CN112630815A - 放射性探测系统及用于探测器的测量方法 - Google Patents

Abstract

一种放射性探测系统，包括：探测器，所述探测器用于对放射源的放射性进行测量；控制器，所述控制器根据所述探测器和所述放射源的位置信息发出控制信号；调节装置，所述调节装置接收来自所述控制器的控制信号，并将所述探测器和/或所述放射源向基于所述控制信号的预定位置移动；位置测量装置，所述位置测量装置测量所述探测器和所述放射源的位置并生成位置数据，所述位置测量装置传输所述位置数据至所述控制器；其中，所述控制器将所述位置数据与所述放射源和所述探测器的测量结果配对。本发明通过控制器实现探测过程的自动控制和数据采集，提高探测效率，通过位置测量装置获取探测器和放射源的精确位置信息，降低调节精度引起的误差。

Description

放射性探测系统及用于探测器的测量方法

技术领域

本发明涉及探测器测量技术领域，具体涉及一种放射性探测系统及用于探测器的测量方法。

背景技术

伽玛定量测量技术是核科学与技术领域的重要技术，在许多方面有着广泛的应用前景和应用需求。现有分析技术中，要得到测量对象中特定放射性物质的含量，通常需要使用标准样品对测量装置进行刻度，即通过对标准样品的测量，建立测量计数率与放射性物质的含量(放射性核素的活度)之间的对应关系，实现计量标准从标准样品向测量结果的传递。

标准样品刻度技术需要选用与待测样品几何形态、核素一致、介质相同但放射性物质含量可以不同的标准样品。这样对于一种测量对象，原则上就需要配置一套标准样品。在整个核材料循环中，进行定量测量的对象种类繁多，同时标准样品的制作、成本、使用范围都存在很大的局限性，因此为诸多种类的测量对象配置相应的标准样品几乎是不可能的。

为了改善这种局面，一种被称为“无源刻度”的刻度方法，逐步得到深入地研究和广泛地应用。这种无源刻度方法通过建立探测器的计算模型(这个过程通常被称为“探测器表征”)，采用模拟计算的方法，将测量结果不确定度追溯源头由标准样品转移至标准点源，从而显著降低了定量测量分析技术对标准样品的依赖，拓宽了定量测量分析技术的应用范围。

实际测量与模拟计算的迭代进行是目前实现探测器表征的最佳途径，而利用探测器对标准放射性点源的精准定位测量是实现实际测量与模拟计算迭代操作的关键技术。

在目前实际的探测器表征中，与模拟计算参数相一致的精准定位测量控制要求，给控制系统带来许多复杂的要求。为了实现探测器表征，通常或者构建一个非常复杂的控制台架或者对操作者提出很高的操作要求。

发明内容

为了解决上述技术问题中的至少一个方面，本发明的实施例提供了一种放射性探测系统及用于探测器的测量方法。

根据本发明的一个方面提供了一种放射性探测系统，其中，包括：探测器，所述探测器用于对放射源的放射性进行测量；控制器，所述控制器根据所述探测器和所述放射源的位置信息发出控制信号；调节装置，所述调节装置接收来自所述控制器的控制信号，并将所述探测器和/或所述放射源向基于所述控制信号的预定位置移动；位置测量装置，所述位置测量装置测量所述探测器和所述放射源的位置并生成位置数据，所述位置测量装置传输所述位置数据至所述控制器；其中，所述控制器将所述位置数据与所述放射源和所述探测器的测量结果配对。

可选地，还包括承载件，所述承载件用于放置放射源，所述位置测量装置通过获取所述承载件的图像确定所述放射源的位置和姿态。

可选地，所述调节装置设置成能够沿预定路径移动所述承载件。

可选地，所述承载件和所述探测器上均设置测位点，所述位置测量装置通过获取所述测位点的图像来确定所述承载件和所述探测器的位置。

可选地，所述位置测量装置包括：相机，用于拍摄所述测位点的图像，所述位置测量装置基于所述测位点的图像生成所述探测器和所述放射源的位置数据；光笔，用于与所述探测器和所述放射源接触，所述相机拍摄所述光笔在多个接触点时的图像，所述位置测量装置通过在所述多个接触点时的所述光笔的图像确定所述探测器和所述放射源在其坐标系内的映射关系。

