CN112462659A - 光谱分析仪控制的方法、装置、光谱分析仪和存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及一种光谱分析仪的控制方法、装置、光谱分析仪和存储介质。所述方法包括:在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。采用本方法能够减缓所述光谱分析仪的探测器的损耗,延长了所述光谱分析仪的使用寿命。
Description
技术领域
本申请涉及仪器设备自动化控制技术领域,特别是涉及一种光谱分析仪控制的方法、装置、光谱分析仪和存储介质。
背景技术
目前存在有不同类型的光谱分析仪,如手持式光谱分析仪和非手持式光谱分析仪,这些光谱分析仪被应用到了农业、天文学、汽车、生物和化学等技术领域中。在利用光谱分析仪进行检测时,主要是通过光谱分析仪的探测器发出激光光束,利用发出的激光光束进行检测。然而,光谱分析仪的探测器在使用过程中容易老化,如何降低老化速率以提高光谱分析仪的使用寿命成为本领域技术人员的关注焦点。
发明内容
基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够降低老化速率以延长光谱分析仪的使用寿命的控制方法、装置、光谱分析仪和存储介质。
一种光谱分析仪的控制方法,所述方法包括:
在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
在其中一个实施例中,所述状态信息包括响应值;
所述在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息包括:
在计时过程中,通过所述计时控制器向所述光谱分析仪的探测器发出用于检测状态的状态检测指令;
接收所述探测器响应于所述状态检测指令而返回的响应值;
所述根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态包括:
根据所述响应值确定所述探测器未处于检测状态。
在上一个实施例中,所述状态信息包括响应值,其方法还包括:
若所述响应值为非零值时,则确定所述探测器处于检测状态;
若所述响应值为零值时,则表示所述探测器未处于检测状态,进入待机状态;当所述待机状态的持续时长达到预设持续时长时,则从所述待机状态切换至工作状态,并在所述光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
在其中一个实施例中,所述控制方法还包括:
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态、且未处于所述检测状态的第一时长达到预设等待时长时,则进入待机状态;
所述根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长包括:
确定处于所述待机状态的第二时长;
计算所述第一时长和第二时长的和值,并将所述和值作为所述探测器未处于检测状态的计时时长。
在其中一个实施例中,所述方法应用于控制系统:
所述控制系统是基于嵌入式操作系统开发的用于对所述光谱分析仪进行控制的系统;所述光谱分析仪安装了嵌入式操作系统。
在其中一个实施例中, 所述关机提示信息是以提示框在所述显示界面上显示;所述提示框上设置了关机控件和取消控件;所述方法还包括:
当接收到在所述关机控件上触发的操作指令时,执行所述向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令的步骤;
当接收到在所述取消控件上触发的操作指令时,从所述工作状态切换至所述待机状态,且处于所述待机状态的计时时长达到所述预设计时时长时,继续在所述光谱分析仪的显示界面上显示所述关机提示信息。
在其中一个实施例中,所述方法应用于控制系统,所述方法还包括:
所述光谱分析仪在开机之前,当检测到所述光谱分析仪的电源键被触发时,所述控制系统被启动,对触发所述电源键的用户的身份信息进行认证;
当认证通过时,自动对所述光谱分析仪的模式和配置参数进行配置;
若完成配置、且检测到所述光谱分析仪的探测器覆盖了校验块,则所述探测器工作的光谱分析仪进行自动标定;
在自动标定完成后,进入检测界面以进行检测。
一种光谱分析仪的控制装置,所述装置包括:
计时模块,用于在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
检测模块,用于在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
所述计时模块,还用于若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
发送模块,用于当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
