CN112577965B - 检测系统 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测系统。检测系统包括机台、检测装置及多个承载装置。机台上设有轨道，轨道包括第一轨道、多个第二轨道及第三轨道。检测装置对应第二轨道设置，并用于对位于第二轨道上的工件进行检测。承载装置活动地安装于轨道，承载装置通过第一轨道后可选择地进入其中一个第二轨道，经过检测装置检测后的承载装置通过第三轨道返回至第一轨道。本申请无需设置转运机械臂，多个承载装置也能够在第一轨道、第二轨道及第三轨道之间循环运动，以使检测系统能够同时对不同承载装置上的工件进行不同的操作，从而降低检测系统结构的复杂度及提高检测效率。

Description

检测系统

技术领域

本申请涉及检测技术领域，更具体而言，涉及一种检测系统。

背景技术

在工件检测技术中，工件需要被运输或转移到不同的工位上，以在不同的工位对工件进行不同的操作，工件在不同的工位上转移的过程中，通常需要机械手对工件进行转移，结构较为复杂。并且承载工件的载台对工件进行运输，载台运输工件至一个工位上并完成操作后，载台需要原路返回到原位置，导致同一个通道上不能同时有多个载台进行运输，效率较低。

发明内容

本申请实施方式提供一种检测系统。

本申请实施方式的检测系统包括机台、检测装置及多个承载装置。机台上设有轨道，所述轨道包括第一轨道、多个第二轨道及第三轨道。所述检测装置对应所述第二轨道设置，并用于对位于所述第二轨道上的工件进行检测。所述承载装置活动地安装于所述轨道，所述承载装置通过所述第一轨道后可选择地进入其中一个所述第二轨道，经过所述检测装置检测后的所述承载装置通过所述第三轨道返回至所述第一轨道。

在某些实施方式中，所述承载装置能够在所述第一轨道上运动，并能够按照预定规则选择进入的所述第二轨道，所述预定规则包括按顺序选择进入的所述第二轨道。

在某些实施方式中，所述承载装置能够在所述第一轨道上运动，并能够按照预定规则选择进入的所述第二轨道，所述预定规则包括选择进入具有最少所述承载装置的所述第二轨道。

在某些实施方式中，所述承载装置能够在所述第一轨道上运动，并能够按照预定规则选择进入的所述第二轨道，所述预定规则包括选择进入与所述承载装置对应的所述第二轨道。

在某些实施方式中，所述检测系统还包括上料装置，所述第一轨道设有上料工位，所述上料装置与所述上料工位对应；所述上料装置用于将所述工件放置在位于所述上料工位上的所述承载装置。

在某些实施方式中，所述上料装置包括第一机械臂，所述第一机械臂与所述上料工位对应，并用于将所述工件放置于所述上料工位的所述承载装置。

在某些实施方式中，所述上料装置还包括载台及第二机械臂，所述载台用于承载所述工件。所述第二机械臂与所述载台对应，并用于抓取放在在所述载台上的所述工件，并翻转所述工件，所述第一机械臂用于抓取经所述第二机械臂翻转后的所述工件或抓取承载在所述载台上的所述工件。

在某些实施方式中，所述第二轨道设有第一工位和第二工位，所述检测装置包括第一检测组件及第二检测组件。所述第一检测组件用于对所述第一工位上的所述工件进行第一检测以输出第一结果。所述第二检测组件用于根据所述第一结果对所述第二工位上的所述工件进行第二检测以输出第二结果。

在某些实施方式中，每个所述第二轨道对应有一个所述第一检测组件及一个所述第二检测组件，所述第一检测组件与所述第一工位对应，所述第二检测组件与所述第二工位对应。

在某些实施方式中，多个所述第二轨道并联于所述第一轨道和第三轨道之间，多个所述第二轨道沿第一方向排列，所述第一检测组件能够沿所述第一方向运动以到达每个所述第二轨道的第一工位，所述第一检测组件用于对每个所述第二轨道的第一工位上的所述工件进行第一检测以输出第一结果；所述第二检测组件能够沿所述第一方向运动以到达每个所述第二轨道的第二工位，所述第二检测组件用于根据所述第一结果对与所述第一结果对应的所述工件进行第二检测以输出第二结果。

在某些实施方式中，所述承载装置在所述第二轨道上沿第二方向运动，所述第二方向与所述第一方向不同。

在某些实施方式中，所述检测系统还包括下料装置，所述第三轨道设有下料工位，所述下料装置与所述下料工位对应；所述下料装置用于根据所述检测装置的第二结果将位于所述下料工位的所述承载装置上的所述工件取下，并放置于下料区。

在某些实施方式中，所述第二结果表征所述工件的品质，所述下料区包括多个区域，每个所述区域用于放置不同品质的所述工件，所述下料装置还用于将不同品质的所述工件放置于对应所述区域。

在某些实施方式中，所述承载装置包括承载本体、承载件及动力结构。所述承载件设置于所述承载本体，所述承载件用于承载所述工件。所述动力结构设置于所述承载本体，并能够产生动力以带动所述承载装置在所述轨道上运动。

