CN112910461A - Rc振荡器的自校准方法和自校准电路 - Google Patents

Abstract

本申请涉及半导体集成电路领域，具体涉及一种RC振荡器的自校准方法和自校准电路。其中，方法包括调节测试信号，使得RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号；以第一参考振荡信号作为第一计数信号，测量第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数；确定第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内；在第二环境下，获取第二参考振荡信号和第二输出振荡信号；以第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数；比较第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；确定不一致，调整测试信号，直至一致。

Description

RC振荡器的自校准方法和自校准电路

技术领域

本申请涉及半导体集成电路领域，具体涉及一种RC振荡器的自校准方法和自校准电路。

背景技术

振荡器是时钟电路的重要部件，用于向集成电路系统提供时序控制的标准时钟信号，使得集成电路系统工作在同一种特定频率的时钟信号中。RC振荡器(R：电阻；C：电容)，包括由电阻和电容组成的选频网络，通常用于产生1赫兹至1兆赫兹的低频信号，能够快速启动，成本较低，但是通常在整个温度和工作电源电压范围内的精度较差，会在标称输出频率的5％至50％范围内变化。

对于输出频率为千赫兹量级的RC振荡器，由于频率较低，其输出频率的温度系数主要依赖于电阻的温度系数。从而利用不同类型的电阻的温度系数曲线不同，可以对输出频率的温度系数进行补偿，以产生较高精度的时钟信号。

但是，对于输出频率为兆赫兹量级的RC振荡器，其时钟周期在纳秒量级，由于电路中MOS管的寄生电容、寄生电阻相对于纳秒量级的输出频率，已不可忽略。器件的寄生参数，和器件匹配不当等原因，均会对RC振荡器输出频率的精度造成不利影响。若单纯依赖电阻对输出频率的温度系数进行补偿，已无法达到高精度的输出要求。

为了克服工艺角引起的频率偏移的问题，相关技术通常在RC振荡电路中配置有调试电路，用于在器件出厂时将输出频率调至目标值。但在用户具体应用中，环境的变化，例如温度变化或电源电压的变化，会引起输出频率偏移目标值的问题。

发明内容

本申请提供了一种RC振荡器的自校准方法和自校准电路，可以解决相关技术中用户具体应用RC振荡器中，环境的变化会引起输出频率偏移目标值的问题。

为了解决上述技术问题，本申请的第一方面，提供一种RC振荡器自校准方法，包括以下步骤：

在第一环境下，调节所述测试信号，使得所述测试信号为第一测试信号时，所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号；

在所述第一环境下，获取所述RC振荡器产生的第一参考振荡信号；

以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数；

确定所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，处于输出信号振荡目标范围内；

在第二环境下，获取所述RC振荡器产生的第二参考振荡信号，和根据所述第一测试信号产生的第二输出振荡信号；

以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数；

比较所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；

确定不一致，调整所述测试信号，直至使得所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数一致。

可选的，所述步骤：在第一环境下，调节所述测试信号，使得在第一测试信号时，所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号，包括：

提供测试信号，使得所述RC振荡器输出对应频率的输出振荡信号；

获取测试计数信号；

根据所述测试计数信号，测量所述输出振荡信号在测试计数周期中的振荡次数；

调节所述测试信号至第一测试信号，使得在所述测试计数周期中，所述输出振荡信号的振荡次数，达到振荡输出目标值；在所述测试计数周期中，振荡次数达到振荡输出目标值的输出振荡信号为：具有目标输出频率的第一输出振荡信号。

可选的，所述步骤：以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数包括：

以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号；

根据所述第一参考振荡信号的频率，确定所述第一计数信号的计数周期为第一计数周期；

测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数。

可选的，所述第一参考振荡信号周期中的信号上升沿和信号下降沿，分别为所述第一计数周期的起点和终点。

可选的，所述步骤：以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，包括：

以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号；

根据所述第二参考振荡信号的频率，确定所述第二计数信号的计数周期为第二计数周期；

测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数。

可选的，所述第二参考振荡信号周期中的信号上升沿和信号下降沿，分别为所述第二计数周期的起点和终点。

作为本申请的第二方面，提供一种RC振荡器自校准电路，包括：

RC振荡器，所述RC振荡器包括主振荡器和参考振荡器；所述主振荡器用于根据测试信号产生具有对应频率的输出振荡信号，所述参考振荡器用于产生具有特定频率的参考振荡信号；

自校准电路，所述自校准电路测试调试电路、用户调试电路和寄存器；所述测试调试电路，用于在第一环境下，根据所述输出振荡信号和所述参考振荡信号产生对应的测试信号；所述用户调试电路，用于在第二环境下，根据所述输出振荡信号和所述参考振荡信号产生对应的测试信号；所述寄存器，用于存储所述测试调试电路产生的信号数据。

可选的，所述测试调试电路包括：

调试模块，用于根据测试计数信号，测量所述输出振荡信号在测试计数周期中的振荡次数；用于判断该输出振荡信号，在测试计数周期中的振荡次数，是否达到振荡输出目标值，若未达到所述振荡输出目标值，所述调试模块调整输出的测试信号至第一测试信号。

使能模块，用于以所述第一参考振荡信号，作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数；用于判断第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内，确定位于所述输出信号振荡目标范围内，所述使能模块输出能够使得该用户调试电路工作的控制信号。

可选的，所述用户调试电路，用于获取所述RC振荡器在第二环境下，产生的第二参考振荡信号，和根据第一测试信号产生的第二输出振荡信号；

用于以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数；

用于比较所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；若确定不一致，所述用户调试电路调整所述测试信号，直至使得所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数一致。

本申请技术方案，至少包括如下优点：通过频率随着环境偏移较小的RC振荡器内部参考振荡信号，以校准频率随着环境变化偏移较大的输出振荡信号，使得输出振荡信号的频率精度调整为与RC振荡器的参考振荡信号频率精度一致。

附图说明

为了更清楚地说明本申请具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本申请一实施例提供的RC振荡器自校准方法流程图；

图2示出了步骤S1一实施例的流程图

图3示出了本申请一实施例提供的RC振荡器自校准电路原理图；

图4示出了随着温度环境的变化，本申请和相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率的对比图；

图5示出了随着电源电压环境的变化，本申请和相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率的对比图

具体实施方式

下面将结合附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在不做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

在本申请的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电气连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，还可以是两个元件内部的连通，可以是无线连接，也可以是有线连接。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

此外，下面所描述的本申请不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

图1示出了本申请一实施例提供的RC振荡器自校准方法流程图，参照图1，该RC振荡器自校准方法包括以下步骤：

步骤S1：在第一环境下，调节测试信号TRIM，使得在第一测试信号TRIM1时，所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1。

其中，该测试信号TRIM为具有可调特征值的控制信号，通过改变该测试信号TRIM的特征值的大小，能够控制RC振荡器根据该测试信号TRIM输出对应频率的输出振荡信号FOSC。因此，该测试信号TRIM存在至少一个特征值，能够控制RC振荡器的输出振荡信号FOSC的频率达到目标输出频率。

将频率达到目标输出频率的输出振荡信号FOSC，定义为第一输出振荡信号FOSC1，将能够使RC振荡器输出具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1的测试信号TRIM，定义为第一测试信号TRIM1。该目标输出频率为预先根据不同的需求进行设定。

需要说明的是，在RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1后，存储能够使得该RC振荡器产生第一输出振荡信号FOSC1的第一测试信号TRIM1，并允许进行以下步骤。

步骤S2：在所述第一环境下，获取所述RC振荡器产生的第一参考振荡信号FREF1。

该参考振荡信号FREF用于后续的校准调整输出振荡信号FOSC的频率。随着环境的变化，例如电压环境和温度环境的变化，该参考振荡信号FREF的频率变化范围在1％以内。

步骤S3：以所述第一参考振荡信号FREF1作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数。

其中，该第一计数周期是根据该第一参考振荡信号FREF1的频率所确定。可选地，以该第一参考振荡信号FREF1在其一个周期中的上升沿为该第一计数周期的起点，以该第一参考振荡信号FREF1在其一个周期中的下降沿为该第一计数周期的终端，对第一输出振荡信号FOSC1的振荡次数进行测量。

步骤S4：确定所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内。

该输出信号振荡目标范围为预先根据需求设定。在对第一输出振荡信号FOSC1的振荡次数进行测量后，会对第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内进行判断；在确定第一输出振荡信号FOSC1的在第一计数周期中的振荡次数，在所述输出信号振荡目标范围内，才能允许进行后续步骤，否则禁止进行后续步骤。

步骤S5：在第二环境下，获取所述RC振荡器产生的第二参考振荡信号FREF2，和根据所述第一测试信号TRIM1产生的第二输出振荡信号FOSC2。

其中，第二环境与第一环境不同，例如第二环境的温度或电压不同与第一环境。如背景技术中所述，RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率，会随着环境的变化而发生频率偏移，且偏移较大。但是RC振荡器的参考振荡信号FREF频率随着环境变化发生频率偏移的幅度较小，通常在1％以内。

因此，即使在步骤S1完成后，该RC振荡器已经能够产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1的条件下，在更换工作环境至第二环境中时，该RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率可能会偏移该目标输出频率；将在第二环境中RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC定义为第二输出振荡信号FOSC2。

步骤S6：以所述第二参考振荡信号FREF2作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数。

其中，该第二计数周期是根据该第二参考振荡信号FREF2的频率所确定。可选地，以该第二参考振荡信号FREF2在其一个周期中的上升沿为该第二计数周期的起点，以该第二参考振荡信号FREF2在其一个周期中的下降沿为该第二计数周期的终端，对第二输出振荡信号FOSC2的振荡次数进行测量。

可以理解的是，若RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率在第二环境中发生了频率偏移，则该第二输出振荡信号FOSC2的频率与该第一输出振荡信号FOSC1的频率不一致，但是由于第二参考振荡信号FREF2的频率与第一参考振荡信号FREF1的频率差别在1％以内，因此，根据该第二参考振荡信号FREF2的频率所确定的第二计数周期，与根据第一参考振荡信号FREF1频率所确定的第一计数周期的周期长度变化不大。在此基础上，若RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率在第二环境中发生了频率偏移，则直接体现在第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数不一致。

步骤S7：比较所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否一致。

由于，若RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率在第二环境中发生了频率偏移，则直接体现在第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数不一致。则，在参考振荡信号FREF的频率变化不大的前提下，根据第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否一致，能够确定RC振荡器产生的第二输出振荡信号FOSC2频率，相对于第一输出振荡信号FOSC1频率是否发生了频率偏移。

步骤S8：确定不一致，调整所述测试信号TRIM，直至使得所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数一致。

当确定第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数不一致，确定RC振荡器产生的第二输出振荡信号FOSC2频率，相对于第一输出振荡信号FOSC1频率发生了频率偏移。

并且，通过继续调整测试信号TRIM，以改变该RC振荡器产生的输出振荡信号FOSC频率，直至使得所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数一致为止。

本实施例通过频率随着环境偏移较小的RC振荡器内部参考振荡信号FREF，以校准频率随着环境变化偏移较大的输出振荡信号FOSC，使得输出振荡信号FOSC的频率精度调整为与RC振荡器的参考振荡信号FREF频率精度一致。即只要参考振荡信号FREF的频率，随着环境变换的范围在1％以内，就能够校准该输出振荡信号FOSC的频率，使得随环境变化，该输出振荡信号FOSC的频率变化范围在1％以内。

图2示出了步骤S1一实施例的流程图，参照图2可以看出，本实施例中步骤S1包括：

步骤S11：提供测试信号TRIM，使得该RC振荡器输出对应频率的输出振荡信号FOSC。

步骤S12：获取测试计数信号FTEST；该测试计数信号FTEST是由其他外部电路提供。

步骤S13：根据所述测试计数信号FTEST，测量所述输出振荡信号FOSC在测试计数周期中的振荡次数。

其中，预先需要根据该测试计数信号FTEST的周期性特征，确定用于测量该输出振荡信号FOSC振荡次数的测试计数周期。可以以该测试计数信号FTEST一个周期中的上升沿为该测试计数周期的起点，以该测试计数信号FTEST一个周期中的下降沿为该测试计数周期的终点，在该测试计数周期对该输出振荡信号FOSC的振荡次数进行测算。

步骤S14：调节所述测试信号TRIM至第一测试信号TRIM1，使得在所述测试计数周期中，所述输出振荡信号FOSC的振荡次数，达到振荡输出目标值；在所述测试计数周期中，振荡次数达到振荡输出目标值的输出振荡信号FOSC为：具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1。

其中，在调节所述测试信号TRIM至第一测试信号TRIM1，使得在所述测试计数周期中，所述输出振荡信号FOSC的振荡次数，达到振荡输出目标值之前，还需要对判断该输出振荡信号FOSC在测试计数周期中的振荡次数是否达到振荡输出目标值；若未达到振荡输出目标值，使得该调试模块调整输出的测试信号TRIM的特征值，直至该测试信号TRIM为第一测试信号TRIM1，使得在所述测试计数周期中，所述输出振荡信号FOSC的振荡次数，达到振荡输出目标值。

图3示出了本申请一实施例提供的RC振荡器自校准电路，该RC振荡器自校准电路包括RC振荡器310和自校准电路320，该自校准电路320用于校准该RC振荡器310输出振荡信号FOSC的频率。

该RC振荡器310包括主振荡器311和参考振荡器312，该主振荡器311用于产生具有特定频率的输出振荡信号FOSC，该参考振荡器312用于产生具有特定频率的参考振荡信号FREF。

该自校准电路320包括测试调试电路321、用户调试电路322和寄存器323；所述测试调试电321路，用于在第一环境下，根据所述输出振荡信号FOSC和所述参考振荡信号FREF产生对应的测试信号TRIM；所述用户调试电路322，用于在第二环境下，根据所述输出振荡信号FOSC和所述参考振荡信号FREF产生对应的测试信号TRIM；所述寄存器323，用于存储所述测试调试电路321产生的信号数据，所述用户调试电路322能够调用所述寄存器323中存储的信号数据。

本实施例中，该测试调试电路321，能够输出测试信号TRIM，包括调试模块和使能模块；该测试信号TRIM为具有可调特征值的控制信号，通过改变该测试信号TRIM的特征值的大小，能够控制RC振荡器根据该测试信号TRIM输出对应频率的输出振荡信号FOSC。

其中，该测试调试电路321的调试模块，用于根据测试计数信号FTEST，测量所述输出振荡信号FOSC在测试计数周期中的振荡次数；用于判断该输出振荡信号FOSC，在测试计数周期中的振荡次数，是否达到振荡输出目标值，若未达到振荡输出目标值，使得该调试模块调整输出的测试信号TRIM的特征值，直至该测试信号TRIM为第一测试信号TRIM1。在该测试信号TRIM为第一测试信号TRIM1时，该输出振荡信号FOSC在所述测试计数周期中的振荡次数，达到振荡输出目标值。在所述测试计数周期中，振荡次数达到振荡输出目标值的输出振荡信号FOSC为：具有目标输出频率的第一输出振荡信号FOSC1。该调试模块还用于将第一测试信号TRIM1存储在寄存器中。

其中，该测试调试电路321的使能模块，用于以所述第一参考振荡信号FREF1作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数；用于判断第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内；若确定第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，在输出信号振荡目标范围内，则输出能够使得该用户调试电路工作的控制信号，否则输出使得该用户调试电路工作禁止工作的控制信号。该使能模块还用于，将位于输出信号振荡目标范围内的第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，存储该寄存器中。

本实施例中，该用户调试电路322，用于获取RC振荡器在第二环境下，产生的第二参考振荡信号FREF2，和根据第一测试信号TRIM1产生的第二输出振荡信号FOSC2；用于以所述第二参考振荡信号FREF2作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数；比较所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；若确定不一致，调整所述测试信号TRIM，直至使得所述第二输出振荡信号FOSC2在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号FOSC1在第一计数周期中的振荡次数一致。

图4示出了随着温度环境的变化，本申请和相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率的对比图。图5示出了随着电源电压环境的变化，本申请和相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率的对比图。

参照图4，曲线A1表示相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率，与温度环境的变化关系，曲线B1表示采用本申请的自校准方法和电路得到的输出振荡信号频率偏移率，与温度环境的变化关系。

参照图5，曲线A2表示相关技术中的RC振荡器输出振荡信号频率偏移率电源电压的变化关系，曲线B2表示采用本申请的自校准方法和电路得到的输出振荡信号频率偏移率，与电源电压的变化关系。

从图4和图5中可以看出，当温度变化为-40℃至125℃时或电源电压变化在1.5V+/-10％时，采用本申请的自校准方法和自校准电路得到的输出振荡信号的频率偏移率维持在+/-1％以内。而相关技术中得到的输出振荡信号的频率偏移率较大。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本申请创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种RC振荡器自校准方法，其特征在于，包括以下步骤：

在第一环境下，调节所述测试信号，使得所述测试信号为第一测试信号时，所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号；

在所述第一环境下，获取所述RC振荡器产生的第一参考振荡信号；

以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数；

确定所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，处于输出信号振荡目标范围内；

在第二环境下，获取所述RC振荡器产生的第二参考振荡信号，和根据所述第一测试信号产生的第二输出振荡信号；

以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数；

比较所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；

确定不一致，调整所述测试信号，直至使得所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数一致。

2.如权利要求1所述的RC振荡器自校准方法，其特征在于，所述步骤：在第一环境下，调节所述测试信号，使得在第一测试信号时，所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号，包括：

提供测试信号，使得所述RC振荡器输出对应频率的输出振荡信号；

获取测试计数信号；

根据所述测试计数信号，测量所述输出振荡信号在测试计数周期中的振荡次数；

调节所述测试信号至第一测试信号，使得在所述测试计数周期中，所述输出振荡信号的振荡次数，达到振荡输出目标值；在所述测试计数周期中，振荡次数达到振荡输出目标值的输出振荡信号为：具有目标输出频率的第一输出振荡信号。

3.如权利要求1所述的RC振荡器自校准方法，其特征在于，所述步骤：以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数包括：

以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号；

根据所述第一参考振荡信号的频率，确定所述第一计数信号的计数周期为第一计数周期；

测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数。

4.如权利要求3所述的RC振荡器自校准方法，其特征在于，所述第一参考振荡信号周期中的信号上升沿和信号下降沿，分别为所述第一计数周期的起点和终点。

5.如权利要求1所述的RC振荡器自校准方法，其特征在于，所述步骤：以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，包括：

以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号；

根据所述第二参考振荡信号的频率，确定所述第二计数信号的计数周期为第二计数周期；

测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数。

6.如权利要求5所述的RC振荡器自校准方法，其特征在于，所述第二参考振荡信号周期中的信号上升沿和信号下降沿，分别为所述第二计数周期的起点和终点。

7.一种RC振荡器自校准电路，其特征在于，包括：

RC振荡器，所述RC振荡器包括主振荡器和参考振荡器；所述主振荡器用于根据测试信号产生具有对应频率的输出振荡信号，所述参考振荡器用于产生具有特定频率的参考振荡信号；

自校准电路，所述自校准电路测试调试电路、用户调试电路和寄存器；所述测试调试电路，用于在第一环境下，根据所述输出振荡信号和所述参考振荡信号产生对应的测试信号；所述用户调试电路，用于在第二环境下，根据所述输出振荡信号和所述参考振荡信号产生对应的测试信号；所述寄存器，用于存储所述测试调试电路产生的信号数据。

8.如权利要求7所述的RC振荡器自校准电路，其特征在于，所述测试调试电路包括：

调试模块，用于根据测试计数信号，测量所述输出振荡信号在测试计数周期中的振荡次数；用于判断该输出振荡信号，在测试计数周期中的振荡次数，是否达到振荡输出目标值，若未达到所述振荡输出目标值，所述调试模块调整输出的测试信号至第一测试信号。

使能模块，用于以所述第一参考振荡信号，作为第一计数信号，测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数；用于判断第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否位于输出信号振荡目标范围内，确定位于所述输出信号振荡目标范围内，所述使能模块输出能够使得该用户调试电路工作的控制信号。

9.如权利要求7所述的RC振荡器自校准电路，其特征在于，所述用户调试电路，用于获取所述RC振荡器在第二环境下，产生的第二参考振荡信号，和根据第一测试信号产生的第二输出振荡信号；

用于以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号，测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数；

用于比较所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数，是否一致；若确定不一致，所述用户调试电路调整所述测试信号，直至使得所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数，与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数一致。

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