CN112747693B - 针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法 - Google Patents

针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法 Download PDF

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    • G01B11/2513—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns

Abstract

本发明公开了针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法。首先对彩色图像中的高反光区域进行检测，将图像分为非反光区域和反光区域；对于非反光区域，采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量；对于反光区域，采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量；最后对两种三维测量结果进行融合，从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。与传统方法相比，本发明能对高反光物体自动地实现具有高完整度的三维测量，提高了条纹投影技术对高反光物体的三维测量的适用性，利于自动化的3D测量应用。

Description

针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法
技术领域
本发明涉及光学测量技术领域，具体涉及针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法。
背景技术
几十年，三维轮廓测量技术被广泛的应用于各个领域，如在线工业检测，逆向建模和三维人脸测量等。在众多三维轮廓测量方法中，基于多步相移条纹图和三角测量原理的条纹投影技术是测量精度高和十分实用的技术之一，由于它具有无接触、全场、高精度和高效等优点。然而，在条纹投影技术中，很难针对高反光物体自动地实现高完整度的三维测量，这显然不适合自动化的3D测量应用。因此设计出针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法是至关重要的。
发明内容
为了克服条纹投影技术难以对高反光物体实现高完整度三维测量的缺陷，本发明提出了针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法。
本发明的技术方案如下：针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，步骤如下：
步骤一，利用三维测量系统对彩色图像中的高反光区域进行检测，将图像分为非反光区域和反光区域；
步骤二，对于非反光区域，采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量；
步骤三，对于反光区域，采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量；
步骤四，对两种三维测量结果进行融合，从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。
优选的，所述三维测量系统包括一个彩色相机和一个投影仪，投影仪只能投影灰度值为0-255范围内的灰度图像，彩色相机同步采集图像。
优选的，所述步骤一具体为：
首先，投影仪对物体投影一幅均匀光强图案，I0(x,y)表示投影的均匀光强图案中每个像素的光强值，I0(x,y)＝128，彩色相机同步采集得到RGB图像
Figure BDA0002860294410000011
Y(x,y)表示RGB图像
Figure BDA0002860294410000012
中每个像素的亮度值，Y(x,y)＝0.2126×R(x,y)+0.7152×G(x,y)+0.0722×B(x,y)；
然后，对RGB图像进行归一化，
r(x,y)＝R(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
g(x,y)＝G(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
b(x,y)＝1-r(x,y)-g(x,y)
并对归一化后的RGB图像重新计算亮度，
y(x,y)＝0.2126×r(x,y)+0.7152×g(x,y)+0.0722×b(x,y)；
最后，比较y(x,y)和Y(x,y)获得反光区域的检测结果，
Figure BDA0002860294410000021
其中，非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1。
优选的，所述步骤二具体为：
首先，通过投影仪投影基于三步相移的高频条纹图：
Figure BDA0002860294410000022
Figure BDA0002860294410000023
Figure BDA0002860294410000024
其中，
Figure BDA0002860294410000025
和
Figure BDA0002860294410000026
为投影仪投影的三步相移条纹图像，(xp,yp)为投影仪平面的像素坐标，W是投影仪的水平分辨率，f是三步相移条纹图像的频率；
其次，通过彩色相机同步拍摄投影的条纹图像，采集的三步相移条纹图像的光强图被表示为：
I1(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y))
I2(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+2π/3)
I3(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+4π/3)
其中，I1(x,y)、I2(x,y)和I3(x,y)为对应的三步相移条纹图像光强图，(x,y)为相机平面的像素坐标，A(x,y)为背景光强，B(x,y)为条纹的调制度,Φ(x,y)为待求相位；
然后，基于采集的三步相移条纹图像，包裹相位图
Figure BDA0002860294410000027
由下式计算而得：
Figure BDA0002860294410000028
由于arctan函数的截断效应，求得的相位图
Figure BDA0002860294410000029
为包裹相位，其值域为[0,2π]，其与Φ(x,y)的关系如下：
Figure BDA0002860294410000031
其中，k(x,y)为相位的周期级次，其值域为[0,f-1]范围内的整数。然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位Φ(x,y)；
最后，根据相机和投影仪之间的系统参数和非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，实现非反光区域的三维测量。
优选的，所述步骤三具体为：
首先，投影仪投影基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量：
Figure BDA0002860294410000032
其中，
Figure BDA0002860294410000033
为投影仪投影的基于多步相移的低亮度低频条纹图，N是低亮度低频条纹图的总相移步数，flow为低亮度低频条纹图的频率；
其次，彩色相机同步拍摄投影的多步相移条纹图像，通过多步相移算法获得高反光区域的相位；
然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位；
最后，最后根据相机和投影仪之间的系统参数和反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1，从而实现高反光区域的三维测量。
本发明与传统方法相比，具有如下优点：本发明能对高反光物体自动地实现具有高完整度的三维测量，提高了条纹投影技术对高反光物体的三维测量的适用性，利于自动化的3D测量应用。
附图说明
图1为本发明实施例的三维测量方法的流程示意图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
结合图1，本实施例针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法包括以下五个步骤。
步骤一，对彩色图像中的高反光区域进行检测，将图像分为非反光区域和反光区域。所提出的三维测量方法所对应的系统由一个彩色相机和一个投影仪组成。投影仪只能投影灰度值为0-255范围内的灰度图像，彩色相机同步采集图像。
首先，投影仪对物体投影一幅均匀光强图案，I0(x,y)表示投影的均匀光强图案中每个像素的光强值，I0(x,y)＝128，
彩色相机同步采集得到RGB图像
Figure BDA0002860294410000041
Y(x,y)表示RGB图像
Figure BDA0002860294410000042
中每个像素的亮度值，
Y(x,y)＝0.2126×R(x,y)+0.7152×G(x,y)+0.0722×B(x,y)；
然后，对RGB图像进行归一化，
r(x,y)＝R(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
g(x,y)＝G(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
b(x,y)＝1-r(x,y)-g(x,y)
并对归一化后的RGB图像重新计算亮度，
y(x,y)＝0.2126×r(x,y)+0.7152×g(x,y)+0.0722×b(x,y)；
最后，比较y(x,y)和Y(x,y)获得反光区域的检测结果，
Figure BDA0002860294410000043
其中，非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1。
步骤二，对于非反光区域，采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量。
首先，通过投影仪投影基于三步相移的高频条纹图：
Figure BDA0002860294410000044
Figure BDA0002860294410000045
Figure BDA0002860294410000046
其中，
Figure BDA0002860294410000047
和
Figure BDA0002860294410000048
为投影仪投影的三步相移条纹图像，(xp,yp)为投影仪平面的像素坐标，W是投影仪的水平分辨率，f是三步相移条纹图像的频率；
其次，通过彩色相机同步拍摄投影的条纹图像，采集的三步相移条纹图像的光强图被表示为：
I1(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y))
I2(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+2π/3)
I3(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+4π/3)
其中，I1(x,y)、I2(x,y)和I3(x,y)为对应的三步相移条纹图像光强图，(x,y)为相机平面的像素坐标，A(x,y)为背景光强，B(x,y)为条纹的调制度,Φ(x,y)为待求相位；
然后，基于采集的三步相移条纹图像，包裹相位图
Figure BDA0002860294410000051
由下式计算而得：
Figure BDA0002860294410000052
由于arctan函数的截断效应，求得的相位图
Figure BDA0002860294410000053
为包裹相位，其值域为[0,2π]，其与Φ(x,y)的关系如下：
Figure BDA0002860294410000054
其中，k(x,y)为相位的周期级次，其值域为[0,f-1]范围内的整数。然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位Φ(x,y)；
最后，根据相机和投影仪之间的系统参数和非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，实现非反光区域的三维测量。
步骤三中，对于反光区域，采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量。
首先，投影仪投影基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量：
Figure BDA0002860294410000055
其中，
Figure BDA0002860294410000056
为投影仪投影的基于多步相移的低亮度低频条纹图，N是低亮度低频条纹图的总相移步数，flow为低亮度低频条纹图的频率；
其次，彩色相机同步拍摄投影的多步相移条纹图像，通过多步相移算法获得高反光区域的相位；
然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位；
最后，最后根据相机和投影仪之间的系统参数和反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1，从而实现高反光区域的三维测量。
步骤四中，最后对两种三维测量结果进行融合，从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (5)

