CN112798901B - 一种设备校准系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种设备校准系统及方法,涉及设备检测领域。该设备校准系统包括:数据获取模块、测试模块和图形模块;所述数据获取模块,用于获取测试数据,所述测试数据表征待测试设备的运行信息;所述图形模块,用于获取所述测试数据的至少一条拟合曲线;所述测试模块,用于将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态。
Description
技术领域
本申请涉及设备检测领域,具体而言,涉及一种设备校准系统及方法。
背景技术
目前在针对产品采集离散数据时,每一台所需的人工调试时间平均约为半天一台,甚至一天一台,并且效果只能到达合格。
此外,对于设备的调试,每台均由人工调试,难以保证同一批次的设备统一调试,这严重降低了包括宽带、带脉冲在内的产品的批量化的生产效率。如何精准的功率检测、开环控制成为目前亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此,本申请的目的在于提供一种设备校准系统及方法。
为了实现上述目的,本申请采用的技术方案如下:
第一方面,本申请提供一种设备校准系统,包括:数据获取模块、测试模块和图形模块;
所述数据获取模块,用于获取测试数据,所述测试数据表征待测试设备的运行信息;
所述图形模块,用于获取所述测试数据的至少一条拟合曲线;
所述测试模块,用于将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态。
在可选的实施例中,所述测试模块包括:闭环拟合模块和开环校准模块;
所述闭环拟合模块,用于基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定所述至少一条拟合曲线中的其他曲线;所述第一拟合曲线为所述至少一条拟合曲线中的任意一条曲线;
所述开环校准模块,用于当所述第一拟合曲线与第二阈值匹配时,将所述第二阈值作为所述其他曲线的校准参数。
在可选的实施例中,所述数据获取模块包括:下载模块、记录内联模块和上载模块;
所述下载模块,用于接收所述待测试设备的测试数据;
所述记录内联模块,用于将所述测试数据与所述待测试设备进行关联;
所述上载模块,用于将所述设备校准系统的校准信息发送至管理设备。
在可选的实施例中,所述图形模块包括:显示模块和编辑模块;
所述显示模块,用于根据所述测试数据显示所述至少一条拟合曲线;
所述编辑模块,用于根据操作信息调整所述至少一条拟合曲线。
在可选的实施例中,设备校准系统还包括:筛选模块;
所述筛选模块,用于将所述测试数据按照类型标识进行划分;
所述图形模块还用于生成每种所述类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
第二方面,本申请还提供一种设备校准方法,应用于设备校准系统,所述设备校准系统包括:数据获取模块、测试模块和图形模块;所述方法包括:
所述数据获取模块获取测试数据,所述测试数据表征待测试设备的运行信息;
所述图形模块获取所述测试数据的至少一条拟合曲线;
所述测试模块将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态。
在可选的实施例中,所述测试模块包括:闭环拟合模块和开环校准模块;
所述测试模块将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态,包括:
所述闭环拟合模块基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定所述至少一条拟合曲线中的其他曲线;所述第一拟合曲线为所述至少一条拟合曲线中的任意一条曲线;
当所述第一拟合曲线与第二阈值匹配时,所述开环校准模块将所述第二阈值作为所述其他曲线的校准参数。
在可选的实施例中,所述数据获取模块包括:下载模块、记录内联模块和上载模块;
所述数据获取模块获取测试数据,包括:
所述下载模块接收所述待测试设备的测试数据;
所述记录内联模块将所述测试数据与所述待测试设备进行关联;
所述上载模块将所述设备校准方法的校准信息发送至管理设备。
在可选的实施例中,所述图形模块包括:显示模块和编辑模块;
所述图形模块获取所述测试数据的至少一条拟合曲线,包括:
所述显示模块根据所述测试数据显示所述至少一条拟合曲线;
所述编辑模块根据操作信息调整所述至少一条拟合曲线。
在可选的实施例中,所述设备校准系统还包括:筛选模块,所述方法还包括:
所述筛选模块将所述测试数据按照类型标识进行划分;
所述图形模块生成每种所述类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
第三方面,本申请实施例提供一种电子设备,包括处理器和存储器,所述存储器存储有能够被所述处理器执行的机器可执行指令,所述处理器可执行所述机器可执行指令以实现前述实施例任意一项所述的方法。
