CN112731592A - 一种光纤衰减点的制作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及光通信模块领域，具体涉及一种光纤衰减点的制作方法；所述光纤衰减点应用于光模块中，所述制作方法包括以下步骤：将光纤断开，以形成第一光纤和第二光纤；将第一光纤和第二光纤的断开处接入熔接机进行错位熔接，以获取具有固定光纤衰减值的光纤衰减点；与现有技术相比，本发明通过设计一种光纤衰减点的制作方法，其原材料简单且价格低廉，其制作工艺简单，且其制作过程中采用的设备为常用设备，使得该制作方法简单易行，且可根据需要快速定制具有各种衰减值的光纤衰减点，且该光纤衰减点体积小，适合在光模块产品或模块子系统等产品中推行运用，有利于促进模块小型化发展。
Description
技术领域
本发明涉及光通信模块领域，具体涉及一种光纤衰减点的制作方法。
背景技术
光通信网路上用的光电模块中，需要用到光探测器来对光信号进行探测和监控；光探测器是一种能把光辐射能量转换成一种便于测量的物料量的器件。当进入光探测器的信号光强度，达到饱和以后，光探测器输出值将会不线性，引起系统的误判。
为此，在实际运用中，需要在光探测器前端根据需要增加光衰减器。现有的光模块产品或子系统模块，一般均采用加衰减光纤，或者衰减光器件，或者分光器的方案；现有的光衰减方案均存在许多缺陷，例如：
1、采用加衰减光纤技术，需要根据目标衰减值，精确计算衰减光纤的长度，并在确定长度后，通过光纤熔接的方式加入到产品光路中，因为其需要精确计算衰减光纤的长度，其操作难度高，且成本较高；
2、采用加衰减光器件或分光器技术，器件本身的成本较高，且器件体积较大，不利于模块小型化设计。
因此，设计一种简易的光纤衰减点制作方法以实现光信号衰减对本领域来说是至关重要的。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种光纤衰减点的制作方法，克服了现有技术中存在的操作难度大且成本较高的缺陷。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种光纤衰减点的制作方法，其优选方案在于，所述光纤衰减点应用于光模块中，所述制作方法包括以下步骤：
将光纤断开，以形成第一光纤和第二光纤；
将第一光纤和第二光纤的断开处接入熔接机进行错位熔接，以获取具有固定衰减值的光纤衰减点。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
将熔接机调节到衰减模式，并预设一目标衰减值；
根据预设的目标衰减值对第一光纤和第二光纤进行错位熔接，以获取具有目标衰减值的光纤衰减点。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
将光纤的一端接入光源，另一端接入光功率计；
将光纤断开，以形成连接有光源的第一光纤和连接有光功率计的第二光纤。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
当进行错位熔接后，通过光功率计上显示的损耗值，获取该光纤衰减点的实际衰减值。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
反复进行错位熔接2-5次，分别获取多次错位熔接的实际衰减值，并获取实际衰减平均值以作为最终衰减值。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
预设一允许误差范围；
获取错位熔接的目标衰减值与最终衰减值之间的实际误差值；
当实际误差值在允许误差范围内时，对光纤衰减点进行密封保护。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
当实际误差值超过允许误差范围时，将预设的目标衰减值减去实际误差值以作为当前的修正目标衰减值。
其中，较佳方案为，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
在进行错位熔接前，往第一光纤或第二光纤上套设一热缩管；
在进行错位熔接后，将热缩管移动到光纤衰减点上，并对热缩管进行热缩处理，以保护光纤衰减点；
其中，较佳方案为，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
在进行错位熔接后，在光纤衰减点外部涂覆一层保护胶并将其固化，以保护光纤衰减点。
其中，较佳方案为，所述制作方法还包括以下步骤：
将光纤断开以形成第一光纤和第二光纤后，对第一光纤和第二光纤的断开处进行外包层剥除，并清洁。
本发明的有益效果在于，与现有技术相比，本发明通过设计一种光纤衰减点的制作方法，其原材料简单且价格低廉，其制作工艺简单，且其制作过程中采用的设备为常用设备，使得该制作方法简单易行，且可根据需要快速定制具有各种衰减值的光纤衰减点，且该光纤衰减点体积小，适合在光模块产品或模块子系统等产品中推行运用，有利于促进模块小型化发展。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图一；
