CN112556562B - 测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 - Google Patents
测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112556562B CN112556562B CN202011430071.7A CN202011430071A CN112556562B CN 112556562 B CN112556562 B CN 112556562B CN 202011430071 A CN202011430071 A CN 202011430071A CN 112556562 B CN112556562 B CN 112556562B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- distance
- preset
- touch sensing
- contact
- edge
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/14—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/004—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring coordinates of points
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
本发明公开一种测量装置、间隙测量方法、面差测量方法以及存储介质,其中测量装置包括绝缘本体和两个触碰感应边,绝缘本体为刚性结构,两个触碰感应边分设于绝缘本体的相对两侧,且两个触碰感应边呈夹角设置。本发明中,将测量装置插入待测量间隙或面差内,根据触碰感应边反馈的测量信息,进行进一步计算直接获取待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,而不用工作人员根据经验去进行判断;并且,进行间隙或面差测量时,工作人员只需进行插入测量装置和读取数值,简化工作人员的工作难度,提高测量效率;避免工作人员操作不规范对测量结果造成影响,容错率高,提高测量结果的准确度;并且进行测量时不用在指定环境下进行测量,拓展测量装置的适用范围。
Description
技术领域
本发明涉及误差检测检测领域,尤其涉及一种测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法。
背景技术
对于产品间隙面差的检测,是各类产品从设计到生产必不可少的环节。所以对间隙面差测量设备的高效性、便携性、易操作性和高容错性的要求也越来越高。目前市场上的产品不同程度的存在着效率较低、误差较大以及使用场所局限性较大等其中的一项或多项缺点。
因此,有必要提供一种新的测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法来解决上述技术问题。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法,旨在解决现有间隙面差测量装置测量效率低,误差大以及使用场所局限性大的问题。
为实现上述目的,本发明提出的测量装置,包括绝缘本体和两个触碰感应边,所述绝缘本体为刚性结构,两个所述触碰感应边分设于所述绝缘本体的相对两侧,且两个所述触碰感应边呈夹角设置。
优选地,所述触碰感应边包括自所述绝缘本体向外依次设置的第一电阻、绝缘隔离层、第二电阻以及防刮塑料层,所述绝缘隔离层包括多个绝缘隔离粒。
优选地,所述测量装置还包括校准连接件,所述校准连接件包括连接于所述第一电阻与所述第二电阻之间的导电电路以及设于所述导电电路上的控制开关。
优选地,所述测量装置还包括设置于所述绝缘本体上的显示屏,所述显示屏用于显示测试数据。
为实现上述目的,本发明还提供间隙测量方法,其应用于如上所述的测量装置,所述间隙测量方法包括以下步骤:
实时获取两个触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离;
根据各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数生成间隙尺寸。
在一实施例中,所述根据各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数生成间隙尺寸的步骤包括:
将各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数代入第一预设公式计算获得间隙尺寸;
所述第一预设公式为:α=(π-β)/2;
其中,|PQ|为间隙尺寸,XA为两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离,LR为一触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离,LB为另一触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离,β为两个触碰感应边之间的夹角。
在一实施例中,所述根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离的步骤包括:
根据电压信息判断各触碰感应边上的接触触点数量是否为多个;
