CN112748186B - 压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和介质 - Google Patents

压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和介质 Download PDF

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Abstract

本申请涉及一种压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和存储介质，该压敏电阻器含水量检测方法通过获取待测压敏电阻器的多个检测电压和在每个检测电压下待测压敏电阻器的电导率，然后根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线得到该对应曲线的特征斜率，最后将该特征斜率输入至目标含水量检测模型中即可得到该压敏电阻器的含水量，全程无需工作人员干预，更无需工作人员通过经验进行判断，从而解决了现有技术中存在的目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强的技术问题，达到了提高压敏电阻器含水量检测的客观性和准确性的技术效果。

Description

压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和介质
技术领域
本申请涉及电子器件检测技术领域，特别是涉及一种压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和介质。
背景技术
压敏电阻器又称之为非线性电阻器，是一种很敏感的电子器件，在特定的电压及电流范围内可以通过调节外接电压来改变其电阻值，具有良好的非线性伏安特性及耐浪涌冲击能力，因此被广泛应用于通信系统、建筑、国防以及家用电器等领域。
但在实际应用中，一旦压敏电阻器的使用和安装不规范，尤其是部分厂家使用的封装质量较差，压敏电阻器表面和安装部位容易出现微孔而导致水分渗入其内部，使其受潮。一旦压敏电阻器受潮后，在电场作用下，水分子解离生成水解离子，产生电导损耗，从而造成能量的损耗，因此需要对压敏电阻器中的含水量进行实时监测。
目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种压敏电阻器含水量检测方法、装置、控制设备和介质。
第一方面，提供了一种压敏电阻器含水量检测方法，包括：
获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率；
将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
在本申请的一个可选实施例中，对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率，包括：获取第一曲线段的第一斜率；获取第二曲线段的第二斜率；将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
在本申请的一个可选实施例中，该方法还包括：根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
在本申请的一个可选实施例中，目标含水量检测模型的建立过程包括：获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型，包括：根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数；将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，包括：获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻；获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积；根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
在本申请的一个可选实施例中，多个检测电压为压敏电压，获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻，包括：根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。
第二方面，提供了一种压敏电阻器含水量检测装置，装置包括第一获取模块、第二获取模块、斜率确定模块和含水量确定模块：
该第一获取模块用于获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
该第二获取模块用于获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
该斜率确定模块用于根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率；
该含水量确定模块用于将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
在本申请的一个可选实施例中，对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，该斜率确定模块具体用于，获取第一曲线段的第一斜率；获取第二曲线段的第二斜率；将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
在本申请的一个可选实施例中，该斜率确定模块具体用于，根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
在本申请的一个可选实施例中，该含水量确定模块还用于，获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，该含水量确定模块具体用于，根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数；将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，该第二获取模块具体用于，获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻；获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积；根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
在本申请的一个可选实施例中，该第二获取模块具体用于，根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。
第三方面，提供了一种控制设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如上的方法的步骤。
