CN112665626A - 一种一体化微纳传感器封装测试设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及传感器封装测试技术领域，且公开了一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮。该一体化微纳传感器封装测试设备，通过活动板对显示屏进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆向上拨动，使得挡块位于凹槽的内部，此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部，通过活动门对操作键盘进行防护，避免操作键盘上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的。
Description
技术领域
本发明涉及传感器封装测试技术领域，具体为一种一体化微纳传感器封装测试设备。
背景技术
传感器是一种检测装置，能感受到被测量的信息，并能将感受到的信息，按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出，以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求，传感器的特点包括：微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化，它是实现自动检测和自动控制的首要环节，传感器的存在和发展，让物体有了触觉、味觉和嗅觉等感官，让物体慢慢变得活了起来，通常根据其基本感知功能分为热敏元件、光敏元件、气敏元件、力敏元件、磁敏元件、湿敏元件、声敏元件、放射线敏感元件、色敏元件和味敏元件等十大类，微纳传感器在生产过程中需要用测试设备对其进行封装测试。
现有技术中的一体化微纳传感器封装测试设备其显示屏和操作键盘一般是裸露在外进行操作，这就导致其在闲置时显示屏容易受外力而发生损坏，且操作键盘上也容易掉落较多的异物，影响后续操作，给其使用带来较大的不便，所以现在提出一种一体化微纳传感器封装测试设备来解决上述问题。
发明内容
(一)解决的技术问题
针对现有技术的不足，本发明提供了一种一体化微纳传感器封装测试设备，具备操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利等优点，解决了上述背景技术中提出的问题。
(二)技术方案
为实现上述操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的，本发明提供如下技术方案：一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳，所述微纳传感器封装测试设备机壳底部的两侧均固定连接有万向轮，所述微纳传感器封装测试设备机壳的右侧固定连接有防护箱，所述防护箱的内部固定连接有隔板，所述隔板的顶部呈第一防护腔，所述隔板的底部呈第二防护腔，所述第一防护腔的内部固定连接有安装框，所述安装框的内部固定连接有显示屏，所述防护箱顶部的正面开设有通孔，所述通孔的内部滑动连接有活动板，所述活动板的顶部并位于防护箱的上方固定连接有限位板，所述防护箱的顶部活动连接有L型插板，所述活动板背面的底部开设有与L型插板对应的插槽，所述L型插板的底部固定连接有第二滑块，所述防护箱的顶部开设有与第二滑块对应的第二滑槽，所述第二滑块滑动连接于第二滑槽的内部，所述第二防护腔的内部活动连接有安装板，所述安装板的正面固定连接有操作键盘，所述安装板正面的底部固定连接有固定板，所述固定板的顶部活动连接有连接杆，所述连接杆的底端并位于固定板的底部固定连接有挡块，所述固定板的底部开设有与挡块对应的凹槽，所述挡块的顶部并位于连接杆的表面固定连接有第二张紧弹簧，所述第二张紧弹簧的顶端与凹槽的内壁固定连接，所述第二防护腔的正面活动连接有活动门。
优选的，所述第二滑块的背面固定连接有第一张紧弹簧，所述第一张紧弹簧的一端与第二滑槽的内壁固定连接。
优选的，所述活动板正面的底部固定连接有借力块，所述借力块位于隔板的正面。
优选的，所述活动门正面的右侧固定连接有合页，所述活动门与防护箱之间通过合页铰接。
优选的，所述防护箱的底部固定连接有支撑板，所述支撑板的底部与微纳传感器封装测试设备机壳固定连接。
优选的，所述隔板顶部的正面开设有与活动板对应的限位槽，所述限位槽的内底壁固定连接有缓冲垫。
优选的，所述安装板背面的顶部和底部均固定连接有连接块，所述连接块的背面固定连接有防护垫。
优选的，所述安装板的顶部和底部均固定连接有第一滑块，所述隔板的底部与第二防护腔的内底壁均开设有第一滑槽，所述第一滑块滑动连接于第一滑槽的内部。
(三)有益效果
与现有技术相比，本发明提供了一种一体化微纳传感器封装测试设备，具备以下有益效果：
1、该一体化微纳传感器封装测试设备，通过活动板对显示屏进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆向上拨动，使得挡块位于凹槽的内部，此时将安装板和操作键盘推入第二防护腔的内部，再将活动门关闭，通过活动门对操作键盘进行防护，避免操作键盘上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏和操作键盘漏出即可进行操作，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的。
