CN112464594B - 一种电路功能仿真测试方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电路功能仿真测试方法,该方法通过在对于硬件电路的功能仿真测试中插入状态保护断点,在仿真的执行过程中针对断点位置存储执行状态信息实现断点状态保护,以便于后续其它功能仿真过程可以依据该保护的断点状态对执行状态信息修改仿真信号条件后继续仿真,无需重复执行相同的仿真步骤,从而可以减少仿真过程的整体实现资源占用以及时间占用。本发明还公开了一种电路功能仿真测试装置、设备及可读存储介质,具有相应的技术效果。
Description
技术领域
本发明涉及硬件电路技术领域,特别是涉及一种电路功能仿真测试方法、装置、设备及可读存储介质。
背景技术
为了保障硬件电路的正常功能运行,常常需要对硬件电路进行功能仿真。
在硬件电路仿真中,对于不同功能的仿真都要按照执行步骤完整执行,而实际在实施过程中发现,针对所需的仿真过程的执行过程,其时间和仿真资源的占用较多,特别在遇到大型工程的仿真和后端仿真时,仿真会更慢,其所用时间和所用资源尤为明显。
综上所述,如何减少对于硬件电路的功能仿真对于时间以及资源的占用,同时保障可靠的功能仿真结果,是目前本领域技术人员急需解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种电路功能仿真测试方法、装置、设备及可读存储介质,可以减少对于硬件电路的功能仿真对于时间以及资源的占用,同时保障可靠的功能仿真结果。
为解决上述技术问题,本发明提供如下技术方案:
一种电路功能仿真测试方法,包括:
确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;
在所述目标步骤后插入状态保护断点;
若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
若第二功能仿真中存在与所述第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取所述第一功能仿真中所述相同的步骤对应的执行状态信息;
将所述执行状态信息作为所述第二电路中对应步骤的执行结果,执行所述第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
可选地,确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤,包括:
确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;
识别各所述仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为所述目标步骤。
可选地,确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤,包括:
确定所述第一功能仿真中所有的仿真步骤;
将所述所有的仿真步骤作为所述目标步骤。
可选地,所述若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息,包括:
若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为所述执行状态信息。
一种电路功能仿真测试装置,包括:
目标步骤确定单元,用于以是否存在与其他功能仿真具有相同的执行条件作为断点插入规则,确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;
断点插入单元,用于在所述目标步骤后插入状态保护断点;
状态保护单元,用于若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
状态提取单元,用于若第二功能仿真中存在与所述第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取所述第一功能仿真中所述相同的步骤对应的执行状态信息;
仿真重续单元,用于将所述执行状态信息作为所述第二电路中对应步骤的执行结果,执行所述第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
可选地,所述目标步骤确定单元包括:
步骤对比子单元,用于确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;
步骤识别子单元,用于识别各所述仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为所述目标步骤。
可选地,所述目标步骤确定单元包括:
步骤确定子单元,用于确定所述第一功能仿真中所有的仿真步骤;
步骤判定子单元,用于将所述所有的仿真步骤作为所述目标步骤。
可选地,所述状态提取单元为第一信息提取单元,所述第一信息提取单元用于:若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为所述执行状态信息。
一种电路功能仿真测试设备,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现所述电路功能仿真测试方法的步骤。
一种可读存储介质,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现所述电路功能仿真测试方法的步骤。
本发明实施例所提供的方法,通过在对于硬件电路的功能仿真测试中插入状态保护断点,在仿真的执行过程中针对断点位置存储执行状态信息实现断点状态保护,以便于后续其它功能仿真过程可以依据该保护的断点状态对执行状态信息修改仿真信号条件后继续仿真,无需重复执行相同的仿真步骤,从而可以减少仿真过程的整体实现资源占用以及时间占用。