在某些实施方式中，所述第一轨道设有上料工位，所述第三轨道设有下料工位。其中，所述上料工位与所述下料工位相同。

在某些实施方式中，所述下料工位位于所述第一轨道和最接近所述第一轨道的所述第二轨道之间。

在某些实施方式中，所述下料工位位于每个所述第二轨道和所述第三轨道相交处。

在某些实施方式中，所述上料工位与所述下料工位位于所述机台相背两侧。

在某些实施方式中，所述上料工位与所述下料工位位于所述机台相邻两侧。

本申请实施例中的检测系统中，多个承载装置通过第一轨道后可选择地进入多个第二轨道中的其中一个第二轨道，并在经过设置在与第二轨道对应设置的检测装置检测后通过第三轨道返回至第一轨道。一方面，由于第一轨道、第二轨道及第三轨道共同形成闭环回路，以使检测系统内无需设置转运机械臂，承载装置也能够在第一轨道、第二轨道及第三轨道之间循环闭环运动，能够降低检测系统结构的复杂度及检测系统的制作成本。另一方面，由于轨道上设有多个承载装置，多个承载装置承载工件到达一个工位上完成操作后，承载装置能够继续沿轨道运动至下一工位，无需原路返回至原位置，即多个承载装置能够同时在第一轨道、第二轨道及第三轨道之间循环闭环运动，以使同一轨道上同时能有多个承载装置运动，检测系统能够同时对不同承载装置上的工件进行不同的操作，从而提高检测效率；再一方面，由于检测系统设置有多个与检测装置对应的第二轨道，使得检测系统能够同时对多个第二轨道上的工件进行检测，从而进一步提高检测效率。

本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施方式的一种检测系统的结构示意图；

图2是本申请实施方式的又一种检测系统的结构示意图；

图3是本申请实施方式的检测系统中一种承载装置的立体结构示意图；

图4是本申请实施方式的检测系统中又一种承载装置的立体结构示意图；

图5是本申请实施方式的检测系统中检测平台与检测装置一个视角的立体结构示意图；

图6是本申请实施方式的检测系统中检测平台与检测装置另一个视角的立体结构示意图；

图7是本申请实施方式的又一种检测系统的结构示意图；

图8是本申请实施方式的又一种检测系统的结构示意图；

图9是本申请实施方式的又一种检测系统的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本申请的实施方式作进一步说明。附图中相同或类似的标号自始至终表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。

另外，下面结合附图描述的本申请的实施方式是示例性的，仅用于解释本申请的实施方式，而不能理解为对本申请的限制。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

请参阅图1，本申请实施方式提供一种检测系统100。检测系统100包括机台20、承载装置10及检测装置50。机台10上设有轨道30，轨道30包括第一轨道31，多个第二轨道32及第三轨道33。检测装置50对应第二轨道32，并用于对位于第二轨道32上的工件200进行检测。承载装置10用于承载工件200，承载装置10活动地安装于轨道30，承载装置10通过第一轨道31后可选择地进入其中一个第二轨道32，经过检测装置50检测后的承载装置10通过第三轨道33后返回至第一轨道31。

本申请实施例中的检测系统100中，多个承载装置10通过第一轨道31后可选择地进入多个第二轨道32中的其中一个第二轨道32，并在经过设置在与第二轨道32对应设置的检测装置50检测后通过第三轨道33返回至第一轨道31。一方面，由于第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33共同形成闭环回路，以使检测系统100无需设置转运机械臂，承载装置10也能够在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间循环闭环运动，能够降低检测系统100结构的复杂度及检测系统100的制作成本。另一方面，由于轨道30上设有多个承载装置10，多个承载装置10承载工件200到达一个工位上完成操作后，承载装置10能够继续沿轨道30运动至下一工位，无需原路返回至原位置，即多个承载装置10能够同时在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间循环闭环运动，以使同一轨道30上同时能有多个承载装置10运动，检测系统100能够同时对不同承载装置10上的工件200进行不同的操作，从而提高检测效率；再一方面，由于检测系统100设置有多个与检测装置50对应的第二轨道32，使得检测系统100能够同时对多个第二轨道32上的工件200进行检测，从而提高检测效率。

下面结合附图进一步说明。

请参阅图1、图2及图7至图9，检测系统100包括多个承载装置10、机台20及检测装置50。机台20上设有轨道30，承载装置10用于承载工件200，并且多个承载装置10活动安装于轨道30。检测装置50用于对置于轨道30上的工件200进行检测。其中，工件200包括但不限于芯片、显示屏、电子设备壳体及光学元件中至少一种，在此不作限制。本申请图中仅示出为带有电路板的显示屏。

具体地，请参阅图1及图3，多个承载装置10活动地安装于轨道30上，每个承载装置10包括承载本体11、承载件12及动力结构13，承载件12及动力结构13均设置于承载本体11。其中，承载件12用于承载工件200，动力结构13能够产生动力以带动承载装置10在轨道30上运动。

在一些实施例中，承载装置10可包括固定件14，固定件14安装在承载件12上，用于将工件200固定在承载件12上。如此，通过固定件14可以将工件200较好地固定在承载件12上，以避免在对工件200检测或加工时工件200相对于承载件12滑动而对检测结果或加工结果造成影响。在一个例子中，固定件14可以包括吸盘，通过调节吸盘内的气压可以产生用于将工件200吸附住的吸附力，采用吸盘吸附工件200，一方面可以避免对工件200的损坏；另一方面，吸附力的加持与释放均比较容易控制，由此方便对工件200的拆装。在另一个例子中，在工件200为金属材料时，固定件14也可以是磁铁，磁铁对工件200产生磁吸力，磁吸力可以将工件200吸住。在其他例子中，固定件14还可以是设置在承载件12上的卡块，可以将工件200卡合在承载件12上。当然，固定件14也可以是具有固定功能的其他元件，在此不做限制。

