CN112906231A - 一种电路元器件工作寿命抽样检验方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样,采用定时截尾一次计数抽样检验方法,即从总体中抽出规定的样本容量n,在规定的工作应力下,试验到规定时间t时截止试验,试验中出现的不合格样品数r,不应超过规定的合格判定数c。本发明设计的抽样检验方案,解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。

Description

一种电路元器件工作寿命抽样检验方法
技术领域
本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,特别是涉及一种Weibull寿命分布函数的电路元器件,在规定工作应力下,评定工作寿命的抽样检验的设计方法。
背景技术
市场对于有可靠性指标的压敏电阻器(MOV),避雷器阀片(MOA),以及MOV型SPD的需求,日趋迫切。例如安装在维修人员难以到达地点的产品,要求有10年或20年的可靠工作寿命,如何进行寿命评定,成为国际技术标准必须解决的紧迫课题。
此前,对于MOV在电压/温度应力(U-T应力)下的寿命鉴定,已经提出过一个失效率等级试验抽样方案。该方案是依据MIL-STD-690D(GJB-2649)制定的,它只适用于失效率λ(t)为常数的寿命分布,而不适用于寿命分布类型是Weibull分布的情况。
近几年的实验研究表明,MOV和MOA在电压-温度-湿度应力下,和在脉冲电流应力下的寿命分布类型,都是Weibull分布,而且,它们的Weibull分布的形状参数β,对于一定型号规格的MOV和MOA,是比较稳定的,但它们的Weibull分布的尺度参数η,则与产品瓷料配方,生产工艺和产品设计,有较强的相关性。这些新的研究成果,为本发明奠定了技术基础。
发明内容
为了克服上述不足,本发明公开了一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,能用于MOV,MOA和MOV型SPD的产品寿命评定。
本发明公开的电路元器件工作寿命的抽样检验方法,包括下面五个步骤:
(1)确定被评定电路元器件要求的tR的额定值tRR,tR是产品在规定工作应力下可靠度为R的平均寿命,当工作应力是连续电压-温度-湿度时,tR以“小时”为单位,当工作应力是脉冲电流时,tR以“脉冲次数”为单位。
(2)确定被评定电路元器件的Weibull寿命分布形状参数β;
(3)选定抽样试验样品数n和允许不合格品数c;
(4)依据上面步骤(1)-(3)确定的[tRR,β,n,c],从抽样检验表中查得试验小时数t或试验脉冲次数t对于tRR的比值,计算出试验试验小时数t或试验脉冲次数t;
(5)在规定的试验应力下对n只样品进行寿命试验,试验到t时停止,若失效样品数不大于c值,则判定被评定产品合格,反之判定不合格。
所述抽样检验表是通过抽样特性方程计算的,抽样特性方程,即OC曲线的自变量x,是产品的受控质量指标,用在规定工作应力下,产品可靠度R的平均寿命tR表示,抽样特性方程的函数值y,是产品的使用方接受概率L;tR为规定的额定值tRR时的使用方接受概率,即使用方风险Lris
实施上述五个工作步骤的核心技术,是建立抽样特性方程(OC曲线),然后根据抽样特性方程,设计计算抽样表。推导抽样特性方程的过程如下。
对于形状参数为β,特征寿命为η的Weibull分布,一个产品在[0,t]时间内的失效概率为:
Figure BDA0002965042820000021
式中t指试验时间,或试验次数;
一个产品在[0,t]时间内的未失效概率,也就是可靠度R为:
Figure BDA0002965042820000031
n只产品在[0,t]时间内失效r只的概率为:
Figure BDA0002965042820000032
在确定的[t,n,c]的条件下,抽样方案的接受概率:
Figure BDA0002965042820000033
式(2.4)中的接受概率是η的函数,要把它变换成tR的函数,为此作如下变换:
Figure BDA0002965042820000034
Figure BDA0002965042820000039
于是有
Figure BDA0002965042820000036
这样,式(2.4)可改写为式(2.5)
Figure BDA0002965042820000037
式(2.5)是产品被接受概率的一般表达式,它是二项分布概率公式,也就是n重贝努里试验的概率。
通常的做法是,规定L(tR)为使用方风险0.1,它的它的物理意义是:10批tR=tRR的产品中,有1批被接受,9批被拒收。
这样,式(2.5)可表示为式(2.6)
Figure BDA0002965042820000038
为了看起来方便,把指数
Figure BDA0002965042820000041
用符号“ε”来代表
Figure BDA0002965042820000042
于是有:
Figure BDA0002965042820000043
这样,(2.6)可改写为式(2.9)
Figure BDA0002965042820000044
式(2.9)说明,使用方接受概率L,对于失效产品数r=0,r=1,r=2三种情况的每一种,都是
Figure BDA0002965042820000045
[1-Rε]r,[Rε]n-r三项的乘积。在不合格判定数c=0的情况下,L只是r=0的概率,在c=1的情况下,L是r=0和r=1的概率和,在c=2的情况下,L是r=0,r=1,r=2三者的概率之和。为了看起来方便,把r=0,r=1,r=2三种情况用表1来表示。
表1,抽样特性方程(OC曲线)的汇总表
Figure BDA0002965042820000046
在表1,2,3中,[Rε]n=[0.9ε]n
依据表1,就可以设计计算抽样检验表了。
本发明的有益效果是:
本发明设计的抽样检验方案,解决了目前压敏电阻器(MOV)和避雷器阀片(MOA)无寿命评定方法可循的难题。
附图说明
图1是本发明的抽样特性方程的示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。
实施例:
用抽样特性方程计算抽样表2,3,4。
表2.c=0条件下,试验时间t(试验次数N)对于规定的可靠度R=0.9的寿命时间t0.9(寿命次数N0.9)之比
Figure BDA0002965042820000051
表3.c=1条件下,试验时间t(试验次数N)对于规定的可靠度R=0.9的寿命时间t0.9(寿命次数N0.9)之比
Figure BDA0002965042820000061
表4.c=2条件下,试验时间t(试验次数N)对于规定的可靠度R=0.9的寿命时间t0.9(寿命次数V0.9)之比
Figure BDA0002965042820000062
Figure BDA0002965042820000071
(1)β=0.6,c=0条件下,
Figure BDA0002965042820000072
的计算方法
下表5是以n=13,14,15为例的计算过程。
表5,n=13,14,15为例的计算过程
Figure BDA0002965042820000073
(2)β=0.6,c=1,和c=2条件下,
Figure BDA0002965042820000074
的计算方法
这两项的计算公式(2.9.1)和(2.9.2),不能变换成一个简单的公式,来直接算出
Figure BDA0002965042820000075
一个简单易行的找到答案的方法,是在Excel表中用试算法进行计算,即给定一个ε,计算f(ε),直到f(ε)<0.0001为止。下面以n=15,c=1,作为一个例子。首先,将n=15,c=1,代入式(2.9.1),得到下式,
f(ε)=[0.9ε]15+15×[1-0.9ε]1×[0.9ε]14-0.1=0
然后,在Excel表中用试算法进行计算,计算过程如下:
给定一个ε,计算f(ε),直到f(ε)<0.0001为止。由于在同一n下,c=1的
Figure BDA0002965042820000076
和ε值比c=0的大,因此,试算起点的ε,应比c=0时的ε(1.4570)大,因此,下表6从ε=1.5开始试算,得到
Figure BDA0002965042820000081
表6
Figure BDA0002965042820000082
(3)形状参数β不同时,比值
Figure BDA0002965042820000083
的计算
通过上面的计算,得到了在[n,c,β=0.6]条件下的
Figure BDA0002965042820000084
其他β值条件下的
Figure BDA0002965042820000085
可以利用公式(2.10.2),从β=0.6条件下的
Figure BDA0002965042820000086
推算出来,从而,节省很多计算工作量.。
若β1对应t12对应t2,则有:
Figure BDA0002965042820000087
Figure BDA0002965042820000088

