CN112461369A - 样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备。所述方法包括:按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。执行本方案,可以在无损的情况下,通过加电的方式形成热点,并且可以通过控制加电参数,寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。
Description
技术领域
本申请实施例涉及电子科技技术领域,尤其涉及一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备。
背景技术
由于现在的世界潮流为科技化、智能化,在电子科技领域中各种电子器件的使用越来越广泛。例如芯片、磁盘以及缓存等器件,由于需求量的急剧增加,生产量也势必会有所浮动。而在电子器件制作完成之后,对于其内部线路的检测,是目前比较广泛的技术问题。
现有的一些检测方法中,当属开放式检测结果最为准确,但是需要将电子器件拆开,而且这种检测方式是具有破坏性的,并不能够得到极大的推广。而其他的检测方式中,以专业技术人员的顶级人员采用人工的检测为主,具体的,例如对芯片的各个引脚进行测试。这种方式不仅复杂,而且受限于检测人员的技能要求,无法被广泛使用。因此,一种简便的、准确的并且能够清晰的反映出电子器件问题的方式,亟待被开发出来。
发明内容
本申请实施例提供一种样品检测电参数的自调节方法、装置、介质及电子设备,可以在无损的情况下,通过加电的方式形成热点,并且可以通过控制加电参数,寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。
第一方面,本申请实施例提供了一种样品检测电参数的自调节方法,所述方法包括:
按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
进一步的,加电的占空比为1:1,所述参数为加电的频率。
进一步的,若所述初始参数为最低参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐升高的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为最高参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐降低的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为中间参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
先由所述中间参数逐渐升高至最高参数;再由所述中间参数逐渐降低至最低参数。
进一步的,在按照初始参数,对样品加电之前,所述方法还包括:
生成输入初始参数的提示信息;
若在预设时间内未检测到初始参数的键入值,则使用默认初始参数;
若在预设时间内检测到初始参数的键入值,则使用所述键入值作为初始参数。
进一步的,所述参数调节事件,包括:
若所述热点的强度高于设定强度阈值,和/或,若所述热点的面积大于设定面积阈值,则确定检测到参数调节事件。
进一步的,所述参数调节事件,还包括:
若检测到的当前参数的加电时长达到预设加电时长,则确定检测到参数调节事件
进一步的,根据所述热点的变化规律,确定最佳参数,包括:
在热点的变化的过程中,若热点的当前状态为面积小于设定面积阈值且强度符合设定区间,则确定当前状态对应的参数调节结果为最佳参数。
第二方面,本申请实施例提供了一种样品检测电参数的自调节装置,所述装置包括:
热点获取模块,用于按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
参数调节模块,用于若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
最佳参数确定模块,用于根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
第三方面,本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现如本申请实施例所述的样品检测电参数的自调节方法。
第四方面,本申请实施例提供了一种电子设备,包括存储器,处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现如本申请实施例所述的样品检测电参数的自调节方法。
本申请实施例所提供的技术方案,包括:按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。本申请所提供的技术方案,可以在无损的情况下,通过加电的方式形成热点,并且可以通过控制加电参数,寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。
附图说明
图1是本申请实施例一提供的一种样品检测电参数的自调节方法的流程图;
图2是本申请实施例一提供的加电频率递增的示意图;
图3是本申请实施例一提供的加电频率递减的示意图;
图4是本申请实施例二提供的一种样品检测电参数的自调节装置;