请参阅图4，在一些实施例中，承载件11上还开设有通孔15，固定件14安装在通孔15内。固定件14可以是通过卡合在通孔15内以固定安装在承载件12上，固定件14也可以通过其他方式固定在通孔15内，在此不做限制。通孔15的形状为具有一定长度的条形，固定件14可以在通孔15内滑动，以改变固定件14的安装位置，以对不同位置、不同尺寸的工件200进行固定。

请参阅图1、图2及图7至图9，轨道30包括第一轨道31、多个第二轨道32及第三轨道33。其中，第二轨道32的数量可以是2个、3个、4个、10个等，在此不作限制。其中，检测装置50对应第二轨道32设置，并用于对位于第二轨道32上的工件200进行检测。每个第二轨道32的一端与第一轨道31连接，另一端与第三轨道33连接，以使承载装置10通过第一轨道31能够选择地进入其中一个第二轨道32，并且进入每个第二轨道32的承载装置10在经过检测装置50检测后，均能够进入第三轨道33。第三轨道33的一端与第一轨道31连接，以使在第三轨道33上运动的承载装置10能够返回至第一轨道31。如此，第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33共同形成闭环回路，以使检测系统100内无需设置转运机械臂，承载装置10也能够在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间循环闭环运动，能够降低检测系统100结构的复杂度及检测系统100的制作成本，同时由于轨道30上设有多个承载装置10，即多个承载装置10能够同时在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间循环闭环运动，检测系统100能够同时对不同承载装置10上的工件200进行不同的操作，从而提高检测效率。

具体地，在一些实施例中，请参阅图1、图2及图7至图9，第一轨道31上设有上料工位311，检测系统100还包括上料装置40，上料装置40用于将工件200放置在位于上料工位311上的承载装置10上。具体地，请继续参阅图1，上料装置40还包括第一机械臂41及载台42，第一机械臂41与上料工位311对应，并用于将工件200放置在位于上料工位311的承载装置10上，载台42用于承载需要检测的工件200。承载装置10的动力机构13能够产生动力，以带动空的承载装置10（即没有承载工件200的承载装置10）到第一轨道31的上料工位311，第一机械臂41运动（转动和/或移动）至载台42上方抓取一个工件200，再运动（转动和/或移动）至上料工位311的上方后，将抓取的工件200放置在位于上料工位311的承载装置10上。在一个例子中，只有承载装置10装载有工件200后，该承载装置10的动力结构13才产生动力以带动承载装置10离开上料工位311进入下一操作，如此能够使进入下一操作的承载装置10中均设置有工件200，避免对空的承载装置10进行不必要的操作。在另一个例子中，承载装置10在上料工位311只停留预定时间，即当承载装置10在上料工位311停留时间大于预定时间后，该承载装置10的动力结构13产生动力以带动承载装置10离开上料工位311，如此能够避免多个承载装置10同时停留在上料工位311附近，造成堵塞。为了方便说明，在本申请实施例中，承载装置10只有在承载了工件200后，其上的动力结构13才产生动力以带动承载装置10离开上料工位311，即每个离开上料工位311的承载装置10中均承载有工件200。

在一些实施例中，请参阅图1，上料装置40还可包括第二机械臂43，第二机械臂43与载台42对应。第二机械臂43用于抓取放在载台42上的工件200，并翻转工件200。第一机械臂41用于抓取经第二机械臂43翻转后的工件200或抓取承载在载台42上的工件200。具体地，当工件200无需翻转时，第一机械臂41能够直接抓取承载在载台42上的工件200。当工件200需要翻转时，第二机械臂43抓取承载在载台42上的工件200，在一个实施例中，第二机械臂43将工件200翻转后，第一机械臂41再抓取第二机械臂43上的工件200；在另一个实施例中，第二机械臂43将工件200翻转后将工件200放回载台42，第一机械臂41在抓取经过翻转后承载在载台42上的工件200。由于上料装置40还包括用于翻转工件200的第二机械臂43，如此无论载台42上的工件200需要检测的那一面是否背离载台42，均能够使承载装置10上承载的工件200的需要检测的那一面背离承载装置10，以能被检测到。需要说明的是，在一些实施例中，上料装置40还可包括图像获取装置（图未示），图像获取装置用于获取载台42上的工件200背离载台42的一面是否为需要检测的那一面，并将结果传输至第一机械臂41及第二机械臂42。当然，也可以采用其他方法判断工件200是否需要翻转，在此不再一一例举。

离开上料工位311的承载装置10能够继续在第一轨道31上运动，并能够按照预定规则选择进入第二轨道32。需要说明的是，若上料工位311设置在第一轨道31与其中一条第二轨道32的相交处，且离开上料工位311的承载装置10选择进入该第二轨道32时，该承载装置10可直接进入第二轨道32无需在第一轨道31上继续运动。例如，如图1所示，检测系统100包括两条第二轨道32，上料工位311设置在第一轨道31与上侧的第二轨道32的相交处，离开上料工位311的承载装置10若选择进入上侧的第二轨道32，则承载装置10直接进入上侧第二轨道32；离开上料工位311的承载装置10若选择进入下侧的第二轨道32，则承载装置10能够继续在第一轨道31上运动后再进入上侧第二轨道32。另外，承载装置10能够在第一轨道31上沿直线运动，当第一轨道31存在弯折处（如图2所示），承载装置10也能够在第一轨道31的弯折处自动转动以沿第一轨道31继续运动。