若触碰感应边上的接触触点数量为多个,则根据触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息、以及预设电压参数和预设第一电阻长度计算获得多接触触点区间长度;
将所述多接触触点区间长度代入第二预设公式计算获得第一距离,所述第一距离为多个接触触点中与起点最近的一个接触触点与起点之间的距离;
其中,Lg为第一距离,L0为第一电阻的长度,X0为多接触触点区间长度,VS为触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息,VCC为输入电压,Vm为第一电阻两端的电压。
为实现上述目的,本发明还提供面差测量方法,所述面差测量方法应用于如上所述的测量装置,所述面差测量方法包括以下步骤:
实时获取两个触碰感应边上的接触触点个数;
判断两个触碰感应边中是否存在一触碰感应边上的接触触点的个数为多个;
若是,则获取另一触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
根据电压信息计算得到第一距离,第一距离为接触触点的个数为单个的触碰感应边上接触触点与预设起点的距离。
根据第一距离以及预设尺寸参数生成面差尺寸。
在一实施例中,所述根据第一距离以及预设尺寸参数生成面差尺寸的步骤包括:
将第一距离以及预设尺寸参数代入第三预设公式计算获得面差尺寸,所述第三预设公式为:α=(π-β)/2
其中,ΔH为面差尺寸,XA为两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离,L0为第一电阻的长度,LB为第一距离,β为两个触碰感应边之间的夹角。
另外,本发明还提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的间隙测量方法的步骤,和/或如上所述的面差测量方法的步骤。
本发明技术方案中,将测量装置插入待测量间隙或面差内,根据触碰感应边反馈的测量信息,由处理器进行进一步计算直接获取待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,而不用工作人员根据经验去进行判断;并且,进行间隙或面差测量时,工作人员只需进行插入测量装置和读取数值,简化工作人员的工作难度,提高测量效率;避免工作人员操作不规范对测量结果造成影响,容错率高,提高测量结果的准确度;并且进行测量时不用在指定环境下进行测量,拓展测量装置的适用范围。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的结构示意图;
图2为本发明测量装置的结构示意图;
图3为本发明触碰感应边的结构示意图;
图4为本发明测量装置的测量原理示意图。
图5为本发明间隙测量方法第一实施例的流程示意图;
图6为本发明间隙测量方法第二实施例的流程示意图;
图7为本发明面差测量方法第一实施例的流程示意图。
附图标号说明:
标号 | 名称 | 标号 | 名称 |
100 | 测量装置 | 21 | 第一电阻 |
01 | 通信模块 | 22 | 第二电阻 |
02 | 存储器 | 23 | 防刮塑料层 |
03 | 处理器 | 24 | 绝缘隔离粒 |
10 | 绝缘本体 | 30 | 显示屏 |
20 | 触碰感应边 |
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参照图1,图1为本发明各个实施例中所提供的测量装置的硬件结构示意图。所述包括通信模块01、存储器02及处理器03等部件。本领域技术人员可以理解,图1中所示出的终端还可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。其中,所述处理器03分别与所述存储器02和所述通信模块01连接,所述存储器02上存储有计算机程序,所述计算机程序同时被处理器03执行。
通信模块01,可通过网络与外部设备连接。通信模块01可以接收外部设备发出的数据,还可发送数据、指令及信息至所述外部设备,所述外部设备可以是手机、平板电脑、笔记本电脑和台式电脑等电子设备。
存储器02,可用于存储软件程序以及各种数据。存储器02可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序等;存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据或信息等。此外,存储器02可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他易失性固态存储器件。
处理器03,是终端的控制中心,利用各种接口和线路连接整个终端的各个部分,通过运行或执行存储在存储器02内的软件程序和/或模块,以及调用存储在存储器02内的数据,执行终端的各种功能和处理数据,从而对终端进行整体监控。处理器03可包括一个或多个处理单元;优选的,处理器03可集成应用处理器和调制解调处理器,其中,应用处理器主要处理操作系统、用户界面和应用程序等,调制解调处理器主要处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调处理器也可以不集成到处理器03中。
如图2至图4所示,在本发明一实施例中,测量装置包括绝缘本体10和两个触碰感应边20,绝缘本体10为刚性结构,两个触碰感应边20分设于绝缘本体10的相对两侧,且两个触碰感应边20呈夹角设置。上述技术方案中,将测量装置插入待测量间隙或面差内,根据触碰感应边20反馈的电信号信息,由处理器根据电信号信息进行进一步计算,得到待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,而不用工作人员根据经验去进行判断;并且,进行间隙或面差测量时,工作人员只需进行插入测量装置和读取数值,简化工作人员的工作难度,提高测量效率;避免工作人员操作不规范对测量结果造成影响,容错率高,提高测量结果的准确度;并且进行测量时不用在指定环境下进行测量,拓展测量装置的适用范围。
