CN112737674B - 检测系统及检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种检测系统以及检测方法，用于检测相干光接收机的相位误差，检测系统包括光源、分束器、时延器、第一偏振控制器、第二偏振控制器、电信号测试组件以及信号处理单元，光源用于发出具有不同波长的测试光；分束器用于将测试光分成第一子光束和第二子光束；第一子光束和第二子光束之间具有相同的频率和稳定的相位差，从而在相干光接收机内能够有效混频以形成混频光，混频光在相干光接收机内转换成电信号，电信号从相干光接收机的输出端口输出；电信号测试组件获取每个输出端口的电信号，信号处理单元根据电信号获取相干光接收机的相位误差，检测系统以及检测方法简单、高效。

Description

检测系统及检测方法

技术领域

本申请涉及相干光接收机测试技术领域，尤其涉及一种检测系统及检测方法。

背景技术

相干光接收机作为相干光通信的接收端，相干光接收机将接收到的信号光和本振光进行相干混频后形成混频光，再将混频光转换成电信号，电信号通过相干光接收机的输出端口输出；相干光接收机的不同的输出端口之间存在相位误差，影响信号处理，因此，需要检测相干光接收机的相位误差。

发明内容

有鉴于此，本申请实施例期望提供一种检测系统及检测方法，用于检测相干光接收机的相位误差，为达实现上述目的，本申请实施例的技术方案是这样实现的：

本申请实施例一方面提供一种检测系统，用于检测相干光接收机的相位误差，包括：

光源，用于发出具有不同波长的测试光；

分束器，用于将所述测试光分成第一子光束和第二子光束；

时延器，用于控制所述第二子光束的传输时延；

第一偏振控制器，用于控制来自所述分束器的第一子光束的偏振态，经过所述第一偏振控制的第一子光束输入所述相干光接收机的第一输入端口；

第二偏振控制器，用于控制来自所述时延器的第二子光束的偏振态，经过所述第二偏振控制的第二子光束输入所述相干光接收机的第二输入端口；

电信号测试组件，用于获取所述相干光接收机的每个输出端口的电信号；以及

信号处理单元，用于根据所述电信号获取所述相干光接收机的相位误差。

一些实施例中，所述检测系统包括：

第一连接器，用于将来自所述第一偏振控制器的第一子光束耦合进入所述第一输入端口；以及

第二连接器，用于将来自所述第二偏振控制器的第二子光束耦合进入所述第二输入端口。

一些实施例中，所述检测系统包括用于同步触发所述光源和所述电信号测试组件的同步触发线路。

一些实施例中，所述时延器为延时芯片或光纤延时线。

一些实施例中，所述延时芯片为波导延时线、亚波长布拉格光栅、表面等离子体或光子晶体。

一些实施例中，所述测试光的波长范围包括可见光波段和/或中红外波段；和/或，

所述分束器为片上集成分束器或无源分立分束器。

一些实施例中，所述第一偏振控制器为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器；和/或，

所述第二偏振控制器为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器；和/或，

所述电信号测试组件包括多个电信号测试源表，所述电信号测试源表至少能够检测一个所述输出端口的电信号。

本申请实施例另一方面提供一种检测方法，用于检测相干光接收机的相位误差，其特征在于，包括：

光源发出一个波长的测试光；

分束器将所述测试光分成第一子光束和第二子光束；

时延器控制所述第二子光束的传输时延；

来自所述分束器的所述第一子光束经过第一偏振控制器输入所述相干光接收机的第一输入端口，来自所述时延器的所述第二子光束经过第二偏振控制器输入所述相干光接收机的第二输入端口，调节所述第一偏振控制器以控制所述第一子光束的偏振态，调节所述第二偏振控制器以控制所述第二子光束的偏振态，直至电信号测试组件检测的所述相干光接收机的每个输出端口的电信号为预设值；

扫描不同波长的所述测试光；

所述电信号测试组件获取每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号；

信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号获取所述相干光接收机的相位误差。

一些实施例中，所述信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号生成横坐标为波长、纵坐标为归一化光电流的特性曲线图。