相应地,本发明实施例还提供了与上述电路功能仿真测试方法相对应的电路功能仿真测试装置、设备和可读存储介质,具有上述技术效果,在此不再赘述。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或相关技术中的技术方案,下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例中一种电路功能仿真测试方法的实施步骤图;
图2为本发明实施例中一种电路功能仿真测试装置的结构示意图;
图3为本发明实施例中一种电路功能仿真测试设备的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种电路功能仿真测试方法,可以减少对于硬件电路的功能仿真对于时间以及资源的占用,同时保障可靠的功能仿真结果。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在目前的电路功能仿真测试中,针对不同(功能或测试方法)的仿真测试,仿真都要从头至尾全部执行,所需的仿真时间和所占用的仿真资源很多。特别在遇到大型工程的仿真和后端仿真时,仿真会更慢,其所用时间和所用资源尤为明显。
为减少对于电路的功能仿真测试的时间以及资源占用,本实施例提出一种电路功能仿真测试方法,通过避免重复执行具有相同仿真条件的仿真步骤来减少资源以及时间的占用。请参考图1,图1为本发明实施例中一种电路功能仿真测试方法的步骤图,该方法包括以下步骤:
S101、确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;
其中,本步骤中的第一功能仿真与步骤S104中的第二功能仿真指针对电路的两次功能仿真过程,可以为分别针对两个电路的实现不同功能或相同功能(但不同测试方法)的仿真测试,也可以是针对一个电路的用于实现不同功能或相同功能(但不同测试方法)的仿真测试,“第一”与“第二”只是用于区分两个测试过程。另外,本实施例中对于第一功能仿真以及第二功能仿真的对象电路的类型不做限定,可以为集成电路,也可以为其它类型的硬件电路,可以根据实际功能测试的需要确定电路类型。
本实施例中需要确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,而对于具体的确定待插入断点的仿真步骤的实现方式不做限定,可以以是否存在与其他功能仿真具有相同的执行条件作为目标步骤的筛选方式,相同的执行条件需保证输入的数据相同,执行的步骤相同,整体实现步骤以及规则完全相同。比如第一功能仿真与第二功能仿真中从上电到执行步骤4都完全相同,则可以将步骤4(或从上电到步骤4)作为目标步骤,也可以选取其它确定方式。
断点指状态保护点,本实施例通过在电路功能仿真中加入断点,增加断点状态时的状态保护,以便于后续其它功能仿真过程可以依据该保护的状态修改仿真信号条件后继续仿真,无需重复执行相同的仿真步骤,从而减少仿真过程的整体实现资源占用以及时间占用。
本实施例中对于确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤的实现过程不做限定,可以根据实际仿真测试的需要进行设定。
为了快速准确确定当前与其他功能仿真相同的执行条件,以实现实时功能仿真的流程执行的简化,确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤的一种实现方式可以包括以下步骤:
(1)确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;
(2)识别各仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为目标步骤。
比如,当前对于某集成电路需要进行功能1的仿真测试以及功能2的仿真测试,而两个仿真功能测试中从上电到步骤3的所有执行条件均相同,步骤3之后两仿真功能测试条件出现分叉,则此时将步骤3作为目标步骤,若先执行功能1的仿真测试,则保存步骤3执行完成后的仿真状态值,则在功能2的仿真测试中可以直接获取该仿真状态值,依据该值执行步骤4,则简化了功能2的仿真测试的执行步骤,也相应简化了时间的占用以及资源的占用。
该种目标步骤确定方式,可以精准定位当前待执行的功能仿真中相同条件的仿真,实现有效的相同步骤的定位。
为了保障后续所有与第一功能仿真具有相同仿真执行条件的功能仿真都可以参照第一功能仿真得到的断电数据,一种目标步骤的确定方式如下:
(1)确定第一功能仿真中所有的仿真步骤;
(2)将所有的仿真步骤作为目标步骤。
该方式下将第一功能仿真中所有的仿真步骤作为目标步骤,针对每个仿真步骤都插入断点,实现状态保护,以便于后续任意功能仿真过程都可以利用当前断点保护的状态信息简化仿真流程的执行过程。
本实施例中仅以上述两种实现方式为例进行介绍,其它实现方式均可参照本实施例的介绍,在此不再赘述。
S102、在目标步骤后插入状态保护断点;
状态保护断点在目标步骤后插入,插入于目标步骤之后,下一个步骤之前,以保证对于刚刚执行完目标步骤后的状态的实时保护。状态保护断点可以以图标、命令等形式插入至目标步骤之后,本实施例中对于状态保护断点的具体设置形式不做限定。
S103、若第一功能仿真的执行过程中检测到状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
若第一功能仿真的执行过程中检测到状态保护断点,则触发断点状态保护,断点状态保护下需要暂停当前仿真过程,以避免状态信息的改变,并记录当前的执行状态信息,本实施例中对于执行状态信息中具体包括的信息项不做限定,可以依据该执行状态信息实现后续流程的衔接即可,比如可以包括当前生成的所有信号的值以及所有设备状态、仿真设置等。为了保障后续根据该执行状态信息实现流程的完美衔接的同时实现整体实现步骤的记录,若第一功能仿真的执行过程中检测到状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息的过程具体可以存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为执行状态信息,该种信息配置下既可以保障流程的衔接,又可以保障仿真信息记录的完整性,以便于进一步实现仿真的优化以及完善。
