CN112578192A - 一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法。该小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，包括：脉冲发射系统、天线系统、待测屏蔽体和接收系统。通过这一具体结构设置，本发明使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，并通过时域－频域转换得到频率信息，一次测量即可完成全频段测量，不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实，进而使得小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试操作步骤更加简便、测量效率更加精确。

Description

一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，特别是涉及一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法。

背景技术

小屏蔽体作为一种常用的电磁波防护装置广泛应用于通讯、航空、航天等各个行业，常见的小屏蔽体有屏蔽机箱、屏蔽机柜、屏蔽舱等。小屏蔽体一般指的是最大边长小于2m的屏蔽体，因为其体积偏小，因此其屏蔽效能的测试方法有别于传统的屏蔽壳体测试。

目前国内外对小屏蔽体屏蔽效能的测试主要分为三类：一类是外置辐射天线法，即将发射天线置于小屏蔽体外，将接收天线置于小屏蔽体内，并通过小屏蔽体上的转接头将接收天线的信号引出；第二类是内置辐射源法，即将小型一体化辐射源置于小屏蔽体内，将接收天线置于屏蔽体外进行测试；第三类是高场强法，即通过外置的大功率天线施加一个高场强信号作用于小屏蔽体上，通过内置于小屏蔽体的场强探头接收被测小屏蔽体内部的场强。

其中，外置辐射天线法是最常用的方法，其测试布置见图1，在屏蔽壳体外面产生一个辐射场，用接收天线测量有屏蔽壳体和无屏蔽壳体时的场强，这两个场强值用分贝表示，数值相减即得到屏蔽壳体的屏蔽效能。

按公式(1)计算屏蔽壳体的屏蔽效能：

S＝A₂–A₁ (1)

式中：S—屏蔽效能，单位为分贝(dB)；A₁—有屏蔽壳体时测得的最大信号电平，单位为dBm或dBμV；A₂—无屏蔽壳体时测得的信号电平，单位为dBm或dBμV。

该种方法的测量步骤如下：

a)根据测量要求设置信号源的频率，调节信号源的输出电平，使在接收设备上有适当的信号指示；

b)微调发射天线的极化方向，使接收设备收到的信号最大。记录信号源的输出电平和接收设备的测量值，接收设备的测量值记为A₁。

c)改变信号源的频率，重复步骤a)～步骤b)，直到测量完所有需要测量的频率点。

d)对于有极化方向的接收天线，应改变天线的极化方向，重复步骤a)～步骤c)。

e)移走被测屏蔽壳体，并保持发射天线和接收探头的空间位置和极化方向不变，调整信号源的频率和输出电平与步骤c)和d)的记录相同，记录每个频率点上接收设备测量的最大信号电平，记为A₂。

f)按公式1计算屏蔽效能。在同一频率点取屏蔽效能最差的数值作为屏蔽效能的最后取值。

g)根据需要置发射天线于被测屏蔽壳体的其它位置，重复步骤a)～f)。

内置辐射源法是在待测屏蔽体内部产生一个辐射场，用接收天线测量有无屏蔽体时接收到的信号强度，比较这两个信号强度即可得到屏蔽体的屏蔽效能。待测屏蔽体内部辐射场可用两种方法产生：第一种方法是用小辐射源产生，简称辐射源内置法；第二种方法是用辐射天线产生，简称辐射天线内置法。内置辐射源法适合测量那些用来防止内部信号向外辐射的屏蔽壳体。其测试布置见图2。

内置辐射源法的测量步骤包括：

a)打开小辐射源电源开关，使其处于正常工作状态，置于被测屏蔽壳体内，将屏蔽壳体恢复原状。

b)调整接收设备的频率，微调接收环位置，记录需要测量的所有频率点上最大的电磁波泄漏信号数值，记为A₁。用小环法测量时，应分别测量共面和共轴两种情况。

c)将小辐射源从被测屏蔽壳体内取出，重新置于木桌上，保持小辐射源的天线与接收天线之间的空间位置不变，并保持小辐射源输出功率，微调小辐射源的天线位置，使接收信号最大，记为A₂。

d)按公式1计算屏蔽效能。在同一频率点取屏蔽效能最差的数值作为屏蔽效能的最后取值。

e)根据需要置小辐射源天线于被测屏蔽壳体的其它位置，重复步骤a)～d)