其中,测量装置还包括设置于绝缘本体10上的显示屏30,显示屏30用于显示测试数据。显示屏30与处理器03连接,测量装置上设置用于显示测量数据的显示值,方便工作人员读取,并且显示屏30还能够显示当前测量模式,例如是间隙测量模式还是面差测量模式,避免工作人员误操作对测量结果造成影响。
在一实施例中,触碰感应边20包括自绝缘本体10向外依次设置的第一电阻21、绝缘隔离层、第二电阻22以及防刮塑料层23,绝缘隔离层包括多个绝缘隔离粒24。测量装置在进行测量时,测量装置的两触碰感应边20与间隙或面差两侧接触形成感应接触触点,测量装置的防刮塑料层23和第二电阻22对应感应接触触点的位置被挤压,使得第二电阻22从相邻两个绝缘隔离粒24之间的间隙与第一电阻21接触导通测试回路,处理器对测试回路上的相关电信号进行处理获得待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸。本实施例中的测量装置通过对测试电路上的电信号进行模数转换及进行相关运算获得待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,使间隙测量和面差测量标准化,且完全革除工作人员操作对测量结果的影响,进一步提高测量结果的精确性。为方便计算接触触点与预设起点之间的距离,第一电阻与第二电阻的各项设计参数均一致,具体可以是第一电阻与第二电阻的长度、阻值等设计参数均一致。
在一实施例中,测量装置还包括校准连接件,校准连接件包括连接于第一电阻21与第二电阻22之间的导电电路以及设于导电电路上的控制开关。实际使用过程中,在进行每次测量前需进行校准操作,通过控制开关导通第一电阻21和第二电阻22,并调节相关参数直至显示屏30上的误差为0,避免由于长期的误差累积或供电电压变化对测量结果造成影响。
尽管图1未示出,但上述测量装置还可以包括电路模块,所述电源模块用于保证其他部件的正常工作。本领域技术人员可以理解,图5中示出的测量装置结构并不构成对测量装置的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件布置。
根据上述硬件结构,提出本发明方法各个实施例。
参照图1和图5,在本发明间隙测量方法的第一实施例中,所述间隙测量方法包括步骤:
步骤S10,实时获取两个触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
当触碰感应边上某位置受到待测间隙的边沿挤压时,触碰产生的压力会使得两个触碰感应边中设置的检测电路导通,接触触点为触碰感应边上电路导通处,预设起点为设置于触碰感应边上的一预设位置,由触碰感应边向处理器反馈输出与该接触触点到预设起点的距离相对应的电压信号。
在一实施例中,所述触碰感应边包括自所述绝缘本体向外依次设置的第一电阻、绝缘隔离层、第二电阻以及防刮塑料层,所述绝缘隔离层包括多个绝缘隔离粒。当触碰感应边上某位置受到待测间隙的边沿挤压时,触碰产生的压力第一电阻自相邻两绝缘隔离粒之间与第二电阻接触导通,此时接触触点为触碰感应边上第一电阻与第二电阻的接触导通处。
步骤S20,根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离;
步骤S30,根据各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数生成间隙尺寸。
预设尺寸参数可以包括两个触碰感应边之间的夹角、一触碰感应边上预设起点与另一触碰感应边上预设起点之间的距离等。
在本实施例中,测量装置进行间隙测量时,测量装置的两个触碰感应边与间隙两侧边缘接触,并且测量装置被挤压,第一电阻与第二电阻接触形成接触触点,并导通测试电路。本实施例中的测量装置通过对测试电路上的电信号进行模数转换及进行相关运算获得待测量间隙尺寸或待测量面差尺寸,使间隙测量和面差测量标准化,且完全革除工作人员操作对测量结果的影响,进一步提高测量结果的精确性。
具体地,所述步骤S30包括:
将各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数代入第一预设公式计算获得间隙尺寸;
所述第一预设公式为:α=(π-β)/2;
其中,|PQ|为间隙尺寸,XA为两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离,LR为一触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离,LB为另一触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离,β为两个触碰感应边之间的夹角。
本实施例中,两个触碰感应边之间的夹角和两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离是测试装置自身的设计参数,各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离为根据触碰感应边反馈的电压信号获得,由此计算获得一触碰感应边接触触点与另一触碰感应边上接触触点之间的距离,两接触触点之间的距离即待测量间隙尺寸,由此,间隙尺寸是由公式及输入参数计算获得而不是工作人员根据经验进行判断,提高测量结果的精确度。