在一个例子中，预定规则包括按顺序选择进入的第二轨道32。具体地，检测系统100中的多个第二轨道32预先按顺序进行排序，若当前通过第一轨道31的承载装置10进入其中一个第二轨道32（上一第二轨道32），则下一个通过第一轨道31的承载装置10选择进入，排序在上一第二轨道32后面一个的第二轨道32（下一第二轨道32）；若当前通过第一轨道31的承载装置10进入的是排序在最后的第二轨道32，则下一个通过第一轨道31的承载装置10选择进入排序在最前的第二轨道32。例如，请参阅图2，检测系统100包括两个第二轨道32，假设左边的第二轨道32排序在右边的第二轨道32的前面，若当前通过第一轨道31的承载装置10进入左边的第二轨道32，则下一个通过第一轨道31的承载装置10选择进入右边的第二轨道32；若当前通过第一轨道31的承载装置10进入右边的第二轨道32，则下一个通过第一轨道31的承载装置10选择进入左边的第二轨道32。由于多个通过第一轨道31的承载装置10按照第二轨道32的排序，依次选择进入第二轨道32，如此每个第二轨道32上的承载装置10大致相同，能够避免多个第二轨道32中的其中一个第二轨道32负荷较大造成堵塞。

在另一个例子中，预定规则包括选择进入具有最少承载装置10的第二轨道32。具体地，通过第一轨道31的承载装置10选择多个第二轨道32中，存在承载装置10最少的一个第二轨道32进入。例如，检测系统100包括两个第二轨道32，假设在当前时刻一个第二轨道32上有两个承载装置10，另一个第二轨道32上只有一个承载装置10，则当前通过第一轨道31的承载装置10选择进入只有一个承载装置10的第二轨道32。由于通过第一轨道31的承载装置10选择进入具有最少承载装置10的第二轨道32，能够提高承载装置10通过第二轨道32的速度，从而提高检测系统100的检测效率。

在又一个例子中，预定规则包括选择进入与承载装置10对应的第二轨道32。具体地，预先设定好每一个承载装置10在通过第一轨道31后选择进入哪一个第二轨道32，即该承载装置10每一次通过第一轨道31后均是进入同一个第二轨道32。例如，预选给检测系统100中的多个承载装置10及多个第二轨道32均进行编码，其中，每个第二轨道32的编码均不同，每个承载装置10的编码均与唯一的一个第二轨道32的编码相同。在承载装置10通过第一轨道31后，承载装置10选择进入具有与该承载装置10的编码相同编码的第二轨道32。

请参阅图1、图2及图7至图9，检测装置50对应第二轨道32设置，检测装置50对位于第二轨道32上的工件200进行检测。在一些实施例中，第二轨道32设有第一工位321及第二工位322，检测装置50包括第一检测组件51及第二检测组件52。其中，第一检测组件51用于对第一工位321上的工件200进行第一检测以输出第一结果。第二检测组件52用于根据第一结果对第二工位322上的工件200进行第二检测以输出第二结果。

具体地，请结合图5，在一些实施例中，第一结果包括工件200在承载装置10上的位置信息及工件200的高度信息。第一检测组件51可包括第一图像采集模组511及探头512。第一图像采集模组511用于获取工件200的第一图像，以获取工件200在承载装置10上的位置信息。其中，位置信息可以包括工件200相对参考位置的偏移量和/或偏转角度。

示例地，在一些实施例中，检测系统100还可包括第一处理器（图未示），第一处理器内预先存有工件200放置在承载装置10的参考位置上的参考图像，第一处理器根据参考图像及第一图像以获取工件200相对参考位置的偏移量和/或偏转角度。当然，检测系统100还可以通过其他方式根据第一图像获取工件200在承载装置10上的位置信息，在此不作限制。

探头512用于根据位置信息检测工件200的高度信息。其中，高度信息可以包括探头512所在参考面到工件200表面的距离。示例地，在一些实施例中，检测系统100还可包括第二处理器（图未示），探头512根据位置信息可以获得工件200在承载装置10上的具体位置，并将工件200划分为多个区域，探头512向工件200的其中一个区域发射检测信号（例如：激光脉冲，超声波等）并接收经过工件200表面反射回的检测信号。第二处理器根据工件200表面反射回的检测信号，以获取探头512所在参考面到工件200表面该区域的距离。在一个例子中，探头512利用色散共聚焦的测量原理检测得到高度信息。随后，探头512对工件200的下一区域发射检测信号并重复以上步骤，直至探头512获取所在参考面到工件200表面所有待测区域上点的距离。当然，检测系统100还可以通过其他方式获取工件200的高度信息，在此不作限制。另外，需要说明的是，第二处理器与上述实施例中的第一处理器可以是同一处理器，也可以是不同的处理器。

请结合图6，在一些实施例中，第二检测组件52可包括第二图像采集模组521，第二图像采集模组521用于根据第一结果获取工件200的第二图像，以获取第二结果。其中，第二结果包括工件200的缺陷信息。需要说明的是，缺陷信息包括但不限于缺陷类型（例如，工件200内部缺陷或工件200表面的划痕、颗粒、异物、凹陷等）、缺陷数量及缺陷在工件200的位置中的至少一种。在一些实施例中，第二结果还可以包括灰尘信息，由于工件200表面存在灰尘可以比较容易的清理干净，不属于工件200的缺陷，如此能够避免粘有灰尘的工件200被误判为残次品，同时能识别出粘有灰尘的工件200对其进行去灰尘处理，以提高工件200的品质。