高场强法的基本原理是将被测件置于高场强的环境中，通过场强探头测量被测小屏蔽体内部场强，进而计算得到小屏蔽体的屏蔽效能。之所以采用高场强是由于场强探头的灵敏度偏低，为保证测试系统具有足够的动态范围，不得不使用高场强的信号作为测量信号。

以上这些测试方法都有各自的局限性，外置辐射天线法的测试频点选择比较灵活，可以实现工作频段内任意频点的测量。且动态范围较大，能够满足几乎所有的测试需求。但是对于被测件的尺寸，尤其是内部净空间有着相对苛刻的要求，因为需要放置接收天线的原因，被测件的内部空间不能过小。特别是在进行低频段的测量时，由于接收天线尺寸较大，导致对内部空间的要求更为严格。很多小尺寸的屏蔽体，如小屏蔽箱、屏蔽抽屉等将无法使用外置天线法进行测量；内置源法操作简便，但是内置的辐射源往往只能工作在固定频点，无法实现任意频点的测量。而且内置源由于体积的原因，输出功率偏小，从而导致系统的动态范围往往小于60dB，这个指标只能满足部分小屏蔽体的测试需求。而且最为关键的是，由于内置的辐射源是由电池供电，随着使用时间的延续，电池电压将会逐渐降低，导致发射功率减小，进而影响了测试结果的准确性；高场强法是以上两种方法的补充方法，适用于内部尺寸偏小且测试频点具有一定要求的情况，但是高场强法使用设备较多，投入成本大。由于接收用场强探头的灵敏度偏低，导致高场强法的动态范围仅能达到40dB左右，无法满足大部分测试需求。而且，无论是上述任何一种测量方法均在连续波条件的前提下，即信号源发射某一特定频率的连续波信号作用至小屏蔽体的屏蔽层，再通过频谱仪或示波器接收小屏蔽体屏蔽层另一侧的信号。一旦小屏蔽体在宽频段下工作，由于多个频率点均要进行测量，这就导致测量的工作量极为巨大。

因此提供一种新型的小屏蔽体屏蔽效能测试装置和方法，是本领域亟待解决的一个技术难题。

发明内容

为解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法，以进行小屏蔽体屏蔽效能的测量，通过一次脉冲发射即可完成全频段的测量，不仅测量条件和测量结果更加贴近实际使用情况，而且操作简便，工作效率高。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，包括：

脉冲发射系统，用于发射脉冲信号；

天线系统，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号；

待测屏蔽体，用于罩设所述天线系统；

接收系统，用于接收所述天线系统的开场信号或衰减信号；所述开场信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体外时接收到的信号；所述衰减信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体内时接收到的信号；所述开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号；所述衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号。

优选地，所述脉冲发射系统包括：

脉冲发生器，用于生成脉冲信号；

天线，用于发射所述脉冲信号。

优选地，所述脉冲发生器包括：

直流高压源，用于输出直流高压信号；

火花隙开关，与所述直流高压源连接，用于触发所述直流高压源产生脉冲信号；

脉冲电容器，与所述直流高压源并联，用于防止所述直流高压源被击穿。

优选地，在实验状态下，所述天线系统包括：

电小天线，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号；

光发射机，与所述电小天线连接，用于将所述脉冲信号转换为光信号。

优选地，在实验状态下，所述接收系统包括：

光接收机，通过光纤与所述光发射机连接，用于接收所述开场信号或所述衰减信号；

示波器，与所述光接收机连接，用于显示所述检测波形。

优选地，在现场状态下，所述天线系统包括：

电磁脉冲空间探头，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号。

优选地，在现场状态下，所述接收系统包括：

示波器，通过电缆与所述电磁脉冲空间探头连接，用于显示检测波形。

基于上述方案，本发明具有以下优点：

本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，并通过时域－频域转换得到频率信息，一次测量即可完成全频段测量，不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实，进而使得小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试操作步骤更加简便、测量效率更加精确。

对应于上述提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，本发明还提供了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法，包括：

获取开场信号和衰减信号；所述开场信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体外时接收到的信号；所述衰减信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体内时接收到的信号；所述开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号；所述衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号；

