CN112685237A - 一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本发明的实施例公开了一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备,涉及芯片测试技术领域,避免了目前主系统故障后,芯片测试数据相关业务(查询、存储等)中断的问题。所述芯片测试数据跟踪查询系统,包括:两个双活的服务器集群,每个服务器集群包括:监听服务器,用于将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给解析服务器;解析服务器,用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证,并将验证通过后测试数据发送给数据库服务器进行存储;查询服务器,用于根据芯片测试站点发来的查询请求,从数据库服务器中检索与查询请求对应的测试数据并返回给芯片测试站点。本发明具有高可用性和扩展性,同时存储的数据也非常安全。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域,尤其涉及一种芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备。
背景技术
目前由于测试工艺与流程的需要,芯片的测试被分成若干测试站点,每个站点需要引用之前测试站点的测试数据项,因此需要一个大的测试数据项仓储,保存每个测试站点的测试数据,便于下一个站点来调用。通常情况下,使用数据库软件存储每个测试站点的测试数据,同时为了保证数据库稳定运行及数据安全性,常常采用数据库一主一备架构的数据库软件。但是,遇到主数据库出现故障的话,需要远程手动将备用数据库切换为主数据库使用,导致相关业务临时中断,因此此数据库架构已不符合生产的要求,给硬件/软件的更新和维护也带来了不便。
因此,急需一种数据库双活方法或系统,能保证任一数据库故障时,另外的数据库能立即启用,相关数据库操作,如测试数据录入、测试数据查询等业务,也不中断。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供一种芯片测试数据查询方法、系统及电子设备,采用了双活架构设计,避免了主系统故障后,芯片测试数据相关业务(查询、存储等)中断的问题。
第一方面,本发明实施例提供一种芯片测试数据跟踪查询系统,包括:两个双活的服务器集群,每个所述服务器集群包括:监听服务器、解析服务器、数据库服务器和查询服务器,其中,
所述监听服务器,用于监听若干芯片测试站点的测试数据,将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给所述解析服务器;
所述解析服务器,用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证,并将验证通过后的测试数据发送给所述数据库服务器;
所述数据库服务器,用于将接收到的测试数据进行存储;
收到芯片测试站点的查询请求的服务器集群的所述查询服务器,用于根据所述芯片测试站点发来的查询请求,从所述数据库服务器中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
结合第一方面,在第一方面的第一种可实施方式中,每个所述服务器集群包括至少两台所述解析服务器。
结合第一方面,在第一方面的第二种可实施方式中,所述测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。
结合第一方面的第一种实施方式,在第一方面的第三种可实施方式中,所述监听服务器采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给所述解析服务器。
结合第一方面、第一方面的第一种实施方式、第一方面的第二种实施方式或第一方面的第三种实施方式,在第一方面的第四种可实施方式中,所述查询服务器与所述芯片测试站点之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。
第二方面,本发明实施例提供一种芯片测试数据跟踪查询方法,包括:
通过两个双活的服务器集群并行监听若干芯片测试站点的测试数据,并获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
每个所述服务器集群对所述监听到的芯片测试站点新测试数据文件进行解析及数据合法性验证;
每个所述服务器集群将验证通过后的测试数据存储到本地数据库中;
根据芯片测试站点发来的查询请求,通过被请求的服务器集群从本地数据库中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
结合第二方面,在第二方面的第一种可实施方式中,所述每个所述服务器集群对所述监听到的芯片测试站点新测试数据文件进行解析及数据合法性验证,包括:
每个所述服务器集群通过两个解析服务器对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证。
结合第二方面,在第一方面的第二种可实施方式中,所述测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。
结合第二方面的第一种实施方式,在第二方面的第三种可实施方式中,所述获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件,包括:
每个所述服务器集群通过监听服务器获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
每个所述服务器集群的所述监听服务器采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给所述解析服务器。
结合第二方面、第二方面的第一种实施方式、第二方面的第二种实施方式或第二方面的第三种实施方式,在第一方面的第四种可实施方式中,每个所述服务器集群与所述芯片测试站点之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。
第三方面,本发明实施例提供一种电子设备,所述电子设备包括:壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路,其中,电路板安置在壳体围成的空间内部,处理器和存储器设置在电路板上;电源电路,用于为上述电子设备的各个电路或器件供电;存储器用于存储可执行程序代码;处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,用于执行前述任一实施方式所述的芯片测试数据跟踪查询方法。