一些实施例中，从所述特性曲线图获取自由光谱范围、以及任意两个所述输出端口对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值；根据所述自由光谱范围和所述波长偏移值得到所述相位误差。

本申请实施例的检测系统结构简单，易于实现，检测成本低，分束器将来自光源的测试光按功率分成第一子光束和第二子光束，时延器控制第二子光束的传输时延，以使第一子光束和第二子光束产生相位差，第一子光束和第二子光束其中之一作为信号光，第一子光束和第二子光束其中另一作为本振光，由于第一子光束和第二子光束来自同一光源，第一子光束和第二子光束具有稳定且相同的频率；利用时延器控制第二子光束的传输时延，以使信号光和本振光具有稳定的相位差；第一偏振控制器用于控制第一子光束偏振态，第二偏振控制器用于控制第二子光束偏振态，以便第一子光束和第二子光束的偏振态与相干光接收机的偏振类型相适配，从而使得第一子光束和第二子光束能够在相干光接收机内有效混频，如此，检测系统能够匹配不同偏振类型的相干光接收机；第一子光束和第二子光束之间具有相同的频率和稳定的相位差，以便进入相干光接收机的第一子光束和第二子光束能够产生稳定的干涉，从而在相干光接收机内能够有效混频以形成混频光，混频光在相干光接收机内转换成电信号，电信号从相干光接收机的输出端口输出；电信号测试组件获取每个输出端口的电信号，信号处理单元根据电信号获取相干光接收机的相位误差。本申请实施例提供的检测方法简单高效。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种检测系统的结构示意图；

图2为本申请实施例提供的一种检测方法的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种相干光接收机的输出端口对应不同波长的测试光形成的电信号生成横坐标为波长、纵坐标为归一化光电流的特性曲线图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的技术特征可以相互组合，具体实施方式中的详细描述应理解为本申请宗旨的解释说明，不应视为对本申请的不当限制。下面结合附图及具体实施例对本申请再作进一步详细的说明。

请参见图1，本申请实施例一方面提供一种检测系统，用于检测相干光接收机100的相位误差，检测系统包括光源10、分束器20、时延器30、第一偏振控制器40、第二偏振控制器50、电信号测试组件60以及信号处理单元，光源10用于发出具有不同波长的测试光；分束器20用于将测试光分成第一子光束和第二子光束；时延器30用于控制第二子光束的传输时延；第一偏振控制器40用于控制来自分束器20的第一子光束的偏振态，经过第一偏振控制40的第一子光束输入相干光接收机100的第一输入端口；第二偏振控制器50用于控制来自时延器30的第二子光束的偏振态，经过第二偏振控制50的第二子光束输入相干光接收机100的第二输入端口；电信号测试组件60用于获取相干光接收机的每个输出端口的电信号；信号处理单元用于根据电信号获取相干光接收机100的相位误差。

本申请实施例提供的检测系统结构简单，易于实现，检测成本低，分束器20将来自光源10的测试光按功率分成第一子光束和第二子光束，时延器30控制第二子光束的传输时延，以使第一子光束和第二子光束产生相位差，第一子光束和第二子光束其中之一作为信号光，第一子光束和第二子光束其中另一作为本振光，由于第一子光束和第二子光束来自同一光源10，第一子光束和第二子光束具有稳定且相同的频率；利用时延器30控制第二子光束的传输时延，以使信号光和本振光具有稳定的相位差；第一偏振控制器40用于控制第一子光束偏振态，第二偏振控制器50用于控制第二子光束偏振态，具体的，第一偏振控制器40设置于分束器20和第一输入端口之间，第二偏振控制器50设置于时延器30和第二输入端口之间，以便第一子光束和第二子光束的偏振态与相干光接收机100的偏振类型相适配，从而使得第一子光束和第二子光束能够在相干光接收机100内有效混频，如此，检测系统能够匹配不同偏振类型的相干光接收机100；第一子光束和第二子光束之间具有相同的频率和稳定的相位差，以便进入相干光接收机100的第一子光束和第二子光束能够产生稳定的干涉，从而在相干光接收机100内能够有效混频以形成混频光，混频光在相干光接收机100内转换成电信号，电信号从相干光接收机100的输出端口输出；电信号测试组件60获取每个输出端口的电信号，示例性的，电信号为电流信号，电信号测试组件60获取每个输出端口的电流信号；电信号测试组件与所述相干光接收机100的每个输出端口电连接，信号处理单元与电信号测试组件60电连接，信号处理单元根据电信号获取相干光接收机100的相位误差。