根据所述开场信号和衰减信号确定待测屏蔽体的屏蔽效能；所述屏蔽效能包括电压屏蔽效能和场强屏蔽效能。

优选地，所述根据所述开场信号和衰减信号确定待测屏蔽体的屏蔽效能，具体包括：

根据所述开场电压信号和所述衰减电压信号，采用公式

确定所述待测屏蔽体的电压屏蔽效能；

根据所述开场场强信号和所述衰减场强信号，采用公式

确定所述待测屏蔽体的电压屏蔽效能；

其中，SE₁为电压屏蔽效能，U₁为开场电压信号，U₂为衰减电压信号，SE₂为场强屏蔽效能，E₁为开场场强信号，E₂为衰减场强信号。

此外，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令；所述计算机可执行指令设置为执行上述小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法。

因本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法与上述提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置的优点相同，此处不再进行赘述。

以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明，这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件，附图不构成比例限制，并且其中：

图1为现有技术技术中外置辐射天线法测试布置图；

图2为现有技术技术中内置辐射源测试布置图；

图3为现有技术技术中场强法测试布置图；

图4为采用本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置进行实验状态下屏蔽效能测试开场布置图；

图5为采用本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置进行实验状态下屏蔽效能测试布置图；

图6为采用本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置进行现场状态下屏蔽效能测试开场布置图；

图7为采用本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置进行现场状态下屏蔽效能测试布置图；

图8为本发明实施例提供的空间探头的结构示意图；

图9为本发明提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法的流程图；

图10为本发明实施例中开场接收信号的波形图；

图11为本发明实施例中衰减接收信号的波形图；

图12为测量结果的频谱分布图。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本公开实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本公开实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本公开实施例。在以下的技术描述中，为方便解释起见，通过多个细节以提供对所披露实施例的充分理解。然而，在没有这些细节的情况下，一个或多个实施例仍然可以实施。在其它情况下，为简化附图，熟知的结构和装置可以简化展示。

如图4-图7所示，本发明提供的一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，包括：脉冲发射系统1、天线系统、待测屏蔽体3和接收系统4。

其中，脉冲发射系统1用于发射脉冲信号。本发明所采用的脉冲发射系统1具体包括：脉冲发生器1-1和天线1-2。脉冲发生器1-1用于生成脉冲信号。天线1-2用于发射脉冲信号。

上述脉冲发生器1-1包括：直流高压源、火花隙开关和脉冲电容器。

直流高压源用于输出直流高压信号。火花隙开关与直流高压源连接，用于触发直流高压源产生脉冲信号。脉冲电容器与直流高压源并联，用于防止直流高压源被击穿。本发明之所以采用该种结构的脉冲发生器，是因为该脉冲发生器能够发出高脉冲信号，以便简化结构和测量操作流程。

天线系统用于接收脉冲发射系统发射的脉冲信号。该天线系统的而具体结构依据测试场景的不同而设置不同的结构。

A、在实验状态下，如图4和图5所示，该天线系统包括：电小天线2-1和光发射机2-2。

电小天线2-1用于接收脉冲发射系统1发射的脉冲信号。光发射机2-2与电小天线2-1连接，用于将脉冲信号转换为光信号。该种设置结构主要是基于实验室条件下，空间存在局限性，因此提供一种结构体积较小的天线系统能够进一步简化测试流程。

对应于实验状态下的天线系统，本发明在实验状态下，采用的接收系统4如图1和图2具体包括：光接收机4-1和示波器4-2。

光接收机4-1通过光纤与光发射机连接，用于接收开场信号或衰减信号。

示波器4-2与光接收机4-1连接，用于显示检测波形。

B、在现场状态下，如图6和图7所示，天线系统包括：电磁脉冲空间探头2-3。电磁脉冲空间探头2-3用于接收脉冲发射系统发射的脉冲信号。电磁脉冲空间探头2-3的具体结构如图8所示。

对应于现场状态下的天线系统，本发明在现场状态下，采用的接收系统4如图6和图7所示，具体包括：示波器4-2。该示波器4-2通过电缆与电磁脉冲空间探头2-3连接，用于显示检测波形。

因此，基于不同场景下的天禧系统和接收系统，可以精确获取开场信号和衰减信号。其中，开场信号为天线系统置于待测屏蔽体外时接收到的信号。衰减信号为天线系统置于待测屏蔽体内时接收到的信号。开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号。衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号。

待测屏蔽体3用于罩设天线系统。本发明采用的待测屏蔽体主要为小屏蔽体。在对待测屏蔽体进行效能测试时，分别进行两次测量，第一次测量是基于开场信号确定将要照射在待测屏蔽体的信号幅度V₁，与脉冲上升沿的时间t_r。第二次测量是在待测屏蔽体罩设在天线系统上之后进行的测量，其主要是测量得到经过该待测屏蔽体衰减后的脉冲信号的幅度V₂。比较两次测量的幅度差即可得到待测屏蔽体的屏蔽效能，即

根据带宽和上升沿的时间转换公式f_max＝0.35/t_r即可得到注入脉冲所覆盖的上限频率，进而根据这一上限频率可以对天线系统发出的脉冲信号进行反馈调节。

例如，当时域脉冲信号输出幅度为20V，时域接收设备灵敏度为2mV时，其测量动态范围为20log(20V/2mV)＝80dB。在配合额外的前置放大器，还可获得更高的测量动态范围。

为了保证施加的脉冲信号满足测量要求，一方面需根据时域脉冲波形时间参数与信号覆盖频率带宽之间的关系来选择合适的时域脉冲波形时间参数，另一方面需根据待测屏蔽体的屏蔽效能的动态范围的大小来选择合适的时域脉冲波形幅度参数。

在脉冲信号的分析中，信号的上升时间与频带宽度有一定的对应关系。脉冲上升时间越短，包含的频谱分量越丰富，谐波次数越高，对应的频带宽度越宽。考虑一般小屏蔽体屏蔽效能10kHz～18GHz的频率范围，根据时域脉冲上升时间与所覆盖频率带宽之间的公式BW＝0.35/t_r可以得出，当选择上升时间t_r小于19.4ps的时域脉冲信号时，覆盖带宽可达到18GHz。式中，BW为频率带宽，GHz。t_r为脉冲上升时间，ns。

下面对不同测量场景下的具体测量操作过程进行说明。

A、实验室状态下屏蔽效能测试：

首先将低灵敏度的电小天线2-1置于脉冲发射系统1的轴线上距其天线口某一距离处，测出无屏蔽体时在自由空间中的电场信号。然后，将脉冲场发射系统1置于待测屏蔽体3外，把高灵敏度的电小天线2-1置于待测屏蔽体3内，并保持脉冲发射系统1放电电压与发射天线口面至接收电小天线2-1的距离不变，测出屏蔽体内的电场信号。根据电小天2-1的转换系数计算出两次测试的场强值，再根据公式

计算得到待测屏蔽体的场强屏蔽效能。具体测试布置图如图4和图5所示。

B、现场状态下屏蔽效能测试

首先将电磁脉冲空间探头2-3置于脉冲发射系统1轴线上距天线口某一距离处，测出无屏蔽体时的电场信号。然后，将脉冲发射系统1置于待测屏蔽体外，把电磁脉冲空间探头2-3置于待测屏蔽体3内，并保持脉冲发射系统1放电电压与发射天线口面至接收电磁脉冲空间探头2-3的距离不变，测出待测屏蔽体内的电压信号。根据公式

计算得到待测屏蔽体3的屏蔽效能。测试布置见图6和图7。

综上，为了解决目前小屏蔽体屏蔽效能测量中，测量信号与实际工作环境信号类型相差较大，测量结果不能客观反映实际情况以及测量工作量庞大等问题，推出可上述小屏蔽体屏蔽效能的时域脉冲测量装置，以使用脉冲信号而不是连续波信号作为测量信号，通过时域－频域转换得到频率信息，使得一次测量即可完成全频段测量。本发明提供的上述技术方案不仅从原理上更加贴近实际使用情况，测量结果更加客观真实，而且与现有方法相比，本发明提供的操作步骤更加简便，测量效率更高。

对应于上述提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，本发明还提供了一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法，如图9所示，包括：

步骤100：获取开场信号和衰减信号。开场信号为天线系统置于待测屏蔽体外时接收到的信号。衰减信号为天线系统置于待测屏蔽体内时接收到的信号。开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号。衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号。

步骤200：根据开场信号和衰减信号确定待测屏蔽体的屏蔽效能。屏蔽效能包括电压屏蔽效能和场强屏蔽效能。该步骤200具体包括：

根据开场电压信号和衰减电压信号，采用公式

确定待测屏蔽体的电压屏蔽效能。

根据开场场强信号和衰减场强信号，采用公式

确定待测屏蔽体的电压屏蔽效能。

其中，SE₁为电压屏蔽效能，U₁为开场电压信号，U₂为衰减电压信号，SE₂为场强屏蔽效能，E₁为开场场强信号，E₂为衰减场强信号。

此外，还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令。计算机可执行指令设置为执行上述小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法。