可选地，所述光笔包括测针和本体，所述测针用于接触所述探测器和所述放射源，所述本体上具有标定点，所述相机拍摄所述标定点获取所述光笔的图像。

可选地，所述位置测量装置还包括红外光源，所述测位点和所述标定点上均设置有靶片，所述位置测量装置通过所述相机捕获所述靶片反射的红外光线以确定所述测位点的位置。

可选地，所示调节装置包括机械臂，所述机械臂基于所述控制信号移动所述放射源。

可选地，所示调节装置还包括支撑单元，所述调节装置基于所述控制信号使所述支撑单元移动所述探测器。

可选地，所述调节装置还包括底座，所述机械臂和所述支撑单元固定连接在所述底座上。

可选地，所述底座包括控制板，所述控制板用于接收所述控制信号，并基于所述控制信号控制所述机械臂和所述支撑单元的操作。

可选地，所述支撑单元包括：探测器调节部，被配置为在水平和竖直方向上移动所述探测器；制冷单元调节部，被配置为移动所述制冷单元使其与所述探测器的位置对应，所述制冷单元用于所述探测器晶体的冷却。

可选地，所述底座还包括样品台，所述样品台用于所述放射源的放置，所述机械臂基于所述控制信号从所述样品台抓取并移动所述放射源。

根据本发明的另一方面还提供了一种用于探测器的测量方法，其中，包括：通过控制器接收参数，所述参数包括探测器和放射源的位置信息，所述控制器基于所述参数发出控制信号；利用调节装置接收所述控制信号，所述调节装置基于所述控制信号向预设位置移动所述探测器和/或所述放射源；利用所述位置测量装置获取所述探测器和所述放射源的位置，并生成所述探测器和所述放射源的位置数据，所述位置测量装置传输所述位置数据至所述控制器；所述控制器接收和处理所述位置数据，所述位置数据用于确定所述探测器对所述放射源的探测效率。

可选地，所述控制器接收和处理所述位置数据，所述位置数据用于确定所述探测器对所述放射源的探测效率的步骤还包括：所述探测器获取对所述放射源的测量数据，并传输所述测量数据至所述控制器。

可选地，在利用所述位置测量装置获取所述探测器和所述放射源的位置的步骤之前还包括：在光笔本体的标定点上设置靶片；打开红外光源使红外光线到达所述靶片；所述测针依次与所述探测器和所述承载件进行多点接触，所述置测量装置通过所述相机捕捉所述靶片反射的红外光线确定所述探测器和所述放射源在其坐标系内的映射关系。

可选地，利用所述位置测量装置获取所述探测器和所述放射源的位置并生成所述探测器和所述放射源的位置数据的步骤包括：在所述承载件和所述探测器上均设置靶片；所述位置测量装置通过相机捕获所述靶片反射的所述红外光线，并基于所述映射关系确定所述探测器和所述放射源的位置数据。

可选地，利用调节装置接收所述控制信号，所述调节装置基于所述控制信号向预设位置移动所述探测器和/或所述放射源的步骤包括：将所述放射源放置在所述调节装置底座的样品台上；所述调节装置的控制板接收所述控制信号并启动所述机械臂和所述支撑单元；所述控制板基于所述控制信号使所述机械臂通过所述承载件从所述样品台上移动所述放射源，同时所述控制板基于所述控制信号使所述支撑单元移动探测器。

可选地，所述控制板基于所述控制信号使所述支撑单元向预设位置移动探测器的步骤还包括：所述控制板基于所述控制信号使探测器调节部在水平和垂直方向上移动所述探测器；所述控制板基于所述控制信号使制冷单元调节部移动所述制冷单元的使其与所述探测器对应，所述制冷单元用于所述探测器晶体的冷却。

与现有技术相比，本发明提供的放射性探测系统，通过控制器控制调节装置实现对探测器和放射源基于输入参数的粗略调节，然后通过位置测量装置实现对探测结果对应的探测器和放射源位置的精确测量，以消除由于粗略调节造成的位置和探测器测量结果的不对应，从而提高对探测器的表征准确度。并进一步地，利用控制器同时接收并处理位置测量装置和探测器的测量结果，优化了对探测器的表征过程，提高数据处理效率。通过由相机、光笔、红外光源组成的位置测量装置可以实现对探测器和放射源位置的精确测量，同时利用相机捕捉靶片反射的红外光线可以实现在线位置测量。

