CN112883314A - 一种请求处理方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本申请示出了一种请求处理方法及装置。在本申请中,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,以预设处理逻辑处理测试请求,获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长;响应于测试平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。通过本申请可以提高处理第N+1组时序的请求的效率,可以提高第N+1组时序的请求的发送方对应的用户的体验,可以尽可能的降低电子设备崩溃的概率,以及可以提高对第N+2组时序的请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)。
Description
技术领域
本申请涉及计算机技术领域,特别是涉及一种请求处理方法及装置。
背景技术
在互联网环境下,网络上的平台可以对广大用户提供数据服务,例如,网络上的平台与广大用户使用的终端对接,接收用户的终端发送的请求,并对请求处理得到处理结果,向用户的终端返回处理结果,以实现为用户提供数据服务的目的。
发明内容
本申请示出了一种请求处理方法及装置。
第一方面,本申请示出了一种请求处理方法,所述方法包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,所述测试请求包括第N组时序的请求和/或所述第N+1组时序的请求;
响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,则以所述预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,间隔第二预设时长之后,再执行所述以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长的步骤。
在一个可选的实现方式中,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,缓存所述第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述以预设处理逻辑处理测试请求,包括:
获取已缓存的第N组时序的请求;
以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,包括:
统计以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为所述测试平均时长。
在一个可选的实现方式中,所述方法还包括:
响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,删除缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述方法还包括:
响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,则以预设处理结果响应所述第N+2组时序的请求,以及,执行所述以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长的步骤。
第二方面,本申请示出了一种请求处理装置,所述装置包括:
第一响应模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,第一处理模块,用于以预设处理逻辑处理测试请求,获取模块,用于获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,所述测试请求包括第N组时序的请求和/或所述第N+1组时序的请求;
第二处理模块,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,则以所述预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
所述第一处理模块还用于:响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,间隔第二预设时长之后,再以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
缓存模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,缓存所述第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述第一处理模块包括:
获取单元,用于获取已缓存的第N组时序的请求;
处理单元,用于以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述获取模块包括:
统计单元,用于统计以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为所述测试平均时长。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
删除模块,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,删除缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
第三处理模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
第二响应模块,用于响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,则以预设处理结果响应所述第N+2组时序的请求;
所述第一处理模块还用于:响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
第三方面,本申请示出了一种电子设备,所述电子设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行如第一方面所述的请求处理方法。
第四方面,本申请示出了一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行如第一方面所述的请求处理方法。
第五方面,本申请示出了一种计算机程序产品,当所述计算机程序产品中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行如第一方面所述的请求处理方法。
本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果:
在本申请中,以预设处理逻辑处理第N组时序的请求,以及获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,则往往可以说明电子设备出现故障,这样,电子设备往往无法以预设处理逻辑成功处理(之后接收到的)第N+1组时序的请求,如此,可以不以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求,而是使用事先设置的预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求的过程耗费的时长可以小于第一预设时长,如此,可以避免电子设备在“以预设处理逻辑无法成功处理第N+1组时序的请求的情况下”仍旧针对各个第N+1组时序的请求依次耗费第一预设时长,从而可以提高处理第N+1组时序的请求的效率。
如此,一方面,对于第N+1组时序的请求的发送方,等待小于第一预设时长的时长就能得到处理结果,减少了等待时长,从而可以提高第N+1组时序的请求的发送方对应的用户的体验。
另一方面,由于每一个第N+1组时序的请求使用事先设置的预设处理结果响应的过程只需占用小于第一预设时长的时长,因此,在电子设备是串行地依次处理各个请求的情况下,可以减少请求在电子设备中堆积的可能性以及减少请求在电子设备中堆积的数量,从而可以尽可能的降低电子设备崩溃的概率。
另外,电子设备还可以以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,以及,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,说明电子设备的故障已经消除,进而说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理请求,如此,电子设备就可以以预设处理逻辑处理(之后接收到的)第N+2组时序的请求。
通过本申请,可以使得在“以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长小于或等于第一预设时长”的情况下第N+2组时序的请求能够被按照预设处理逻辑处理,由于以预设处理逻辑对请求处理后得到的处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)往往优于预设处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等),如此,相比于以预设处理结果响应第N+2组时序的请求,本申请以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求可以提高对第N+2组时序的请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)。
附图说明
图1是本申请的一种请求处理方法的步骤流程图;
图2是本申请的一种请求处理装置的结构框图;
图3是本申请示出的一种电子设备的框图;
图4是本申请示出的一种电子设备的框图。
具体实施方式
为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。
参照图1,示出了本申请的一种请求处理方法的步骤流程图,该方法具体可以包括如下步骤:
在步骤S101中,以预设处理逻辑处理第N组时序的请求,以及获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长。
在本申请中,电子设备可以对外提供数据服务,例如,电子设备可以接收外部发送的请求,然后对接收到的请求以预设处理逻辑处理,得到处理结果,然后向请求的发送方返回处理结果,以使请求的发送方可以得到处理结果,从而实现对请求的发送方提供数据服务。
然而,有时候,电子设备可能会出现故障,在电子设备出现故障的情况下,可能会由于故障而导致电子设备无法以预设处理逻辑成功处理请求,例如,通常无法短时间内以预设处理逻辑成功处理请求,这样就一直无法得到处理结果,请求会一直处于未处理完毕状态,进而会导致请求超时(例如,在处理请求的持续时长大于第一预设时长的情况下,则可以看作请求超时)。
另外,在电子设备未出现故障的情况下,电子设备往往可以正常地以预设处理逻辑处理请求,且通常会在短时间内(小于第一预设时长)就能够以预设处理逻辑成功处理请求,并得到处理结果。
如此,事先可以统计电子设备之前以预设处理逻辑已成功处理的大量的请求,然后统计电子设备之前以预设处理逻辑处理这些已成功处理的大量的请求的处理时长,然后根据电子设备之前以预设处理逻辑处理这些已成功处理的大量的请求的处理时长设置第一预设时长。
例如,可以计算电子设备之前以预设处理逻辑处理这些已成功处理的大量的请求的处理时长的平均时长,根据该平均时长确定第一预设时长,例如,可以将大于该平均时长的一个时长作为第一预设时长等,例如,将平均时长的1.1倍的时长或1.2倍的时长等作为第一预设时长等。
这样,由于“在电子设备未出现故障的情况下,电子设备往往可以正常地以预设处理逻辑处理请求,且通常会在短时间内就能够以预设处理逻辑成功处理请求,并得到处理结果”,且这个短时间可以小于第一预设时长,因此,如果电子设备以预设处理逻辑处理一个请求的处理时长小于或等于第一预设时长,则往往说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理这个请求。
另外,由于“在电子设备出现故障的情况下,可能会由于故障而导致电子设备无法以预设处理逻辑成功处理请求,例如,通常无法短时间内以预设处理逻辑成功处理请求,这样就一直无法得到处理结果,请求会一直处于未处理完毕状态,进而会导致请求超时(例如,在处理请求的持续时长大于第一预设时长的情况下,则可以看作请求超时)”,因此,如果电子设备以预设处理逻辑处理一个请求的处理时长大于第一预设时长,则往往可以说明电子设备出现故障,其无法以预设处理逻辑成功处理这个请求。
因此,如果电子设备出现故障,则可能会无法以预设处理逻辑成功处理至少一个请求,这样存在至少两方面的问题:
一方面,对于请求的发送方,等待第一预设时长都可能无法得到处理结果,等待时长较长,会降低请求的发送方对应的用户的体验。
另一方面,由于电子设备出现故障,每一个请求被电子设备以预设处理逻辑时都需要占据第一预设时长,在电子设备是串行地依次处理各个请求的情况下,会导致请求在电子设备中大量堆积,进而可能会导致电子设备崩溃。
所以,为了至少解决上述两方面的问题,在本申请中,在电子设备以预设处理逻辑处理外部发送的请求的情况下,可以实时获取电子设备以预设处理逻辑处理外部发送的请求的预设时长。
例如,在电子设备以预设处理逻辑处理第N组时序的请求的情况下,可以获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,然后执行步骤S102。
其中,第N组时序的请求可以包括一个请求,也可以为至少两个请求等。
第N组时序的请求可以是电子设备近期处理的一个或至少两个请求等,例如,电子设备在当前时刻之前的预设时间段内处理的一个或至少两个请求等。
其中,当前时刻之前的预设时间段的结束时刻可以为当前时刻,也可以为位于当前时刻之前且距离当前时刻较近的时刻。
预设时间段的持续时长可以包括1秒钟、5秒钟、10秒钟或20秒钟等等,具体可以根据实际情况设定,本申请对此不加以限定。
在获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长时,可以分别统计电子设备处理第N组时序的请求中的各个请求的过程所耗费的处理时长,然后计算分别处理第N组时序的请求中的各个请求的过程所耗费的处理时长的平均值,得到第N个平均时长。