另外,本实施例中对于针对断点采集的执行状态信息的存储位置不做限定,方便其他功能仿真执行过程的读取即可,另外,该执行状态信息可以保存到一个或多个记录文件中,即存储一份或多份,以便不同仿真执行过程的读取。
S104、若第二功能仿真中存在与第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取第一功能仿真中相同的步骤对应的执行状态信息;
若第二功能仿真中存在与第一功能仿真执行条件相同的步骤,比如第二功能仿真与第一功能仿真从上电到步骤2的仿真执行条件相同,则可以直接提取第一功能仿真中将步骤2作为目标步骤存储的执行状态信息,相当于第二功能仿真无需执行从上电到步骤2的仿真过程,可以直接将提取的第一功能仿真的执行状态信息作为当前步骤2的仿真执行结果。
S105、将执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果,执行第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
提取第一功能仿真中将步骤2作为目标步骤存储的执行状态信息后,直接将提取的第一功能仿真的执行状态信息作为当前步骤2的仿真执行结果,则第二功能仿真中无需执行从上电到步骤2的仿真过程,简化了第二功能仿真在仿真执行过程的实现步骤,也相应减少了从上电到步骤2的仿真过程对应的时间以及仿真资源的占用,实现了仿真效率的提升。
将执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果,执行第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤的过程,而以执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果启动后续流程的过程的具体实现方式不做限定,可以修改执行状态信息后的仿真条件,比如修改当前仿真时刻信号的值等,然后在修改信号值后的基础上可以从保存的状态开始继续仿真,仿真过程为使用修改之后的信号值,将修改后的信号值载入到记录文件(用于控制第二功能仿真过程的文件)中,以便修改后信号值的生效。其中,信号值修改方法可以通过语句语法方式修改,或通过编辑波形信号方式修改,本实施例中对此不做限定。
本发明实施例所提供的技术方案,通过在对于硬件电路的功能仿真测试中插入状态保护断点,在仿真的执行过程中针对断点位置存储执行状态信息实现断点状态保护,以便于后续其它功能仿真过程可以依据该保护的断点状态对执行状态信息修改仿真信号条件后继续仿真,无需重复执行相同的仿真步骤,从而可以减少仿真过程的整体实现资源占用以及时间占用。
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种电路功能仿真测试装置,下文描述的电路功能仿真测试装置与上文描述的电路功能仿真测试方法可相互对应参照。
参见图2所示,该装置包括以下模块:
目标步骤确定单元110主要用于确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;
断点插入单元120主要用于在目标步骤后插入状态保护断点;
状态保护单元130主要用于若第一功能仿真的执行过程中检测到状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
状态提取单元140主要用于若第二功能仿真中存在与第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取第一功能仿真中相同的步骤对应的执行状态信息;
仿真重续单元150主要用于将执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果,执行第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
在本发明的一种具体实施方式中,目标步骤确定单元可以包括:
步骤对比子单元,用于确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;
步骤识别子单元,用于识别各仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为目标步骤。
在本发明的一种具体实施方式中,目标步骤确定单元可以包括:
步骤确定子单元,用于确定第一功能仿真中所有的仿真步骤;
步骤判定子单元,用于将所有的仿真步骤作为目标步骤。
在本发明的一种具体实施方式中,状态提取单元可以为第一信息提取单元,第一信息提取单元用于:若第一功能仿真的执行过程中检测到状态保护断点,暂停仿真并存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为执行状态信息。
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种电路功能仿真测试设备,下文描述的一种电路功能仿真测试设备与上文描述的一种电路功能仿真测试方法可相互对应参照。
该电路功能仿真测试设备包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行计算机程序时实现上述方法实施例的电路功能仿真测试方法的步骤。
具体的,请参考图3,为本实施例提供的一种电路功能仿真测试设备的具体结构示意图,该电路功能仿真测试设备可因配置或性能不同而产生比较大的差异,可以包括一个或一个以上处理器(central processing units,CPU)322(例如,一个或一个以上处理器)和存储器332,存储器332存储有一个或一个以上的计算机应用程序342或数据344。其中,存储器332可以是短暂存储或持久存储。存储在存储器332的程序可以包括一个或一个以上模块(图示没标出),每个模块可以包括对数据处理设备中的一系列指令操作。更进一步地,中央处理器322可以设置为与存储器332通信,在电路功能仿真测试设备301上执行存储器332中的一系列指令操作。