第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上的方法的步骤。
本申请实施例提供了一种压敏电阻器含水量检测方法，该压敏电阻器含水量检测方法通过获取待测压敏电阻器的多个检测电压和在每个检测电压下待测压敏电阻器的电导率，然后根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线得到该对应曲线的特征斜率，最后将该特征斜率输入至目标含水量检测模型中即可得到该压敏电阻器的含水量。本申请实施例提供的压敏电阻器含水量检测方法对于压敏电阻器含水量的检测全程无需工作人员干预，更无需工作人员通过经验进行判断，从而解决了现有技术中存在的目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强的技术问题，达到了提高压敏电阻器含水量检测的客观性和准确性的技术效果。
附图说明
图1为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的应用环境图；
图2为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的流程示意图；
图3为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法中不同含水量对应的对应曲线示意图；
图4为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的流程示意图；
图5为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的流程示意图；
图6为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的流程示意图；
图7为一个实施例中压敏电阻器含水量检测方法的流程示意图；
图8为一个实施例中压敏电阻器含水量检测装置的结构框图；
图9为一个实施例中控制设备的结构框图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
压敏电阻器又称之为非线性电阻器，是一种很敏感的电子器件，在特定的电压及电流范围内可以通过调节外接电压来改变其电阻值，具有良好的非线性伏安特性及耐浪涌冲击能力，因此被广泛应用于通信系统、建筑、国防以及家用电器等领域。但在实际应用中，一旦压敏电阻器的使用和安装不规范，尤其是部分厂家使用的封装质量较差，压敏电阻器表面和安装部位容易出现微孔而导致水分渗入其内部，使其受潮。一旦压敏电阻器受潮后，在电场作用下，水分子解离生成水解离子，产生电导损耗，从而造成能量的损耗，因此需要对压敏电阻器中的含水量进行实时监测。目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强。
有鉴于此，本申请实施例提供了一种压敏电阻器含水量检测方法，该压敏电阻器含水量检测方法通过获取待测压敏电阻器的多个检测电压和在每个检测电压下待测压敏电阻器的电导率，然后根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线得到该对应曲线的特征斜率，最后将该特征斜率输入至目标含水量检测模型中即可得到该压敏电阻器的含水量。本申请实施例提供的压敏电阻器含水量检测方法对于压敏电阻器含水量的检测全程无需工作人员干预，更无需工作人员通过经验进行判断，从而解决了现有技术中存在的目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强的技术问题，达到了提高压敏电阻器含水量检测的客观性和准确性的技术效果。
下面，将对本申请实施例提供的压敏电阻器含水量检测方法所涉及的实施环境进行简要地说明。
请参见图1，本申请实施例提供的压敏电阻器含水量检测方法的实施环境包括：电压检测设备101、电导率检测设备102和控制设备103。该控制设备103分别与该电压检测设备101和电导率检测设备102通信连接，该电压检测设备101用于采集压敏电阻器两端的检测电压，并通过通信设备等将该检测电压传输至控制设备103。该电导率检测设备102用于采集压敏电阻器的检测电导率，并通过通信设备将该检测电导率发送至控制设备103。控制设备103用于对该检测电压和检测电导率进行分析处理，以得到该压敏电阻器的含水量。
请参见图2，本申请一个实施例提供了一种压敏电阻器含水量检测方法，可以应用于上述实施环境中的控制设备，以下实施例以该方法应用于图1中的控制设备，以该控制设备为执行主体进行详细进行说明，该压敏电阻器含水量检测方法包括以下步骤步骤201-204：
步骤201、控制设备获取待测压敏电阻器的多个检测电压。
电压检测设备按一定采样周期采集待测压敏电阻两端的电压，得到多个检测电压，并将该多个检测电压通过通信设备等实时发送至控制设备，控制设备接收该多个检测电压，并对该多个检测电压进行存储。其中，该多个检测电压的电压值不同。
步骤202、控制设备获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率。
该待测压敏电阻器的电导率随外加电压的改变而改变，即该压敏电阻器在每一个上述检测电压下对应有一个电导率。电导率检测设备对该待测压敏电阻器在每一个检测电压下的电导率进行检测，测量得到多个电导率，即多个检测电导率。需要指出的是，该检测电导率的数量与该检测电压的数量相同，且一一对应，每一个检测电压对应有一个检测电导率。该电导率检测设备通过通信设备等将该多个检测电导率发送至控制设备，控制设备获取该多个检测电导率并对该多个检测电导率进行存储。
步骤203、控制设备根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率。
控制设备获取得到了多个检测电压和多个检测电导率，该多个检测电压与该多个检测电导率一一对应，控制设备基于获取得到的多个检测电压和多个检测电导率绘制关于检测电压和检测电导率的对应曲线，然后计算该对应曲线的斜率，即可得到上述的特征斜率。
步骤204、控制设备将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
控制设备内存储有目标含水量检测模型，该目标含水量检测模型是基于大量特征斜率和压敏电阻器的含水量建立而成，用于检测待测压敏电阻器的含水量。该目标含水量检测模型的输入量为上述步骤203得到的特征斜率，输出量为待测压敏电阻器的含水量，控制设备将通过上述步骤203得到的待测压敏电阻器对应的特征斜率输入至该目标含水量检测模型，即可得到该待测压敏电阻器的含水量。
上述压敏电阻器含水量检测方法通过获取待测压敏电阻器的多个检测电压和在每个检测电压下待测压敏电阻器的电导率，然后根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线得到该对应曲线的特征斜率，最后将该特征斜率输入至目标含水量检测模型中即可得到该压敏电阻器的含水量。本申请实施例提供的压敏电阻器含水量检测方法对于压敏电阻器含水量的检测全程无需工作人员干预，更无需工作人员通过经验进行判断，从而解决了现有技术中存在的目前压敏电阻器中含水量的监测主要依靠有经验的工作人员通过经验进行定期检测获取，主观性较强的技术问题，达到了提高压敏电阻器含水量检测的客观性和准确性的技术效果。