在步骤S102中,确定第N个平均时长是否大于第一预设时长。
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,在步骤S103中,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,测试请求包括第N组时序的请求和/或第N+1组时序的请求。
在本申请中,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则可以以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求等。或者,可以将第N+1组时序的请求看作第N组时序的请求,并执行步骤S101。
在本申请中,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,则往往说明电子设备可能出现故障,在电子设备出现故障的情况下,电子设备在以预设处理逻辑处理后续接收到的每一个请求的过程都会持续至少第一预设时长,例如,电子设备通常无法短时间内以预设处理逻辑成功处理一个请求,且一直无法得到处理结果,这个请求会一直处于未处理完毕状态,直至电子设备处理这个请求的持续时长达到第一预设时长,然后电子设备才会默认得出对以预设处理逻辑对这个请求处理失败的结果(例如空的结果等),并向这个请求的发送方返回处理失败的结果(例如空的结果等),结束对这个请求的处理。
之后电子设备可以继续以预设处理逻辑处理接收到的下一个请求。但是,在电子设备出现故障的情况下,电子设备在以预设处理逻辑处理后续接收到的每一个请求的过程都会持续至少第一预设时长,例如,电子设备通常无法短时间内以预设处理逻辑成功处理下一个请求,且一直无法得到处理结果,下一个请求会一直处于未处理完毕状态,直至电子设备处理下一个请求的持续时长达到第一预设时长,然后电子设备才会默认得出对以预设处理逻辑对下一个请求处理失败的结果(例如空的结果等),并向下一个请求的发送方返回处理失败的结果(例如空的结果等),然后结束对下一个请求的处理,以此类推,电子设备可以继续以预设处理逻辑处理接收到的又一个请求。
然而,这样会存在至少上述两方面的问题。
所以,为了至少解决上述两方面的问题,在本申请中,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,可以以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,预设处理结果可以包括事先在电子设备中设置的用于响应请求的一个默认结果。预设处理结果可以为非空的结果。
其中,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求的过程耗费的时长可以小于第一预设时长。
例如,假设请求用于根据用户的特征来为用户个性化地推荐用户感兴趣的信息,则预设处理逻辑可以包括将用户的特征输入事先训练的个性化推荐模型中,以使个性化推荐模型输出用户感兴趣的信息,然而,假设由于电子设备故障导致个性化推荐模型未成功加载,则电子设备就无法利用个性化推荐模型来向用户推荐用户感兴趣的信息。
这样,一种可行的方式是,电子设备向请求的发送方返回处理失败的结果,例如,空的结果等,这样,请求的发送方可以接收空的结果,由于空的结果中不包括实体内容,也即,不包括用户感兴趣的信息,请求的发送方也无法显示出实体内容,也即,无法显示出用户感兴趣的信息,如此,用户看到的是空的内容,看不到推荐的信息,这样很可能会降低用户体验。
因此,为了提高用户体验,可以以预设处理结果响应请求。
例如,一种可行的方式是,电子设备向请求的发送方返回预设处理结果,预设处理结果可以包括事先设置的广大用户普遍感兴趣的信息等,这样,请求的发送方可以接收预设处理结果,请求的发送方可以显示出预设处理结果,用户可以看到预设处理结果,也即,用户可以看到推荐的信息,从而相比于前述方式的“用户看到的是空的内容,看不到推荐的信息”可以提高用户体验。
在本申请另一实施例中,如果以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则往往说明电子设备未能以预设处理逻辑成功处理第N组时序的请求,无法得到以预设处理逻辑成功处理第N组时序的请求之后需要得到的处理结果,一种可行的方式是,电子设备向第N组时序的请求的发送方返回空的结果,这样,第N组时序的请求的发送方可以接收空的结果,由于空的结果中不包括实体内容,第N组时序的请求的发送方也无法显示出实体内容,如此,用户看到的是空的内容,这样很可能会降低用户体验。
因此,为了避免降低用户体验,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,可以以预设处理结果响应第N组时序的请求,例如,根据第N组时序的请求向第N组时序的请求的发送方返回预设处理结果,至少使得用户可以得到一个非空的处理结果,从而相比于前述方式的“用户看到的是空的内容”可以提高用户体验。
其中,在本申请中,电子设备的希望的方式是以预设处理逻辑来处理接收到的请求,也即,是希望以预设处理逻辑来处理之后接收到的请求,而不是一直以预设处理结果响应之后接收到的请求,以预设处理结果响应之后接收到的请求仅仅是在“以预设处理逻辑无法成功处理请求”的情况下的一个备选方式而已。
其中,以预设处理逻辑对请求处理后得到的处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)往往优于预设处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等),因此,为了提高对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等),可以尽可能地以预设处理逻辑处理之后接收到的请求。
但是,需要等待电子设备的故障消除之后再以预设处理逻辑处理之后接收到的请求。
其中,为了确定电子设备的故障是否消除,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,电子设备可以以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,以及确定测试平均时长是否小于或等于第一预设时长。
以预设处理逻辑处理测试请求是用于检测电子设备的故障消除,因此,电子设备在以预设处理逻辑处理测试请求得到处理结果之后,可以不向测试请求的发送方返回处理结果。避免测试请求的发送方重复接收到处理结果,例如,避免第N个时序的请求的发送方重复接收到处理结果和/或第N+1个时序的请求的发送方重复接收到处理结果。
由于“在电子设备未出现故障的情况下,电子设备往往可以正常以预设处理逻辑处理请求,且通常会在短时间内就能够以预设处理逻辑成功处理请求,并得到处理结果”,且这个短时间可以小于第一预设时长,因此,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,则往往说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理之后接收到的请求,说明电子设备的故障已经消除。