本发明的用于探测器的测量方法通过控制器接收参数输入调节探测器和放射源的位置，并通过位置测量装置实现对位置的精确测量，通过在线数据采集和处理提高了测量效率的同时，减小了对探测器的表征结果的误差。

附图说明

通过下文中参照附图对本发明所作的描述，本发明的其它目的和优点将显而易见，并可帮助对本发明有全面的理解。

图1是根据本发明一个实施例的放射性探测系统的结构框图；

图2是根据本发明一个实施例的放射性探测系统的调节装置的结构示意图；

图3是根据本发明一个实施例的放射性探测系统的位置测量装置的测量原理示意图。

附图说明：

10、放射性探测系统；20、放射源；21、基片；100、探测器；101、制冷单元；200、控制器；300、调节装置；310、机械臂；320、底座；321、样品台；331、探测器调节部；332、制冷单元调节部；400、位置测量装置；410、相机；420、红外光源；421、靶片；430、镜头；500、承载件。

需要说明的是，附图并不一定按比例来绘制，而是仅以不影响读者理解的示意性方式示出。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一个实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。

在本发明的实施例中，以高纯锗探测器的表征测量过程为例，对放射性探测系统10做进一步的说明。一种放射性探测系统10，包括探测器100、控制器200，调节装置300和位置测量装置400。

如图1所示，探测器100用于对放射源20的放射性进行测量；控制器200根据探测器100和放射源20的位置信息发出控制信号；调节装置300接收来自控制器200的控制信号，并将探测器100和/或放射源20向基于控制信号的预定位置移动；位置测量装置400测量探测器100和放射源20的位置并生成位置数据，位置测量装置400传输位置数据至所述控制器200；其中，控制器200将位置数据与放射源20和探测器100的测量结果配对。

本领域技术人员可以理解地，在其他的实施例中，探测器100也可以是其他类型的放射性探测器。控制器200可以是笔记本、台式电脑或者远程的控制终端等，可以实现对系统的各装置的通信连接和控制即可。用户通过控制器200输入参数，该参数基于对探测器100的表征测量方案产生，其中包括待测的标准点源即放射源20的特征能量，以及放射源20和探测器100的预设位置。控制器200基于该参数生成用于控制调节装置300操作的控制信号，调节装置300基于接收到的控制信号向预设位置移动探测器100和放射源20，当调节装置300完成移动调节过程后，位置测量装置400对探测器100和放射源20的最终位置进行测量，并基于测量结果生成位置数据，该位置数据即为与探测器100的测量结果和放射源20的能量对应的精确位置数据，位置测量装置400将位置数据传输至控制器200，并由控制器200利用蒙特卡罗方法基于获取的位置数据和放射源20的特征能量进行探测效率的模拟计算。

需要指出的是，调节装置300基于控制信号对探测器100和放射源20的移动，可以是移动探测器100和放射源20中的至少一个，也可以是对探测器100和放射源20的同时移动。

控制器200基于获取的位置数据设定虚拟放射源和探测器100的位置，并通过设定探测器100的晶体参数、结合放射源20的特征能量模拟计算探测器100对虚拟放射源的探测器效率。结合探测器100对放射源20的实际探测效率的比较，可以验证设定的探测器100的晶体参数是否准确，从而实现对探测器100的表征。

通过位置测量装置400对实际测量过程中放射源20和探测器100的位置精确测量数据替代原有测量方案中的位置数据。可以有效避免由于调节装置300的调节精度不足导致的模拟计算误差，从而提高探测器100的表征精度。

如图1所示，根据本发明的实施例，探测器100将对放射源20进行测量获取的测量数据传输至控制器200。

具体的，探测器100与控制器200通信连接，通过控制器200可以直接获取探测器100对放射源20的测量结果，从而可以由控制器200直接对探测器100对放射源20的实际探测效率进行计算，并与蒙特卡罗模拟计算的结果进行直接比较，提高了对探测器100的表征效率。