一实施例中，请参见图1，光源10为波长可调谐激光器。一实施例中，测试光的波长范围包括可见光波段和/或中红外波段。

一实施例中，请参见图1，时延器30为延时芯片或光纤延时线。具体的，延时芯片为片上集成器件，以便减小时延器30的尺寸。光纤延时线结构简单、成本较低。

示例性的，一实施例中，延时芯片为波导延时线、亚波长布拉格光栅、表面等离子体或光子晶体。

一实施例中，请参见图1，分束器20为片上集成分束器或无源分立分束器。片上集成分束器尺寸较小，无源分立分束器成本较低。如此，可以根据需求，采用片上集成分束器或无源分立分束器。

一实施例中，请参见图1，第一偏振控制器40为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器。如此，可以根据需求，采用片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器中的任意一种作为第一偏振控制器40。

一实施例中，请参见图1，第二偏振控制器50为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器。如此，可以根据需求，采用片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器中的任意一种作为第二偏振控制器50。

一实施例中，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为片上集成器件，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均可以包括二氧化硅、氮化硅、硅、三五族、锗和聚合物中的一种或几种材料。

示例性的，一实施例中，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为片上集成器件。如此，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均具有较小的尺寸，使得检测系统更加小型。示例性的，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均可以为硅基光子器件。

另一实施例中，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为无源分立器件。如此，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50工艺简单、成本较低。示例性的，分束器20、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均可以为空间光学器件。

一具体实施例中，时延器30为延时芯片，例如时延器30为波导延时线、亚波长布拉格光栅、表面等离子体或光子晶体，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为片上集成器件；分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50可以集成于同一个衬底上，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50之间通过波导连接，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50共同封装成整体，以便进一步减小检测系统的尺寸，降低成本。另一具体实施例中，时延器30、分束器20、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为片上集成器件，时延器30、分束器20、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50分别单独封装成独立的光学器件，时延器30、分束器20、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50之间通过光纤连接。又一具体实施例中，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50均为无源分立器件，例如时延器30为光纤延时线，分束器20、时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50之间通过光纤连接。

一实施例中，请参见图1，检测系统包括第一连接器70以及第二连接器80，第一连接器70用于将来自第一偏振控制器40的第一子光束耦合进入第一输入端口；第二连接器80用于将来自第二偏振控制器50的第二子光束耦合进入第二输入端口。具体的，第一偏振控制器40和第一连接器70之间通过光纤连接，第一连接器70与第一输入端口耦合；第二偏振控制器50和第二连接器80之间通过光纤连接，第二连接器80与第二输入端口耦合。利用第一连接器70使得第一子光束能够最大限度地耦合进入第一输入端口内，利用第二连接器80使得第二子光束能够最大限度地耦合进入第二输入端口内。

示例性的，一具体实施例中，请参见图1，第一偏振控制器40和第一连接器70之间通过光纤连接，第一连接器70与第一输入端口连接，如此，从第一连接器70的输出端输出的第一子光束的光斑直径能够更好地匹配第一输入端口的模场直径，避免第一子光束和第一输入端口之间的接头损耗，获得更大的耦合效率；第二偏振控制器50和第二连接器80之间通过光纤连接，第二连接器80与第二输入端口连接，如此，从第二连接器80的输出端输出的第二子光束的光斑直径能够更好地匹配第二输入端口的模场直径，避免第二子光束和第二输入端口之间的接头损耗，获得更大的耦合效率。在完成检测之后，可以将第一连接器70从第一输入端口拆卸下来，第二连接器80从第二输入端口拆卸下来，以便检测系统用于检测其他相干光接收机100的相位误差。

