是自动化弹射测温元件以检测出测温元件的动态特性,提供了一种测温元件动态特性检测装置。
本发明所述的一种测温元件动态特性检测装置,采用以下技术方案来实现,主要由控制系统、弹射机构、数据采集与处理等三部分组成;
所述控制系统包括与基座支架连接的微处理器控制板和驱动电机,微处理器控制板上安装有电源指示灯、电源开关、启动开关、复位开关及显示器;驱动电机安装在基座支架上,由微处理器控制板控制完成弹射支架的自动化旋转;恒温炉安装在基座支架上;
所述弹射机构包括弹射支架、推杆开关、阻挡夹、弹射弹簧、挡板装置、夹持器弹簧、夹持器、接线柱以及阻挡夹弹簧;弹射支架通过驱动电机和转动轴与基座支架连接在一起;阻挡夹安装在弹射支架内,由微处理器控制板控制推杆开关上下运动从而控制阻挡夹开合进而控制测温元件的自动弹射;夹持器与弹射弹簧连接,当阻挡夹打开,夹持器被弹射弹簧弹出的同时夹持器也被夹持器弹簧打开,从而导致夹持器夹持的测温元件及接线柱弹射;夹持器内部中空用以存放恒温液;
所述数据采集与处理包括与弹射支架连接的触发器和与基座支架连接的微处理器控制板;触发器与微处理器控制板相连;微处理器控制板用于采集处理触发器与测温元件传递的信号。
所述触发器、接线柱以及测温元件信号线均采用耐热材料制造;测温元件与触发器应在同一铅垂线上,测温元件对准触发器的中心位置;挡板装置安装在夹持器顶部,长度为测温元件下落高度的一半;
根据不同需要,通过改变测温元件,更换不同种类的恒温液以及改变恒温炉的温度来检测出不同温度冲击下各种测温元件的动态特性。
本发明的积极效果在于:采用测温元件动态特性检测装置,填补了市面上无此类似装置的空白;本发明装置实现了测温元件弹射前的恒温环境维持以及测温元件自动化弹射,解决测温元件自由下落慢、无法控制的问题;同时,针对用肉眼观察测温元件落入恒温炉进行计时的情况,本发明装置利用触发器检测测温元件是否落入恒温炉,并由微处理器采集处理得到温度曲线,实现对测温元件动态特性的检测。
附图说明
图1为本发明的电路结构框图;
图2为本发明结构的主视图;
图3为本发明结构中接线柱的示意图;
图4为本发明结构中接线柱的内部示意图;
图中:1.弹射支架,2.推动开关,3.阻挡夹,4.弹射弹簧,5.挡板装置,6.夹持器弹簧,7.夹持器,8.接线柱,9测温元件,10.信号线,11.触发器,12.基座支架,13.恒温炉,14.驱动电机,15.转动轴,16.微处理器控制板,17.阻挡夹弹簧,18.基座,19.接线柱壳体,20.测温元件信号线,21.传导片,22.传导压片,23.开合装置,24.接线柱上壳体,25.接线柱下壳体,26.电源指示灯,27.电源开关,28.启动开关,29.检测开关,30.复位开关,31.显示器,32.恒温液。
具体实施方式
以下实施例描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这仅仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的,本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
实施例1
如图1、图2、图3、图4所示:本发明所述的一种测温元件动态特性检测装置,包括控制系统、弹射机构、数据采集与处理等三部分组成。
所述控制系统包括与基座支架12连接的微处理器控制板16和驱动电机14,微处理器控制板16上安装有电源指示灯26、电源开关27、启动开关28、检测开关29、复位开关30及显示器31;驱动电机14安装在基座支架12上,由微处理器控制板16控制完成弹射支架1的自动化旋转;恒温炉13安装在基座支架12上。
所述弹射机构包括弹射支架1、推杆开关2、阻挡夹3、弹射弹簧4、挡板装置5、夹持器弹簧6、夹持器7、接线柱8以及阻挡夹弹簧17;弹射支架1通过驱动电机14和转动轴15与基座支架12连接在一起;阻挡夹3安装在弹射支架内,由微处理器控制板16控制推杆开关2上下运动从而控制阻挡夹3开合进而控制测温元件9的自动弹射;夹持器7与弹射弹簧4连接,当阻挡夹3打开,夹持器7被弹射弹簧弹4出的同时夹持器7也被夹持器弹簧6打开,从而导致夹持器7夹持的测温元件9及接线柱8弹射;夹持器7内部中空用以存放恒温液32。