2、该一体化微纳传感器封装测试设备，通过第一张紧弹簧推动L型插板，使其能够更加稳固的插接在插槽的内部，通过L型插板对活动板进行限位，避免其在使用过程中向下掉落，通过借力块使得活动板的提起和放下更加便利，通过合页使得活动门的开启和关闭更为便利，通过支撑板对防护箱进行加固，使其安装更为稳固，通过限位槽和缓冲垫对活动板进行防护，避免其在向下移动时与隔板发生较大的撞击，造成其损坏，通过连接块和防护垫对操作键盘进行防护，避免其与第二防护腔的内壁发生较大的撞击，造成其损坏，通过第一滑槽和第一滑块对安装板进行限位，避免其在前后移动的过程中发生偏移。
附图说明
图1为本发明整体结构示意图；
图2为本发明防护箱侧面剖视图；
图3为本发明防护箱操作状态侧面剖视图；
图4为本发明图3内A部放大图；
图5为本发明防护箱与安装板连接侧面剖视图；
图6为本发明活动板立体示意图。
图中：1、微纳传感器封装测试设备机壳；2、万向轮；3、防护箱；4、活动板；5、限位板；6、借力块；7、隔板；8、合页；9、活动门；10、支撑板；11、L型插板；12、第一防护腔；13、显示屏；14、安装框；15、插槽；16、限位槽；17、缓冲垫；18、第二防护腔；19、连接杆；20、固定板；21、第一滑块；22、第一滑槽；23、连接块；24、安装板；25、操作键盘；26、防护垫；27、通孔；28、第二滑槽；29、第一张紧弹簧；30、第二滑块；31、凹槽；32、第二张紧弹簧；33、挡块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-6，一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳1，微纳传感器封装测试设备机壳1底部的两侧均固定连接有万向轮2，微纳传感器封装测试设备机壳1的右侧固定连接有防护箱3，防护箱3的内部固定连接有隔板7，隔板7的顶部呈第一防护腔12，隔板7的底部呈第二防护腔18，第一防护腔12的内部固定连接有安装框14，安装框14的内部固定连接有显示屏13，防护箱3顶部的正面开设有通孔27，通孔27的内部滑动连接有活动板4，活动板4的顶部并位于防护箱3的上方固定连接有限位板5，防护箱3的顶部活动连接有L型插板11，活动板4背面的底部开设有与L型插板11对应的插槽15，L型插板11的底部固定连接有第二滑块30，防护箱3的顶部开设有与第二滑块30对应的第二滑槽28，第二滑块30滑动连接于第二滑槽28的内部，第二防护腔18的内部活动连接有安装板24，安装板24的正面固定连接有操作键盘25，安装板24正面的底部固定连接有固定板20，固定板20的顶部活动连接有连接杆19，连接杆19的底端并位于固定板20的底部固定连接有挡块33，固定板20的底部开设有与挡块33对应的凹槽31，挡块33的顶部并位于连接杆19的表面固定连接有第二张紧弹簧32，第二张紧弹簧32的顶端与凹槽31的内壁固定连接，第二防护腔18的正面活动连接有活动门9，在使用时，闲置时，手动将活动板4安装在第一防护腔12的内部，此时通过活动板4对显示屏13进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆19向上拨动，使得挡块33位于凹槽31的内部，此时将安装板24和操作键盘25推入第二防护腔18的内部，再将活动门9关闭，通过活动门9对操作键盘25进行防护，避免操作键盘25上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏13和操作键盘25漏出即可进行操作，此时通过第二张紧弹簧32推动挡块33和连接杆19向下移动，通过挡块33对操作键盘25进行阻挡限位，避免其在操作过程中向内侧移动，影响操作效率，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的，其中微纳传感器封装测试设备机壳1、显示屏13和操作键盘25均为现有技术，在此不做赘述。
请参阅图2、3和4，第二滑块30的背面固定连接有第一张紧弹簧29，第一张紧弹簧29的一端与第二滑槽28的内壁固定连接，通过第一张紧弹簧29推动L型插板11，使其能够更加稳固的插接在插槽15的内部，通过L型插板11对活动板4进行限位，避免其在使用过程中向下掉落。
请参阅图1、2、3和4，活动板4正面的底部固定连接有借力块6，借力块6位于隔板7的正面，通过借力块6使得活动板4的提起和放下更加便利。
请参阅图1，活动门9正面的右侧固定连接有合页8，活动门9与防护箱3之间通过合页8铰接，通过合页8使得活动门9的开启和关闭更为便利。
请参阅图1，防护箱3的底部固定连接有支撑板10，支撑板10的底部与微纳传感器封装测试设备机壳1固定连接，通过支撑板10对防护箱3进行加固，使其安装更为稳固。
请参阅图2和3，隔板7顶部的正面开设有与活动板4对应的限位槽16，限位槽16的内底壁固定连接有缓冲垫17，通过限位槽16和缓冲垫17对活动板4进行防护，避免其在向下移动时与隔板7发生较大的撞击，造成其损坏。