1.针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，步骤如下：
步骤一，利用三维测量系统对彩色图像中的高反光区域进行检测，将图像分为非反光区域和反光区域；
步骤二，对于非反光区域，采用基于三步相移的高频条纹图进行三维测量；
步骤三，对于反光区域，采用基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量；
步骤四，对两种三维测量结果进行融合，从而得到最后的具有高完整度的三维测量结果。
2.根据权利要求1所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，所述三维测量系统包括一个彩色相机和一个投影仪，投影仪只能投影灰度值为0-255范围内的灰度图像，彩色相机同步采集图像。
3.根据权利要求2所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，所述步骤一具体为：
首先，投影仪对物体投影一幅均匀光强图案，I0(x,y)表示投影的均匀光强图案中每个像素的光强值，I0(x,y)＝128，彩色相机同步采集得到RGB图像
Figure FDA0003551522700000011
Y(x,y)表示RGB图像
Figure FDA0003551522700000012
中每个像素的亮度值，Y(x,y)＝0.2126×R(x,y)+0.7152×G(x,y)+0.0722×B(x,y)，R(x,y)、G(x,y)、B(x,y)分别是RGB图像的三个通道的图像；
然后，对RGB图像进行归一化，
r(x,y)＝R(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
g(x,y)＝G(x,y)/(R(x,y)+G(x,y)+B(x,y))
b(x,y)＝1-r(x,y)-g(x,y)
r(x,y)、g(x,y)、b(x,y)分别是归一化后的RGB图像的三个通道的图像，
并对归一化后的RGB图像重新计算亮度，
y(x,y)＝0.2126×r(x,y)+0.7152×g(x,y)+0.0722×b(x,y)；
最后，比较y(x,y)和Y(x,y)获得反光区域的检测结果，
Figure FDA0003551522700000013
其中，非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1。
4.根据权利要求3所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，所述步骤二具体为：
首先，通过投影仪投影基于三步相移的高频条纹图：
Figure FDA0003551522700000021
Figure FDA0003551522700000022
Figure FDA0003551522700000023
其中，
Figure FDA0003551522700000024
和
Figure FDA0003551522700000025
为投影仪投影的三步相移条纹图像，(xp,yp)为投影仪平面的像素坐标，W是投影仪的水平分辨率，f是三步相移条纹图像的频率；
其次，通过彩色相机同步拍摄投影的条纹图像，采集的三步相移条纹图像的光强图被表示为：
I1(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y))
I2(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+2π/3)
I3(x,y)＝A(x,y)+B(x,y)cos(Φ(x,y)+4π/3)
其中，I1(x,y)、I2(x,y)和I3(x,y)为对应的三步相移条纹图像光强图，(x,y)为相机平面的像素坐标，A(x,y)为背景光强，B(x,y)为条纹的调制度,Φ(x,y)为待求相位；
然后，基于采集的三步相移条纹图像，包裹相位图
Figure FDA0003551522700000026
由下式计算而得：
Figure FDA0003551522700000027
由于arctan函数的截断效应，求得的相位图
Figure FDA0003551522700000028
为包裹相位，其值域为[0,2π]，其与Φ(x,y)的关系如下：
Figure FDA0003551522700000029
其中，k(x,y)为相位的周期级次，其值域为[0,f-1]范围内的整数；
然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位Φ(x,y)；
最后，根据相机和投影仪之间的系统参数和非反光区域的判断条件Mask(x,y)＝0，实现非反光区域的三维测量。
5.根据权利要求3所述的针对高反光物体的一种基于彩色图像检测的三维测量方法，其特征在于，所述步骤三具体为：
首先，投影仪投影基于多步相移的低亮度低频条纹图进行三维测量：
Figure FDA00035515227000000210
其中，
Figure FDA0003551522700000031
为投影仪投影的基于多步相移的低亮度低频条纹图，N是低亮度低频条纹图的总相移步数，flow为低亮度低频条纹图的频率，W代表投影仪的横向分辨率，(xp,yp)是投影仪的投影平面上的二维坐标；
其次，彩色相机同步拍摄投影的多步相移条纹图像，通过多步相移算法获得高反光区域的相位；
然后，根据多频时间相位展开算法获得绝对相位；
最后，最后根据相机和投影仪之间的系统参数和反光区域的判断条件Mask(x,y)＝1，从而实现高反光区域的三维测量。
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Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101118155A (zh) * 2006-08-01 2008-02-06 三菱电机株式会社 用于感测反光物体的表面形状的方法和系统
JP2008281391A (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Pulstec Industrial Co Ltd ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法
CN101694375A (zh) * 2009-10-23 2010-04-14 北京航空航天大学 一种用于强反射表面三维形貌测量的立体视觉检测方法
CN102944187A (zh) * 2012-10-18 2013-02-27 北京航空航天大学 一种基于彩色条纹组合投射的快速强反射表面相位获取方法
WO2013136620A1 (ja) * 2012-03-14 2013-09-19 独立行政法人産業技術総合研究所 高次元輝度情報を用いた縞画像の位相分布解析方法、装置およびそのプログラム
CN109253708A (zh) * 2018-09-29 2019-01-22 南京理工大学 一种基于深度学习的条纹投影时间相位展开方法
CN109540038A (zh) * 2018-09-12 2019-03-29 天津大学 基于彩色多通道双频相移的机器视觉自适应补光测量方法
CN110057319A (zh) * 2019-02-20 2019-07-26 西安理工大学 一种大范围反射率变化物体的高速三维测量方法
CN110672038A (zh) * 2019-09-03 2020-01-10 安徽农业大学 一种基于双频相移条纹投影的快速三维测量方法
CN110702034A (zh) * 2019-10-25 2020-01-17 湖北工业大学 高反光表面三维面形测量方法、服务器及系统
CN210426454U (zh) * 2019-09-04 2020-04-28 苏州瑞霏光电科技有限公司 用于复合面产品的表面三维轮廓检测装置
CN111473745A (zh) * 2020-06-23 2020-07-31 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司 一种基于多频相移方案的发光表面微观三维测量方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106931910B (zh) * 2017-03-24 2019-03-05 南京理工大学 一种基于多模态复合编码和极线约束的高效三维图像获取方法