在本申请的一个可选实施例中，压敏电阻器含水量检测方法还包括：控制设备根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
通过不同制备工艺制备的压敏电阻器或者添加不同添加剂会导致压敏电阻器的伏安特性也不尽相同。例如部分压敏电阻器在检测电压小于130V时，其含水量的增速较高，在检测电压处于130V～160V之间时，其含水量曲线斜率趋近稳定，因此，将130V的检测电压设定为该压敏电阻器的目标检测电压。本实施例通过设定目标检测电压将压敏电阻器分为高压区和低压区两部分，分别对压敏电阻器进行含水量的检测，以大大提高压敏电阻器含水量检测的准确度。
在本申请的一个可选实施例中，图3为不同含水量对应的上述对应曲线，每条对应曲线包括第一曲线段ab和第二曲线段bc，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压。请参见图4，对应地，步骤203包括步骤401-403：
步骤401、控制设备获取第一曲线段的第一斜率。
控制设备在绘制得到上述对应曲线后，第一方面，控制设备可以通过计算位于第一曲线段上的多个检测电压的变化量和多个检测电导率的变化量的比值来计算得到第一曲线段的第一斜率；第二方面，控制设备可以直接通过几何运算检测或者测量第一曲线段的斜率，以得到第一斜率。
步骤402、控制设备获取第二曲线段的第二斜率。
控制设备在绘制得到上述对应曲线后，第一方面，控制设备可以通过计算位于第二曲线段上的多个检测电压的变化量和多个检测电导率的变化量的比值来计算得到第二曲线段的第二斜率；第二方面，控制设备可以直接通过几何运算检测或者测量第二曲线段的斜率，以得到第二斜率。
步骤403、控制设备将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
控制设备在通过步骤301和步骤302得到第一斜率和第二斜率，然后将该第一斜率和第二斜率作为上述目标含水量检测模型的输入量，以得到待测压敏电阻器的含水量。本实施例通过分别获取第一曲线段的第一斜率和第二曲线段的第二斜率，通过第一斜率和第二斜率对待测压敏电阻器的含水量进行检测，可以大大提高对于压敏电阻器含水量检测的准确性。
请参见图5，在本申请的一个可选实施例中，目标含水量检测模型的建立过程包括步骤501-502：
步骤501、控制设备获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量。
电压检测设备多次对样本压敏电阻器进行电压检测，以获得多个历史检测电压，并通过通信设备等将该多个历史检测电压发送至控制设备。电导率检测设备对该样本压敏电阻器在每个历史检测电压下的电导率进行检测，以得到多个历史检测电导率，并将该多个历史检测电导率通过通信设备等发送至控制设备。由工作人员等通过经验或者水分测量仪确定该样本压敏电阻器在每个历史检测电压下的含水量，得到多个历史含水量，并将该多个历史含水量输入至控制设备。需要指出的是，一个历史检测电压对应有一个历史检测电导率和一个历史含水量。
步骤502、控制设备根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
控制设备预先拟合一个二元函数存储于内部的存储器中，然后根据上述步骤401获取得到的多个历史检测电压和多个历史检测电导率拟合一对应曲线，并确定该对应曲线的特征斜率。最后将该特征斜率和多个历史含水量代入至预先拟合的二元函数中进行修正，以得到该目标含水量检测模型。
请参见图6，在本申请的一个可选实施例中，步骤502包括步骤601-603：
步骤601、控制设备根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率。
控制设备根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率绘制历史对应曲线，通过目标检测电压降该对应曲线分为第一曲线段和第二曲线段。第一方面，控制设备可以通过计算位于第一曲线段上的多个检测电压的变化量和多个检测电导率的变化量的比值来计算得到第一曲线段的第一斜率PL，通过第二曲线段上的多个检测电压的变化量和多个检测电导率的变化量的比值来计算得到第二曲线段的第二斜率PH；第二方面，控制设备可以直接通过几何运算检测或者测量第一曲线段和第二曲线段的斜率，以得到第一斜率PL和第二斜率PH。
步骤602、控制设备将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数。
控制设备预先拟合一个如下的二元函数：
mc＝A×PL+B×PH+C (1)
(1)式中，mc为历史含水量，PL为第一历史特征斜率，PH为第二历史特征斜率，A、B、C分别为修正系数。
将通过步骤501得到历史特征斜率，也就是第一历史特征斜率PL和第二历史特征斜率PH，以及获取得到的历史含水量mc代入(1)式中，即可计算得到A、B、C三个修正系数。
步骤603、控制设备将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
控制设备通过上述步骤502得到ABC三个修正系数的数值，然后将该三个修正系数的数值代入(1)中，即可得到该目标含水量检测模型：
MC＝A×PL+B×PH+C (2)
(1)式中，MC为待测压敏电阻器对应的含水量，PL为待测压敏电阻器对应的第一特征斜率，PH为待测压敏电阻器对应的第二特征斜率，A、B、C分别为修正系数。
请参见图7，在本申请的一个可选实施例中，步骤202包括步骤701-步骤703：
步骤701、控制设备获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻。
第一方面，可以通过电阻检测仪等检测待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻，然后通过通信设备等将该电阻发送至控制设备。
第二方面，可以将上述多个检测电压设定为压敏电压，压敏电压为压敏电阻在通过的电流为0.1mA时压敏电阻两端的电压。因此，可以通过电压检测设备检测待测压敏电阻器两端的检测电压，然后通过通信设备等发送至控制设备，控制设备根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。控制设备通过电阻计算公式即可计算得到该电阻＝检测电压/0.1mA。检测电压在上述步骤中已经检测得到，因此，在本实施例中只需要进行简单的计算便可获得该待测压敏电阻器的电阻，检测工序减少，且无需额外增加电阻检测仪，大大减小成本。
步骤702、控制设备获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积。
通过游标卡尺等精密的尺寸测量仪测量获得该待测压敏电阻器的长度l，以及横截面的直径或者半径，然后通过公式S＝πr2计算获得该待测压敏电阻器的横截面积S，并通过通信设备等将该长度l和横截面积S发送至控制设备。
步骤703、控制设备根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