本发明实施例提供的芯片测试数据跟踪查询方法、系统及电子设备,采用了双活架构设计,所有的节点均为双份,实现了有效的冗余,避免了单点故障,达到了高可用性目的;同时使用filequeue和beanstalk进行队列分发,应用节点(如解析服务器)可以非常容易的进行扩展,达到高扩展性目的;另外,数据安全性方面,本发明提供的系统,数据同时保存在2台独立的存储介质中,使得数据更加安全。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为本发明芯片测试数据跟踪查询系统实施例一的结构示意图;
图2为本发明芯片测试数据跟踪查询方法实施例一的流程示意图;
图3为本发明芯片测试数据跟踪查询方法实施例二的流程示意图;
图4为本发明电子设备一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例进行详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明芯片测试数据跟踪查询系统实施例一的结构示意图。参看图1,本发明芯片测试数据跟踪查询系统,包括:两个双活的服务器集群1,每个所述服务器集群1包括:监听服务器2、解析服务器3、数据库服务器4和查询服务器5,其中,
监听服务器2,用于监听若干芯片测试站点6的测试数据,将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给解析服务器3;
本实施例中,所述测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。其中,FT(Final Test)为芯片的最终测试,广义的FT也称为ATE(AutomaticTest Equipment);SLT(System Level Test)为系统级测试。每个测试站点在测试芯片的过程中,会产生测试数据,这些数据可以通过SFTP方式,同时发送给各个服务器集群1的监听服务器2进行分发处理。另外,测试结束后也会产生分类SORT数据,这些数据可以通过网络套接字方式同时发送给各个集群中的监听服务器2。
解析服务器3,用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证,并将验证通过后测试数据发送给数据库服务器4;
本实施例中,每个服务器集群1包括至少两台解析服务器3。解析服务器3因为解析工作量大,可以采用多台设备设置,降低单台设备的工作压力。监听服务器2采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给服务器集群1中的解析服务器,其中,filequeue为文件队列,Beanstalk是一个高性能、轻量级的、分布式的、内存型的消息队列系统,采用了filequeue或Beanstalk队列后,可以使得每台解析服务3负载基本均衡,同时也使得解析服务器可以非常容易的进行扩展。另外,监听和解析服务分离,也动态实现解析服务的扩容。
数据库服务器4,用于将接收到的测试数据进行存储;
在实施例中,每个服务器集群都有数据库服务器,实现双数据库冗余。同时,测试数据保存在多个服务器集群中的数据库服务器中存储,使得数据更加安全。测试数据在存储介质中不断的积累,为之后的数据分析也提供原始数据。
查询服务器5,用于根据芯片测试站点6发来的查询请求,从数据库服务器4中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给芯片测试站点6。
本实施例中,芯片测试站点向该芯片测试数据跟踪查询系统发起查询请求后,收到芯片测试站点的查询请求的服务器集群(被请求的服务器集群)的查询服务器5才进行查询检索工作,另一服务器集群的查询服务5处于空闲等待状态。显然,查询请求中可以直接指定为其进行查询服务的服务器集群的标识,或者若查询请求中没有指定服务器集群的标识,则系统可以在两个服务器集群中根据预设选择规则或者随机选择其中一个服务器集群,将查询请求分发到该服务器集群以进行查询服务,此处不再赘述。
优选地,查询服务器5与芯片测试站点6之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。其中,Netty是一款异步的事件驱动的网络应用程序框架,支持快速地开发可维护的高性能的面向协议的服务器,采用Netty框架后,保证了socket服务的高性能、高可靠性。
本实施例提供的一种芯片测试数据跟踪查询系统,采用了双活架构设计,所有的节点均为双份,实现了有效的冗余,避免了单点故障,达到了高可用性目的;使用filequeue或beanstalk进行队列分发,应用节点(如解析服务器)可以非常容易的进行扩展,达到高扩展性目的;另外,数据安全性方面,本发明提供的系统,数据同时保存在2台独立的存储介质中,使得数据更加安全。
图2为本发明芯片测试数据跟踪查询方法实施例一的流程示意图。参看图2,本发明芯片测试数据跟踪查询方法,包括:
S101、通过两个双活的服务器集群并行监听若干芯片测试站点的测试数据,并获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
本实施例中,测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。
S102、每个所述服务器集群对所述监听到的芯片测试站点新测试数据文件进行解析及数据合法性验证;
S103、每个所述服务器集群将验证通过后的测试数据存储到本地数据库中;
S104、根据芯片测试站点发来的查询请求,通过被请求的服务器集群从本地数据库中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
本实施例中,每个所述服务器集群与所述芯片测试站点之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。被请求的服务器集群对查询请求进行响应,提供查询服务,或者,系统可以在两个服务器集群中根据预设选择规则或者随机选择其中一个服务器集群进行查询服务。
图3为本发明芯片测试数据跟踪查询方法实施例二的流程示意图。参看图3,本发明芯片测试数据跟踪查询方法,包括:
S201、通过两个双活的服务器集群并行监听若干芯片测试站点的测试数据;
S202、每个所述服务器集群通过监听服务器获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
S203、每个所述服务器集群的所述监听服务器采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给所述解析服务器;
S204、每个所述服务器集群通过两个解析服务器对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证;
S205、每个所述服务器集群将验证通过后的测试数据存储到本地数据库中;
S206、根据芯片测试站点发来的查询请求,通过被请求的服务器集群从本地数据库中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