第四方面,本申请提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现前述实施例任意一项所述的方法。
为使本申请的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本申请的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的一种设备校准系统的示意图;
图2为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图;
图3为本申请实施例提供的一种闭环拟合的示意框图;
图4为本申请实施例提供的一种开环校准的示意图;
图5为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图;
图6为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图;
图7为本申请实施例提供的一种界面显示示意图;
图8为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图;
图9为本申请实施例提供的一种曲线种类编辑示意图;
图10为本申请实施例提供的一种设备校准方法的流程示意图;
图11为本申请实施例提供的一种电子设备的方框示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
为了至少解决背景技术提出的不足,本申请提供一种设备校准系统,请参见图1,图1为本申请实施例提供的一种设备校准系统的示意图,该设备校准系统100包括:数据获取模块110、测试模块120和图形模块130。
该设备校准系统100可以以工程为单位,每一个工程对应不同需求的采样校准,也就是针对不同的项目,其可以具备新建工程、存储工程等选项,呈现工程列表的功能。
数据获取模块110用于获取测试数据,测试数据表征待测试设备的运行信息。
例如,该运行信息可以包括,但不限于功率信息等。又如,数据获取模块110可以在采集数据的时候通过通信接口给自动化测试平台发送数据记录指令,让该自动化测试平台辅助记录一系列参数,该自动化测试平台可以是部署在待测试设备上的参数采集系统。
又如,获取测试数据的流程可以是:打开系统软件;点击连接按钮进入设备连接界面;设定好对应的连接方式的连接参数;点击连接方式对应的的CON连接到设备,其中,连接方式根据设备的不同有所区别,选择一个即可,不做过多赘述。设置需要用到的测量仪器的连接参数,例如功率计;连接到测试仪器,例如功率计;进入自动校准界面。
图形模块130用于获取测试数据的至少一条拟合曲线。
在一些实施例中,图形模块130进行图形化数据处理可以通过二维曲线坐标系来实现。例如,每一个工程对应多种曲线,每一种曲线对应多条曲线,每一条曲线对应多组数据。
测试模块120用于将至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若每条拟合曲线收敛,则确定待测试设备处于正常状态。
也就是说,使用本申请提供的设备校准系统,可以实现不同设备的共存测试,由于不同设备具有相似的参数,使得宽带、带脉冲在内的产品的批量化快速生产,变成了可能。
在可选的实施例中,为了实现对待测试设备的测试,在图1的基础上,给出一种可能的实现方式,请参见图2,图2为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图,该测试模块120可以包括:闭环拟合模块120a和开环校准模块120b。
闭环拟合模块120a用于基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定至少一条拟合曲线中的其他曲线。第一拟合曲线为至少一条拟合曲线中的任意一条曲线。
如图3所示,图3为本申请实施例提供的一种闭环拟合的示意框图,其中包括<1>~<12>等不同的参数:
<1>:最大功率值,亦称为第一阈值,当整定时,拟合曲线的功率达到该值则停止当前曲线整定,继续下一条曲线整定。
<2>:索引起始值,一般为频率起始值。
<3>:索引终止值,一般为频率终止值。
<4>:在以索引起始值为起点,索引终止值为终点的整型索引带宽上,需要等比例分割带宽的份数,也就是在这个带宽上,需要等间距的整定多少条曲线数据。
<5>:自变量起始值:设置大了会出现数据漏采,数据小了会出现大量垃圾数据,需要通过开环实验以经验获取设置一个合适的值。
<6>:自变量终止值,达到该值则停止当前曲线整定,继续下一条曲线整定。
<7>:以自变量起始值为起点,自变量终止值为终点的带宽上,需要等间距设定的自变量的数量。例如,当前曲线会采集多少个点。可选的,当功率达到设定值后,数量以达到功率的以设定数量为准。该值越大采样越多,最终的曲线计算精度越准。但耗时越长,反之优劣互换,其可以根据调试经验的不同和项目需求进行设置。