图2是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图二；
图3是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图三；
图4是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图四；
图5是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图五；
图6是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图六；
图7是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图七；
图8是本发明中的一种光纤衰减点的制作方法的步骤流程图八；
图9是本发明中对光纤衰减点进行密封保护的步骤流程图一；
图10是本发明中对光纤衰减点进行密封保护的步骤流程图二。
具体实施方式
现结合附图，对本发明的较佳实施例作详细说明。
如图1-图8所示，本发明提供一种光纤衰减点的制作方法的最佳实施例。
一种光纤衰减点的制作方法，参考图1，所述制作方法包括以下步骤：
S1、将光纤断开，以形成第一光纤和第二光纤；
S2、将第一光纤和第二光纤的断开处接入熔接机进行错位熔接，以获取具有固定衰减值的光纤衰减点。
具体的，当利用光探测器对光信号进行探测和监控时，进入光探测器的信号光强度达到饱和之后，光探测器的输出值会不线性，会导致系统误判，因此，在实际场景中，需要在光探测器前端根据需要增加光衰减器，或者是采用衰减光纤，其中，增加光衰减器的方案成本较高且器件体积较大，采用衰减光纤的方案中需要根据目标衰减值，精确计算衰减光纤的长度，定长后再通过光纤熔接的方式加入到产品光路中，其操作难度大且成本高，进一步地，由于光信号在光纤纤芯内传输，光能量按照高斯分布的方式进行传输，绝大部分的光能力集中在纤芯部分，正常情况下，将两根相同的光纤进行熔接时，都需要精准对位提高耦合效率，减少熔接带来的光信号损失，在本实施例中，利用光纤的错位熔接，致使光信号通过该熔接点时，部分光信号能直接溢出光纤纤芯，进而达到光信号衰减的目的，直接利用了光能量在纤芯中的分布特性来实现光衰减功能，具体可通过对两端光纤进行错位熔接直接获取一个具有固定光纤衰减值的光纤衰减点，该光纤衰减点可直接添加到产品光路中，实现对光信号衰减的目的，并且，该光纤衰减点的光纤衰减值可直接通过调节熔接机的参数设定获取，该方式操作简单且容易推行。
其中，所述光纤衰减点可广泛应用于光模块产品和模块子系统等产品中，其体积小，有利于促进模块小型化发展。
进一步地，并参考图2，所述制作方法还包括以下步骤：
S21、将熔接机调节到衰减模式，并预设一目标衰减值；
S22、根据预设的目标衰减值对第一光纤和第二光纤进行错位熔接，以获取具有目标衰减值的光纤衰减点。
具体的，在进行光纤错位熔接前，将熔接机调节到衰减模式，并在该衰减模式下预先设定一目标衰减值，进一步地，熔接机根据预设的目标衰减值对第一光纤和第二光纤进行错位熔接，并获取具有该目标衰减值的光纤衰减点，并且，可以根据具体的应用场景的需求对熔接机设定不同的目标衰减值，以获取具有其在实际应用场景中所需要的衰减值的光纤衰减点。
进一步地，并参考图3，所述制作方法还包括以下步骤：
S11、将光纤的一端接入光源，另一端接入光功率计；
S12、将光纤断开，以形成连接有光源的第一光纤和连接有光功率计的第二光纤。
具体的，由于当第一光纤和第二光纤在错位熔接时，可能存在熔接误差，将导致实际得到的光纤衰减点的衰减值与熔接机中设定的目标衰减值有偏差，所以，在本实施例中，通过在光纤的一端接入光源，在其另一端接入光功率计，可获取到第一光纤和第二光纤在错位熔接后所获取的光纤衰减点的实际衰减值。
进一步地，并参考图4，所述制作方法还包括以下步骤：
S23、当进行错位熔接后，通过光功率计上显示的损耗值，获取该光纤衰减点的实际衰减值。
具体的，通过读取光功率计上显示的损耗值，可以得出该光纤衰减点的实际衰减值，以监控第一光纤和第二光纤在错位熔接过程中出现的操作误差，进而保证该光纤衰减点的衰减量的准确性。
进一步地，并参考图5，所述制作方法还包括以下步骤：
S3、反复进行错位熔接2-5次，分别获取多次错位熔接的实际衰减值，并获取实际衰减平均值以作为最终衰减值。
具体的，通过反复错位熔接多次并获取多次实际衰减值，在通过计算多次实际衰减值的平均值来作为最终衰减值，有效控制了熔接机的自身误差的影响，进一步保证了该光纤衰减点的衰减量的准确性。
进一步地，并参考图6，所述制作方法还包括以下步骤：
S31、预设一允许误差范围；
S32、获取错位熔接的目标衰减值与最终衰减值之间的实际误差值；