本发明实施例还提供一种电子设备。图4为本发明电子设备一个实施例的结构示意图,可以实现本发明图2和3所示实施例的流程,如图4所示,上述电子设备可以包括:壳体41、处理器42、存储器43、电路板44和电源电路45,其中,电路板44安置在壳体41围成的空间内部,处理器42和存储器43设置在电路板44上;电源电路45,用于为上述电子设备的各个电路或器件供电;存储器43用于存储可执行程序代码;处理器42通过读取存储器43中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,用于执行前述任一实施例所述的芯片测试数据跟踪查询方法。
该电子设备以多种形式存在,包括但不限于:
(1)移动通信设备:这类设备的特点是具备移动通信功能,并且以提供话音、数据通信为主要目标。这类终端包括:智能手机(例如iPhone)、多媒体手机、功能性手机,以及低端手机等。
(2)超移动个人计算机设备:这类设备属于个人计算机的范畴,有计算和处理功能,一般也具备移动上网特性。这类终端包括:PDA、MID和UMPC设备等,例如iPad。
(3)便携式娱乐设备:这类设备可以显示和播放多媒体内容。该类设备包括:音频、视频播放模块(例如iPod),掌上游戏机,电子书,以及智能玩具和便携式车载导航设备。
(4)服务器:提供计算服务的设备,服务器的构成包括处理器、硬盘、内存、系统总线等,服务器和通用的计算机架构类似,但是由于需要提供高可靠的服务,因此在处理能力、稳定性、可靠性、安全性、可扩展性、可管理性等方面要求较高。
(5)其他具有数据交互功能的电子设备。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于装置实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述的比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
为了描述的方便,描述以上装置是以功能分为各种单元/模块分别描述。当然,在实施本发明时可以把各单元/模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory,ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory,RAM)等。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的防护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的防护范围之内。因此,本发明的防护范围应以权利要求的防护范围为准。
Claims (11)
1.一种芯片测试数据跟踪查询系统,其特征在于,包括:两个双活的服务器集群,每个所述服务器集群包括:监听服务器、解析服务器、数据库服务器和查询服务器,其中,
所述监听服务器,用于监听若干芯片测试站点的测试数据,将监听到的芯片测试站点的新测试数据文件发送给所述解析服务器;
所述解析服务器,用于对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证,并将验证通过后的测试数据发送给所述数据库服务器;
所述数据库服务器,用于将接收到的测试数据进行存储;
收到芯片测试站点的查询请求的服务器集群的所述查询服务器,用于根据所述查询请求,从所述数据库服务器中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
2.根据权利要求1所述的芯片测试数据跟踪查询系统,其特征在于,每个所述服务器集群包括至少两台所述解析服务器。
3.根据权利要求1所述的芯片测试数据跟踪查询系统,其特征在于,所述测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。
4.根据权利要求2所述的芯片测试数据跟踪查询系统,其特征在于,所述监听服务器采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给所述解析服务器。
5.根据权利要求1-4任一项所述的芯片测试数据跟踪查询系统,其特征在于,所述查询服务器与所述芯片测试站点之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。
6.一种芯片测试数据跟踪查询方法,其特征在于,包括:
通过两个双活的服务器集群并行监听若干芯片测试站点的测试数据,并获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
每个所述服务器集群对所述监听到的芯片测试站点新测试数据文件进行解析及数据合法性验证;
每个所述服务器集群将验证通过后的测试数据存储到本地数据库中;
根据芯片测试站点发来的查询请求,通过被请求的服务器集群从本地数据库中检索与所述查询请求对应的测试数据并返回给所述芯片测试站点。
7.根据权利要求6所述的芯片测试数据跟踪查询方法,其特征在于,所述每个所述服务器集群对所述监听到的芯片测试站点新测试数据文件进行解析及数据合法性验证,包括:
每个所述服务器集群通过两个解析服务器对接收到的测试数据文件进行解析及数据合法性验证。
8.根据权利要求6所述的芯片测试数据跟踪查询方法,其特征在于,所述测试数据文件包括下述至少之一:分类SORT、最终测试FT和系统级测试SLT数据。
9.根据权利要求7所述的芯片测试数据跟踪查询方法,其特征在于,所述获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件,包括:
每个所述服务器集群通过监听服务器获取监听到的芯片测试站点的新测试数据文件;
每个所述服务器集群的所述监听服务器采用filequeue或Beanstalk消息队列系统将所述新测试数据文件分发给所述解析服务器。
10.根据权利要求6-9任一项所述的芯片测试数据跟踪查询方法,其特征在于,每个所述服务器集群与所述芯片测试站点之间通过套接字socket服务通信,且所述socket服务采用Netty框架。
11.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路,其中,电路板安置在壳体围成的空间内部,处理器和存储器设置在电路板上;电源电路,用于为上述电子设备的各个电路或器件供电;存储器用于存储可执行程序代码;处理器通过读取存储器中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序,用于执行前述任一权利要求6-10所述的芯片测试数据跟踪查询方法。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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