图5是本申请实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本申请,而非对本申请的限定。另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本申请相关的部分而非全部结构。
在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是,一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各步骤描述成顺序的处理,但是其中的许多步骤可以被并行地、并发地或者同时实施。此外,各步骤的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止,但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
实施例一
图1是本申请实施例一提供的一种样品检测电参数的自调节方法的流程图,本实施例可适用于芯片等电子器件的无损检测的情况,该方法可以由本申请实施例所提供的样品检测电参数的自调节装置执行,该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现,并可集成于电子设备中。
如图1所示,所述样品检测电参数的自调节方法包括:
S110、按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点。
其中,本方案的执行主体可以是具有红外图像拍摄功能的电子设备,或者是与红外图像拍摄设备连接的电子设备。
优选的,将本方案提供的方法集成于红外图像的获取设备之中,这样可以简化设备的布置,使得样品的检测热点检测过程操作更加简便。
可以对样品进行加电,进而样品的红外图像。可以理解的,对样品进行加电,可以是按照一定频率来进行,例如按照1Hz,25Hz,或者100Hz等等。对样品进行加电,可以在样品内部的线路存在故障的情况下,在故障的位置产生热量,形成热点。
本方案可以适用于由于短路造成的异常,同时也适用于二极管、三极管击穿造成的异常,除此之外,只要是样品内部由于故障在加电后产热的,都可以通过本技术方案来获取热点的图像。
其中,由于红外图像对热度高的物体能够凸显,所以在红外图像中,如果样品内部线路正常,则不会出现热点或热点位置与失效品不同。如果样品内部线路存在异常,如短路,则在短路的地方由于电流流通而在短时间内热量增加,在散热的情况相同的情况下,相对于样品的其他位置会形成热点。
因此,如果存在热点,则确定内部线路存在异常,则可以呈现出热点。
此处可以理解的,由于样品在上电过程中不会突然产热,或者产热量不足以在短时间内形成热点,因此,可以是在上电后20s,30s甚至1min的时间内,按照预设频率采集图像,并将一定数量的图像进行叠加来确定为样品的红外图像,例如,上电后以每秒100次的频率获取图像,并将每相邻的10张图像进行叠加处理,来得到样品的红外图像。由此,热点强度也会随时间累加。除此之外,也可以是实时获取样品的图像,在发现热点之后截取发现热点之前的视频删除,或者可以根据用户的需求选择保留。
本技术方案中,可选的,加电的占空比为1:1,所述参数为加电的频率。
本方案中,加电的参数可以是矩形波的频率。按照预设规则对加电的参数进行调节,可以是频率由低到高的顺序。
本方案中,可选的,按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照预设速度控制加电的频率在至少两个预设频率之间进行切换。
其中,加电的频率可以是由1Hz切换至25Hz,还可以是由1Hz切换至25Hz,再由25Hz切换至50Hz,等等。具体的,切换触发的条件可以是与热点的运动速度和大小变化相关。本方案中,可以通过频率的切换,使得热点的变化过程更加可观,最终得到的热点大小符合对样品进行分析的需求。
在本实施例中,可以通过锁相技术来实现对加电的频率进行灵活控制的目的。锁相是使被控振荡器的相位受标准信号或外来信号控制的一种技术,用来实现与外来信号相位同步,或跟踪外来信号的频率或相位。锁相是相位锁定的简称,其含义是表示两个信号的之间的相位同步。
S120、若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节。
其中,参数调节事件,可以是检测到到达一定时间,需要进行参数调节,还可是检测到热点达到一定程度,如面积大小,热度等,需要进行参数调节。可以理解的,参数调节事情还可是其他方面的事件,加电设备的功率达到一定条件,或者红外图像获取设备采集到的图像能够达到一定的条件,都可以确定为参数调节事件。
本方案中,可选的,所述参数调节事件,包括:
若所述热点的强度高于设定强度阈值,和/或,若所述热点的面积大于设定面积阈值,则确定检测到参数调节事件。
由于对于样品检测来说,产生的热点是工作人员最为关注的问题,因此,可以在热点达到一定程度的情况下,确定满足参数调节事件。
如当热点的面积大于设定的面积阈值,则可以认为当前的家电频率不利于内部线路短接点的散热,因此可以适当提高频率。可以理解的,此处的面积可以是热点所占用的像素点的数量。除此之外,还可以是检测到热点的强度高于设定的强度阈值。可以理解的,可以将热点的热度与像素点进行关联,由于红外图像采用的是灰色图像,可以通过将0-255这256个灰度值关联不同的热度值,热度值越高,则像素点越亮,由此可以通过读取热点的中心点的灰度值来确定热点的强度。如果强度高于预先设定的强度阈值,则可以确定为参数调节事件。
本方案通过这样的设置,可以实现基于灰度图像中热点的情况,自动对加电的频率进行调节的情况,从而无需由工作人员手动输入,实现过程简便,并且不会引入工作人员的主观因素。
在上述技术方案的基础上,可选的,所述参数调节事件,还包括:
若检测到的当前参数的加电时长达到预设加电时长,则确定检测到参数调节事件
可以理解的,如果以某一参数进行加电,在达到一定的时间长度之后,即便没有发生上述两种情况,也可以进行加电的参数的调节,这样可以在当前参数下热点变化不明显的情况下,直接调节至下一参数进行加电,继续观察热点的变化。
本方案通过这样的设置,不仅避免了没检测到触发条件后加电的参数始终保持不变的问题,同时还能够缩短对单一样品的检测周期,如芯片,本方案通过这样的设置,可以提高样品检测的效率,并且实现智能化的加电参数的控制。
S130、根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
可以理解的,热点的变化过程可以是热点的大小发生变化,形状发生变化以及位置发生变化。在热点变化的过程中,可以通过录制得到变化过程的视频。而对于样品的分析,如对于芯片分析,由于其内部的线路是复杂的,因此对于热点变化过程的查看也是非常重要的。
通过热点的变化规律,不仅可以找寻热点的位置,还能够确定热点的变化轨迹,变化动态等,如热点从某一像素点向另一像素点移动,并且还能够确定加电参数的调节对热点的显示精准度的影响,从而可以辅助工作人员更好的分析样品内容存在的问题的原因。同时在对于相类似的热点变化情况,可以根据变化动态,来根据热点的当前形态快速的确定需要控制加电参数为哪一数值,更容易使得热点更加明显。
本方案中,可选的,根据所述热点的变化规律,确定最佳参数,包括:
在热点的变化的过程中,若热点的当前状态为面积小于设定面积阈值且强度符合设定区间,则确定当前状态对应的参数调节结果为最佳参数。
可以理解的,在整个变化过程中,当热点的面积最小,且足够清晰的情况下,可以确定当前的加电参数为最佳参数。而在实际的检测过程中,可以根据热点的面积与强度,对热点的评价进行量化处理,得到一个更加客观的检测结果。本方案通过这样的设置,可以在检测过程中自动记录热点的状态与加点参数的变化,可以根据热点的状态最理想的情况下,所采用的加电的参数作为最佳参数。
本申请实施例所提供的技术方案,按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。可以在无损的情况下,通过加电的方式形成热点,并且可以通过控制加电参数,寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。
在上述各技术方案的基础上,可选的,若所述初始参数为最低参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐升高的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为最高参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐降低的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为中间参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
先由所述中间参数逐渐升高至最高参数;再由所述中间参数逐渐降低至最低参数。
图2是本申请实施例一提供的加电频率递增的示意图,如图2所示,横坐标可以是时间,纵坐标可以是电压,加电的频率可以从5Hz,逐渐调节到10Hz,再调整到25Hz。其中,最低的频率还可以是0.5Hz或者1Hz,此处仅以此三种频率进行举例说明。
图3是本申请实施例一提供的加电频率递减的示意图,如图3所示,横坐标可以是时间,纵坐标可以是电压,加电的频率可以从25Hz,逐渐调节到10Hz,再调整到5Hz。其中,最低的频率还可以是50Hz或者100Hz,此处仅以此三种频率进行举例说明。
除此之外,本申请还可以优先采用频率的可选范围的中间值进行检测,再分别进行增加或者减小。此中间值,即为中间参数,可以是根据经验优先采用的,这样设置的好处是可以避免在调节过程中受到低频的散热没有散热充分的影响,以及直接采用高频导致热点显示效果不好的影响。
可以理解的,这一中间参数可以是人为设定的,如可以是工作人员通过程序的频率设定窗口设定一个频率。除此之外,中间参数还可以是系统根据数据统计来确定的,例如,可以是根据检测对象的不同,自动选取频率范围内的一个中间参数作为初始参数。
在上述技术方案中,可选的,在按照初始参数,对样品加电之前,所述方法还包括:
生成输入初始参数的提示信息;
若在预设时间内未检测到初始参数的键入值,则使用默认初始参数;
若在预设时间内检测到初始参数的键入值,则使用所述键入值作为初始参数。
本方案提供一种为工作人员提供初始参数的输入窗口,通过该窗口,工作人员可以根据需求设计初始参数,即初始加电频率,这样设置的好处是可以更加符合用户的使用需求。
此处,如果在一定时间内,用户并没有输入,则可以采用默认的方式进行检测,如频率从小到大,从大到小,或者从一个中间参数依次向更大值和更小值进行跳变。
具体的,可以采用如下两种方案:
方案一(自动寻频功能):锁定占空比为1:1,锁相频率由最高25Hz逐渐减小至0.1Hz,根据热点判断标准获得一个最佳值。或由最小增至最高。或者锁相频率由一个中间值,比如10Hz开始,分次递增或递减,10Hz,5Hz,15Hz,1Hz,20Hz,根据热点判断标准获得一个最佳值。如递减效果好,则不需要递增。
方案二(自动变频功能):锁定占空比为1:1,在给定一个锁相频率的情况下,计算机根据热点的强度与面积大小自动增加或者减小频率,最终完成采集。
为了能够让本领域技术人员更加清晰的了解本方案,在本申请中提供一种检测示例,具体如下:
热点等级 | 热点中心强度 | 热点面积大小 | 采集时间 |
1最好 | >2000 | <100um<sup>2</sup> | <1s |
2次好 | >1000 | <400um<sup>2</sup> | <10s |
3一般 | >500 | <900um<sup>2</sup> | <30s |
4较差 | >200 | <1600um<sup>2</sup> | <60s |
5最差 | >0 | >2500um<sup>2</sup> | >60s |
其中,可以按照本表格的标准,将热点分级,具体可以包括五个级别。此分级可以用于对热点的变化的状态进行评价,也可以辅助作为对样本的内部线路问题进行分析的依据。
本方案在一次采集中lock-in频率会变化,比如25Hz逐渐降至0.1Hz,或0.1Hz逐渐升高至25Hz;还可以是更高或者更低,例如,可以根据检测的对象,对频率的范围进行调整。
以上方案的实施均需要通过计算机控制可编程电源与相机同步,实现占空比、锁相频率的控制以及热点的获取与判断,节省了尝试的时间,而且不需要有太多的使用经验,设备更加智能化,降低了使用门槛和培训成本,时间成本,变频功能可以进一步提高信噪比。
实施例二
图4是本申请实施例二提供的一种样品检测电参数的自调节装置,所述装置可由软件和/或硬件实现,并可集成于图像获取等电子设备中。
如图4所示,该装置可以包括:
热点获取模块410,用于按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
参数调节模块420,用于若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
最佳参数确定模块430,用于根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
本发明实施例所提供的一种样品检测电参数的自调节装置可执行本发明任意实施例所提供的一种样品检测电参数的自调节方法,具备执行一种样品检测电参数的自调节方法相应的功能模块和有益效果。
实施例三
本申请实施例三还提供一种包含计算机可执行指令的存储介质,所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行一种样品检测电参数的自调节方法,该方法包括:
按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
存储介质是指任何的各种类型的存储器电子设备或存储电子设备。术语“存储介质”旨在包括:安装介质,例如CD-ROM、软盘或磁带装置;计算机系统存储器或随机存取存储器,诸如DRAM、DDR RAM、SRAM、EDO RAM,兰巴斯(Rambus)RAM等;非易失性存储器,诸如闪存、磁介质(例如硬盘或光存储);寄存器或其它相似类型的存储器元件等。存储介质可以还包括其它类型的存储器或其组合。另外,存储介质可以位于程序在其中被执行的计算机系统中,或者可以位于不同的第二计算机系统中,第二计算机系统通过网络(诸如因特网)连接到计算机系统。第二计算机系统可以提供程序指令给计算机用于执行。术语“存储介质”可以包括可以驻留在不同未知中(例如在通过网络连接的不同计算机系统中)的两个或更多存储介质。存储介质可以存储可由一个或多个处理器执行的程序指令(例如具体实现为计算机程序)。
当然,本申请实施例所提供的一种包含计算机可执行指令的存储介质,其计算机可执行指令不限于如上所述的样品检测电参数的自调节操作,还可以执行本申请任意实施例所提供的样品检测电参数的自调节方法中的相关操作。
实施例四
本申请实施例四提供了一种电子设备,该电子设备中可集成本申请实施例提供的样品检测电参数的自调节装置,该电子设备可以是配置于系统内的,也可以是执行系统内的部分或者全部功能的设备。图5是本申请实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。如图5所示,本实施例提供了一种电子设备500,其包括:一个或多个处理器520;存储装置510,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器520执行,使得所述一个或多个处理器520实现本申请实施例所提供的样品检测电参数的自调节方法,该方法包括:
按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
当然,本领域技术人员可以理解,处理器520还实现本申请任意实施例所提供的样品检测电参数的自调节方法的技术方案。
图5显示的电子设备500仅仅是一个示例,不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图5所示,该电子设备500包括处理器520、存储装置510、输入装置530和输出装置540;电子设备中处理器520的数量可以是一个或多个,图5中以一个处理器520为例;电子设备中的处理器520、存储装置510、输入装置530和输出装置540可以通过总线或其他方式连接,图5中以通过总线550连接为例。
存储装置510作为一种计算机可读存储介质,可用于存储软件程序、计算机可执行程序以及模块单元,如本申请实施例中的样品检测电参数的自调节方法对应的程序指令。
存储装置510可主要包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需的应用程序;存储数据区可存储根据终端的使用所创建的数据等。此外,存储装置510可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实例中,存储装置510可进一步包括相对于处理器520远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
输入装置530可用于接收输入的数字、字符信息或语音信息,以及产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输出装置540可包括显示屏、扬声器等电子设备。
本申请实施例提供的电子设备,可以在无损的情况下,通过加电的方式形成热点,并且可以通过控制加电参数,寻求热点达到最理想状态下的最佳参数。
上述实施例中提供的样品检测电参数的自调节装置、介质及电子设备可执行本申请任意实施例所提供的样品检测电参数的自调节方法,具备执行该方法相应的功能模块和有益效果。未在上述实施例中详尽描述的技术细节,可参见本申请任意实施例所提供的样品检测电参数的自调节方法。
注意,上述仅为本申请的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本申请不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本申请的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本申请进行了较为详细的说明,但是本申请不仅仅限于以上实施例,在不脱离本申请构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本申请的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (10)
1.一种样品检测电参数的自调节方法,其特征在于,该方法包括:
按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,加电的占空比为1:1,所述参数为加电的频率。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,若所述初始参数为最低参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐升高的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为最高参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
按照逐渐降低的调节方式,对加电的参数进行调节;
若所述初始参数为中间参数,则按照预设规则对加电的参数进行调节,包括:
先由所述中间参数逐渐升高至最高参数;再由所述中间参数逐渐降低至最低参数。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在按照初始参数,对样品加电之前,所述方法还包括:
生成输入初始参数的提示信息;
若在预设时间内未检测到初始参数的键入值,则使用默认初始参数;
若在预设时间内检测到初始参数的键入值,则使用所述键入值作为初始参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述参数调节事件,包括:
若所述热点的强度高于设定强度阈值,和/或,若所述热点的面积大于设定面积阈值,则确定检测到参数调节事件。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述参数调节事件,还包括:
若检测到的当前参数的加电时长达到预设加电时长,则确定检测到参数调节事件。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述热点的变化规律,确定最佳参数,包括:
在热点的变化的过程中,若热点的当前状态为面积小于设定面积阈值且强度符合设定区间,则确定当前状态对应的参数调节结果为最佳参数。
8.一种样品检测电参数的自调节装置,其特征在于,该装置包括:
热点获取模块,用于按照初始参数,对样品加电,获取所述样品的红外图像中的热点;
参数调节模块,用于若检测到参数调节事件,按照预设规则对加电的参数进行调节;
最佳参数确定模块,用于根据所述热点的变化规律,确定最佳参数。
9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一项所述的样品检测电参数的自调节方法。
10.一种电子设备,包括存储器,处理器及存储在存储器上并可在处理器运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-7中任一项所述的样品检测电参数的自调节方法。
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