如图2所示，根据本发明的实施例，调节装置300包括机械臂310，机械臂310基于控制信号移动放射源20。具体地，机械臂310与控制器200通信连接，并接收控制器200的控制信号，机械臂310具有用于移动放射源20的夹持机构，机械臂310基于接收的控制信号进行响应，向输入参数设定的预设位置移动放射源20，机械臂310可以自己判断移动中止位置，或者，在一些实施例中，也可以通过控制器200预设机械臂310的移动路径实现对放射源20的移动。本领域技术人员可以理解地，机械臂310可以是智能机器人，通过其通信单元与控制器200通信连接；也可以是由调节装置300的控制单元操作的机械结构单元，通过调节装置300的控制单元与控制器200通信连接，然后由控制单元操作机械臂310移动放射源20。

根据本发明的实施例，调节装置300还包括支撑单元(图中未示出)，调节装置300基于控制信号使支撑单元移动探测器100。

支撑单元与探测器100连接，并提供用于固定和安装探测器100的安装部，支撑单元可以与控制器200通信连接，直接接收控制器200发出的控制信号，并基于控制信号向预设位置移动探测器100，例如，支撑单元可以采用具有控制模块的框架结构，该框架结构可以基于控制信号发生位移以实现对探测器100的移动。

根据本发明的另外一些实施例，调节装置300还包括底座320，机械臂310和支撑单元固定连接在底座320上，底座320包括控制板，控制板用于接收控制信号，并基于控制信号控制机械臂310和支撑单元的操作。

具体地，如图2所示，底座320提供用于固定安装机械臂310和支撑单元的容置空间，机械臂310的固定端与底座320的一端固定连接，其移动端用于夹持放射源20，并基于控制信号相对底座320移动放射源20；支撑单元设置在底座320远离机械臂310的一端，且可以使探测器100相对底座320移动。底座320通过控制板与控制器200通信连接，并由控制板接收控制信号并操作机械臂310和支撑单元移动放射源20和探测器100。

根据本发明的一些实施例，支撑单元包括探测器调节部331和制冷单元调节部332，探测器调节部331被配置为在水平和竖直方向上移动探测器100；制冷单元调节部332被配置为移动制冷单元101使其与探测器100的位置对应，制冷单元101用于探测器100晶体的冷却。

具体地，如图2所示，探测器100还包括制冷单元101，例如，液氮。探测器100固定设置在探测器调节部331的上方，制冷单元101的冷指设置在探测器100的探头部，液氮罐通过制冷单元调节部332设置在底座320上，探测器调节部331包括水平调节组件和竖直调节组件，例如，水平调节组件可以是由电机驱动的丝杠结构，竖直调节组件可以是由电机驱动的支撑楔形滑块，通过抵靠的倾斜面的接触面积实现在竖直方向上的高度调节；制冷单元调节部332可以是由电机驱动的升降台。

根据本发明的实施例，底座320还可以包括样品台321，样品台321用于放射源20的放置，机械臂310基于控制信号从样品台321抓取并移动放射源20。

如图2所示，通过将放射源20放置在样品台321上可以实现对放射源20的初始位置的固定，从而可以使控制器200基于放射源20的初始位置和输入的参数设定机械臂310的移动路径，从而简化机械臂310的判断过程，提高探测效率。

根据本发明的实施例，位置测量装置400包括：相机410和光笔，相机410用于拍摄测位点的图像，位置测量装置400基于测位点的图像生成探测器100和放射源20的位置数据；光笔用于与探测器100和放射源20接触，相机410拍摄所述光笔在多个接触点时的图像，位置测量装置400通过在多个接触点时的光笔的图像确定探测器100和放射源20在其坐标系内的映射关系。

具体地，如图3所示，位置测量装置400采用双目视觉感知测量系统，包括固定设置在预定位置的两台相机410，且已经进行了内部参数和外部参数的校正过程。具体的，首先通过光笔分别与探测器100和放射源20进行多点接触，并通过相机410拍摄在多个接触点时光笔的图像，使位置测量装置400确定探测器100和放射源20在其坐标系内的映射关系。

根据本发明的实施例，光笔包括测针和本体，测针用于接触所述探测器100和放射源20，本体上具有标定点，相机410拍摄标定点获取光笔的图像。

在使用相机410和光笔对探测器100和放射源20进行标定时，光笔通过测针与探测器100或者放射源20接触，相机410通过拍摄多个接触点对应的标定点的图像确定测针所在的接触点在位置测量装置400坐标系的映射关系。标定点可以采用发光二极管或者具有荧光效果的贴片均可，另外标定点可以采用七点或者九点等常用布置方式。