电路功能仿真测试设备301还可以包括一个或一个以上电源326,一个或一个以上有线或无线网络接口350,一个或一个以上输入输出接口358,和/或,一个或一个以上操作系统341。
上文所描述的电路功能仿真测试方法中的步骤可以由电路功能仿真测试设备的结构实现。
相应于上面的方法实施例,本发明实施例还提供了一种可读存储介质,下文描述的一种可读存储介质与上文描述的一种电路功能仿真测试方法可相互对应参照。
一种可读存储介质,可读存储介质上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述方法实施例的电路功能仿真测试方法的步骤。
该可读存储介质具体可以为U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可存储程序代码的可读存储介质。
本领域技术人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。本领域技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
Claims (8)
1.一种电路功能仿真测试方法,其特征在于,包括:
确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;其中,所述确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤,包括:确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;识别各所述仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为所述目标步骤;
在所述目标步骤后插入状态保护断点;
若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
若第二功能仿真中存在与所述第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取所述第一功能仿真中所述相同的步骤对应的执行状态信息;
将所述执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果,执行所述第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
2.根据权利要求1所述的电路功能仿真测试方法,其特征在于,确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤,包括:
确定所述第一功能仿真中所有的仿真步骤;
将所述所有的仿真步骤作为所述目标步骤。
3.根据权利要求1所述的电路功能仿真测试方法,其特征在于,所述若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息,包括:
若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为所述执行状态信息。
4.一种电路功能仿真测试装置,其特征在于,包括:
目标步骤确定单元,用于确定第一功能仿真中待插入断点的仿真步骤,作为目标步骤;其中,所述目标步骤确定单元包括:步骤对比子单元,用于确定至少两个当前待仿真的电路以及对应的功能仿真的执行步骤;步骤识别子单元,用于识别各所述仿真步骤中从上电开始相同的步骤,作为所述目标步骤;
断点插入单元,用于在所述目标步骤后插入状态保护断点;
状态保护单元,用于若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的执行状态信息;
状态提取单元,用于若第二功能仿真中存在与所述第一功能仿真执行条件相同的步骤,提取所述第一功能仿真中所述相同的步骤对应的执行状态信息;
仿真重续单元,用于将所述执行状态信息作为第二电路中对应步骤的执行结果,执行所述第二电路的功能仿真中的下一个仿真步骤。
5.根据权利要求4所述的电路功能仿真测试装置,其特征在于,所述目标步骤确定单元包括:
步骤确定子单元,用于确定所述第一功能仿真中所有的仿真步骤;
步骤判定子单元,用于将所述所有的仿真步骤作为所述目标步骤。
6.根据权利要求4所述的电路功能仿真测试装置,其特征在于,所述状态提取单元为第一信息提取单元,所述第一信息提取单元用于:若所述第一功能仿真的执行过程中检测到所述状态保护断点,暂停仿真并存储当前的仿真代码逻辑、当前仿真时刻中所有信号的值以及仿真设置,作为所述执行状态信息。
7.一种电路功能仿真测试设备,其特征在于,包括:
存储器,用于存储计算机程序;
处理器,用于执行所述计算机程序时实现如权利要求1至3任一项所述电路功能仿真测试方法的步骤。
8.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述电路功能仿真测试方法的步骤。
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CN109213680A (zh) * | 2018-08-28 | 2019-01-15 | 康烁 | 基于嵌入式软件仿真器的自动化测试方法 |
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Legal Events
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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