所述计时模块,还用于在计时过程中,通过所述计时控制器向所述光谱分析仪的探测器发出用于检测状态的状态检测指令;
接收模块,用于接收所述探测器响应于所述状态检测指令而返回的响应值;
确定模块,用于根据所述响应值确定所述探测器未处于检测状态。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
所述确定模块,还用于若所述响应值为非零值时,则确定所述探测器处于检测状态;
第一进入模块,用于若所述响应值为零值时,则表示所述探测器未处于检测状态,进入待机状态;
切换模块,用于当所述待机状态的持续时长达到预设持续时长时,则从所述待机状态切换至工作状态,并在所述光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
第二进入模块,用于若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态、且未处于所述检测状态的第一时长达到预设等待时长时,则进入待机状态;
所述确定模块,还用于确定处于所述待机状态的第二时长;所述计时模块,还用于计算所述第一时长和第二时长的和值,并将所述和值作为所述探测器未处于检测状态的计时时长。
在其中一个实施例中,所述装置应用于控制系统,所述控制系统是基于嵌入式操作系统开发的用于对所述光谱分析仪进行控制的系统;所述光谱分析仪安装了嵌入式操作系统。
在其中一个实施例中,所述关机提示信息是以提示框在所述显示界面上显示;所述提示框上设置了关机控件和取消控件;所述装置还包括:
执行模块,用于当接收到在所述关机控件上触发的操作指令时,执行所述向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令的步骤;
所述切换模块,还用于当接收到在所述取消控件上触发的操作指令时,从所述工作状态切换至所述待机状态,且处于所述待机状态的计时时长达到所述预设计时时长时,继续在所述光谱分析仪的显示界面上显示所述关机提示信息。
在其中一个实施例中,所述装置还包括:
启动模块,用于所述光谱分析仪在开机之前,当检测到所述光谱分析仪的电源键被触发时,所述控制系统被启动,对触发所述电源键的用户的身份信息进行认证;
配置模块,用于当认证通过时,自动对所述光谱分析仪的模式和配置参数进行配置;
标定模块,用于若完成配置、且检测到所述光谱分析仪的探测器覆盖了校验块,则所述探测器工作的光谱分析仪进行自动标定;
第三进入模块,用于在自动标定完成后,进入检测界面以进行检测。
一种光谱分析仪,包括存储器和处理器,所述存储器存储有光谱分析仪程序,所述处理器执行所述光谱分析仪程序时实现以下步骤:
在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
一种光谱分析仪可读存储介质,其上存储有光谱分析仪程序,所述光谱分析仪程序被处理器执行时实现以下步骤:
在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
上述光谱分析仪的控制方法、装置、光谱分析仪和存储介质,通过光谱分析仪的计时控制器计算光谱分析仪处于未检测状态的时长,当光谱分析仪处于未检测状态的时长等于光谱分析仪内部默认的或用户自定义的关机等待时长,则控制系统启动关机程序,将光谱分析仪自动关机。这样能够避免当操作人员离开光谱分析仪后没有关机而带来的电量损耗,减缓了光谱分析仪的探测器的损耗,从而降低老化速率,进而延长了光谱分析仪的使用寿命。
附图说明
图1为一个实施例中光谱分析仪的应用环境图;
图2为一个实施例中光谱分析仪的控制方法的流程示意图;
图3为一个实施例中判断光谱分析仪的工作状态的步骤的流程示意图;
图4为一个实施例中光谱分析仪在不同工作状态下的流程示意图;
图5为一个实施例中计算光谱分析仪处于未检测状态下的时长的步骤的流程示意图;
图6为一个实施例中当光谱分析仪的显示屏上显示了关机提示后的操作步骤示意图;
图7为一个实施例中光谱分析仪的开机流程示意图;
图8为一个实施例中光谱分析仪的控制装置的结构框图;
图9为另一个实施例中光谱分析仪的控制装置的结构框图;
图10为一个实施例中光谱分析仪的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本申请进行进一步详细说明。应当理解,此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
本申请提供的一种光谱分析仪的操作方法,可以应用于如图1所示的应用环境中。其中,光谱分析仪102、服务器104和目标终端106之间通过网络进行通信。在光谱分析仪102处于开机状态下,通过所述光谱分析仪102的计时控制器计时;在计时过程中,向所述光谱分析仪102的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪102的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。在进行数据分享和远程控制时,光谱分析仪102可以通过服务器104向目标终端106发送分享界面或分析数据分享画面,或直接向目标终端106发送分享界面或分析数据分享画面。
其中,光谱分析仪102是一种手持式XRF光谱分析仪,服务器104可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现,目标终端106可以但不限于是各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。
在一个实施例中,如图2所示,提供了一种光谱分析仪的控制方法,以该方法应用于图1中的光谱分析仪为例进行说明,包括以下步骤:
S202,在光谱分析仪处于开机状态下,通过光谱分析仪的计时控制器计时。
其中,计时控制器是指光谱分析仪内部硬件系统中的计时模块,其作用是计算光谱分析仪自开机后的工作时间,或计算光谱分析仪处于待机状态下的时间。
在一个实施例中,在光谱分析仪的电源键被控制系统检测被触发时,光谱分析仪内部的计时控制器开始计时。
S204,在计时过程中,向光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得探测器是否处于检测状态的状态信息。
其中,检测状态指的是探测器发出射线以对物品进行检测的状态。状态信息可以用于表示探测器是否处于检测状态,可以用0、1表示探测器是否处于检测状态,如0表示探测器未处于检测状态,1表示探测器处于检测状态。探测器可以是X射线管,也可以是微型探测器。
在一个实施例中,由光谱分析仪的控制系统发出状态检测指令,以检测光谱分析仪的探测器的工作状态,确定探测器是否处于检测状态。
S206,若根据状态信息确定探测器未处于检测状态,则根据计时控制器的计时确定探测器未处于检测状态的计时时长。
在一个实施例中,若S204中反馈的状态信息表示光谱分析仪的探测器未处于检测状态,则控制系统会向计时控制器发送计时指令,以使计时控制器计算光谱分析仪的探测器在未检测的工作状态的总时长。
S208,当计时时长达到预设计时时长时,向光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示电源控制电路切断电源。
其中,预设时长决定了光谱分析仪可以被允许在多长时间内处于未检测状态,当光谱分析仪处于未检测状态的时长达到了该预设时长,则光谱分析仪自动显示关机提示的警示信息。
在一个实施例中,当光谱分析仪处于未检测状态下的总时长等于预设时长时,在光谱分析仪的控制系统的控制下,将关机提示输出至光谱分析仪的显示屏幕以进行显示。
例如,若总时长为T1,预设时长为T0,那么,当光谱分析仪处于未检测状态下的T1等于T0时,在光谱分析仪的显示屏幕显示关机提示。
上述光谱分析仪的控制方法中,通过光谱分析仪的计时控制器计算光谱分析仪处于未检测状态的时长,当光谱分析仪处于未检测状态的时长等于光谱分析仪内部默认的或用户自定义的关机等待时长,则控制系统启动关机程序,将光谱分析仪自动关机。这样能够避免当操作人员使用完光谱分析仪后没有关机而带来的电量损耗,减缓了光谱分析仪的探测器的损耗,从而降低老化速率,进而延长了光谱分析仪的使用寿命。
在一个实施例中,如图3所示,状态信息包括响应值;S204包括:
S302,在计时过程中,通过计时控制器向光谱分析仪的探测器发出用于检测状态的状态检测指令。
其中,状态检测指令是指由控制系统发出的用于检测探测器工作状态的指令,该指令可以检测出探测器的工作状态:检测状态、未检测状态。
在一个实施例中,当光谱分析仪完成开机和初始化配置后,光谱分析仪中的计时控制器开始计时,而此时计时控制器开始发出检测指令,以检测光谱分析仪中的探测器是否处于检测状态。例如,计时控制器对光谱分析器的探测器发出“真”、“假”指令。
S304,接收探测器响应于状态检测指令而返回的响应值。
其中,该响应值可以根据状态检测指令来确定具体的值,例如,光谱分析仪正常开机初始化并完成标定后,当计时控制器对光谱分析器的探测器发出“真”、“假”指令、且探测器在运行时,则会接收一个真值;当计时控制器对光谱分析器的探测器发出“真”、“假”指令、且探测器未运行时,则会接收一个假值,即光谱分析仪未处于检测状态(也即待机状态)。
S306,根据响应值确定探测器未处于检测状态。
其中,未处于检测状态即为待机状态,或者称为非检测状态。
在一个实施例中,根据S304中的光谱分析仪的探测器返回值,来确定光谱分析仪的探测器正处于未检测状态。
其中,当接收到一个真值,此时进入用户检测显示界面;接收到一个假值、且持续时间为时长X时,计时控制器向光谱分析仪发出关闭电源指令。
本实施例中,通过光谱分析仪中的计时控制器发出的指令和光谱分析仪的探测器的返回值,来确定光谱分析仪的探测器所处的工作状态,能够实时地对光谱分析仪的探测器的工作状态进行监控。
在一个实施例中,如图4所示,光谱分析仪工作在不同工作状态下工作的流程包括:
S402,若响应值为非零值时,则确定探测器处于检测状态。
其中,此处的响应值可以假设为“1”和“0”,“1”代表真值,“0”代表假值。
在一个实施例中,当光谱分析仪的探测器返回的是真值,表明光谱分析仪的探测器处于发射射线的工作状态,即光谱分析仪处于检测状态。
S404,若响应值为零值时,则表示探测器未处于检测状态,进入待机状态。
其中,待机状态是指手机或电脑等电子设备的开机但是不进行任何实质性工作的状态。
在一个实施例中,当光谱分析仪的探测器返回的是真值,表明光谱分析仪的探测器未处于发射射线的工作状态,即光谱分析仪处于未检测状态。此时光谱分析仪进入到待机状态。
S406,当待机状态的持续时长达到预设持续时长时,则从待机状态切换至工作状态,并在光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
其中,持续时长指的是处于待机状态下的时长。
在一个实施例中,由光谱分析仪的计时控制器计算光谱分析仪在待机状态下的时长,当此时长等于预设持续时长时,控制光谱分析仪由待机状态转换为工作状态,并且在光谱分析仪的显示屏上显示关机的警告信息。
在本实施例中,通过光谱分析仪的计时控制器控制光谱分析仪在待机状态下的时长,可以减少光谱分析仪的电量损耗。
在一个实施例中,如图5所示,计算光谱分析仪在未检测状态下的时长的步骤包括:
S502,若根据状态信息确定探测器未处于检测状态、且未处于检测状态的第一时长达到预设等待时长时,则进入待机状态。
例如,第一时长设为T1,即从光谱分析仪在正常开机并完成初始化到光谱分析仪进入待机状态的时长。预先等待时长设为T0,表示光谱分析仪能够允许的处于未检测状态的总时长,它还包括当光谱分析仪在待机状态下的时长T2。
在一个实施例中,当光谱分析仪从正常开机并初始化完成后的时长达到第一时长时,光谱分析仪进入待机状态。
S504,确定处于待机状态的第二时长。
在一个实施例中,由光谱分析仪的计时控制器计算光谱分析仪在到待机状态下的时长。
S506,计算第一时长和第二时长的和值,并将和值作为探测器未处于检测状态的计时时长。
在一个实施例中,计算第一时长与第二时长的和值。
在一个实施例中,方法应用于控制系统,控制系统是基于嵌入式操作系统开发的用于对光谱分析仪进行控制的系统,光谱分析仪安装了嵌入式操作系统。
在一个实施例中,光谱分析仪的计时控制器是基于Windows CE系统开发的,该计时控制器以Windows CE系统为开发平台,并以该Windows CE系统为操作系统。
在一个实施例中,将集成的以Windows CE系统为开发平台的计时控制器集成在光谱分析仪中。
在一个实施例中,如图6所示,关机提示信息是以提示框在显示界面上显示;提示框上设置了关机控件和取消控件;该方法还包括:
其中,关机控件和取消控件是指基于Windows CE 系统开发的用于控制光谱分析仪的关机和运行的窗口。
S602,当接收到在关机控件上触发的操作指令时,向光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令。
S604,当接收到在取消控件上触发的操作指令时,从工作状态切换至待机状态,且处于待机状态的计时时长达到预设计时时长时,继续在光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
在一个实施例中,如图7所示,方法应用于控制系统;该方法还包括:
S702,光谱分析仪在开机之前,当检测到光谱分析仪的电源键被触发时,控制系统被启动,对触发电源键的用户的身份信息进行认证。
其中,光谱分析仪的控制系统是指光谱分析仪自身携带的一种软件控制程序。
在一个实施例中,光谱分析仪的电源控制电路检测光谱分析仪的电源键是否被按下,若是,则由光谱分析仪的电源控制电路触发光谱分析仪中的控制程序的启动。例如,电源控制电路在检测到电源键被按下时,发出启动指令,以触发启动光谱分析仪中的控制程序。
S704,当认证通过时,自动对光谱分析仪的模式和配置参数进行配置。
在一个实施例中,由光谱分析仪的控制系统对光谱分析仪的硬件系统进行初始化。例如,对与硬件相关的参数进行初始化,如创建中断向量、设置寄存器和BIOS设置等,主要是对硬件设置的一些参数。完成硬件初始化配置后,光谱分析仪的硬件系统进入到待工作状态。
在一个实施例中,光谱分析仪一些开机或登录的交互操作和验证过程集成到控制系统,如警告询问、输入用户信息、密码认证、提示下一步操作等集成到控制系统,由控制系统进行自动完成,无需用户进行人机交互操作才能完成。
S706,若完成配置、且检测到光谱分析仪的探测器覆盖了校验块,则探测器工作的光谱分析仪进行自动标定。
其中,标定是指对光谱分析仪中的检测参数进行校准。
具体地,当检测到光谱分析仪的校验块覆盖在了光谱分析仪的射线发射区域,即覆盖在了光谱分析仪的探测器上。光谱分析仪的控制系统对光谱分析仪的探测器进行标定。
在一个实施例中,当根据化学成分确定校验块与预设标签匹配时,则无需通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。
其中,预设标签用来衡量当前参数下对校验块的检测是否准确,若不准确,则进行通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。若准确,则无需通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。检测参数可以包括探测器发出射线的射线频率、射线功率以及其它参数等。
例如,在光谱分析仪中预设一个标签,该标签可以是校验块实际的化学成分,当检测出校验块的化学成为Al、且预设标签也是Al时,则无需通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。
又例如,在光谱分析仪中预设一个标签,当光谱分析以探测器探测到的校验块的化学成分为316不锈钢、且标签也为316不锈钢时,则无需通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。
在一个实施例中,当根据化学成分确定校验块与预设标签不匹配时,通过控制系统对光谱分析仪中的检测参数进行调整。
在一个实施例中,当根据化学成分确定校验块与预设标签不匹配,则需要对光谱分析仪的探测器内部的检测参数进行调整,即通过控制系统对光谱分析仪的检测参数进行调整,从而完成光谱分析仪的标定。
例如,在光谱分析仪中预设一个标签,该标签可以是校验块实际的化学成分,当检测出校验块的化学成为Al、但预设标签不是Al时,然后调整光谱分析仪的检测参数,使光谱分析仪能对化学成分为Al的物体作出准确检测。
又例如,在光谱分析仪中预设一个标签,当光谱分析以探测器探测到的校验块的化学成分为316不锈钢、但标签不是316不锈钢时,则表示校验块与预设标签不匹配,则通过控制系统对光谱分析仪的检测参数进行调整。
S708。
在一个实施例中,当完成S208中的标定动作后,由光谱分析仪的控制系统检测到输入到光谱分析仪操作界面的检测指令,然后光谱分析仪的控制系统控制光谱分析仪的操作系统进行检测动作。
上述光谱分析仪的操作方法中,从光谱分析仪的软件控制检测到光谱分析仪的电源键被触发后,由控制系统自动完成光谱分析仪的硬件初始化,并切在完成硬件初始化的配置后,再由光谱分析仪的控制系统检测光谱分析仪的校验块的状态,随后由控制系统控制光谱分析仪完成自动标定动作后进入待机状态,最后根据输入的检测指令,光谱分析仪完成检测动作。尤其是在光谱分析仪的硬件初始化过程中,全部由控制系统来完成,避免了操作人员因误操作而引发的安全事故,而且大大提高了光谱分析仪的开机效率。
应该理解的是,虽然图2-7的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图2-7中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段,这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,如图8所示,提供了一种光谱分析仪的控制装置,包括:计时模块802、检测模块804、确定模块806和发送模块808,其中:
计时模块802,用于在光谱分析仪处于开机状态下,通过光谱分析仪的计时控制器计时;
检测模块804,用于在计时过程中,向光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得探测器是否处于检测状态的状态信息;
确定模块806,还用于若根据状态信息确定探测器未处于检测状态,则根据计时控制器的计时确定探测器未处于检测状态的计时时长;
发送模块808,用于当计时时长达到预设计时时长时,向光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示电源控制电路切断电源。
在其中一个实施例中,如图9所示,装置还包括:
计时模块802,还用于在计时过程中,通过计时控制器向光谱分析仪的探测器发出用于检测状态的状态检测指令;
接收模块810,用于接收探测器响应于状态检测指令而返回的响应值;
确定模块806,还用于根据响应值确定探测器未处于检测状态。
在其中一个实施例中,装置还包括:
确定模块806,还用于若响应值为非零值时,则确定探测器处于检测状态;
第一进入模块812,用于若响应值为零值时,则表示探测器未处于检测状态,进入待机状态;
切换模块814,用于当待机状态的持续时长达到预设持续时长时,则从待机状态切换至工作状态,并在光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
在其中一个实施例中,装置还包括:
第二进入模块816,用于若根据状态信息确定探测器未处于检测状态、且未处于检测状态的第一时长达到预设等待时长时,则进入待机状态;
确定模块806,还用于确定处于待机状态的第二时长;计时模块,还用于计算第一时长和第二时长的和值,并将和值作为探测器未处于检测状态的计时时长。
在其中一个实施例中,装置应用于控制系统,控制系统是基于嵌入式操作系统开发的用于对光谱分析仪进行控制的系统;光谱分析仪安装了嵌入式操作系统。
在其中一个实施例中,关机提示信息是以提示框在显示界面上显示;提示框上设置了关机控件和取消控件;装置还包括:
执行模块818,用于当接收到在关机控件上触发的操作指令时,执行向光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令的步骤;
切换模块814,还用于当接收到在取消控件上触发的操作指令时,从工作状态切换至待机状态,且处于待机状态的计时时长达到预设计时时长时,继续在光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
在其中一个实施例中,装置还包括:
启动模块820,用于光谱分析仪在开机之前,当检测到光谱分析仪的电源键被触发时,控制系统被启动,对触发电源键的用户的身份信息进行认证;
配置模块822,用于当认证通过时,自动对光谱分析仪的模式和配置参数进行配置;
标定模块824,用于若完成配置、且检测到光谱分析仪的探测器覆盖了校验块,则探测器工作的光谱分析仪进行自动标定;
第三进入模块826,用于在自动标定完成后,进入检测界面以进行检测。
关于一种光谱分析仪的控制装置的具体限定可以参见上文中对于光谱分析仪的控制方法的限定,在此不再赘述。上述光谱分析仪的控制装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于光谱分析仪的处理器中,也可以以软件形式存储于光谱分析仪的存储器中,以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中,提供了一种光谱分析仪,该光谱分析仪可以是终端,其内部结构图可以如图10所示。该光谱分析仪包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中,该光谱分析仪的处理器用于提供计算和控制能力。该光谱分析仪的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和光谱分析仪程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和光谱分析仪程序的运行提供环境。该光谱分析仪的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信,无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该光谱分析仪被处理器执行时以实现一种光谱分析仪的操作方法。该光谱分析仪的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏,该光谱分析仪的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层,也可以是光谱分析仪外壳上设置的按键、轨迹球或触控板,还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解,图10中示出的结构,仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图,并不构成对本申请方案所应用于其上的光谱分析仪的限定,具体的光谱分析仪可以包括比图中所示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中,还提供了一种光谱分析仪,包括存储器和处理器,存储器中存储有光谱分析仪,该处理器执行光谱分析仪程序时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种光谱分析仪可读存储介质,存储有光谱分析仪程序,该光谱分析仪程序被处理器执行时实现上述各方法实施例中的步骤。