<8>:该自动采样的自动化思路为:自变量改变后,因变量保持多少次不变后(稳定了),进行一次数据记录,并进入下一个点的自变量变化与数据记录。以上所述的多少次,便是该项需要设定的值,设定得越大数据数据越可靠(到一定程度后再大也没用了),但是耗时越长;反之优劣互换。
<9>:在<8>中提到的“多少次不变后”的“不变”的判断条件是允许误差,该值规定了,因变量在每次变化多大的整形值内,都归类为因变量已经稳定不变了。其中多大便是该项的设定值,该值设定越大稳定的可靠性越差,耗时越短;反之优劣互换。
<10>:在射频开关打开,电源开关打开,以上参数都设置合理的情况下,功率计等外围设备都正常通信连接后,点击图3中的<10>可以开始自动化曲线数据整定。
<11>:显示整定的总进度。
<12>:显示整定的每条曲线的进度;该参数设定好后可以查看自动校准闭环拟合数据整定时序进一步了解。
开环校准模块120b用于当第一拟合曲线与第二阈值匹配时,将第二阈值作为其他曲线的校准参数。
如图4所示,图4为本申请实施例提供的一种开环校准的示意图,其根据框图的标号,分为以下8个步骤:
1,设定与显示当前自变量的值。
2,限制当前自变量的最大值。
3,拖动调节自变量的值,左侧为0,右侧为最大值。
4,在图4所示出的方框5设置好步进值后,方框4能够调节自变量为:当前值-步进值。
5,自变量步进调节的步进值设定。
6,在图4所示出的方框5设置好步进值后,方框4能够调节自变量为:当前值+步进值。
7,询问一次应变量的当前值。
8,记录一次当前所有需要记录的值。
在可选的实施例中,为了实现对数据的获取,在图1的基础上,给出一种可能的实现方式,请参见图5,图5为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图,数据获取模块110可以包括:下载模块110a、记录内联模块110b和上载模块110c。
下载模块110a用于接收待测试设备的测试数据。
例如,下载模块110a可以实现数据下载功能,其可以采用以下通信协议的逻辑进行实现:
“指令:AF_DOWNLOADSTART;
回复:AF_DOK;
指令:AF(1byte数据长度n的高八位)(1byte数据长度n的低八位)(nbyte数数据)D;
回复:AF_DOK;
指令:AF(4byte总数据长度)ODSTOP;
回复传输成功:AF_DOV;
回复传输失败:AF_DBD”。
记录内联模块110b用于将测试数据与待测试设备进行关联。
需要说明的是,在实际的数据整定过程中,有时候不仅仅需要记录一组数据,例如模拟量采集和功率对照数据来进行精准的功率采样,还需要同时采集输出功率对应的模拟量输出值来进行精准的开环控制。类似这样的。在自动化测试平台的基础上内联数据记录功率,实现每一次数据记录便可记录处了选中参数外的其它需要记录的参数。例如,可以设置一个数据记录界面,通过在数据记录界面上选择需要记录的数据,对这些数据进行内联,实现了在完成一次校准后,最终一些额外的需要同时记录的数据便得到了记录,即,实现了数据的内联。
上载模块110c用于将设备校准系统的校准信息发送至管理设备。
例如,上载模块110c可以实现数据上载功能,其可以采用以下通信协议的逻辑进行实现:
“指令:AF_UPLOAD:下传开始上载访问;
如果存在数据:依次回复:
<1>AF_UP(1byte传输进程)(1byte传输字节数)(1byte n)(n byte数据)LOAD;
<2>数据传输完成后回复:AF_UPOVER;
如果不存在数据;
则回复:AFERRO2”。
通过上述方案,该设备校准系统以全局操作指向的内容为核心,以设备对接、自动化测试开环系统平台以及内联数据记录平台为工具,实现了以手动点击采样记录数据(也就是自动校准开环),和自动数据采样(自动校准闭环拟合)为功能的需求数据的采样记录的实现。
在可选的实施例中,为了实现对数据的处理,在图1的基础上,给出一种可能的实现方式,请参见图6,图6为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图,图形模块130包括:显示模块130a和编辑模块130b。
显示模块130a用于根据测试数据显示至少一条拟合曲线。
编辑模块130b用于根据操作信息调整至少一条拟合曲线。
如图7所示,图7为本申请实施例提供的一种界面显示示意图,针对于图形化处理,其可以包括以下几个步骤:
第一步,选择曲线类型;
第二步,双击“LC”通过编辑界面获取焦点;
第三步,设定纵坐标最大值(如图7所示的曲线左上方的“LC”下方的“5000”);
第四步,设定横坐标最大值(如图7所示的曲线右下方的“LC”下方的“17000”);
第五步,点击曲线上的点选择曲线;
第六步,设定曲线的校准参数;
第七步,在界面获取焦点后,按下组合键(例如,“ctrl+C”)将选中的焦点进行纵向移动;
第八步,在界面获取焦点后,按下组合键(例如,“ctrl+鼠标滚轮”)将曲线按照鼠标当前选中的位置为中心进行缩放。
在一些示例中,还可以锁定坐标轴,缩放时选择X轴和Y轴中的任意一个进行缩放;在另一些示例中,还可以在图形界面上开启坐标参考,以便进行数据比对。