一实施例中，请参见图1，电信号测试组件60包括多个电信号测试源表61，电信号测试源表61至少能够检测一个输出端口的电信号。示例性的，一具体实施例中，电信号测试源表61与输出端口一一对应，也就是说，电信号测试源表61的数量与输出端口的数量相同，每个电信号测试源表61对应测试一个输出端口的电信号。另一具体实施例中，电信号测试源表61测试多个输出端口的电信号。

需要说明的是，本申请实施例中多个是指数量两个以及两个以上。

一实施例中，请参见图1，检测系统包括用于同步触发光源10和电信号测试组件60的同步触发线路90。如此，便于用户通过一个操作同步触发光源10和电信号测试组件60，检测更加快捷、便利。

请参见图2，本申请实施例另一方面提供一种检测方法，用于检测相干光接收机100的相位误差，检测方法包括：

S110：光源发出一个波长的测试光；

S120：分束器将所述测试光分成第一子光束和第二子光束；

S130：时延器控制所述第二子光束的传输时延；

S140：来自所述分束器的所述第一子光束经过第一偏振控制器输入所述相干光接收机的第一输入端口，来自所述时延器的所述第二子光束经过第二偏振控制器输入所述相干光接收机的第二输入端口，调节所述第一偏振控制器以控制所述第一子光束的偏振态，调节所述第二偏振控制器以控制所述第二子光束的偏振态，直至电信号测试组件检测的所述相干光接收机的每个输出端口的电信号为预设值；

S150：扫描不同波长的所述测试光；

S160：电信号测试组件获取每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号；

S170：信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号获取所述相干光接收机的相位误差。

本申请实施例提供的检测方法简单，操作简单，检测效率高，检测成本低；光源10发出一个波长的测试光，分束器20将来自光源10的测试光按功率分成第一子光束和第二子光束，时延器30控制第二子光束的传输时延，以使第一子光束和第二子光束产生相位差，第一子光束和第二子光束其中之一作为信号光，第一子光束和第二子光束其中另一作为本振光，由于本振光和信号光来自同一光源10，第一子光束和第二子光束具有稳定且相同的频率；利用时延器30控制第二子光束的传输时延，以使信号光和本振光具有稳定的相位差；第一偏振控制器40用于控制第一子光束偏振态，第二偏振控制器50用于控制第二子光束偏振态，以便第一子光束和第二子光束的偏振态与相干光接收机100的偏振态相适配。示例性的，相干光接收机100为X偏振相干光接收机，例如，X偏振可以为横电场偏振态和/或横磁场偏振态，调节第一偏振控制器40以控制第一子光束的偏振态为X偏振态，调节第二偏振控制器50以控制第二子光束的偏振态为X偏振态，如此，第一子光束和第二子光束能够在相干光接收机100内有效混频，如此，检测系统能够匹配不同偏振类型的相干光接收机100；第一子光束和第二子光束之间具有相同的频率、相同的偏振态和稳定的相位差，以便进入相干光接收机100的第一子光束和第二子光束能够产生稳定的干涉，从而在相干光接收机100内能够有效混频以形成混频光，混频光在相干光接收机100内转换成电信号，电信号从相干光接收机100的输出端口输出，调节第一偏振控制器40以控制第一子光束的偏振态，调节第二偏振控制器50以控制第二子光束的偏振态，直至电信号测试组件60检测的相干光接收机100的每个输出端口的电信号为预设值，至此，完成校准步骤，光源10发出一个波长的测试光，用于校准时延器30、第一偏振控制器40和第二偏振控制器50，以便测试光的偏振态与相干光接收机100的偏振类型相适配，以便第一子光束和第二子光束能够在相干光接收机100内实现有效混频。