S33、当实际误差值在允许误差范围内时，对光纤衰减点进行密封保护。
具体的，可允许该光纤衰减点的最终衰减值与目标衰减值(即应用场景所需衰减值)之间存在一定的误差范围，在本实施例中，所述允许误差范围为2dB，需要说明的是，该允许误差范围可根据具体的应用场景所要求的衰减值精准度来进行自定义设置，当实际误差值在允许误差范围内时，将默认忽略该误差，并对该光纤衰减点进行密封保护。
进一步地，并参考图7，所述制作方法还包括以下步骤：
S34、当实际误差值超过允许误差范围时，将预设的目标衰减值减去实际误差值以作为当前的修正目标衰减值。
具体的，当实际误差值过大，且超过可允许的误差范围时，需要对熔接机上的预设目标衰减值的参数进行调整，具体为将预设的目标衰减值减去实际误差值以作为当前的修正目标衰减值，以保证错位熔接后的光纤衰减点的衰减量的精准度。
进一步地，并参考图7，所述制作方法还包括以下步骤：
S13、将光纤断开以形成第一光纤和第二光纤后，对第一光纤和第二光纤的断开处进行外包层剥除，并清洁。
如图8-9所示，本发明提供对光纤衰减点进行密封保护的最佳实施例。
方案一
参考图9，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
S41、在进行错位熔接前，往第一光纤或第二光纤上套设一热缩管；
S42、在进行错位溶解后，将热缩管移动到光纤衰减点上，并对热缩管进行热缩，以保护光纤衰减点。
具体的，当第一光纤或第二光纤上套设有热缩管之后，将熔接机设置为热管模式，并设置好套管长度，热缩温度以及热缩时间等参数，以对热缩管进行热缩操作，并使得热缩后肉眼观察没有气泡、发白或起皱等不良现象。
方案二
参考图10，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
S43、在进行错位熔接后，在光纤衰减点外部涂覆一层保护胶并将其固化，以保护光纤衰减点。
以上所述者，仅为本发明最佳实施例而已，并非用于限制本发明的范围，凡依本发明申请专利范围所作的等效变化或修饰，皆为本发明所涵盖。
Claims (10)
1.一种光纤衰减点的制作方法，其特征在于，所述光纤衰减点应用于光模块中，所述制作方法包括以下步骤：
将光纤断开，以形成第一光纤和第二光纤；
将第一光纤和第二光纤的断开处接入熔接机进行错位熔接，以获取具有固定光纤衰减值的光纤衰减点。
2.根据权利要求1所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
将熔接机调节到衰减模式，并预设一目标衰减值；
根据预设的目标衰减值对第一光纤和第二光纤进行错位熔接，以获取具有目标衰减值的光纤衰减点。
3.根据权利要求2所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
将光纤的一端接入光源，另一端接入光功率计；
将光纤断开，以形成连接有光源的第一光纤和连接有光功率计的第二光纤。
4.根据权利要求3所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
当进行错位熔接后，通过光功率计上显示的损耗值，获取该光纤衰减点的实际衰减值。
5.根据权利要求4所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
反复进行错位熔接2-5次，分别获取多次错位熔接的实际衰减值，并获取实际衰减平均值以作为最终衰减值。
6.根据权利要求5所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
预设一允许误差范围；
获取错位熔接的目标衰减值与最终衰减值之间的实际误差值；
当实际误差值在允许误差范围内时，对光纤衰减点进行密封保护。
7.根据权利要求6所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
当实际误差值超过允许误差范围时，将预设的目标衰减值减去实际误差值以作为当前的修正目标衰减值。
8.根据权利要求1所述的制作方法，其特征在于，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
在进行错位熔接前，往第一光纤或第二光纤上套设一热缩管；
在进行错位熔接后，将热缩管移动到光纤衰减点上，并对热缩管进行热缩处理，以保护光纤衰减点。
9.根据权利要求1所述的制作方法，其特征在于，所述对光纤衰减点进行密封保护具体包括以下步骤：
在进行错位熔接后，在光纤衰减点外部涂覆一层保护胶并将其固化，以保护光纤衰减点。
10.根据权利要求1所述的制作方法，其特征在于，所述制作方法还包括以下步骤：
将光纤断开以形成第一光纤和第二光纤后，对第一光纤和第二光纤的断开处进行外包层剥除，并清洁。
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