在一个实施例中,提供了一种光谱分析仪程序产品或光谱分析仪程序,该光谱分析仪程序产品或光谱分析仪程序包括光谱分析仪指令,该光谱分析仪指令存储在光谱分析仪可读存储介质中。光谱分析仪的处理器从光谱分析仪可读存储介质读取该光谱分析仪指令,处理器执行该光谱分析仪指令,使得该光谱分析仪执行上述各方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过光谱分析仪程序来指令相关的硬件来完成,所述的光谱分析仪程序可存储于一非易失性光谱分析仪可读取存储介质中,该光谱分析仪程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM可以是多种形式,比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种光谱分析仪的控制方法,其特征在于,所述方法包括:
在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述状态信息包括响应值;所述在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息包括:
在计时过程中,通过所述计时控制器向所述光谱分析仪的探测器发出用于检测状态的状态检测指令;
接收所述探测器响应于所述状态检测指令而返回的响应值;
所述根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态包括:
根据所述响应值确定所述探测器未处于检测状态。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述响应值为非零值时,则确定所述探测器处于检测状态;
若所述响应值为零值时,则表示所述探测器未处于检测状态,进入待机状态;当所述待机状态的持续时长达到预设持续时长时,则从所述待机状态切换至工作状态,并在所述光谱分析仪的显示界面上显示关机提示信息。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态、且未处于所述检测状态的第一时长达到预设等待时长时,则进入待机状态;
所述根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长包括:
确定处于所述待机状态的第二时长;
计算所述第一时长和第二时长的和值,并将所述和值作为所述探测器未处于检测状态的计时时长。
5.根据权利要求1至4任一项所述的方法,其特征在于,所述方法应用于控制系统,所述控制系统是基于嵌入式操作系统开发的用于对所述光谱分析仪进行控制的系统;所述光谱分析仪安装了嵌入式操作系统。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述关机提示信息是以提示框在所述显示界面上显示;所述提示框上设置了关机控件和取消控件;所述方法还包括:
当接收到在所述关机控件上触发的操作指令时,执行所述向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令的步骤;
当接收到在所述取消控件上触发的操作指令时,从所述工作状态切换至所述待机状态,且处于所述待机状态的计时时长达到所述预设计时时长时,继续在所述光谱分析仪的显示界面上显示所述关机提示信息。
7.根据权利要求1至4任一项所述的方法,所述方法应用于控制系统;其特征在于,所述方法还包括:
所述光谱分析仪在开机之前,当检测到所述光谱分析仪的电源键被触发时,所述控制系统被启动,对触发所述电源键的用户的身份信息进行认证;
当认证通过时,自动对所述光谱分析仪的模式和配置参数进行配置;
若完成配置、且检测到所述光谱分析仪的探测器覆盖了校验块,则所述探测器工作的光谱分析仪进行自动标定;
在自动标定完成后,进入检测界面以进行检测。
8.一种光谱分析仪的控制装置,其特征在于,所述装置包括:
计时模块,用于在光谱分析仪处于开机状态下,通过所述光谱分析仪的计时控制器计时;
检测模块,用于在计时过程中,向所述光谱分析仪的探测器发送状态检测指令,以获得所述探测器是否处于检测状态的状态信息;
确定模块,还用于若根据所述状态信息确定所述探测器未处于检测状态,则根据所述计时控制器的计时确定所述探测器未处于检测状态的计时时长;
发送模块,用于当所述计时时长达到预设计时时长时,向所述光谱分析仪的电源控制电路发送关机指令,以指示所述电源控制电路切断电源。
9.一种光谱分析仪,包括存储器和处理器,所述存储器存储有光谱分析仪程序,其特征在于,所述处理器执行所述光谱分析仪程序时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
10.一种光谱分析仪可读存储介质,其上存储有光谱分析仪程序,其特征在于,所述光谱分析仪程序被处理器执行时实现权利要求1至7中任一项所述的方法的步骤。
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