在可选的实施例中,为了针对不同的测试数据进行校准,在图1的基础上,给出一种可能的实现方式,请参见图8,图8为本申请实施例提供的另一种设备校准系统的示意图,该设备校准系统100还包括:筛选模块140。
筛选模块140用于将测试数据按照类型标识进行划分。
图形模块130还用于生成每种类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
如图9所示,图9为本申请实施例提供的一种曲线种类编辑示意图,图9所示出的方框1~4表征区别曲线类别的信息,即类型标识。图9所述的8个方框的含义分别为:
方框1,选择具体曲线的标识号,也就是每条曲线的名字,如果是频率,则不的频点的频点值就是这个曲线的名字
方框2,选择控制量,如模拟量输出。改变这个值,所有的参数都会应为它的改变经过设备的动作后改变
方框3,输入量,也就是查询量,用于区分到底是哪一种参数来进行查询的。
方框4,查询的结果量,也就是查询的时候返回的结果应该是啥。
方框5,在设定好1、2、3、4后点击5这里会自欧东查询出是否已经存在相应的种类,如果不存在则可以点击6处,进行种类新建。
方框6,根据1、2、3、4新建曲线种类,这里建立后就不要删除了,是使用方(公司内部约定规定,不能修改)。
方框7,在这里可以选择已经建立好了的曲线种类。
方框8,各项选择完成后点击OK确定,点击Cancel取消。
按照上述方框1~8进行操作,可以为每个工程添加一个曲线种类。
本申请还提供一种设备校准方法,应用于上述的设备校准系统110,如图10所示,图10为本申请实施例提供的一种设备校准方法的流程示意图,该方法包括:
S310,数据获取模块获取测试数据。
该测试数据表征待测试设备的运行信息。
S320,图形模块获取测试数据的至少一条拟合曲线。
S330,测试模块将至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若每条拟合曲线收敛,则确定待测试设备处于正常状态。
在可选的实施例中,上述的S330:测试模块将至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若每条拟合曲线收敛,则确定待测试设备处于正常状态,可以包括:闭环拟合模块基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定至少一条拟合曲线中的其他曲线。第一拟合曲线为至少一条拟合曲线中的任意一条曲线;当第一拟合曲线与第二阈值匹配时,开环校准模块将第二阈值作为其他曲线的校准参数。
在可选的实施例中,上述的S310:数据获取模块获取测试数据,可以包括:下载模块接收待测试设备的测试数据;记录内联模块将测试数据与待测试设备进行关联;上载模块将设备校准方法的校准信息发送至管理设备。
在可选的实施例中,上述的图形模块包括:显示模块和编辑模块。上述的S320:图形模块获取测试数据的至少一条拟合曲线,可以包括:显示模块根据测试数据显示至少一条拟合曲线;编辑模块根据操作信息调整至少一条拟合曲线。
在可选的实施例中,设备校准系统还可以包括:筛选模块,该设备校准方法还可以包括:筛选模块将测试数据按照类型标识进行划分;图形模块生成每种类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
本申请实施例提供一种电子设备,如图11,图11为本申请实施例提供的一种电子设备的方框示意图。该电子设备50包括存储器51、处理器52和通信接口53。该存储器51、处理器52和通信接口53相互之间直接或间接地电性连接,以实现数据的传输或交互。例如,这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。存储器51可用于存储软件程序及模块,如本申请实施例所提供的设备校准方法对应的程序指令/模块,处理器52通过执行存储在存储器51内的软件程序及模块,从而执行各种功能应用以及数据处理。该通信接口53可用于与其他节点设备进行信令或数据的通信。在本申请中该电子设备50可以具有多个通信接口53。
其中,存储器51可以是但不限于,随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),只读存储器(Read Only Memory,ROM),可编程只读存储器(Programmable Read-OnlyMemory,PROM),可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory,EPROM),电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)等。
处理器52可以是一种集成电路芯片,具有信号处理能力。该处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(NetworkProcessor,NP)等;还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。