具体地，请一并参阅图1和图3，在一些实施例中，承载装置10还可包括驱动件16，用于根据第一结果中的高度信息及位置信息驱动承载件12沿高度方向运动，以调节第二检测组件52与工件200之间的距离，即调节第二图像采集模组521与工件200之间的距离。由于一般用于缺陷检测的第二图像采集模组521的景深范围较小，驱动件16根据第一结果中的高度信息驱动承载件12沿高度方向运动，调节第二图像采集模组521与工件200之间的距离，能够使工件200每个位置都在第二图像采集模组521的景深范围内。例如，根据第二图像采集模组521的景深及参考平面设置预设距离，当需要对工件200某区域进行第二检测时，第二图像采集模组521根据该区域的位置信息，第二图像采集模组521运动至与该区域对应，即第二图像采集模组521运动至该区域的正上方，再根据第一结果获取该区域的高度信息，即获取该区域到参考面的距离，随后驱动件16根据预设距离及该区域的高度信息驱动承载件12，以使工件200的该区域在第二图像采集模组521的景深范围内。如此能够提高第二图像的清晰度，从而提高检测系统100检测的准确性。

在一些实施例中，请参阅图2，多个第二轨道32并联于第一轨道31和第三轨道33之间，多个第二轨道32沿第一方向D1排列，第一检测组件51能够沿第一方向D1运动以到达每条第二轨道32的第一工位321，第一检测组件51用于对每条第二轨道32的第一工位321上的工件200进行第一检测以输出第一结果。第二检测组件52能够沿第一方向D1运动以到达每条第二轨道32的第二工位322，第二检测组件52用于根据第一结果对与第一结果对应的工件200进行第二检测以输出第二结果。

具体地，第一检测组件51在对当前第二轨道32的第一工位321上的工件200执行完第一检测后，沿第一方向D1运动以到达下一第二轨道32的第一工位321；第二检测组件52在对当前第二轨道32的第二工位322上的工件200执行完第二检测后，沿第一方向D1运动以到达下一第二轨道32的第二工位322，并且至少存在一个时刻，第一检测与第二检测同时进行。例如，如图2所示，检测系统100包括左侧的第二轨道32及右侧的第二轨道32，假设当前第一检测组件51正对左侧的第二轨道32的第一工位321上的工件200进行第一检测，第二检测组件52正对右侧的第二轨道32的第二工位322上的工件200进行第二检测。当第一检测组件51完成对左侧的第二轨道32的第一工位321上的工件200的第一检测后，第一检测组件51沿第一方向D1的正向（图2所示的向右箭头）运动，以与右侧的第二轨道32的第一工位321对应；当第二检测组件52完成对右侧的第二轨道32的第二工位322上的工件200的第二检测后，第二检测组件52沿第一方向D1的负向（图2所示的向左箭头）运动，以与左侧的第二轨道32的第二工位322对应。由于第一检测组件51与第二检测组件52在完成对当前第二轨道32上的工件200的检测后，移动至下一第二轨道32对下一第二轨道32上的工件200进行检测，并且至少存在一个时刻，第一检测与第二检测同时进行。如此至少存在一个时刻，检测系统100同时对多个工件200进行检测，从而能够提高检测系统100的检测效率，同时相较于每个第二轨道32均配置一个第一检测组件51及一个第二检测组件52，本实施例能够降低检测系统100的制作成本及减小检测系统100的尺寸。

特别地，在一些实施例中，第一检测组件51对下一第二轨道32上的工件200执行第一检测的起始时刻早于第二检测组件52对当前第二轨道32上的工件200执行第二检测的终止时刻。也即是说，在第二检测组件52完成对当前第二轨道32上的工件200第二检测之前，第一检测组件51已经开始对下一第二轨道32上的工件200进行第一检测了。如此，第一检测组件51无需等待第二检测组件52对当前工件200完成第二检测，即可对下一工件200进行第一检测，使得检测系统100同时对多个工件200进行检测，从而能够提高检测系统100的检测效率，同时相较于每个第二轨道32均配置一个第一检测组件51及一个第二检测组件52，本实施例能够降低检测系统100的制作成本及减小检测系统100的尺寸。

需要说明的是，当前第二轨道32表示检测组件（包括第一检测组件51及第二检测组件52）当前时刻对应的第二轨道32，下一第二轨道32表示检测组件对当前第二轨道32上的工件200完成检测后，进行下一次检测时对应的第二轨道32。在一些实施例中，下一第二轨道32可以是与当前第二轨道32紧邻的一条第二轨道32（二者之间不存在其他的第二轨道32），也可以是与当前第二轨道32间隔一条、两条、或多条第二轨道32的第二轨道32。下文中的当前第二轨道32及下一第二轨道32也是如此解释，不再赘述。

请参阅图2，在一些实施例中，承载装置10在第二轨道32上沿第二方向D2运动，其中第二方向D2与第一方向D1不同。特别地，在一些实施例中，第一方向D1与第二方向D2之间的夹角为90°，即第一方向D1与第二方向D2垂直，此时能够大大减少第一检测组件30在多条送检通道20的第一工位201之间切换的距离，从而提高检测效率。当然，第一方向D1与第二方向D2之间的夹角也可以为其他任意值，在此不作限制。

请结合图5及图6，检测系统100还可包括检测平台60，检测平台60跨越每条第二轨道32。第一检测组件51及第二检测组件52设置于检测平台60上，并能够在检测平台60上沿第一方向D1运动。具体地，检测平台60可包括支架61、第一导轨62、第二导轨63、第一致动件64及第二致动件65。支架61跨越每条第二轨道32，第一导轨62设置于支架61并沿第一方向D1延伸；第二导轨63设置于支架61并沿第一方向D1延伸；第一致动件64设置于支架61并用于驱动第一检测组件51在第一导轨62上运动；第二致动件65设置于支架61并用于驱动第二检测组件52在第二导轨63上运动。

请继续参阅图2，图5及图6，在一些实施例中，第一检测组件51与第二检测组件52设于同一个支架61上，且第一检测组件51与第二检测组件52分别位于支架61的相背两侧，此时第二轨道32上的第一工位321与第二工位322也是位于支架61相背的两侧。由于第一检测组件51与第二检测组件52设于同一个支架61上，如此能够缩短第一工位321与第二工位322之间的距离，以减少承载装置10携带工件200从第一工位321运动到第二工位322的时间，从而提高检测系统100的检测效率，同时相对设置多个支架而言，还能够节省材料，降低成本。

更具体地，支架61包括背离第二轨道32的第一面611、与第一面611均连接的第二面612及第三面613，并且第二面612与第三面613相背。在一些实施例中，第一导轨62和第二导轨63均设置于支架61的第一面611，如此在支架61厚度相同的情况下，相较于将导轨61/63设置在支架61的侧面，能够缩短第一工位321与第二工位322之间的距离，以减少承载装置10携带工件200从第一工位321运动到第二工位322的时间，进一步提高检测系统100的检测效率。在一些实施例中，如图5及图6所示，第一导轨62设置于支架61的第二面612，第二导轨63设置于支架61的第三面613，如此能够减小支架60的厚度，节省材料，从而降低检测系统100的制作成本。当然，在一些实施例中，第一导轨62和第二导轨63中的一个设置于第一面611，另一个设置于第二面612或第三面613。例如，第一导轨62设置于第一面611，第二导轨63设置于第三面613；或者，第二导轨63设置于第一面611，第一导轨62设置于第二面612，在此不作限制。

需要说明的是，上述实施例中的第一致动件64与第二致动件65可以是不同的致动件；或者，第一致动件64与第二致动件65也可以是同一个致动件，并且该致动件能够对第一检测组件51与第二检测组件52分别驱动，第一致动件64及第二致动件65可以是线性电机、气缸等，在此不作限制。

当然，在一些实施例中，检测平台60可以包括两个支架61，每个支架61跨越每条第二轨道32，第一检测组件51、第一导轨62及第一致动件64均设置于其中一个支架61上，第二检测组件52、第二导轨63及第二致动件65均设置于另一个支架61上。

在一些实施例中，请参阅图7，每个第二轨道32都对应有一个第一检测组件51及一个第二检测组件52，即第一检测组件51的数量及第二检测组件52的数量与第二轨道32的数量相同。在每个第二轨道32上，第一检测组件51与其对应的第二轨道32上的第一工位321对应，并对第一工位321上的工件200进行第一检测以输出第一结果；第二检测组件52与其对应的第二轨道32上的第二工位322对应，并根据第一结果对第二工位322上的工件200进行第二检测以输出第二结果。如此检测系统100能够同时对多条第二轨道32上的工件200进行检测，从而提高检测系统100的检测效率。

经过检测装置50检测后的承载装置10能够继续在第二轨道32上运动，并进入第三轨道33。需要说明的是，若第二工位321设置在第二轨道32与第三轨道33的相交处时，经过检测装置50检测后的承载装置10可在直接进入第三轨道33无需在第二轨道32上继续运动在此不作限制。

在一些实施例中，请参阅图1、图2及图7至图9，第三轨道33设有下料工位331，检测系统100还包括下料装置70。下料装置70与下料工位331对应，下料装置70用于根据检测装置50的第二结果将位于下料工位331的承载装置10上的工件200取下，并置于下料区80。具体地，在一些实施例中，第二结果表征工件200的品质，并且下料区80包括多个不同区域，每个区域用于放置不同品质的工件200。下料装置70还包括第三机械臂71，第三机械臂71根据检测装置50的第二结果将不同品质的工件200放置于对应区域。例如，第二结果可以表征工件200为第一类产品或表征工件200为第二类产品，下料区80包括用于放置第一类产品的第一区81及用于放置第二类产品的第二区82。当位于下料工位331上的工件200对应的第二结果表征该工件200为第一类产品，则第三机械臂71运动（转动和/或移动）至下料工位331的上方抓取承载装置10上的工件200，再运动（转动和/或移动）至第一区81的上方，并将抓取的工件200放置在第一区81；当位于下料工位331上的工件200对应的第二结果表征该工件200为第二类产品，则第三机械臂71运动（转动和/或移动）至下料工位331的上方抓取承载装置10上的工件200，再运动（转动和/或移动）至第二区82的上方，并将抓取的工件200放置在第二区82。如此能够将工件200从轨道30上取下，同时还能够根据检测结果对工件200进行分类，将同一类型的产品放置在同一区域。其中，第一类产品可以是含有缺陷的不合格产品；第二类产品可以是合格产品，当然也可以根据产品的质量分成多类产品，例如，第一类产品为没有缺陷也没有灰尘的产品，第二类产品为仅存在灰尘的产品，第三类产品为存在缺陷的产品，在此不作限制。