扫描不同波长的测试光，电信号测试组件60获取每个输出端口对应不同波长的测试光形成的电信号。也就是说，扫描不同波长的测试光，每个输出端口对应不同波长的测试光形成电信号，电信号测试组件60获取每个输出端口对应的电信号。

信号处理单元根据每个输出端口对应不同波长的测试光形成的电信号获取相干光接收机100的相位误差。如此，完成相干光接收机100的相位误差的检测。

本申请实施例的检测方法简单，能够快速获取相干光接收机100的输出端口的相位误差。

示例性的，一实施例中，电信号的预设值可以为最大值。一些实施例中，电信号为电流信号，电信号测试组件60获取每个输出端口的电流信号，电信号的预设值为电流信号的最大值。

需要说明的是，时延器30的传输时延为设定值，以便控制第一子光束和第二子光束之间的相位差，在调节完成第一偏振控制器40和第二偏振控制器50后，时延器30的传输时延保持为设定值。

一实施例中，所述信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号生成横坐标为波长、纵坐标为归一化光电流的特性曲线图。信号处理单元能够将每个输出端口的电信号换算成对应的归一化光电流，再生成以波长为横坐标、归一化光电流为纵坐标的特性曲线，每个输出端口的电信号换算成的归一化光电流对应不同波长的测试光生成对应的特性曲线。

一实施例中，请参见图3，从所述特性曲线图获取自由光谱范围、以及任意两个所述输出端口对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值；根据所述自由光谱范围和所述波长偏移值得到所述相位误差。

具体的，请参见下述公式(1)，其中，PE(Phase Error)为相位误差，FSR(FreeSpectral Range)为自由光谱范围，Δλ为任意两个输出端口对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值，

为对应的两个输出端口之间的相位差；

由上述公式(1)可知，从特性曲线图能够快速获取自由光谱范围、以及任意两个输出端口对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值；根据自由光谱范围和波长偏移值得到相位误差。

示例性，一具体实施例中，以本申请的检测方法用于检测具有四个输出端口的相干光接收机100为例，请参见图1，其中，相干光接收机100的四个输出端口分别定义为out1、out2、out3和out4，第一子光束和第二子光束分别进入相干光接收机100后，第一子光束和第二子光束其中一个在相干光接收机100内相位旋转90°，相位旋转90°的一路光和另一路光正交，两路光相加后，就形成了四个信号点，四个信号点分别通过四个输出端口out1、out2、out3和out4输出，其中，out1和out2之间的相位差为180°，out3和out4之间的相位差为180°，out1和out3之间的相位差为90°，out2和out4之间的相位差为90°，out1和out4之间的相位差为270°，每个输出端口的电信号换算成的归一化光电流对应不同波长的测试光生成对应的特性曲线，请参见图3，图3为上述相干光接收机100的输出端口对应不同波长的测试光形成的电信号生成横坐标为波长、纵坐标为归一化光电流的特性曲线图，图3中四个特性曲线分别为out1对应的特性曲线、out2对应的特性曲线、out3对应的特性曲线、out4对应的特性曲线，其中，Δλ1为out1和out2对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值，Δλ2为out3和out4对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值，Δλ3为out1和out4对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值，FSR为自由光谱范围。

则out1和out2之间的相位误差

out3和out4之间的相位误差

out1和out4之间的相位误差

以上仅以一个具体的相干光接收机100的检测为例用于说明，本申请实施例的检测系统和检测方法，能够用于检测单偏振相干光接收机100和/或双偏振相干光接收机100的相位误差，通常单偏振相干光接收机100具有四个输出端口，双偏振相干光接收机100具有八个输出端口。本申请实施例对相干光接收机100的具体结构和类型并不予以限制。

本申请实施例检测方法中用到的光源10、分束器20、时延器30、第一偏振控制器40、第二偏振控制器50、电信号测试组件60以及信号处理单元，可以为本申请任一实施例中的光源10、分束器20、时延器30、第一偏振控制器40、第二偏振控制器50、电信号测试组件60以及信号处理单元，具体参见本申请任一实施例中有关检测系统的描述，在此不再赘述。本申请实施例的检测系统能够采用本申请实施例任一实施例中的检测方法以获取相干光接收机100的相位误差，具体请参见本申请任一实施例中有关检测方法的描述，在此不再赘述。

