CN112578223A - 故障位置的确定方法及装置、存储介质、电子装置 - Google Patents

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CN112578223A CN202011420636.3A CN202011420636A CN112578223A CN 112578223 A CN112578223 A CN 112578223A CN 202011420636 A CN202011420636 A CN 202011420636A CN 112578223 A CN112578223 A CN 112578223A
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徐兴全
桂媛
王智晖
姚玉海
任志刚
齐伟强
杨亚奇
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/088Aspects of digital computing

Abstract

本发明公开了一种故障位置的确定方法及装置、存储介质、电子装置。其中,上述方法包括:通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。采用上述技术方案,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题。

Description

故障位置的确定方法及装置、存储介质、电子装置
技术领域
本发明涉及通信领域,具体而言,涉及一种故障位置的确定方法及装置、存储介质、电子装置。
背景技术
随着城市的快速发展,电力需求快速增长,交联聚乙烯(XLPE)电缆由于其具有优良电气性能、耐热性能和机械性能且节约城市空间、不影响市容而在城市配电网改造中得到了广泛的使用。现有的电缆绝缘性能检测方法主要采用局部放电法。局部放电法易受现场噪声的影响,电缆直流耐压现场试验会产生空间电荷,对电缆造成损害;用工频电压做试验时,需要很大的电源和试验设备容量而使现场试验十分困难;而且现有技术无法根据检测结果确定电缆的故障位置。
针对相关技术中,电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本发明实施例提供了一种故障位置的确定方法及装置、存储介质、电子装置,以解决相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题。
根据本发明的一个实施例,提供了一种故障位置的确定方法,包括:通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选的,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选的,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量;在局部放电量超过第二阈值的情况下,将超过第二阈值的局部放电量所对应的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
可选的,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量,包括:在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量。
可选的,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值,包括:采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值。
可选的,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置之后,所述方法还包括:将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理。
根据本发明的另一个实施例,还提供了一种故障位置的确定装置,包括:第一检测模块,用于通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;第二检测模块,用于通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;确定模块,用于根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选的,确定模块,还用于在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
根据本发明的又一个实施例,还提供了一种计算机可读的存储介质,所述计算机可读的存储介质中存储有计算机程序,其中,所述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
根据本发明的又一个实施例,还提供了一种电子装置,包括存储器和处理器,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
通过本发明,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。也就是说,通过超低频损耗因数检测技术与超低频局放检测技术获取所述介质损耗值以及所述检测结果,并确定所述目标电缆的故障位置。采用上述技术方案,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解,构成本申请的一部分,本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明,并不构成对本发明的不当限定。在附图中:
图1是本发明实施例的一种故障位置的确定方法的计算机终端的硬件结构框图;
图2是本发明实施例的一种故障位置的确定方法的流程图;
图3是本发明实施例的电缆系统超低频现场试验接线图;
图4是根据本发明另一个实施例的一种故障位置的确定装置的结构框图。
具体实施方式
下文中将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是,本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。
本申请实施例所提供的方法实施例可以在计算机终端,或者类似的装置中执行。以运行在计算机终端上为例,图1是本发明实施例的一种故障位置的确定方法的计算机终端的硬件结构框图。如图1所示,计算机终端可以包括一个或多个(图1中仅示出一个)处理器102(处理器102可以包括但不限于微处理器(Microprocessor Unit,简称是MPU)或可编程逻辑器件(Programmable logic device,简称是PLD))和用于存储数据的存储器104,在一个示例性实施例中,上述计算机终端还可以包括用于通信功能的传输设备106以及输入输出设备108。本领域普通技术人员可以理解,图1所示的结构仅为示意,其并不对上述计算机终端的结构造成限定。例如,计算机终端还可包括比图1中所示更多或者更少的组件,或者具有与图1所示等同功能或比图1所示功能更多的不同的配置。
存储器104可用于存储计算机终端程序,例如,应用软件的软件程序以及模块,如本发明实施例中的故障位置的确定方法对应的计算机程序,处理器102通过运行存储在存储器104内的计算机程序,从而执行各种功能应用以及数据处理,即实现上述的方法。存储器104可包括高速随机存储器,还可包括非易失性存储器,如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中,存储器104可进一步包括相对于处理器102远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至计算机终端。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
传输装置106用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括计算机终端的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中,传输装置106包括一个网络适配器(Network Interface Controller,简称为NIC),其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中,传输装置106可以为射频(Radio Frequency,简称为RF)模块,其用于通过无线方式与互联网进行通讯。
在本实施例中提供了一种故障位置的确定方法,应用于上述计算机终端,图2是根据本发明实施例的一种故障位置的确定方法的流程图,该流程包括如下步骤:
步骤S202,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
步骤S204,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
步骤S206,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
通过本发明,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。也就是说,通过超低频损耗因数检测技术与超低频局放检测技术获取所述介质损耗值以及所述检测结果,并确定所述目标电缆的故障位置。采用上述技术方案,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
在步骤S206中,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
需要说明的是,在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障,其中采用0.1Hz超低频正弦波,对被测电缆进行介质损耗测量,获取介损值随测试电压的变化曲线以评估电缆的主绝缘状态水平,测试的超低频高压电压波形两个半波基本相同,峰值与有效值之比为
Figure BDA0002822059710000051
按照IEEE Std 400.2TM-2013所规定的电源的电压值。在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,其中采用0.1Hz超低频正弦波或余弦方波,在振超低频电压下测量电缆内部潜在缺陷产生的局部放电,电源要求与通过超低频损耗因数检测技术检测一致。
需要说明的是,通过超低频损耗因数检测技术可以确定所述目标电缆发生故障,通过超低频局放检测技术可以确定所述目标电缆的故障位置。需要说明的是,本发明所说的超低频是指30HZ-300HZ之间的电磁波。通过上述技术手段,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