下面提供一个具体实施例对本发明上述提供小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置和方法的优点进行进一步说明。

小屏蔽体屏蔽效能时域脉冲测量过程中所使用的主要设备即为本发明上述提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其具体结构在此不再进行赘述。

在采用上述提供的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法进行小屏蔽体屏蔽效能测量时，分别进行两次测量，一次是测量开场信号，一次测量被测小屏蔽体后的衰减信号。

A、实验室状态下测试步骤为：

a)测试设备加电预热，以达到稳态工作。

b)合理设置高压源、示波器的参数。

c)按图4布置设备，根据测量要求设置脉冲发射系统1的输出电压，以保证接收设备上有足够强的信号显示，记录接收设备读数U₁。

d)根据转换系数计算此时电小天线2-1的接收场强值E₁。

e)将电小天线2-1移至待测屏蔽体3内，保证发射天线口面至电小天线2-1的距离与步骤c)一致，并根据估算设置电小天线2-1的档位，布置见图5。保证脉冲发射系统1输出电压与步骤c)一致记录接收设备读数U₂。

f)根据转换系数计算此时电小天线的接收场强值E2。

g)每个状态的测试进行5次，取平均值。

h)按公式

计算屏蔽效能。

i)根据需要对待测屏蔽体3的其他位置或方向进行测试，重复步骤b)～h)。

B、现场状态下测试步骤为：

a)测试设备加电预热，以达到稳态工作。

b)合理设置高压源、示波器4-2的参数。

c)按图6布置设备，根据测量要求设置脉冲发射系统1输出电压，以保证接收设备上有足够强的信号显示，记录接收设备读数U₁。

d)将电磁脉冲空间探头2-3移至待测屏蔽体3内，保证发射天线口面至电磁脉冲空间探头2-3的距离与步骤c)一致，布置见图7。保证脉冲发射系统1输出电压与步骤c)一致记录接收设备读数U₂。

e)每个状态的测试进行5次，取平均值。

f)按公式

计算屏蔽效能。

g)根据需要对待测屏蔽体3的其他位置或方向进行测试，重复步骤b)～f)。

基于上述测量步骤得到的测量结果如图10和图11所示。基于图10和图11所示的测量结果得到屏蔽效能的测量结果如图12所示。该屏蔽效能的测量结果主要依赖于本发明上述公开的计算机可读存储介质实现。

综上，本发明公开的技术方案的工作原理为：在进行小屏蔽体屏蔽效能测量时，不使用传统的连续波信号，而使用时域脉冲信号，并通过时域-频域转换，用一个窄脉冲实现了小屏蔽体的全频段屏蔽效能测量。基于这一测量原理，本发明提供的技术方案的主要创新点为：

1、测试信号的类型为窄脉冲信号。测量结果通过时域-频域转换计算得到。

2、可以使用且仅使用一个脉冲信号完成小屏蔽体屏蔽效能的测量，而不是像现有测量方法需要进行几十次甚至上百次的测量，大大提高了测量效率。

3、由于最后测量结果通过时域－频域转换计算得到，因此可以得到测量频段范围内任何一个频率点的屏蔽效能数据。而现有测量方法无论进行多少次测量也无法达到这一效果。这在后期的使用中，对于一旦发生问题所需要的分析具有重要的意义。

以上描述和附图充分地示出了本公开的实施例，以使本领域的技术人员能够实践它们。其他实施例可以包括结构的、逻辑的、电气的、过程的以及其他的改变。实施例仅代表可能的变化。除非明确要求，否则单独的部件和功能是可选的，并且操作的顺序可以变化。一些实施例的部分和特征可以被包括在或替换其他实施例的部分和特征。本公开实施例的范围包括权利要求书的整个范围，以及权利要求书的所有可获得的等同物。当用于本申请中时，虽然术语“第一”、“第二”等可能会在本申请中使用以描述各元件，但这些元件不应受到这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件与另一个元件区别开。比如，在不改变描述的含义的情况下，第一元件可以叫做第二元件，并且同样第，第二元件可以叫做第一元件，只要所有出现的“第一元件”一致重命名并且所有出现的“第二元件”一致重命名即可。第一元件和第二元件都是元件，但可以不是相同的元件。而且，本申请中使用的用词仅用于描述实施例并且不用于限制权利要求。如在实施例以及权利要求的描述中使用的，除非上下文清楚地表明，否则单数形式的“一个”(a)、“一个”(an)和“”(the)旨在同样包括复数形式。类似地，如在本申请中所使用的术语“和/或”是指包含一个或一个以上相关联的列出的任何以及所有可能的组合。另外，当用于本申请中时，术语“包括”(comprise)及其变型“包括”(comprises)和/或包括(comprising)等指陈述的特征、整体、步骤、操作、元素，和/或组件的存在，但不排除一个或一个以上其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或这些的分组的存在或添加。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个…”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法或者设备中还存在另外的相同要素。本文中，每个实施例重点说明的可以是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分可以互相参见。对于实施例公开的方法、产品等而言，如果其与实施例公开的方法部分相对应，那么相关之处可以参见方法部分的描述。