根据本发明的一些实施例，放射性探测系统10还可以包括承载件500，承载件500用于放置放射源20，位置测量装置400通过获取承载件500的图像确定放射源20的位置和姿态。调节装置300设置成能够沿预定路径移动承载件500，从而实现对放射源20的移动。

本领域技术人员可以理解地，放射源20相对探测器100的距离和空间夹角对探测效率均有影响，因此需要确定放射源20的位置和姿态(即放射源20与探测器100对称轴的空间夹角)，进行表征测量的放射源20通常为标准点源或者面源，如图3所示，其被固定在基片21上，而位置测量装置400基于对基片21的测量很难确定放射源20的位置和姿态数据，通过设置圆柱型结构的承载件500则可以解决上述问题。承载件500可以预先固定在机械臂310的移动端，并由位置测量装置400对其标定，即确定承载件500在位置测量装置400的坐标系内的映射关系，同时，基片21可以设计成与承载件500具有相同半径的圆片结构。机械臂310可以通过承载件500抓取基片21，并且使承载件500和基片21共轴设置，然后实现对放射源20的移动。

根据本发明的实施例，承载件500和探测器100上均设置测位点，位置测量装置400通过获取测位点的图像来确定承载件500和探测器100的位置。

如图3所示，由位置测量装置400完成对承载件500和探测器100在其坐标系内的映射关系的确定后，可以分别在承载件500和探测器100上设置测位点，以使得在测量过程中，由相机410直接拍摄测位点的图像，位置测量装置400可以基于已经确定的映射关系和测位点的图像生成探测器100和放射源20的位置数据。由此可以实现探测过程的智能化测量。

根据本发明的实施例，位置测量装置400还包括红外光源420，测位点和标定点上均设置有靶片421，位置测量装置400通过所述相机410捕获靶片421反射的红外光线以确定测位点和标定点的位置。

如图3所示，红外光源420设置在相机410和镜头430之间，在测位点和标定点上设置具有反光功能的靶片421，进行位置测量时，打开红外光源420，靶片421将会反射达到其表面的红外光线至相机410，相机410通过拍摄靶片421的图像实现对各测位点和标定点图像的获取。采用靶片421和红外光源420替代光笔接触式测量过程，有利于图像信息的精确和稳定拍摄，并且提高了位置测量效率。

根据本发明的实施方式，可以采用两部相机，即，采用双目测量的方式，使得准确获取放射性点源相对于探测器的空间相对位置和姿态。

另一方面，本发明的实施例提供一种用于探测器的测量方法，包括：

步骤a，通过控制器200接收参数，参数包括探测器100和放射源20的位置信息，控制器200基于参数发出控制信号。

具体地，通过控制器200对输入参数的处理生成控制信号，并通过控制器200的输出模块将控制信号输出至调节装置300。其中参数的输入可以是由用户直接输入，也可以有控制器200从其他的控制终端接收输入。

步骤b，利用调节装置300接收控制信号，调节装置300基于控制信号向预设位置移动探测器100和/或放射源20。

具体地，调节装置300基于从控制器200接收的控制信号驱动其对应的结构，该控制信号可以是调节装置300移动的预设路径；也可以是预设的探测器100和放射源20位置数据信息，由调节装置300基于该位置数据信息执行朝向预设位置的移动。步骤b中调节装置300基于控制信号移动探测器100和/或放射源20的步骤还包括：

步骤b1，将放射源20放置在调节装置300底座的样品台321上。

步骤b2，调节装置300的控制板接收控制信号并启动机械臂310和支撑单元。

步骤b3，控制板基于控制信号使机械臂310通过承载件500从样品台321上移动放射源20，同时控制板基于控制信号使支撑单元移动探测器100。

步骤b4，控制板基于控制信号使探测器调节部331在水平和垂直方向上移动探测器100。

步骤b5，控制板基于控制信号使制冷单元调节部332移动制冷单元101使其与探测器100对应，制冷单元101用于探测器100晶体的冷却。

通过样品台321可以实现对放射源20的初始位置的预设，方便生成调节装置300移动的预设路径。对机械臂310和支撑单元的控制包括开启和停止，通过接收到的控制信号开始驱动机械臂310和支撑单元，当调节装置300判断完成了预设路径的移动时，停止驱动机械臂310和支撑单元。通过调节装置300可以避免在测量过程中反复调节位置，进而提高测量效率。调节装置300对探测器100和放射源20的移动可以是同步进行的，也可以依次进行移动。