在一个可选实施例中,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量;在局部放电量超过第二阈值的情况下,将超过第二阈值的局部放电量所对应的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
也就是说,将局部放电量异常的位置,确定为所述目标电缆的故障位置。需要说明的是,通过超低频局放检测技术检测可采用振荡波、超低频正弦、超低频余弦方波三种电压激励形式。振荡波局部放电检测电压及检测判据按表1要求。采用超低频正弦波时最高检测电压应为3.0U0,其中IEEE Std 400.2TM-2013所规定的电源的电压值。采用超低频余弦方波时最高检测电压应为2.5U0,最高电压下局部放电检测要求参考表1振荡波局部放电测试评价判据。超低频局部放电检测可结合超低频耐压检测同步开展。检测前后,主绝缘电阻应无明显变化。超低频局放测量电路与超低频介损测量电路一致,局放测量前应先进行放电量校准,校准器直接跨接在被试电缆一段的导体和金属屏蔽之间,然后将预定的电荷注入试样,逐渐增大校准器的输出放电量,要求校准器显示的注入电荷量与实际测得的电荷量一致。振荡波局部放电测试要求如下,超低频法局放测量标准可以参考下表。
表1配电电缆线路交接检测中振荡波局部放电测试要求
Figure BDA0002822059710000071
例行检测与诊断检测中的超低频局部放电检测,其检测方式与交接检测相同。振荡波局部放电测试要求如下,超低频法局放测量标准可以参考下表。
表2振荡波局放检测状态评价判据
Figure BDA0002822059710000081
开展局部放电检测应注意一下事项:
(1)检测区周围应有可靠安全措施,检测区应有接地极,检测设备、测量系统的接地端和试样的接地端与接地极可靠连接。
(2)测量前试样应先经过超低频交流耐压检测,试样不应有任何异常现象。
(3)现场不应有较大的干扰,并且接地部分不能与其他正在运行的设备,尤其是大电流设备的接地端接在一起。
(4)不应在有雷、雨、雾、雪环境下作业;检测端子要保持清洁;避免电焊、气体放电灯等强电磁信号干扰。
(5)被测电缆本体及附件应当绝缘良好,存在故障的电缆不能进行测试。被测电缆的两端应与电网的其他设备断开连接,避雷器、电压互感器等附件需要拆除,电缆终端处的三相间需留有足够的安全距离。
(6)局部放电检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,局部放电检测前后,绝缘电阻应无明显变化
在一个可选实施例中,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量,包括:在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量。
需要说明的是,在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,可以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量,局部放电量异常的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
开展局部放电检测应注意:
(1)检测区周围应有可靠安全措施,检测区应有接地极,检测设备、测量系统的接地端和试样的接地端与接地极可靠连接。
(2)测量前试样应先经过超低频交流耐压检测,试样不应有任何异常现象。
(3)现场不应有较大的干扰,并且接地部分不能与其他正在运行的设备,尤其是大电流设备的接地端接在一起。
在一个可选实施例中,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值,包括:采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值。
需要说明的是,采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测应分别在每一相上进行,对一相进行检测或测量时,金属屏蔽和其他两相导体一起接地。例行检测中介质损耗检测一般采用超低频正弦波电压激励。不应在有雷、雨、雾、雪环境下作业,检测端子要保持清洁。被测电缆本体及附件应当绝缘良好,存在故障的电缆不能进行测试。被测电缆的两端应与电网的其他设备断开连接,避雷器、电压互感器等附件需要拆除,电缆终端处的三相间需留有足够的安全距离。介质损耗检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,介质损耗检测前后,绝缘电阻应无明显变化。诊断检测中开介质损耗检测时,升压过程中若介质损耗指标已达异常标准可不继续提升激励电压,直接开展缺陷定位或停电消缺。检测前后,主绝缘电阻应无明显变化。
介质损耗因数测量范围应满足1×10-4~1。测量负载应满足一定的要求,可等效为对试样的长度要求,包括最小长度和最大长度范围,不包含电缆终端,可以根据仪器测量的电容范围来确定,所测电缆的电容最大范围不得低于等效电容为1.0μF的电缆。试样终端部分的长度和终端制备方法,因能保证在规定的最高测试电压下不发生沿面闪络或者内部击穿。试样的测量极对地应有一定的电阻值。测量时,应将导体接高压端,其他线芯相互连接并与金属套和屏蔽仪器接地。
介质损耗检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,介质损耗检测前后,绝缘电阻应无明显变化,电缆主绝缘电阻测量应采用2500V及以上电压的兆欧表,外护套绝缘电阻测量宜采用1000V兆欧表。检测接线与超低频耐压检测相同。