控制设备在获取得到待测压敏电阻器的电阻R、长度l和横截面积S之后，通过如下公式(3)即可计算得到该待测压敏电阻器的检测电导率：
Figure BDA0002825273950000131
(3)式中，l为待测压敏电阻器的长度，S为待测压敏电阻器的横截面积，为待测压敏电阻器的检测电导率
应该理解的是，虽然流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
请参见图8，本申请一个实施例提供了一种压敏电阻器含水量检测装置800，该装置包括第一获取模块801、第二获取模块802、斜率确定模块803和含水量确定模块804：
该第一获取模块801用于获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
该第二获取模块802用于获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
该斜率确定模块803用于根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率；
该含水量确定模块804用于将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
在本申请的一个可选实施例中，对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，该斜率确定模块803具体用于，获取第一曲线段的第一斜率；获取第二曲线段的第二斜率；将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
在本申请的一个可选实施例中，该斜率确定模块803具体用于，根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
在本申请的一个可选实施例中，该含水量确定模块804还用于，获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，该含水量确定模块804具体用于，根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数；将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个可选实施例中，该第二获取模块802具体用于，获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻；获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积；根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
在本申请的一个可选实施例中，该第二获取模块802具体用于，根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。
关于压敏电阻器含水量检测装置800的具体限定可以参见上文中对于压敏电阻器含水量检测方法的限定，在此不再赘述。上述压敏电阻器含水量检测装置800中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于控制设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于控制设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
图9为本申请一个实施例中控制设备的内部结构示意图，该控制设备可以为服务器。如图9所示，该控制设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器以及通信组件。其中，该处理器用于提供计算和控制能力，支撑整个控制设备的运行。存储器可包括非易失性存储介质及内存储器。非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该计算机程序可被处理器所执行，以用于实现以上各个实施例所提供的一种压敏电阻器含水量检测方法。内存储器为非易失性存储介质中的操作系统以及计算机程序提供高速缓存的运行环境。控制设备可以通过通信组件与其他的控制设备(例如STA)进行通信。
本领域技术人员可以理解，图9中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的控制设备的限定，具体的控制设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种控制设备，包括：包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现如下步骤：
获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率；
将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
在本申请的一个实施例中，对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取第一曲线段的第一斜率；获取第二曲线段的第二斜率；将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
在本申请的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
在本申请的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数；将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻；获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积；根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
在本申请的一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。
本申请实施例提供的控制设备，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如下步骤：
获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
根据多个检测电压和多个检测电导率之间的对应曲线，得到对应曲线的特征斜率；
将特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到待测压敏电阻器的含水量。
在本申请的一个实施例中，对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取第一曲线段的第一斜率；获取第二曲线段的第二斜率；将第一斜率和第二斜率作为特征斜率。