需要说明的是，本申请实施例的检测方法，信号处理单元可以将相位误差发送至显示设备或打印设备等输出设备，以便输出相位误差，例如显示设备显示相位误差或打印设备直接将相位误差打印至纸张上。信号处理单元也可以将相位误差和特性曲线图均发送至显示设备或打印设备等输出设备，以便输出相位误差和特性曲线图，例如显示设备显示相位误差和特性曲线图、或打印设备直接将相位误差和特性曲线图打印至纸张上。本申请实施例对输出相位误差的方式并不予以限制。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不仅限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种检测系统，用于检测相干光接收机的相位误差，其特征在于，包括：

光源，用于发出具有不同波长的测试光；

分束器，用于将所述测试光分成第一子光束和第二子光束；

时延器，用于控制所述第二子光束的传输时延；

第一偏振控制器，用于控制来自所述分束器的第一子光束的偏振态，经过所述第一偏振控制的第一子光束输入所述相干光接收机的第一输入端口；

第二偏振控制器，用于控制来自所述时延器的第二子光束的偏振态，经过所述第二偏振控制的第二子光束输入所述相干光接收机的第二输入端口；

电信号测试组件，用于获取所述相干光接收机的每个输出端口的电信号；以及

信号处理单元，用于根据所述电信号获取所述相干光接收机的相位误差。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：

第一连接器，用于将来自所述第一偏振控制器的第一子光束耦合进入所述第一输入端口；以及

第二连接器，用于将来自所述第二偏振控制器的第二子光束耦合进入所述第二输入端口。

3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统包括用于同步触发所述光源和所述电信号测试组件的同步触发线路。

4.根据权利要求1～3任意一项所述的检测系统，其特征在于，所述时延器为延时芯片或光纤延时线。

5.根据权利要求4所述的检测系统，其特征在于，所述延时芯片为波导延时线、亚波长布拉格光栅、表面等离子体或光子晶体。

6.根据权利要求1～3任意一项所述的检测系统，其特征在于，所述测试光的波长范围包括可见光波段和/或中红外波段；和/或，

所述分束器为片上集成分束器或无源分立分束器。

7.根据权利要求1～3任意一项所述的检测系统，其特征在于，所述第一偏振控制器为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器；和/或，

所述第二偏振控制器为片上集成偏振控制器、无源分立偏振控制器或仪表偏振控制器；和/或，

所述电信号测试组件包括多个电信号测试源表，所述电信号测试源表至少能够检测一个所述输出端口的电信号。

8.一种检测方法，用于检测相干光接收机的相位误差，其特征在于，包括：

光源发出一个波长的测试光；

分束器将所述测试光分成第一子光束和第二子光束；

时延器控制所述第二子光束的传输时延；

来自所述分束器的所述第一子光束经过第一偏振控制器输入所述相干光接收机的第一输入端口，来自所述时延器的所述第二子光束经过第二偏振控制器输入所述相干光接收机的第二输入端口，调节所述第一偏振控制器以控制所述第一子光束的偏振态，调节所述第二偏振控制器以控制所述第二子光束的偏振态，直至电信号测试组件检测的所述相干光接收机的每个输出端口的电信号为预设值；

扫描不同波长的所述测试光；

所述电信号测试组件获取每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号；

信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号获取所述相干光接收机的相位误差。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述信号处理单元根据每个所述输出端口对应不同波长的所述测试光形成的电信号生成横坐标为波长、纵坐标为归一化光电流的特性曲线图。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，从所述特性曲线图获取自由光谱范围、以及任意两个所述输出端口对应的特性曲线相邻的下行峰之间的波长偏移值；根据所述自由光谱范围和所述波长偏移值得到所述相位误差。

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