高压源输出电压等级为0.5UN、1.0UN、1.5UN,频率为0.1Hz的低频电压,分别测量3个电压等级下的介质损耗因数数值。每次测量过程中,电压持续时间为10s,每个电压等级下重复8次,测量每次低频输出下的介质损耗因数数值,并计算介质损耗因数的平均值、差值和标准偏差。检测中选择介质损耗因数随时间稳定性(UN下标准偏差)、介质损耗因数变化率(1.5UN与0.5UN下介损平均值之差)、介质损耗因数平均值(UN下)3个指标来研究电缆的状态。具体标准如表3所示。
表3超低频介质损耗因数诊断标准
Figure BDA0002822059710000111
测量时电压应从较低值开始逐渐升压至规定的电压,然后进行介损的测量;测量结束后,应将电源切断,并对电缆进行放电。
介损测量除必备的超低频高压输出设备,还需增加保护功能,例如急停按钮等。串联在高压输出回路中的测量单元,主要用于采集电流、绝缘电阻、电缆容量等数据,最终用于计算介损值,为测量结果提供必要的数据支撑。必要时使用终端补偿单元,用于消除电缆终端表面污秽带来的泄露电流的影响。
超低频介损检测仪器的基本功能、绝缘性能、外壳防护性能、连续通电性能、通信功能、可靠性及外观和结构等通用技术要求应满足相关国家标准或者行业标准。超低频介损检测仪器应满足的扩展功能如下:
(1)应具备显示绝缘电阻、电缆电容量、介损平均值、介损稳定性、介损变化量的功能,并实时查看、记录;应提供实时电压、时间、介损曲线趋势图;
(2)应具备自动评价的测试功能,针对不同绝缘类型的电缆根据本标准给出自动评价结果;应具备高压警示功能,输出高压时,应有明显的警示标志;
(3)应具备终端泄露电流屏蔽功能,终端污秽严重时有必要启用,剔除表面泄露电流;应具备过电流自动保护、自动击穿识别功能;
(4)检测过程中应提供介损偏差过大引起的击急停功能;
超低频介质损耗检测时,还应注意:
(1)测量时电压应从较低值开始逐渐升压至规定的电压,然后进行介损的测量;测量结束后,应将电源切断,并对电缆进行放电。
(2)介损测量时,必要情况下使用终端补偿单元,用于消除电缆终端表面污秽带来的泄露电流的影响。
根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置之后,所述方法还包括:将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理。
需要说明的是,将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理,显示屏会显示故障位置的具体位置,维修员就可以根据显示屏显示的位置,对所述故障位置进行处理。
为了更好的理解上述技术方案,本发明还提供了一种可选实施例,用于解释说明上述技术方案。
在一个可选实施例中,图3本发明实施例的电缆系统超低频现场试验接线图,如图3所示:
其中测量模块包括第一检测模块与第二检测模块。
测试过程如下:
(1)将与试品电缆相连接的电气设备全部脱离试品电缆将测试设备和试品电缆的接地极全部采用裸铜线可靠接地。记录测试环境条件。
(2)采用10000V兆欧表对试品电缆各相分别进行绝缘电阻测试,记录测试值。
(3)测试电压峰值:3U0;测试时间:60min。
(4)试品电缆的电容量在测试设备负载电容能力范围内时,可以将试品电缆三要线芯并联后,同时对地进行耐压测试。
(5)将测试设备与试品电缆相连接,合上电源,开始升压进行测试。升压过程应密切监视高压回路,监听试品电缆是否有异常响声。升至测试电压时,即开始记录测试时间并读取测试电压值。
(6)测试时间到后,先将电压降至零位,然后切断电源,连接接地线,测试中若无破坏性放电发生,则认为通过耐压测试。
(7)在升压和耐压过程中,如发现电压表指针摆动较大,电流表指示急剧增加,调压器继续升压值电压基本不变甚至显下降趋势,而电流增加幅度较大,试品电缆发出异味,烟雾或异常响声或闪络等现象,应立即停止升压,降压停电后查明原因,这些现象如查明是试品电缆绝缘部分簿弱引起的,则认为耐压测试不合格。如确定是试品电缆由于空气湿度或表面脏污等原因所致,应将试品电缆清洁干燥处理后,再进行测试。
(8)测试过程中,如果遇非试品电缆绝缘缺陷的失去电源,使测试中断,在查明原因恢复电源后,应重新进行全时间连续耐压测试,不得仅进行补足时间测试。
(9)要求为绝缘无击穿,则耐压测试即为通过。
通过本发明,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。也就是说,通过超低频损耗因数检测技术与超低频局放检测技术获取所述介质损耗值以及所述检测结果,并确定所述目标电缆的故障位置。采用上述技术方案,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到根据上述实施例的方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质(如只读存储器(Read-Only Memory,简称为ROM)、随机存取存储器(Random AccessMemory,简称为RAM)、磁碟、光盘)中,包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机,计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述的方法。
在本实施例中还提供了一种故障位置的确定装置,该装置用于实现上述实施例及优选实施方式,已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的,术语“模块”可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现,但是硬件,或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。
图4是根据本发明实施例的一种故障位置的确定装置的结构框图;如图4所示,包括:
第一检测模块40,用于通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
第二检测模块42,用于通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
确定模块44,用于根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
通过本发明,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。也就是说,通过超低频损耗因数检测技术与超低频局放检测技术获取所述介质损耗值以及所述检测结果,并确定所述目标电缆的故障位置。采用上述技术方案,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选的,确定模块44,还用于在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
需要说明的是,在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障,其中采用0.1Hz超低频正弦波,对被测电缆进行介质损耗测量,获取介损值随测试电压的变化曲线以评估电缆的主绝缘状态水平,测试的超低频高压电压波形两个半波基本相同,峰值与有效值之比为
Figure BDA0002822059710000151
按照IEEE Std 400.2TM-2013所规定的电源的电压值。在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,其中采用0.1Hz超低频正弦波或余弦方波,在振超低频电压下测量电缆内部潜在缺陷产生的局部放电,电源要求与通过超低频损耗因数检测技术检测一致。
需要说明的是,通过超低频损耗因数检测技术可以确定所述目标电缆发生故障,通过超低频局放检测技术可以确定所述目标电缆的故障位置。需要说明的是,本发明所说的超低频是指30HZ-300HZ之间的电磁波。通过上述技术手段,解决了相关技术电缆性能检测会对电缆造成损害,无法根据检测结果确定电缆的故障位置的问题,从而根据根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选的,确定模块44,还用于通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量;在局部放电量超过第二阈值的情况下,将超过第二阈值的局部放电量所对应的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
也就是说,将局部放电量异常的位置,确定为所述目标电缆的故障位置。需要说明的是,通过超低频局放检测技术检测可采用振荡波、超低频正弦、超低频余弦方波三种电压激励形式。振荡波局部放电检测电压及检测判据按表1要求。采用超低频正弦波时最高检测电压应为3.0U0,其中IEEE Std 400.2TM-2013所规定的电源的电压值。采用超低频余弦方波时最高检测电压应为2.5U0,最高电压下局部放电检测要求参考表1振荡波局部放电测试评价判据。超低频局部放电检测可结合超低频耐压检测同步开展。检测前后,主绝缘电阻应无明显变化。超低频局放测量电路与超低频介损测量电路一致,局放测量前应先进行放电量校准,校准器直接跨接在被试电缆一段的导体和金属屏蔽之间,然后将预定的电荷注入试样,逐渐增大校准器的输出放电量,要求校准器显示的注入电荷量与实际测得的电荷量一致。振荡波局部放电测试要求如下,超低频法局放测量标准可以参考下表。
表1配电电缆线路交接检测中振荡波局部放电测试要求
Figure BDA0002822059710000161
Figure BDA0002822059710000171
例行检测与诊断检测中的超低频局部放电检测,其检测方式与交接检测相同。振荡波局部放电测试要求如下,超低频法局放测量标准可以参考下表。
表2振荡波局放检测状态评价判据
Figure BDA0002822059710000172
Figure BDA0002822059710000181
开展局部放电检测应注意一下事项:
(1)检测区周围应有可靠安全措施,检测区应有接地极,检测设备、测量系统的接地端和试样的接地端与接地极可靠连接。
(2)测量前试样应先经过超低频交流耐压检测,试样不应有任何异常现象。
(3)现场不应有较大的干扰,并且接地部分不能与其他正在运行的设备,尤其是大电流设备的接地端接在一起。
(4)不应在有雷、雨、雾、雪环境下作业;检测端子要保持清洁;避免电焊、气体放电灯等强电磁信号干扰。
(5)被测电缆本体及附件应当绝缘良好,存在故障的电缆不能进行测试。被测电缆的两端应与电网的其他设备断开连接,避雷器、电压互感器等附件需要拆除,电缆终端处的三相间需留有足够的安全距离。
(6)局部放电检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,局部放电检测前后,绝缘电阻应无明显变化
可选的,第二检测模块42还用于在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量。