所述步骤S20包括:
根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点的坐标信息;
为了方便计算,本实施例中以两触碰感应边上的预设起点连线的中点作为原点,以原点指向任一预设起点的方向为横轴,以垂直于横轴的方向为纵轴建立直角坐标系,触碰感应边上接触触点的坐标信息为接触触点位置在该直角坐标系内的坐标信息。当然本领域技术人员也可以根据需要设置其他参照系,仅需通过该参照系示出接触触电、预设起点的相对位置即可。
根据接触触点相对原点的坐标信息以及预设坐标信息计算获得各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离。
本实施例中,可以预存储电压信号与接触触点坐标信息的对应表格,触碰感应边反馈相对应的电压信号,查表获得各个接触触点位置的坐标信息。
之后,根据根据各个接触触点位置的坐标信息、两个触碰感应边之间的夹角以及两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离计算获得各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边上预设起点之间的距离,也可以直接通过两个接触触点位置的坐标信息,将两个接触触点位置的坐标信息带入距离公式计算获得两个接触触点之间的距离。其中,(XQ,YQ)为其中一接触触点的坐标,(XP,YP)为另一接触触点的坐标。
请参照图6,在另一实施例中,所述步骤S20包括:
步骤S21,根据电压信息判断各触碰感应边上的接触触点数量是否为多个;
当一触碰感应边与待测量间隙的一侧贴合时,第一电阻与第二电阻之间可能存在多个接触导通测试电路的接触触点。
步骤S22,若触碰感应边上的接触触点数量为多个,则根据触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息、以及预设电压参数和预设第一电阻长度计算获得多接触触点区间长度;
当Vm超过预设临界电压则判定当前触碰感应边上存在多个点触碰(或面接触)。将触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息、以及预设电压参数和预设第一电阻长度代入预设公式计算获得多接触触点区间长度。具体地,上述预设公式根据关系式推导获得。
其中,L0为第一电阻的长度,X0为多接触触点区间长度,VCC为输入电压,Vm为第一电阻两端的电压,R0为第一电阻的阻值。
步骤S23,将所述多接触触点区间长度代入第二预设公式计算获得第一距离,所述第一距离为多个接触触点中与起点最近的一个接触触点与起点之间的距离;
其中,Lg为第一距离,L0为第一电阻的长度,X0为多接触触点区间长度,VS为触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息,VCC为输入电压,Vm为第一电阻两端的电压。
若触碰感应边上的接触触点数量为单个,则根据触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息、以及预设电压参数和预设第一电阻长度计算获得触碰感应边上接触触点与该触碰感应边上预设起点之间地距离。
本实施例中,通过对触碰感应边上的接触触点数量进行判断,确定触碰感应边与间隙两侧的接触方式,根据不同地接触方式提供不同地计算方法,从而分别计算出触碰感应边与间隙两侧为单接触触点接触或多接触触点接触时接触触点与对应触碰感应边上的预设起点之间的距离。由此工作人员放置测量表时存在微歪姿势,测量表能得到正确测量值。
为实现上述目的,本发明还提供面差测量方法,请参照图7,所述面差测量方法应用于如上所述的测量装置,所述面差测量方法包括以下步骤:
步骤S40,实时获取两个触碰感应边上的接触触点个数;
实时监测第一电阻与第二电阻之间的接触导通点的位置,具体可以是直接对测试电路的导通位置进行监测,也可以是根据触碰感应边反馈的电压信号计算获得对应的接触触点个数。
步骤S50,判断两个触碰感应边中是否存在一触碰感应边上的接触触点的个数为多个;
步骤S60,若是,则获取另一触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
当触碰感应边上某位置受到待测间隙的边沿挤压时,触碰产生的压力会使得两个触碰感应边中设置的检测电路导通,接触触点为触碰感应边上电路导通处,预设起点为设置于触碰感应边上的一预设位置,由触碰感应边向处理器反馈输出与该接触触点到预设起点的距离相对应的电压信号。
在一实施例中,所述触碰感应边包括自所述绝缘本体向外依次设置的第一电阻、绝缘隔离层、第二电阻以及防刮塑料层,所述绝缘隔离层包括多个绝缘隔离粒。当触碰感应边上某位置受到待测间隙的边沿挤压时,触碰产生的压力第一电阻自相邻两绝缘隔离粒之间与第二电阻接触导通,此时接触触点为触碰感应边上第一电阻与第二电阻的接触导通处
步骤S70,根据电压信息计算得到第一距离,第一距离为接触触点的个数为单个的触碰感应边上接触触点与预设起点的距离;
步骤S80,根据第一距离以及预设尺寸参数生成面差尺寸。
预设参数包括两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离、第一电阻的长度以及两个触碰感应边之间的夹角。
若否,则提示调整测量姿势。