离开下料工位331的承载装置10能够继续在第三轨道33上运动，并返回第一轨道31并再次达到上料工位311准备承载新的工件200进行新的一轮循环闭环运动，以此完成承载装置10在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间的闭环运动。如此能够降低检测系统100结构的复杂度及检测系统100的制作成本，同时由于轨道30上设有多个承载装置10，即多个承载装置10能够同时在第一轨道31、第二轨道32及第三轨道33之间闭环运动，检测系统100能够同时对不同承载装置10上的工件200进行不同的操作，从而提高检测效率。需要说明的是，若下料工位311设置在第三轨道33与第一轨道31的相交处时，该承载装置10可在直接进入第一轨道31无需在第三轨道33上继续运动。例如，如图7所示，下料工位331设置在第三轨道33与第一轨道31的相交处，离开下料工位331的承载装置10直接进入第一轨道31。另外，承载装置10能够在第三轨道33上沿直线运动，当第三轨道33存在弯折处（如图1所示），承载装置10也能够在第三轨道33的弯折处自动转动以沿第三轨道33继续运动。

请参阅图7，在一些实施例中，下料工位331与上料工位311相同，即上料工位311与下料工位331处在同一个地方，具体地，在一个例子中，上料工位311及下料工位331可均设置在第一轨道31与第三轨道33的相连接处，当承载经过检测后的工件200的承载装置10在第三轨道33运动至下料工位331后，下料装置70的第三机械臂71将承载装置10上的工件200取下并放置在下料区80，随后上料装置40中的第一机械臂41将新的工件200（即还未经过检测的工件200）放置在承载装置10上。由于上料工位311与下料工位331设置在检测系统100的同一位置，能够减少人力的投入。需要说明的是，在一个例子中，第一机械臂41与第三机械臂71为同一个机械臂（如图7所示），即该机械臂将承载装置10上的工件200取下并放置在下料区80后，再将新的工件200（即还未经过检测的工件200）放置在承载装置10上。如此还能够减少检测系统100中的机械臂数量，从而降低检测系统100的尺寸及制造成本。当然，第一机械臂41与第三机械臂71也可以为不同的机械臂，在此不作限制。

请参阅图2、图8及图9，在一些实施例中，下料工位331与上料工位311位于机台20相邻两侧。一方面，由于上料工位311与下料工位331设置在检测系统100的相邻两侧，能够减少人力的投入，例如仅安排一个操作员工就能兼顾上料工位311与下料工位331；另一方面，相较于上料工位311与下料工位331设置在同一位置，能够使上料装置40无需等待下料装置70下料完成即可将新的工件200放置在下一承载装置10上，就有空置的承载装置10到达上料工位311以供上料装置40上料，即检测系统100能够同时对多个承载装置10进行上料操作和下料操作，从而提高检测系统100的检测效率。

具体地，在一个例子中，如图8及图9所示，下料工位331位于每条第二轨道32和第三轨道33相交处。示例地，请参阅图8，检测系统100包括两条第二轨道32，每条第二轨道32与第三轨道33相交处都设有下料工位331，下料装置70包括两个第三机械臂71，每个机械臂71均与一个下料工位331对应设置，并用于将位于对应下料工位331上的工件200取下并放置在下料区80。如此检测系统100能够同时对多个承载装置10进行下料操作，以减少承载装置10等待重新返回第一轨道31的上料工位311的时间，从而提高检测系统100的检测效率。当然，多条第二轨道32也可以共用一个用于下料的第三机械臂71。例如，如图9所示，检测系统100包括两条第二轨道32，每条第二轨道32与第三轨道33相交处都设有下料工位331，下料装置70包括一个第三机械臂71，第三机械臂71设置在两个第二轨道32之间，并且第三机械臂71能够在两个下料工位331及下料区80之间运动（转动和/或移动），以使第三机械臂71能够将两个下料工位331上的工件200取下并放置在下料区80，节省成本。

在另一个例子中，如图2所示，下料工位331位于第一轨道31和最接近第一轨道31的第二轨道32之间。示例地，请参阅图2，检测系统100包括两条第二轨道32，左侧的第二轨道32相较于右侧的第二轨道32更接近第一轨道31，下料工位331位于第一轨道31和左侧的第二轨道32之间的第三轨道33处。由于所有经过检测装置50检测后的承载装置10都将经过第一轨道31和左侧的第二轨道32之间的第三轨道33，将下料工位331设置在该处，使所有经过检测装置50检测后的承载装置10都能够到达下料工位331进行下料。如此能够使上料装置40无需等待下料装置70下料完成就有空置的承载装置10到达上料工位311以供上料装置40上料，以将新的工件200放置在下一承载装置10上，即检测系统100能够同时对多个承载装置10进行上料操作和下料操作，从而提高检测系统100的检测效率。