另外,由于“在电子设备出现故障的情况下,可能会由于故障而导致电子设备无法以预设处理逻辑成功处理请求,例如,通常无法短时间内以预设处理逻辑成功处理请求,这样就一直无法得到处理结果,请求会一直处于未处理完毕状态,进而会导致请求超时(例如,处理请求的持续时长大于第一预设时长的情况下,则可以看作请求超时)”,因此,在测试平均时长大于第一预设时长的情况下,则往往说明电子设备无法以预设处理逻辑成功处理之后接收到的请求,说明电子设备的故障还未消除。
在步骤S104中,确定测试平均时长是否小于或等于第一预设时长。
响应于测试平均时长小于或等于第一预设时长,在步骤S105中,以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
在本申请一个实施例中,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,说明电子设备的故障已经消除,则说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理请求,因此,可以预设处理逻辑处理之后接收到的第N+2组时序的请求。
在本申请另一实施例中,在测试平均时长大于第一预设时长的情况下,说明电子设备的故障还未消除,还需要继续等待电子设备恢复至故障消除的状态,如此,在继续等待电子设备恢复至故障消除的状态的过程中,电子设备可以继续以预设处理结果响应之后接收到的第N+2组时序的请求,以及,可以执行步骤S103中的“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的流程。以确定电子设备的故障是否消除。
在本申请中,以预设处理逻辑处理第N组时序的请求,以及获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,则往往可以说明电子设备出现故障,这样,电子设备往往无法以预设处理逻辑成功处理(之后接收到的)第N+1组时序的请求,如此,可以不以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求,而是使用事先设置的预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求的过程耗费的时长可以小于第一预设时长,如此,可以避免电子设备在“以预设处理逻辑无法成功处理第N+1组时序的请求的情况下”仍旧针对各个第N+1组时序的请求依次耗费第一预设时长,从而可以提高处理第N+1组时序的请求的效率。
如此,一方面,对于第N+1组时序的请求的发送方,等待小于第一预设时长的时长就能得到处理结果,减少了等待时长,从而可以提高第N+1组时序的请求的发送方对应的用户的体验。
另一方面,由于每一个第N+1组时序的请求使用事先设置的预设处理结果响应的过程只需占用小于第一预设时长的时长,因此,在电子设备是串行地依次处理各个请求的情况下,可以减少请求在电子设备中堆积的可能性以及减少请求在电子设备中堆积的数量,从而可以尽可能的降低电子设备崩溃的概率。
另外,电子设备还可以以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,以及,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,说明电子设备的故障已经消除,进而说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理请求,如此,电子设备就可以以预设处理逻辑处理(之后接收到的)第N+2组时序的请求。
通过本申请,可以使得在“以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长小于或等于第一预设时长”的情况下第N+2组时序的请求能够被按照预设处理逻辑处理,由于以预设处理逻辑对请求处理后得到的处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)往往优于预设处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等),如此,相比于以预设处理结果响应第N+2组时序的请求,本申请以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求可以提高对第N+2组时序的请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)。
在本申请一个实施例中,在步骤S102中,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,并行地,可以以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
例如,在一个方式中,一旦确定出以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则可以立即执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤,以尽快得到以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,并尽快确定出以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长是否小于或等于第一预设时长,以确定出电子设备的故障是否消除。在电子设备的故障消除的情况下,可以尽快以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求,以使地更多的请求能够被按照希望的预设处理逻辑处理,以提高对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)。
另外,在一个实施例中,在确定出电子设备的故障未消除的情况下,立刻再次执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤,以尽快得到以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,并尽快确定出以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长是否小于或等于第一预设时长,以确定出电子设备的故障是否消除,直至确定出电子设备的故障消除为止。
然而,在电子设备故障之后,无论是技术人员手动检测维修电子设备,还是电子设备对自身进行自动检测维修,都需要经过一段时间之后电子设备才能消除故障。
也即,在实际情况中,电子设备故障之后,即使之后会消除故障,也是需要经过一段时间才能消除故障。
如此,在这一段时间内,即使得到了以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,但是由于在这一段时间内电子设备的故障还未消除,因此得到的以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长也会大于第一预设阈值,也即,根据在这一段时间内得到的以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长会确定出电子设备的故障未消除。