本实施例中,通过对触碰感应边与面差两侧的接触触点个数进行检测,当任一触碰感应边上存在多个接触触点时,获得另一触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;当两触碰感应边均只存在单个接触触点时,则提示工作人员调整测量姿势直至存在一触碰感应边上存在多个接触触点;由此保证进行面差测量时一触碰感应边与面差的一侧贴合,另一触碰感应边与面差的另一侧存在接触触点。通过计算该接触触点与存在多接触触点的触碰感应边之间的距离获得待测量面差尺寸。本实施例中,通过检测触碰感应边与面差两侧的接触触点个数来确定触碰感应边是否与面差的一侧贴合,避免工作人员测量姿势不标准造成测量误差,从而保证测量结果的准确性。
在一实施例中,所述根据第一距离以及预设尺寸参数生成面差尺寸的步骤包括:
将第一距离以及预设尺寸参数代入第三预设公式计算获得面差尺寸,所述第三预设公式为:α=(π-β)/2
其中,ΔH为面差尺寸,XA为两触碰感应边的预设起点之间的间隔距离,L0为第一电阻的长度,LB为第一距离,β为两个触碰感应边之间的夹角。
另外,本发明还提出一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序。所述计算机可读存储介质可以是图1的终端中的存储器02,也可以是如ROM(Read-Only Memory,只读存储器)/RAM(Random Access Memory,随机存取存储器)、磁碟、光盘中的至少一种,所述计算机可读存储介质包括若干信息用以使得传动轴结构执行本发明各个实施例所述的方法。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述,本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现,当然也可以通过硬件,但很多情况下前者是更佳的实施方式。
以上仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (6)
1.一种间隙测量方法,其特征在于,所述间隙测量方法应用于一种测量装置,所述测量装置包括绝缘本体和两个触碰感应边,两个所述触碰感应边分设于所述绝缘本体的相对两侧,且两个所述触碰感应边呈夹角设置,所述间隙测量方法包括以下步骤:
实时获取两个触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离;
根据各接触触点对应的间隔距离以及预设尺寸参数生成间隙尺寸。
3.如权利要求2所述的间隙测量方法,其特征在于,所述根据电压信息计算得到各触碰感应边上接触触点与该触碰感应边对应的预设起点之间的间隔距离的步骤包括:
根据电压信息判断各触碰感应边上的接触触点数量是否为多个;
若触碰感应边上的接触触点数量为多个,则根据触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息、以及预设电压参数和预设第一电阻长度计算获得多接触触点区间长度;
将所述多接触触点区间长度代入第二预设公式计算获得第一距离,所述第一距离为多个接触触点中与起点最近的一个接触触点与起点之间的距离;
其中,Lg为第一距离,L0为第一电阻的长度,X0为多接触触点区间长度,VS为触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息,VCC为输入电压,Vm 为第一电阻两端的电压。
4.一种面差测量方法,其特征在于,所述面差测量方法应用于一种测量装置,所述测量装置包括绝缘本体和两个触碰感应边,两个所述触碰感应边分设于所述绝缘本体的相对两侧,且两个所述触碰感应边呈夹角设置,所述面差测量方法包括以下步骤:
实时获取两个触碰感应边上的接触触点个数;
判断两个触碰感应边中是否存在一触碰感应边上的接触触点的个数为多个;
若是,则获取另一触碰感应边反馈的接触触点与预设起点之间的电压信息;
根据电压信息计算得到第一距离,第一距离为接触触点的个数为单个的触碰感应边上接触触点与预设起点的距离;
根据第一距离以及预设尺寸参数生成面差尺寸。
6.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3中任一项所述的间隙测量方法的步骤,和/或如权利要求4或5所述的面差测量方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011430071.7A CN112556562B (zh) | 2020-12-09 | 2020-12-09 | 测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202011430071.7A CN112556562B (zh) | 2020-12-09 | 2020-12-09 | 测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN112556562A CN112556562A (zh) | 2021-03-26 |
CN112556562B true CN112556562B (zh) | 2022-10-21 |
Family