请参阅图1，在一些实施例中，下料工位331与上料工位311位于机台20相背两侧。示例地，机台20包括相背的第一侧201及第二侧202，第一轨道31上的上料工位311位于机台20的第一侧201，第三轨道33上的下料工位331位于机台20的第二侧202。由于下料工位331与上料工位311位于机台20相背两侧，即上料工位311与下料工位331位于检测系统100相背两侧，如此有利于将经过检测系统100检测后的工件200输送至下一设备进行下一步操作（例如处理或者进行其他检测）。

请参阅图2，在一些实施例中，第一轨道31还可设有扫描工位312，并且扫描工位312位于上料工位311与第二轨道32之间，即承载装置10依次经过上料工位311及扫描工位312后，再可选择地进入其中一个第二轨道32。检测系统100还可包括扫描装置90，扫描装置90用于识别位于扫描工位312上工件200的身份信息。需要说明的是，在一些实施例中，工件200的身份信息包括但不限于工件200的型号、工件200的尺寸及预设参考位置中的至少一种。在一个例子中，工件200的身份信息包括工件200的型号，扫描装置90对扫描工位312上的工件200扫描后，获取到该工件200的身份信息，并将该工件200身份信息中工件200的型号传输至第一检测组件51，第一检测组件51根据该工件200的型号获取该型号工件200对应的参考位置，以便于第一检测组件51获取该工件200的位置信息。

在本说明书的描述中，参考术语“某些实施方式”、“一个实施方式”、“一些实施方式”、“示意性实施方式”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”的描述意指结合所述实施方式或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施方式或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施方式或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施方式或示例中以合适的方式结合。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个所述特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个，除非另有明确具体的限定。

尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型，本申请的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.一种检测系统，其特征在于，所述检测系统包括：

机台，所述机台上设有轨道，所述轨道包括第一轨道、多个第二轨道及第三轨道，多个所述第二轨道并联于所述第一轨道和所述第三轨道之间，多个所述第二轨道沿第一方向排列；

检测装置，所述检测装置对应所述第二轨道设置，并用于对位于所述第二轨道上的工件进行检测，所述第二轨道设有第一工位和第二工位，所述检测装置包括设于同一支架相背两侧的第一检测组件及第二检测组件，所述第一检测组件及第二检测组件能够沿第一方向运动，所述第一检测组件用于对每个所述第二轨道的第一工位上的所述工件进行第一检测以输出第一结果，所述第二检测组件根据所述第一结果对每个第二轨道的第二工位上的所述工件进行第二检测以输出第二结果，并且至少存在一个时刻，所述第一检测与所述第二检测同时执行，其中，所述第二结果表征所述工件的品质；及

用于承载所述工件的多个承载装置，所述承载装置活动地安装于所述轨道，所述承载装置通过所述第一轨道后可选择地进入与所述承载装置对应的所述第二轨道，经过所述检测装置检测后的所述承载装置通过所述第三轨道返回至所述第一轨道；所述第一检测组件包括第一图像采集模组及探头，所述第一图像采集模组用于获取工件的第一图像，以获取工件在所述承载装置上的位置信息，所述位置信息包括工件相对参考位置的偏移量和/或偏转角度，所述探头用于根据所述位置信息获得工件在所述承载装置上的具体位置，将工件划分为多个区域，依次向多个区域内发射检测信号并接收经过所述工件表面反射回的检测信号用于检测工件的高度信息，所述高度信息包括探头所在参考面到工件表面相应区域的距离，其中，所述位置信息和所述高度信息共同构成所述第一结果。

2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括上料装置，所述第一轨道设有上料工位，所述上料装置与所述上料工位对应；所述上料装置用于将所述工件放置在位于所述上料工位上的所述承载装置。

3.根据权利要求2所述的检测系统，其特征在于，所述上料装置包括：

第一机械臂，所述第一机械臂与所述上料工位对应，并用于将所述工件放置于所述上料工位的所述承载装置。

4.根据权利要求3所述的检测系统，其特征在于，所述上料装置还包括：

载台，所述载台用于承载所述工件；及

第二机械臂，所述第二机械臂与所述载台对应，并用于抓取放在所述载台上的所述工件，并翻转所述工件，所述第一机械臂用于抓取经所述第二机械臂翻转后的所述工件或抓取承载在所述载台上的所述工件。

5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述承载装置在所述第二轨道上沿第二方向运动，所述第二方向与所述第一方向不同。

6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括下料装置，所述第三轨道设有下料工位，所述下料装置与所述下料工位对应；所述下料装置用于根据所述检测装置的第二结果将位于所述下料工位的所述承载装置上的所述工件取下，并放置于下料区。

7.根据权利要求6所述的检测系统，其特征在于，所述第二结果表征所述工件的品质，所述下料区包括多个区域，每个所述区域用于放置不同品质的所述工件，所述下料装置还用于将不同品质的所述工件放置于对应所述区域。

8.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述承载装置包括：

承载本体；

承载件，设置于所述承载本体，所述承载件用于承载所述工件；及

动力结构，设置于所述承载本体，并能够产生动力以带动所述承载装置在所述轨道上运动。

9.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述第一轨道设有上料工位，所述第三轨道设有下料工位；其中，

所述上料工位与所述下料工位相同；或

所述下料工位位于所述第一轨道和最接近所述第一轨道的所述第二轨道之间；或

所述下料工位位于每个所述第二轨道和所述第三轨道相交处；或

所述上料工位与所述下料工位位于所述机台相背两侧；或

所述上料工位与所述下料工位位于所述机台相邻两侧。

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