请参阅图2、3和5，安装板24背面的顶部和底部均固定连接有连接块23，连接块23的背面固定连接有防护垫26，通过连接块23和防护垫26对操作键盘25进行防护，避免其与第二防护腔18的内壁发生较大的撞击，造成其损坏。
请参阅图2、3和5，安装板24的顶部和底部均固定连接有第一滑块21，隔板7的底部与第二防护腔18的内底壁均开设有第一滑槽22，第一滑块21滑动连接于第一滑槽22的内部，通过第一滑槽22和第一滑块21对安装板24进行限位，避免其在前后移动的过程中发生偏移。
工作原理：在使用时，闲置时，手动将活动板4安装在第一防护腔12的内部，此时通过活动板4对显示屏13进行防护，避免其在闲置过程中受异物等撞击发生损坏，然后手动将连接杆19向上拨动，使得挡块33位于凹槽31的内部，此时将安装板24和操作键盘25推入第二防护腔18的内部，再将活动门9关闭，通过活动门9对操作键盘25进行防护，避免操作键盘25上掉落较多的异物，影响其后续的操作，当需要进行操作时，反之上述操作将显示屏13和操作键盘25漏出即可进行操作，此时通过第二张紧弹簧32推动挡块33和连接杆19向下移动，通过挡块33对操作键盘25进行阻挡限位，避免其在操作过程中向内侧移动，影响操作效率，从而达到了操作更为便利，防护效果更加好且使用更加便利的目的，其中微纳传感器封装测试设备机壳1、显示屏13和操作键盘25均为现有技术，在此不做赘述。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (8)
1.一种一体化微纳传感器封装测试设备，包括微纳传感器封装测试设备机壳(1)，其特征在于：所述微纳传感器封装测试设备机壳(1)底部的两侧均固定连接有万向轮(2)，所述微纳传感器封装测试设备机壳(1)的右侧固定连接有防护箱(3)，所述防护箱(3)的内部固定连接有隔板(7)，所述隔板(7)的顶部呈第一防护腔(12)，所述隔板(7)的底部呈第二防护腔(18)，所述第一防护腔(12)的内部固定连接有安装框(14)，所述安装框(14)的内部固定连接有显示屏(13)，所述防护箱(3)顶部的正面开设有通孔(27)，所述通孔(27)的内部滑动连接有活动板(4)，所述活动板(4)的顶部并位于防护箱(3)的上方固定连接有限位板(5)，所述防护箱(3)的顶部活动连接有L型插板(11)，所述活动板(4)背面的底部开设有与L型插板(11)对应的插槽(15)，所述L型插板(11)的底部固定连接有第二滑块(30)，所述防护箱(3)的顶部开设有与第二滑块(30)对应的第二滑槽(28)，所述第二滑块(30)滑动连接于第二滑槽(28)的内部，所述第二防护腔(18)的内部活动连接有安装板(24)，所述安装板(24)的正面固定连接有操作键盘(25)，所述安装板(24)正面的底部固定连接有固定板(20)，所述固定板(20)的顶部活动连接有连接杆(19)，所述连接杆(19)的底端并位于固定板(20)的底部固定连接有挡块(33)，所述固定板(20)的底部开设有与挡块(33)对应的凹槽(31)，所述挡块(33)的顶部并位于连接杆(19)的表面固定连接有第二张紧弹簧(32)，所述第二张紧弹簧(32)的顶端与凹槽(31)的内壁固定连接，所述第二防护腔(18)的正面活动连接有活动门(9)。
2.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述第二滑块(30)的背面固定连接有第一张紧弹簧(29)，所述第一张紧弹簧(29)的一端与第二滑槽(28)的内壁固定连接。
3.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述活动板(4)正面的底部固定连接有借力块(6)，所述借力块(6)位于隔板(7)的正面。
4.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述活动门(9)正面的右侧固定连接有合页(8)，所述活动门(9)与防护箱(3)之间通过合页(8)铰接。
5.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述防护箱(3)的底部固定连接有支撑板(10)，所述支撑板(10)的底部与微纳传感器封装测试设备机壳(1)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述隔板(7)顶部的正面开设有与活动板(4)对应的限位槽(16)，所述限位槽(16)的内底壁固定连接有缓冲垫(17)。
7.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述安装板(24)背面的顶部和底部均固定连接有连接块(23)，所述连接块(23)的背面固定连接有防护垫(26)。
8.根据权利要求1所述的一种一体化微纳传感器封装测试设备，其特征在于：所述安装板(24)的顶部和底部均固定连接有第一滑块(21)，所述隔板(7)的底部与第二防护腔(18)的内底壁均开设有第一滑槽(22)，所述第一滑块(21)滑动连接于第一滑槽(22)的内部。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20210416 |