步骤c，利用位置测量装置400获取探测器100和放射源20的位置，并生成探测器100和放射源20的位置数据，位置测量装置400传输位置数据至控制器200。

步骤c中位置测量装置400的测量过程包括：

步骤c1，在光笔本体的标定点上设置靶片421。

步骤c2，打开红外光源420使红外光线到达靶片421。

步骤c3，测针依次与探测器100和承载件500进行多点接触，位置测量装置400通过相机410捕捉靶片421反射的红外光线确定探测器100和放射源20在其坐标系内的映射关系。

步骤c4，在承载件500和探测器100上均设置靶片421。

步骤c5，位置测量装置400通过相机410捕获靶片421反射的红外光线，并基于映射关系确定探测器100和放射源20的位置数据。

其中，相比于现有技术中主动发光的标定点，通过靶片421与红外光源420的配合可以使相机420拍摄的图像更加稳定。对于已经由位置测量装置完成映射关系建立的测量对象，通过在测位点设置靶片421，可以避免再次测量过程中通过手持光笔依次定点获取图像。

步骤d，控制器200接收和处理位置数据，位置数据用于确定探测器100对放射源20的探测效率。在一些实施例中，探测器100获取对放射源20的测量数据，并传输测量数据至控制器200。

其中，通过控制器200和探测器100、调节装置300以及位置测量装置400的通信连接，可以实现测量的远程控制，以及数据的在线采集和处理，可以有效提高探测效率和测量结果的精度。

对于本发明的实施例，还需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。

以上，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，本发明的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (19)

1.一种放射性探测系统(10)，其中，包括：

探测器(100)，所述探测器(100)用于对放射源(20)的放射性进行测量；

控制器(200)，所述控制器(200)根据所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置信息发出控制信号；

调节装置(300)，所述调节装置(300)接收来自所述控制器(200)的控制信号，并将所述探测器(100)和/或所述放射源(20)向基于所述控制信号的预定位置移动；

位置测量装置(400)，所述位置测量装置(400)测量所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置并生成位置数据，所述位置测量装置(400)传输所述位置数据至所述控制器(200)；

其中，所述控制器(200)将所述位置数据与所述放射源(20)和所述探测器(100)的测量结果配对。

2.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，还包括承载件(500)，所述承载件(500)用于放置放射源(20)，所述位置测量装置(400)通过获取所述承载件(500)的图像确定所述放射源(20)的位置和姿态。

3.根据权利要求2所述的系统(10)，其中，所述调节装置(300)设置成能够沿预定路径移动所述承载件(500)。

4.根据权利要求3所述的系统(10)，其中，所述承载件(500)和所述探测器(100)上均设置测位点，所述位置测量装置(400)通过获取所述测位点的图像来确定所述承载件(500)和所述探测器(100)的位置。

5.根据权利要求4所述的系统(10)，其中，所述位置测量装置(400)包括：

相机(410)，用于拍摄所述测位点的图像，所述位置测量装置(400)基于所述测位点的图像生成所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置数据；

光笔，用于与所述探测器(100)和所述放射源(20)接触，所述相机(410)拍摄所述光笔在多个接触点时的图像，所述位置测量装置(400)通过在所述多个接触点时的所述光笔的图像确定所述探测器(100)和所述放射源(20)在其坐标系内的映射关系。

6.根据权利要求5所述的系统(10)，其中，所述光笔包括测针和本体，所述测针用于接触所述探测器(100)和所述放射源(10)，所述本体上具有标定点，所述相机(410)拍摄所述标定点获取所述光笔的图像。

7.根据权利要求6所述的系统(10)，其中，所述位置测量装置(400)还包括红外光源(420)，所述测位点和所述标定点上均设置有靶片(421)，所述位置测量装置(400)通过所述相机(410)捕获所述靶片(421)反射的红外光线以确定所述测位点和所述标定点的位置。

8.根据权利要求1所述的系统(10)，其中，所示调节装置(300)包括机械臂(310)，所述机械臂(310)基于所述控制信号移动所述放射源(20)。

9.根据权利要求8所述的系统(10)，其中，所述调节装置(300)还包括支撑单元，所述调节装置(300)基于所述控制信号使所述支撑单元移动所述探测器(100)。

10.根据权利要求9所述的系统(10)，其中，所述调节装置(300)还包括底座(320)，所述机械臂(310)和所述支撑单元固定连接在所述底座(320)上。

11.根据权利要求10所述的系统(10)，其中，所述底座(330)包括控制板，所述控制板用于接收所述控制信号，并基于所述控制信号控制所述机械臂(310)和所述支撑单元的操作。

12.根据权利要求11所述的系统(10)，其中，所述支撑单元包括：

探测器调节部(331)，被配置为在水平和竖直方向上移动所述探测器(100)；

制冷单元调节部(332)，被配置为移动所述制冷单元(101)使其与所述探测器(100)的位置对应，所述制冷单元(101)用于所述探测器(100)晶体的冷却。

13.根据权利要求11所述的系统(10)，其中，所述底座(320)还包括样品台(321)，所述样品台(321)用于所述放射源(20)的放置，所述机械臂(310)基于所述控制信号从所述样品台(321)抓取并移动所述放射源(20)。

14.一种用于探测器的测量方法，其中，包括：

通过控制器(200)接收参数，所述参数包括探测器(100)和放射源(20)的位置信息，所述控制器(200)基于所述参数发出控制信号；

利用调节装置(300)接收所述控制信号，所述调节装置(300)基于所述控制信号向预设位置移动所述探测器(100)和/或所述放射源(20)；

利用所述位置测量装置(400)获取所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置，并生成所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置数据，所述位置测量装置(400)传输所述位置数据至所述控制器(200)；

所述控制器(200)接收和处理所述位置数据，所述位置数据用于确定所述探测器(100)对所述放射源(20)的探测效率。

15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述控制器(200)接收和处理所述位置数据，所述位置数据用于确定所述探测器(100)对所述放射源(20)的探测效率的步骤之后还包括：

所述探测器(100)获取对所述放射源(20)的测量数据，并传输所述测量数据至所述控制器(200)。

16.根据权利要求15所述的方法，其中，在利用所述位置测量装置(400)获取所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置的步骤之前还包括：

在光笔本体的标定点上设置靶片(421)；

打开红外光源(420)使红外光线到达所述靶片(421)；

测针依次与所述探测器(100)和承载件(500)进行多点接触，所述位置测量装置(400)通过相机(410)捕捉所述靶片(421)反射的红外光线确定所述探测器(100)和所述放射源(20)在其坐标系内的映射关系。

17.根据权利要求16所述的方法，其中，利用所述位置测量装置(400)获取所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置并生成所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置数据的步骤包括：

在所述承载件(500)和所述探测器(100)上均设置靶片(421)；

所述位置测量装置(400)通过相机(410)捕获所述靶片(421)反射的所述红外光线，并基于所述映射关系确定所述探测器(100)和所述放射源(20)的位置数据。

18.根据权利要求15所述的方法，其中，利用调节装置(300)接收所述控制信号，所述调节装置(300)基于所述控制信号向预设位置移动所述探测器(100)和/或所述放射源(20)的步骤包括：

将所述放射源(20)放置在所述调节装置(300)底座的样品台(321)上；

所述调节装置(300)的控制板接收所述控制信号并启动机械臂(310)和支撑单元；

所述控制板基于所述控制信号使所述机械臂(310)通过承载件(500)从所述样品台(321)上移动所述放射源(20)，同时所述控制板基于所述控制信号使所述支撑单元移动探测器(100)。

19.根据权利要求18所述的方法，其中，所述控制板基于所述控制信号使所述支撑单元向预设位置移动探测器(100)的步骤还包括：

所述控制板基于所述控制信号使探测器调节部(331)在水平和垂直方向上移动所述探测器(100)；

所述控制板基于所述控制信号使制冷单元调节部(332)移动所述制冷单元(101)的使其与所述探测器(100)对应，所述制冷单元(101)用于所述探测器(100)晶体的冷却。

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