所述数据采集与处理包括与弹射支架1连接的触发器11和与基座支架12连接的微处理器控制板16;触发器11与微处理器控制板16相连;微处理器控制板16用于采集处理触发器11与测温元件9传递过来的信号。
根据不同需要,通过改变测温元件9,更换不同种类的恒温液32以及改变恒温炉13的温度来检测出不同温度下各种测温元件9的动态特性。
如图2所示:挡板装置5安装在夹持器7顶部,长度为测温元件9下落高度的一半;触发器11采用耐高温材料制造,测温元件9与触发器11应在同一铅垂线上,测温元件9对准触发器11的中心位置,可避免测温元件9下落过程中与触发器11发生碰撞从而保证触发器11的准确触发。
如图3所示:接线柱壳体19与测温元件信号线20均采用耐热材料制造。
如图4所示:接线柱上壳体24通过开合装置23与接线柱下壳体25连接在一起,传导片21与传导压片22通过扣压的方式固定测温元件9以及向微处理器控制板16传导测温元件9的信号。
工作情况如下:
打开电源开关27,电源指示灯26发光,根据试验要求更换相应的测温元件9以及恒温液32,将测温元件9与接线柱8连接,用夹持器7夹持测温元件9与接线柱8,然后将夹持器7安装在阻挡夹3中,按照试验要求调节恒温炉13的温度,待恒温炉13的温度稳定满足试验要求后,打开启动开关28,驱动电机14开始工作,将弹射支架1转动到开始位置稳定后,阻挡夹3打开,测温元件9与接线柱8弹射落入恒温炉3中,触发器11在测温元件9通过的瞬间将触发信号传递给微处理器控制板16,测温元件9将在恒温炉13中所测量的温度信号传递给微处理器控制板16,按下检测开关29,微处理器控制板16处理采集好的数据得到测温元件9的动态特性并显示在显示器31上,将测温元件9提出,按下复位开关30,驱动电机14开始工作,将弹射支架1转动到结束位置稳定后,关闭电源开关27,电源指示灯26熄灭,试验结束。
综上所述,本发明装置实现了测温元件弹射前的恒温环境维持以及测温元件自动化弹射,解决测温元件自由下落慢、无法控制的问题;同时,针对用肉眼观察测温元件落入恒温炉进行计时的情况,本发明装置利用触发器检测测温元件是否落入恒温炉,并由微处理器采集处理得到温度曲线,实现对测温元件动态特性的检测。
Claims (5)
1.一种测温元件动态特性检测装置,其特征在于包括控制系统、弹射机构、数据采集与处理等三部分组成;
所述控制系统包括与基座支架连接的微处理器控制板和驱动电机,微处理器控制板上安装有电源指示灯、电源开关、启动开关、检测开关、复位开关及显示器;驱动电机安装在基座支架上,由微处理器控制板控制完成弹射支架的自动化旋转;恒温炉安装在基座支架上;
所述弹射机构包括弹射支架、推杆开关、阻挡夹、弹射弹簧、挡板装置、夹持器弹簧、夹持器、接线柱以及阻挡夹弹簧;弹射支架通过驱动电机和转动轴与基座支架连接在一起;弹射机括安装在弹射支架内,由微处理器控制板控制推杆开关上下运动从而控制阻挡夹开合进而控制测温元件的自动弹射;夹持器与弹射弹簧连接,当阻挡夹打开,夹持器被弹射弹簧弹出的同时夹持器也被夹持器弹簧打开,从而导致夹持器夹持的测温元件及接线柱弹射;夹持器内部中空用以存放恒温液;
所述数据采集与处理包括与弹射支架连接的触发器和与基座支架连接的微处理器控制板;触发器与微处理器控制板相连;微处理器控制板用于采集处理触发器与测温元件传递的信号。
2.根据权利要求1所述的测温元件动态特性检测装置,其特征在于:所述夹持器与弹射弹簧连接,夹持器夹板之间装有弹簧,夹持器夹板内部中空。
3.根据权利要求1所述的测温元件动态特性检测装置,其特征在于:所述弹射开关外形为圆锥形,与推杆电机连接。
4.根据权利要求1所述的测温元件动态特性检测装置,其特征在于:所述挡板装置安装在夹持器顶部,长度为测温元件下落高度的一半。
5.根据权利要求1所述的测温元件动态特性检测装置,其特征在于:所述触发器、接线柱以及测温元件信号线均采用耐热材料制造。
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