Claims (2)

1.一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,适用于形状参数β为已知的Weibull寿命分布电路元器件的工作寿命抽样检验,采用定时截尾一次计数抽样检验方法,其特征在于包括如下步骤:
(1)确定被评定电路元器件要求的tR的额定值tRR,tR是产品在规定工作应力下可靠度为R的平均寿命,当工作应力是连续电压-温度-湿度时,tR的单位为小时,当工作应力是脉冲电流时,tR的单位为脉冲次数;
(2)确定被评定电路元器件的Weibull寿命分布形状参数β;
(3)选定抽样试验样品数n和允许不合格品数c;
(4)依据上面步骤(1)-(3)确定的[tRR,β,n,c],从抽样检验表中查得试验小时数t或试验脉冲次数t对于tRR的比值,计算出试验试验小时数t或试验脉冲次数t;
(5)在规定的试验应力下对n只样品进行寿命试验,试验到t时停止,若失效样品数不大于c值,则判定被评定产品合格,反之判定不合格。
2.根据权利要求1所述的一种电路元器件工作寿命抽样检验方法,其特征在于,所述抽样检验表是通过抽样特性方程计算的,抽样特性方程,即OC曲线的自变量x,是产品的受控质量指标,用在规定工作应力下,产品可靠度R的平均寿命tR表示,抽样特性方程的函数值y,是产品的使用方接受概率L;tR为规定的额定值tRR时的使用方接受概率,即使用方风险Lris
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