直至电子设备的故障在客观上消除(至少经过了这一段时间)之后,以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长才会小于或等于第一预设阈值,这时候才能够确定出电子设备的故障已消除。
可见,在这一段时间内,执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤是没有实际意义的,会浪费电子设备的系统资源。
甚至有时候在这一段时间内反复执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤,会极大地浪费电子设备的系统资源。
因此,为了节省电子设备的系统资源,在本申请另一实施例中,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,可以不立刻执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤,可以间隔第二预设时长之后,再执行“以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长”的步骤。
第二预设时长可以为事先统计的电子设备消除故障通常所需要耗费的时长等。
在本申请一个实施例中,在步骤S103中,在以预设处理逻辑处理测试请求时,可以是以预设处理逻辑处理实时接收到的请求(例如实时接收到的第N+1组时序的请求等),然而,通过以预设处理逻辑处理实时接收到的第N+1组时序的请求对应的第N+1个平均时长来确定电子设备的故障是否消除可能会出现误判情况。
例如,在一个可能的情况下,电子设备出现的故障对不同的请求的影响不尽相同。
例如,对于某些请求,电子设备出现的故障会对“以预设处理逻辑处理这些请求”的过程会带来影响,例如,以预设处理逻辑处理这些请求的处理时长会变长,但是处理时长可能并不会超过第一预设时长。
再例如,对于另一些请求,电子设备出现的故障会对“以预设处理逻辑处理这些请求”的过程会带来影响,例如,以预设处理逻辑处理这些请求的处理时长会变长,但是处理时长会超过第一预设时长。
也即,在电子设备处理某一些请求的处理时长小于或等于第一预设时长的情况下,电子设备可能出现故障也可能未出现故障。
以及,在电子设备处理某一些请求的处理时长大于第一预设时长的情况下,电子设备往往是出现了故障。
这样,在“以预设处理逻辑处理实时接收到的第N+1组时序的请求”时,如果实时接收到的第N+1组时序的请求恰好是受电子设备出现的故障影响较小的一类请求,则以预设处理逻辑处理实时接收到的第N+1组时序的请求对应的第N+1个平均时长可能会小于第一预设时长,此时由于处理实时接收到的第N+1组时序的请求对应的第N+1个平均时长小于或等于第一预设时长,则会默认确定电子设备的故障已经消除,但实际上电子设备的故障并没有消除,这就出现了误判情况。出现误判情况就很可能出现步骤S101中描述的至少两方面的问题。
因此,为了避免出现步骤S101中描述的至少两方面的问题,需要避免出现误判情况,为了避免误判情况出现,在本申请另一实施例中,上一次使用处理哪些请求对应的平均处理时长确定出电子设备出现故障,则此时可以使用处理这些请求的对应平均处理时长来试探电子设备的故障是否消除。
例如,由于之前是使用以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长(大于第一预设阈值)确定出电子设备出现故障,则此时可以使用以预设处理逻辑再次处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长来试探电子设备的故障是否消除。
为了能够使用以预设处理逻辑再次处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长来试探电子设备的故障是否消除,在本申请另一实施例中,响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,电子设备可以缓存第N组时序的请求。
如此,在步骤S103中,在以预设处理逻辑处理测试请求时,可以获取已缓存的第N组时序的请求,然后以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
以及,在获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长时,可以获取以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为测试平均时长。
通过本实施例,由于之前是使用以预设处理逻辑再次处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长(大于第一预设阈值)确定出电子设备出现故障,如此,可以获取已缓存的第N组时序的请求,然后以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求,并获取以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,再通过以预设处理逻辑再次处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长与第一预设时长之间的大小关系可以准确确定出电子设备是否消除异常,避免误判情况发生,从而可以避免出现步骤S101中描述的至少两方面的问题。
进一步地,在本申请另一实施例中,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,则说明电子设备的故障已经消除,之后可以以预设处理逻辑处理之后接收到的请求,之后也就不再需要以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长来试探电子设备的故障是否消除,也即,电子设备之后可以不再使用已缓存的第N组时序的请求了,从而为了节省存储空间,电子设备可以删除缓存的缓存的第N组时序的请求。
需要说明的是,对于方法实施例,为了简单描述,故将其都表述为一系列的动作组合,但是本领域技术人员应该知悉,本申请并不受所描述的动作顺序的限制,因为依据本申请,某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次,本领域技术人员也应该知悉,说明书中所描述的实施例均属于可选实施例,所涉及的动作并不一定是本申请所必须的。
参照图2,示出了本申请的一种请求处理装置的结构框图,该装置具体可以包括如下模块:
第一响应模块11,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,第一处理模块12,用于以预设处理逻辑处理测试请求,获取模块13,用于获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,所述测试请求包括第N组时序的请求和/或所述第N+1组时序的请求;
第二处理模块14,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,则以所述预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
所述第一处理模块还用于:响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,间隔第二预设时长之后,再以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
缓存模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,缓存所述第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述第一处理模块包括:
获取单元,用于获取已缓存的第N组时序的请求;
处理单元,用于以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述获取模块包括:
统计单元,用于统计以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为所述测试平均时长。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
删除模块,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,删除缓存的第N组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
第三处理模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求。
在一个可选的实现方式中,所述装置还包括:
第二响应模块,用于响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,则以预设处理结果响应所述第N+2组时序的请求;
所述第一处理模块还用于:响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
在本申请中,以预设处理逻辑处理第N组时序的请求,以及获取以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,在以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长的情况下,则往往可以说明电子设备出现故障,这样,电子设备往往无法以预设处理逻辑成功处理(之后接收到的)第N+1组时序的请求,如此,可以不以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求,而是使用事先设置的预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以预设处理结果响应第N+1组时序的请求的过程耗费的时长可以小于第一预设时长,如此,可以避免电子设备在“以预设处理逻辑无法成功处理第N+1组时序的请求的情况下”仍旧针对各个第N+1组时序的请求依次耗费第一预设时长,从而可以提高处理第N+1组时序的请求的效率。
如此,一方面,对于第N+1组时序的请求的发送方,等待小于第一预设时长的时长就能得到处理结果,减少了等待时长,从而可以提高第N+1组时序的请求的发送方对应的用户的体验。
另一方面,由于每一个第N+1组时序的请求使用事先设置的预设处理结果响应的过程只需占用小于第一预设时长的时长,因此,在电子设备是串行地依次处理各个请求的情况下,可以减少请求在电子设备中堆积的可能性以及减少请求在电子设备中堆积的数量,从而可以尽可能的降低电子设备崩溃的概率。
另外,电子设备还可以以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,以及,在测试平均时长小于或等于第一预设时长的情况下,说明电子设备的故障已经消除,进而说明电子设备可以以预设处理逻辑成功处理请求,如此,电子设备就可以以预设处理逻辑处理(之后接收到的)第N+2组时序的请求。
通过本申请,可以使得在“以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长小于或等于第一预设时长”的情况下第N+2组时序的请求能够被按照预设处理逻辑处理,由于以预设处理逻辑对请求处理后得到的处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)往往优于预设处理结果对请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等),如此,相比于以预设处理结果响应第N+2组时序的请求,本申请以预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求可以提高对第N+2组时序的请求的发送方带来的优点(例如用户体验以及处理结果的准确率等)。
对于装置实施例而言,由于其与方法实施例基本相似,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
图3是本申请示出的一种电子设备800的框图。例如,电子设备800可以是移动电话,计算机,数字广播终端,消息收发设备,游戏控制台,平板设备,医疗设备,健身设备,个人数字助理等。
参照图3,电子设备800可以包括以下一个或多个组件:处理组件802,存储器804,电力组件806,多媒体组件808,音频组件810,输入/输出(I/O)的接口812,传感器组件814,以及通信组件816。
处理组件802通常控制电子设备800的整体操作,诸如与显示,电话呼叫,数据通信,相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件802可以包括一个或多个处理器820来执行指令,以完成上述方法的全部或部分步骤。此外,处理组件802可以包括一个或多个模块,便于处理组件802和其他组件之间的交互。例如,处理组件802可以包括多媒体模块,以方便多媒体组件808和处理组件802之间的交互。
存储器804被配置为存储各种类型的数据以支持在设备800的操作。这些数据的示例包括用于在电子设备800上操作的任何应用程序或方法的指令,联系人数据,电话簿数据,消息,图像,视频等。存储器804可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现,如静态随机存取存储器(SRAM),电可擦除可编程只读存储器(EEPROM),可擦除可编程只读存储器(EPROM),可编程只读存储器(PROM),只读存储器(ROM),磁存储器,快闪存储器,磁盘或光盘。
电源组件806为电子设备800的各种组件提供电力。电源组件806可以包括电源管理系统,一个或多个电源,及其他与为电子设备800生成、管理和分配电力相关联的组件。
多媒体组件808包括在所述电子设备800和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中,屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板,屏幕可以被实现为触摸屏,以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界,而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中,多媒体组件808包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当设备800处于操作模式,如拍摄模式或视频模式时,前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
音频组件810被配置为输出和/或输入音频信号。例如,音频组件810包括一个麦克风(MIC),当电子设备800处于操作模式,如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时,麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收到的音频信号可以被进一步存储在存储器804或经由通信组件816发送。在一些实施例中,音频组件810还包括一个扬声器,用于输出音频信号。
I/O接口812为处理组件802和外围接口模块之间提供接口,上述外围接口模块可以是键盘,点击轮,按钮等。这些按钮可包括但不限于:主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
传感器组件814包括一个或多个传感器,用于为电子设备800提供各个方面的状态评估。例如,传感器组件814可以检测到设备800的打开/关闭状态,组件的相对定位,例如所述组件为电子设备800的显示器和小键盘,传感器组件814还可以检测电子设备800或电子设备800一个组件的位置改变,用户与电子设备800接触的存在或不存在,电子设备800方位或加速/减速和电子设备800的温度变化。传感器组件814可以包括接近传感器,被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件814还可以包括光传感器,如CMOS或CCD图像传感器,用于在成像应用中使用。在一些实施例中,该传感器组件814还可以包括加速度传感器,陀螺仪传感器,磁传感器,压力传感器或温度传感器。
通信组件816被配置为便于电子设备800和其他设备之间有线或无线方式的通信。电子设备800可以接入基于通信标准的无线网络,如WiFi,运营商网络(如2G、3G、4G或5G),或它们的组合。在一个示例性实施例中,通信组件816经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播操作信息。在一个示例性实施例中,所述通信组件816还包括近场通信(NFC)模块,以促进短程通信。例如,在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术,红外数据协会(IrDA)技术,超宽带(UWB)技术,蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。
在示例性实施例中,电子设备800可以被一个或多个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现,用于执行上述方法。
在示例性实施例中,还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质,例如包括指令的存储器804,上述指令可由电子设备800的处理器820执行以完成上述方法。例如,所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。
图4是本申请示出的一种电子设备1900的框图。例如,电子设备1900可以被提供为一服务器。
参照图4,电子设备1900包括处理组件1922,其进一步包括一个或多个处理器,以及由存储器1932所代表的存储器资源,用于存储可由处理组件1922的执行的指令,例如应用程序。存储器1932中存储的应用程序可以包括一个或一个以上的每一个对应于一组指令的模块。此外,处理组件1922被配置为执行指令,以执行上述方法。
电子设备1900还可以包括一个电源组件1926被配置为执行电子设备1900的电源管理,一个有线或无线网络接口1950被配置为将电子设备1900连接到网络,和一个输入输出(I/O)接口1958。电子设备1900可以操作基于存储在存储器1932的操作系统,例如Windows ServerTM,Mac OS XTM,UnixTM,LinuxTM,FreeBSDTM或类似。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本领域内的技术人员应明白,本申请的实施例可提供为方法、装置、或计算机程序产品。因此,本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请的方法、终端设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理终端设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理终端设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理终端设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理终端设备上,使得在计算机或其他可编程终端设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程终端设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的相同要素。
以上对本申请所提供的一种请求处理方法及装置,进行了详细介绍,本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想;同时,对于本领域的一般技术人员,依据本申请的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本申请的限制。
Claims (18)
1.一种请求处理方法,其特征在于,所述方法包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,所述测试请求包括第N组时序的请求和/或所述第N+1组时序的请求;
响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,则以所述预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,间隔第二预设时长之后,再执行所述以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长的步骤。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,缓存所述第N组时序的请求。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述以预设处理逻辑处理测试请求,包括:
获取已缓存的第N组时序的请求;
以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,包括:
统计以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为所述测试平均时长。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,删除缓存的第N组时序的请求。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,则以预设处理结果响应所述第N+2组时序的请求,以及,执行所述以预设处理逻辑处理测试请求,并获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长的步骤。
9.一种请求处理装置,其特征在于,所述装置包括:
第一响应模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,则以预设处理结果响应第N+1组时序的请求,以及,第一处理模块,用于以预设处理逻辑处理测试请求,获取模块,用于获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长,其中,所述测试请求包括第N组时序的请求和/或所述第N+1组时序的请求;
第二处理模块,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,则以所述预设处理逻辑处理第N+2组时序的请求。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
所述第一处理模块还用于:响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,间隔第二预设时长之后,再以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
11.根据权利要求9或10所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
缓存模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长大于第一预设时长,缓存所述第N组时序的请求。
12.根据权利要求11所述的装置,其特征在于,所述第一处理模块包括:
获取单元,用于获取已缓存的第N组时序的请求;
处理单元,用于以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求。
13.根据权利要求12所述的装置,其特征在于,所述获取模块包括:
统计单元,用于统计以预设处理逻辑再次处理已缓存的第N组时序的请求对应的第N个平均时长,并作为所述测试平均时长。
14.根据权利要求13所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
删除模块,用于响应于所述测试平均时长小于或等于所述第一预设时长,删除缓存的第N组时序的请求。
15.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第三处理模块,用于响应于以预设处理逻辑处理的第N组时序的请求对应的第N个平均时长小于或等于第一预设时长,则以预设处理逻辑处理第N+1组时序的请求。
16.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第二响应模块,用于响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,则以预设处理结果响应所述第N+2组时序的请求;
所述第一处理模块还用于:响应于所述测试平均时长大于所述第一预设时长,以预设处理逻辑处理测试请求,所述获取模块还用于在以预设处理逻辑处理测试请求之后再获取以预设处理逻辑处理的测试请求对应的测试平均时长。
17.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为执行如权利要求1-8任一项所述的请求处理方法。
18.一种非临时性计算机可读存储介质,当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得电子设备能够执行如权利要求1-8任一项所述的请求处理方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114706820A (zh) * | 2022-05-18 | 2022-07-05 | 北京卡普拉科技有限公司 | 异步i/o请求的调度方法、系统、电子设备及介质 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018024057A1 (zh) * | 2016-08-01 | 2018-02-08 | 华为技术有限公司 | 用于访问业务的方法和装置 |
WO2019007245A1 (zh) * | 2017-07-04 | 2019-01-10 | 阿里巴巴集团控股有限公司 | 一种处理方法、控制方法、识别方法及其装置和电子设备 |
CN111078172A (zh) * | 2019-12-04 | 2020-04-28 | 在线途游(北京)科技有限公司 | 一种显示流畅度的调整方法、装置、电子设备及存储介质 |
CN111768288A (zh) * | 2020-06-02 | 2020-10-13 | 北京同邦卓益科技有限公司 | 业务处理方法、装置、电子设备及存储介质 |
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2021
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018024057A1 (zh) * | 2016-08-01 | 2018-02-08 | 华为技术有限公司 | 用于访问业务的方法和装置 |
WO2019007245A1 (zh) * | 2017-07-04 | 2019-01-10 | 阿里巴巴集团控股有限公司 | 一种处理方法、控制方法、识别方法及其装置和电子设备 |
CN111078172A (zh) * | 2019-12-04 | 2020-04-28 | 在线途游(北京)科技有限公司 | 一种显示流畅度的调整方法、装置、电子设备及存储介质 |
CN111768288A (zh) * | 2020-06-02 | 2020-10-13 | 北京同邦卓益科技有限公司 | 业务处理方法、装置、电子设备及存储介质 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
孙凯;张新燕;常喜强;周登钰;李振恩;罗嘉良;: "基于图像识别的叶片结冰检测方法研究", 四川电力技术, no. 02 * |
黄晓燕;高天德;刘品;: "基于GPIB中断请求的多台矢网自动记录系统设计", 仪表技术与传感器, no. 11 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114706820A (zh) * | 2022-05-18 | 2022-07-05 | 北京卡普拉科技有限公司 | 异步i/o请求的调度方法、系统、电子设备及介质 |
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