ID=75059945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202011430071.7A Active CN112556562B (zh) | 2020-12-09 | 2020-12-09 | 测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN112556562B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114734309B (zh) * | 2022-04-25 | 2023-04-25 | 深圳数马电子技术有限公司 | 刀具芯厚测量方法、装置、设备及可读存储介质 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3105995A1 (de) * | 1981-02-18 | 1982-09-02 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Sensor zur messung des ventilspiels |
CN2141555Y (zh) * | 1992-07-18 | 1993-09-01 | 张焕喜 | 阶梯斜面电指示定位间隙检具 |
US7154481B2 (en) * | 2002-06-25 | 2006-12-26 | 3M Innovative Properties Company | Touch sensor |
CN205748257U (zh) * | 2016-05-16 | 2016-11-30 | 成都信息工程大学 | 一种便携式两金属体间隙测量仪 |
CN109540070B (zh) * | 2018-12-12 | 2024-04-30 | 广东省特种设备检测研究院中山检测院 | 一种基于ito涂层的电梯安全间隙测量方法 |
-
2020
- 2020-12-09 CN CN202011430071.7A patent/CN112556562B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN112556562A (zh) | 2021-03-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8253710B2 (en) | System and method for protecting a resistive touch panel of a communication device | |
US9772735B2 (en) | Touch sensor and electronic device | |
EP2587671B1 (en) | Simulated hardware button operation method and touch screen terminal | |
EP2249234B1 (en) | Patterned resistive touch panel | |
US20150097805A1 (en) | Touch screen film, and touch screen using said film, and stylus pen used together with said film | |
US9213057B2 (en) | Testing system and testing method for touch device | |
CN101661363A (zh) | 一种多点触摸感应系统的应用方法 | |
CN112556562B (zh) | 测量装置、存储介质以及间隙、面差的测量方法 | |
CN110568265A (zh) | 一种基于低压配电网阻抗识别方法和系统 | |
US20110128251A1 (en) | Method and system for detecting a contact on a touch screen | |
CN104375730A (zh) | 触控面板以及触控显示装置 | |
US20120001854A1 (en) | Analog resistive multi-touch display screen | |
EP2790091A2 (en) | Input device, computer-readable recording medium, and method for receiving input | |
CN104199579A (zh) | 电容式触控显示装置、触摸检测方法及集成电路ic | |
CN103675489B (zh) | 应用于触控装置的测试系统及测试方法 | |
CN108369472B (zh) | 电极异常处理方法、装置、触摸屏及电子终端 | |
US20140002415A1 (en) | Touch sensing apparatus and touch sensing method | |
US20150185921A1 (en) | Touch sensing device and 2d sensing information update method used in same | |
JP3984670B2 (ja) | 座標検出装置 | |
CN109782996B (zh) | 一种三指同轴拆点合并的方法、触控装置及触控显示装置 | |
CN210864624U (zh) | 压力传感器及电子设备 | |
CN101655760A (zh) | 电阻式触摸屏屏体、触摸屏控制器及多触摸点识别方法 | |
JP2009205562A (ja) | 座標入力装置 | |
CN201293985Y (zh) | 一种多点触摸感应装置 | |
US9632620B2 (en) | Touch panel, method for determining touch point and display device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |