CN112665827A - 一种mt-fa产品的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种MT‑FA产品的测试方法，包括以下步骤：1）将将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接，MT‑FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT‑FA产品中MT接头；4）将待测试MT‑FA产品置入装夹夹具中，待测试MT‑FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT‑FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT‑FA产品损耗。与现有技术相比，该检测方法将MT‑FA产品装夹在夹具上，再由夹具带动MT‑FA产品移动至PD探头测试位置进行检测，提高测试效率，测试后产品外观没有损伤。
Description
技术领域
本发明涉及光学模块线缆产品领域，特别是一种MT-FA产品的测试方法。
背景技术
MT-FA是并行光模块最核心的光器件，通过将光纤阵列研磨成45°反射镜实现光信号的90°转角，因体积小，可靠性高，可实现高密度大通道，并能在宽温度环境下稳定工作等特点，被应用于各种并行光传输领域，如：QSFP、AOC、HDMI等多种产品。MT是指多芯插芯连接头，FA是指光纤阵列的光器件。
现有对MT-FA产品的测试方法是把MT-FA产品中的FA插到PD探头的插头上，插头是塑胶材质，插入和取出不方便，容易造成光纤阵列（FA）表面划伤。PD是指光功率计测试探头。
发明内容
针对上述问题，本发明提供了一种MT-FA产品的测试方法，对MT-FA产品进行测试，效率提高，并且避免MT-FA产品外观出现损伤。
本发明采用的技术方案为：
一种MT-FA产品的测试方法，包括以下步骤：
1）将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接， MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；
2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；
3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头；
4）将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中，待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；
5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；
6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。
优选地，步骤1）中装夹夹具包括基座以及在基座上滑动的滑块，基座上设有用于供滑块滑动的滑轨，滑块上设有用于安放MT-FA产品的安放槽，基座设置在PD探头的表面，PD探头上设有插入槽。
优选地，步骤5）中沿滑轨移动滑块，滑块移动至滑轨一端时，滑块上待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的插入槽内。
优选地，步骤5）中所述滑块铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板。
与现有技术相比，本发明的有益效果在于：本发明提供一种MT-FA产品检测方法，将MT-FA产品装夹在夹具上，再由夹具带动MT-FA产品移动至PD探头测试位置进行检测，可以提高测试效率，并且测试后的产品FA光纤阵列的外观没有损伤。
附图说明
图1，为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图；
图2，为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT测试头归零的原理示意图；
图3，为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT-FA产品测试的原理示意图。
具体实施方式
根据附图对本发明提供的优选实施方式做具体说明。
图1，为本发明提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图。该MT-FA产品的测试方法，具体包括以下步骤：
1）将PD探头10与功率计60连接，光源30、摇偏仪50和光开关40依次连接，装夹夹具20设置在PD探头前方；
2）将MT测试头200置入到PD探头10的测试位置内，利用PD探头10对MT测试头做归零处理，如图2所示；
3）取出MT测试头200，将MT测试头200对接待测试MT-FA产品100中MT接头101；
4）将待测试MT-FA产品100置入装夹夹具20中，待测试MT-FA产品100中FA光纤阵列102朝向PD探头；
5）移动装夹夹具20，使得夹具上待测试产品MT-FA产品100中FA光纤阵列102置入到PD探头10的测试位置，如图3所示；
6）打开光开关，PD探头10接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。
步骤1）中装夹夹具20包括基座21以及在基座上滑动的滑块22，基座21上设有用于供滑块滑动的滑轨211，滑块22上设有用于安放MT-FA产品的安放槽221，基座21设置在PD探头10的表面，PD探头10上设有插入槽。
步骤5）中沿滑轨移动滑块，滑块移动至滑轨一端时，滑块带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的插入槽内。
步骤5）中所述滑块22铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板222，由于MT-FA产品形状的不规则形，可利用定位板222对安放槽221内MT-FA产品进行定位，避免在进行检测过程中出现移位现象。
综上所述，本发明的技术方案可以充分有效的实现上述发明目的，且本发明的结构及功能原理都已经在实施例中得到充分的验证，能达到预期的功效及目的，在不背离本发明的原理和实质的前提下，可以对发明的实施例做出多种变更或修改。因此，本发明包括一切在专利申请范围中所提到范围内的所有替换内容，任何在本发明申请专利范围内所作的等效变化，皆属本案申请的专利范围之内。
Claims (4)
1.一种MT-FA产品的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
1）将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接， MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；
2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；
3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头；
4）将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中，待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；
5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；
6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。
2.根据权利要求1所述的MT-FA产品的测试方法，其特征在于：步骤1）中装夹夹具包括基座以及在基座上滑动的滑块，基座上设有用于供滑块滑动的滑轨，滑块上设有用于安放MT-FA产品的安放槽，基座设置在PD探头的表面，PD探头上设有插入槽。
3.根据权利要求2所述的MT-FA产品的测试方法，其特征在于：步骤5）中沿滑轨移动滑块，滑块移动至滑轨一端时，滑块带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的插入槽内。
4.根据权利要求2所述的MT-FA产品的测试方法，其特征在于：步骤5）中所述滑块铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板。
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