需要说明的是,在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,可以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量,局部放电量异常的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
开展局部放电检测应注意:
(1)检测区周围应有可靠安全措施,检测区应有接地极,检测设备、测量系统的接地端和试样的接地端与接地极可靠连接。
(2)测量前试样应先经过超低频交流耐压检测,试样不应有任何异常现象。
(3)现场不应有较大的干扰,并且接地部分不能与其他正在运行的设备,尤其是大电流设备的接地端接在一起。
可选的,第一检测模块40还用于采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值。
需要说明的是,采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测应分别在每一相上进行,对一相进行检测或测量时,金属屏蔽和其他两相导体一起接地。例行检测中介质损耗检测一般采用超低频正弦波电压激励。不应在有雷、雨、雾、雪环境下作业,检测端子要保持清洁。被测电缆本体及附件应当绝缘良好,存在故障的电缆不能进行测试。被测电缆的两端应与电网的其他设备断开连接,避雷器、电压互感器等附件需要拆除,电缆终端处的三相间需留有足够的安全距离。介质损耗检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,介质损耗检测前后,绝缘电阻应无明显变化。诊断检测中开介质损耗检测时,升压过程中若介质损耗指标已达异常标准可不继续提升激励电压,直接开展缺陷定位或停电消缺。检测前后,主绝缘电阻应无明显变化。
介质损耗因数测量范围应满足1×10-4~1。测量负载应满足一定的要求,可等效为对试样的长度要求,包括最小长度和最大长度范围,不包含电缆终端,可以根据仪器测量的电容范围来确定,所测电缆的电容最大范围不得低于等效电容为1.0μF的电缆。试样终端部分的长度和终端制备方法,因能保证在规定的最高测试电压下不发生沿面闪络或者内部击穿。试样的测量极对地应有一定的电阻值。测量时,应将导体接高压端,其他线芯相互连接并与金属套和屏蔽仪器接地。
介质损耗检测前后应开展线路主绝缘电阻检测,介质损耗检测前后,绝缘电阻应无明显变化,电缆主绝缘电阻测量应采用2500V及以上电压的兆欧表,外护套绝缘电阻测量宜采用1000V兆欧表。检测接线与超低频耐压检测相同。
高压源输出电压等级为0.5UN、1.0UN、1.5UN,频率为0.1Hz的低频电压,分别测量3个电压等级下的介质损耗因数数值。每次测量过程中,电压持续时间为10s,每个电压等级下重复8次,测量每次低频输出下的介质损耗因数数值,并计算介质损耗因数的平均值、差值和标准偏差。检测中选择介质损耗因数随时间稳定性(UN下标准偏差)、介质损耗因数变化率(1.5UN与0.5UN下介损平均值之差)、介质损耗因数平均值(UN下)3个指标来研究电缆的状态。具体标准如表3所示。
表3超低频介质损耗因数诊断标准
Figure BDA0002822059710000201
测量时电压应从较低值开始逐渐升压至规定的电压,然后进行介损的测量;测量结束后,应将电源切断,并对电缆进行放电。
介损测量除必备的超低频高压输出设备,还需增加保护功能,例如急停按钮等。串联在高压输出回路中的测量单元,主要用于采集电流、绝缘电阻、电缆容量等数据,最终用于计算介损值,为测量结果提供必要的数据支撑。必要时使用终端补偿单元,用于消除电缆终端表面污秽带来的泄露电流的影响。
超低频介损检测仪器的基本功能、绝缘性能、外壳防护性能、连续通电性能、通信功能、可靠性及外观和结构等通用技术要求应满足相关国家标准或者行业标准。超低频介损检测仪器应满足的扩展功能如下:
(1)应具备显示绝缘电阻、电缆电容量、介损平均值、介损稳定性、介损变化量的功能,并实时查看、记录;应提供实时电压、时间、介损曲线趋势图;
(2)应具备自动评价的测试功能,针对不同绝缘类型的电缆根据本标准给出自动评价结果;应具备高压警示功能,输出高压时,应有明显的警示标志;
(3)应具备终端泄露电流屏蔽功能,终端污秽严重时有必要启用,剔除表面泄露电流;应具备过电流自动保护、自动击穿识别功能;
(4)检测过程中应提供介损偏差过大引起的击急停功能;
超低频介质损耗检测时,还应注意:
(1)测量时电压应从较低值开始逐渐升压至规定的电压,然后进行介损的测量;测量结束后,应将电源切断,并对电缆进行放电。
(2)介损测量时,必要情况下使用终端补偿单元,用于消除电缆终端表面污秽带来的泄露电流的影响。
可选的,确定模块44还用于将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理。
需要说明的是,将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理,显示屏会显示故障位置的具体位置,维修员就可以根据显示屏显示的位置,对所述故障位置进行处理。
需要说明的是,上述各个模块是可以通过软件或硬件来实现的,对于后者,可以通过以下方式实现,但不限于此:上述模块均位于同一处理器中;或者,上述各个模块以任意组合的形式分别位于不同的处理器中。
本发明的实施例还提供了一种存储介质,该存储介质中存储有计算机程序,其中,该计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
可选地,在本实施例中,上述存储介质可以被设置为存储用于执行以下步骤的计算机程序:
S1,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
S2,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
S3,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选地,在本实施例中,上述存储介质可以包括但不限于:U盘、只读存储器(Read-Only Memory,简称为ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,简称为RAM)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储计算机程序的介质。
本发明的实施例还提供了一种电子装置,包括存储器和处理器,该存储器中存储有计算机程序,该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。
可选地,上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备,其中,该传输设备和上述处理器连接,该输入输出设备和上述处理器连接。
可选地,在本实施例中,上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤:
S1,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
S2,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
S3,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
可选地,在本可选地,本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例,本实施例在此不再赘述。
显然,本领域的技术人员应该明白,上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现,它们可以集中在单个的计算装置上,或者分布在多个计算装置所组成的网络上,可选地,它们可以用计算装置可执行的程序代码来实现,从而,可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行,并且在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤,或者将它们分别制作成各个集成电路模块,或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样,本发明不限制于任何特定的硬件和软件结合。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种故障位置的确定方法,其特征在于,包括:
通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:
在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;
在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置,包括:
通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量;
在局部放电量超过第二阈值的情况下,将超过第二阈值的局部放电量所对应的位置确定为所述目标电缆的故障位置。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量,包括:
在超低频电压下,采用超低频正弦波或余弦方波对所述目标电缆进行检测,以得到所述目标电缆在不同位置的局部放电量。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值,包括:
采用超低频正弦波对所述目标电缆进行介质损耗检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置之后,所述方法还包括:
将所述故障位置显示在目标终端的显示屏上,以指示目标对象对所述故障位置进行处理。
7.一种故障位置的确定装置,其特征在于,包括:
第一检测模块,用于通过超低频损耗因数检测技术对目标电缆进行检测,以确定所述目标电缆的介质损耗值;
第二检测模块,用于通过超低频局放检测技术对所述目标电缆进行检测,得到检测结果;
确定模块,用于根据所述介质损耗值以及所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,确定模块,还用于在所述介质损耗值小于第一阈值的情况下,确定所述目标电缆发生故障;在所述目标电缆发生故障的情况下,根据所述检测结果确定所述目标电缆的故障位置。
9.一种计算机可读的存储介质,其特征在于,所述计算机可读的存储介质包括存储的程序,其中,所述程序运行时执行上述权利要求1至6任一项中所述的方法。
10.一种电子装置,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器中存储有计算机程序,所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行所述权利要求1至6任一项中所述的方法。
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