本领域技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，可以取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法以实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本公开实施例的范围。技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

本文所披露的实施例中，所揭露的方法、产品(包括但不限于装置、设备等)，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，可以仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例。另外，在本公开实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

附图中的流程图和框图显示了根据本公开实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分，模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这可以依所涉及的功能而定。在附图中的流程图和框图所对应的描述中，不同的方框所对应的操作或步骤也可以以不同于描述中所披露的顺序发生，有时不同的操作或步骤之间不存在特定的顺序。例如，两个连续的操作或步骤实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这可以依所涉及的功能而定。框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。

Claims (10)

1.一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，包括：

脉冲发射系统，用于发射脉冲信号；

天线系统，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号；

待测屏蔽体，用于罩设所述天线系统；

接收系统，用于接收所述天线系统的开场信号或衰减信号；所述开场信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体外时接收到的信号；所述衰减信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体内时接收到的信号；所述开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号；所述衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号。

2.根据权利要求1所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，所述脉冲发射系统包括：

脉冲发生器，用于生成脉冲信号；

天线，用于发射所述脉冲信号。

3.根据权利要求2所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，所述脉冲发生器包括：

直流高压源，用于输出直流高压信号；

火花隙开关，与所述直流高压源连接，用于触发所述直流高压源产生脉冲信号；

脉冲电容器，与所述直流高压源并联，用于防止所述直流高压源被击穿。

4.根据权利要求1所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，在实验状态下，所述天线系统包括：

电小天线，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号；

光发射机，与所述电小天线连接，用于将所述脉冲信号转换为光信号。

5.根据权利要求4所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，在实验状态下，所述接收系统包括：

光接收机，通过光纤与所述光发射机连接，用于接收所述开场信号或所述衰减信号；

示波器，与所述光接收机连接，用于显示所述检测波形。

6.根据权利要求1所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，在现场状态下，所述天线系统包括：

电磁脉冲空间探头，用于接收所述脉冲发射系统发射的脉冲信号。

7.根据权利要求6所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置，其特征在于，在现场状态下，所述接收系统包括：

示波器，通过电缆与所述电磁脉冲空间探头连接，用于显示检测波形。

8.一种小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法，其特征在于，应用于如权利要求1-7任意一项所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试装置；所述小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法包括：

获取开场信号和衰减信号；所述开场信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体外时接收到的信号；所述衰减信号为所述天线系统置于所述待测屏蔽体内时接收到的信号；所述开场信号包括：开场电压信号和开场场强信号；所述衰减信号包括：衰减电压信号和衰减场强信号；

根据所述开场信号和衰减信号确定待测屏蔽体的屏蔽效能；所述屏蔽效能包括电压屏蔽效能和场强屏蔽效能。

9.根据权利要求8所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法，其特征在于，所述根据所述开场信号和衰减信号确定待测屏蔽体的屏蔽效能，具体包括：

根据所述开场电压信号和所述衰减电压信号，采用公式

确定所述待测屏蔽体的电压屏蔽效能；

根据所述开场场强信号和所述衰减场强信号，采用公式

确定所述待测屏蔽体的电压屏蔽效能；

其中，SE₁为电压屏蔽效能，U₁为开场电压信号，U₂为衰减电压信号，SE₂为场强屏蔽效能，E₁为开场场强信号，E₂为衰减场强信号。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令；所述计算机可执行指令设置为执行如权利要求8-9任意一项所述的小屏蔽体的时域脉冲屏蔽效能测试方法。

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