在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据待测压敏电阻器的基本特性确定目标检测电压，其中，基本特性包括：待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；根据多个历史检测电压、多个历史检测电导率和多个历史含水量得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据多个历史检测电压和多个历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；将历史特征斜率和多个历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到二元函数各项的修正系数；将各项的修正系数代入预先拟合的二元函数，得到目标含水量检测模型。
在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取待测压敏电阻器在每个检测电压下的电阻；获取每个待测压敏电阻器的长度和横截面积；根据电阻、长度和横截面积确定待测压敏电阻器的检测电导率。
在本申请的一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：根据多个压敏电压计算在每个压敏电压下的内阻。
本实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以M种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(SyMchliMk)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(RaMbus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，包括：
获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
获取所述待测压敏电阻器在每个所述检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
根据所述多个检测电压和所述多个检测电导率之间的对应曲线，得到所述对应曲线的特征斜率；
将所述特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到所述待测压敏电阻器的含水量；
所述检测电压为压敏电压；所述对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，所述第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，所述第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，所述根据所述多个检测电压和所述多个检测电导率之间的对应曲线，得到所述对应曲线的特征斜率，包括：
获取所述第一曲线段的第一斜率；
获取所述第二曲线段的第二斜率；
将所述第一斜率和所述第二斜率分别作为第一特征斜率以及第二特征斜率；
所述目标含水量检测模型为MC＝A×PL+B×PH+C，式中，MC为所述待测压敏电阻器对应的含水量，PL为所述待测压敏电阻器对应的第一特征斜率，PH为所述待测压敏电阻器对应的第二特征斜率，A、B、C分别为修正系数。
2.根据权利要求1所述的压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，还包括：
根据所述待测压敏电阻器的基本特性确定所述目标检测电压，其中，所述基本特性包括：所述待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
3.根据权利要求1所述的压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，所述目标含水量检测模型的建立过程包括：
获取样本压敏电阻器的多个历史检测电压、与每个所述历史检测电压对应的历史检测电导率和历史含水量；
根据多个所述历史检测电压、多个所述历史检测电导率和多个所述历史含水量得到所述目标含水量检测模型。
4.根据权利要求3所述的压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，所述根据多个所述历史检测电压、多个所述历史检测电导率和多个所述历史含水量得到所述目标含水量检测模型，包括：
根据多个所述历史检测电压和多个所述历史检测电导率的历史对应曲线，得到历史特征斜率；
将所述历史特征斜率和多个所述历史含水量代入预先拟合的二元函数，计算得到所述二元函数各项的修正系数；
将各项的所述修正系数代入预先拟合的所述二元函数，得到所述目标含水量检测模型。
5.根据权利要求1所述的压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，所述获取所述待测压敏电阻器在每个所述检测电压下的电导率，包括：
获取所述待测压敏电阻器在每个所述检测电压下的电阻；
获取每个所述待测压敏电阻器的长度和横截面积；
根据所述电阻、所述长度和所述横截面积确定所述待测压敏电阻器的所述检测电导率。
6.根据权利要求5所述的压敏电阻器含水量检测方法，其特征在于，所述多个检测电压为压敏电压，所述获取所述待测压敏电阻器在每个所述检测电压下的电阻，包括：
根据多个所述压敏电压计算在每个所述压敏电压下的所述内阻。
7.一种压敏电阻器含水量检测装置，其特征在于，所述装置包括：
第一获取模块，用于获取待测压敏电阻器的多个检测电压；
第二获取模块，用于获取所述待测压敏电阻器在每个所述检测电压下的电导率，得到多个检测电导率；
斜率确定模块，用于根据所述多个检测电压和所述多个检测电导率之间的对应曲线，得到所述对应曲线的特征斜率；
含水量确定模块，用于将所述特征斜率输入至目标含水量检测模型，得到所述待测压敏电阻器的含水量；
所述多个检测电压为压敏电压；
所述对应曲线包括第一曲线段和第二曲线段，其中，所述第一曲线段对应的多个检测电压的最大值小于目标检测电压，所述第二曲线段对应的多个检测电压的最小值不小于目标检测电压，所述根据所述多个检测电压和所述多个检测电导率之间的对应曲线，得到所述对应曲线的特征斜率，包括：
获取所述第一曲线段的第一斜率；
获取所述第二曲线段的第二斜率；
将所述第一斜率和所述第二斜率分别作为第一特征斜率以及第二特征斜率；
所述目标含水量检测模型为MC＝A×PL+B×PH+C，式中，MC为所述待测压敏电阻器对应的含水量，PL为所述待测压敏电阻器对应的第一特征斜率，PH为所述待测压敏电阻器对应的第二特征斜率，A、B、C分别为修正系数。
8.根据权利要求7所述的压敏电阻器含水量检测装置，其特征在于，所述装置包括：
所述斜率确定模块，还用于根据所述待测压敏电阻器的基本特性确定所述目标检测电压，其中，所述基本特性包括：所述待测压敏电阻器的添加剂含量和制备工艺。
9.一种控制设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
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