电子设备50可以实现本申请提供的任一种设备校准方法。该电子设备50可以是,但不限于手机、平板电脑、可穿戴设备、车载设备、增强现实(Augmented Reality,AR)/虚拟现实(Virtual Reality,VR)设备、笔记本电脑、超级移动个人计算机(Ultra-MobilePersonal Computer,UMPC)、上网本、个人数字助理(Personal Digital Assistant,PDA)等电子设备上,本申请实施例对电子设备的具体类型不作任何限制。
本申请实施例提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现如前述实施例中任一项的设备校准方法。该计算机可读存储介质可以是,但不限于,U盘、移动硬盘、ROM、RAM、PROM、EPROM、EEPROM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
上仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (8)
1.一种设备校准系统,其特征在于,包括:数据获取模块、测试模块和图形模块;
所述数据获取模块,用于获取测试数据,所述测试数据表征待测试设备的运行信息;
所述图形模块,用于获取所述测试数据的至少一条拟合曲线;
所述测试模块,用于将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态;
所述测试模块包括:闭环拟合模块和开环校准模块;
所述闭环拟合模块,用于基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定所述至少一条拟合曲线中的其他曲线;所述第一拟合曲线为所述至少一条拟合曲线中的任意一条曲线,所述第一阈值为所述第一拟合曲线的最大功率值;
所述开环校准模块,用于当所述第一拟合曲线与第二阈值匹配时,将所述第二阈值作为所述其他曲线的校准参数。
2.根据权利要求1所述的设备校准系统,其特征在于,所述数据获取模块包括:下载模块、记录内联模块和上载模块;
所述下载模块,用于接收所述待测试设备的测试数据;
所述记录内联模块,用于将所述测试数据与所述待测试设备进行关联;
所述上载模块,用于将所述设备校准系统的校准信息发送至管理设备。
3.根据权利要求1所述的设备校准系统,其特征在于,所述图形模块包括:显示模块和编辑模块;
所述显示模块,用于根据所述测试数据显示所述至少一条拟合曲线;
所述编辑模块,用于根据操作信息调整所述至少一条拟合曲线。
4.根据权利要求1所述的设备校准系统,其特征在于,还包括:筛选模块;
所述筛选模块,用于将所述测试数据按照类型标识进行划分;
所述图形模块还用于生成每种所述类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
5.一种设备校准方法,其特征在于,应用于设备校准系统,所述设备校准系统包括:数据获取模块、测试模块和图形模块;所述方法包括:
所述数据获取模块获取测试数据,所述测试数据表征待测试设备的运行信息;
所述图形模块获取所述测试数据的至少一条拟合曲线;
所述测试模块将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态;
所述测试模块包括:闭环拟合模块和开环校准模块;
所述测试模块将所述至少一条拟合曲线中的每条拟合曲线与整定阈值进行匹配,若所述每条拟合曲线收敛,则确定所述待测试设备处于正常状态,包括:
所述闭环拟合模块基于索引频率区间阈值确定第一拟合曲线对应的功率达到第一阈值时,整定所述至少一条拟合曲线中的其他曲线;所述第一拟合曲线为所述至少一条拟合曲线中的任意一条曲线,所述第一阈值为所述第一拟合曲线的最大功率值;
当所述第一拟合曲线与第二阈值匹配时,所述开环校准模块将所述第二阈值作为所述其他曲线的校准参数。
6.根据权利要求5所述的设备校准方法,其特征在于,所述数据获取模块包括:下载模块、记录内联模块和上载模块;
所述数据获取模块获取测试数据,包括:
所述下载模块接收所述待测试设备的测试数据;
所述记录内联模块将所述测试数据与所述待测试设备进行关联;
所述上载模块将所述设备校准方法的校准信息发送至管理设备。
7.根据权利要求5所述的设备校准方法,其特征在于,所述图形模块包括:显示模块和编辑模块;
所述图形模块获取所述测试数据的至少一条拟合曲线,包括:
所述显示模块根据所述测试数据显示所述至少一条拟合曲线;
所述编辑模块根据操作信息调整所述至少一条拟合曲线。
8.根据权利要求7所述的设备校准方法,其特征在于,所述设备校准系统还包括:筛选模块,所述方法还包括:
所述筛选模块将所述测试数据按照类型标识进行划分;
所述图形模块生成每种所述类型标识的测试数据对应的拟合曲线。
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