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101118155A (zh) * 2006-08-01 2008-02-06 三菱电机株式会社 用于感测反光物体的表面形状的方法和系统
JP2008281391A (ja) * 2007-05-09 2008-11-20 Pulstec Industrial Co Ltd ３次元形状測定装置および３次元形状測定方法
CN101694375A (zh) * 2009-10-23 2010-04-14 北京航空航天大学 一种用于强反射表面三维形貌测量的立体视觉检测方法
WO2013136620A1 (ja) * 2012-03-14 2013-09-19 独立行政法人産業技術総合研究所 高次元輝度情報を用いた縞画像の位相分布解析方法、装置およびそのプログラム
CN102944187A (zh) * 2012-10-18 2013-02-27 北京航空航天大学 一种基于彩色条纹组合投射的快速强反射表面相位获取方法
CN109540038A (zh) * 2018-09-12 2019-03-29 天津大学 基于彩色多通道双频相移的机器视觉自适应补光测量方法
CN109253708A (zh) * 2018-09-29 2019-01-22 南京理工大学 一种基于深度学习的条纹投影时间相位展开方法
CN110057319A (zh) * 2019-02-20 2019-07-26 西安理工大学 一种大范围反射率变化物体的高速三维测量方法
CN110672038A (zh) * 2019-09-03 2020-01-10 安徽农业大学 一种基于双频相移条纹投影的快速三维测量方法
CN210426454U (zh) * 2019-09-04 2020-04-28 苏州瑞霏光电科技有限公司 用于复合面产品的表面三维轮廓检测装置
CN110702034A (zh) * 2019-10-25 2020-01-17 湖北工业大学 高反光表面三维面形测量方法、服务器及系统
CN111473745A (zh) * 2020-06-23 2020-07-31 南京理工大学智能计算成像研究院有限公司 一种基于多频相移方案的发光表面微观三维测量方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
基于面结构光的高反光物体测量技术研究;彭文君;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20200315(第03（2020）期);I138-1106 *
类镜面物体的三维重建关键技术研究;钟建平;《中国优秀硕士学位论文全文数据库信息科技辑》;20190115(第01（2019）期);I138-3999 *

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