CN112461138B - 一种交叉扫描测量方法及其测量光栅和应用 - Google Patents

一种交叉扫描测量方法及其测量光栅和应用 Download PDF

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CN112461138B CN202011292073.4A CN202011292073A CN112461138B CN 112461138 B CN112461138 B CN 112461138B CN 202011292073 A CN202011292073 A CN 202011292073A CN 112461138 B CN112461138 B CN 112461138B
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Abstract

本发明涉及物体测量方法，更具体地，本发明涉及一种交叉扫描测量方法及其测量光栅和应用。包括：光栅设置；x‑y坐标轴建立；平行扫描；D点交叉扫描；D点坐标计算。本发明提供一种交叉扫描方法，可通过使用一套光栅进行平行扫描和交叉扫描的方式，可获得物体的高度和宽度信息，相比于目前一套光栅只能测量一个方向的尺寸，提高了测量效率和光栅的利用率；在进行D点和A点坐标计算时，通过使用两条直线交点的坐标作为D点坐标，相比于平行扫描，提高了D点纵坐标的精度，从而提高了物体高度的测量精度。本发明提供了D点和A点坐标的公式，可通过光栅条纹编号和光栅条纹纵坐标快速确认D点和A点坐标，测量方法简单，可实现快速测量。

Description

一种交叉扫描测量方法及其测量光栅和应用
技术领域
本发明涉及物体测量方法，更具体地，本发明涉及一种交叉扫描测量方法及其测量光栅和应用。
背景技术
在物流和生产过程中，需要对物体的尺寸进行测量，目前普遍的测量方法主要有人工检测、图像扫描或利用光栅等。人工检测一般效率低下，成本高，对于不规则的物体准确度低。图像扫描虽然可以进行物体尺寸自动测量，但采用这些测量方法得到的检测结果受到物体的颜色影响较大，当物体颜色与传送带颜色类似时容易无法分别出物体的轮廓而出错。
使用光栅等进行尺寸测量也是常用的方法，但一般的测量光栅测量精度是有发光管接收管的密度决定的，且一般是通过平行光进行测量，一套测量光栅只是测量一个方向的尺寸，如图1所示，一般使用平行光对物体从下到上进行扫描，一般使用最后一根被遮挡的光束T0R0的高度作为物体上表面的y轴坐标，也就是高度方向的尺寸，且需要多套安装在不同方位的光栅才能实现多个方向的测量。
发明内容
为了解决上述问题，本发明第一个方面提供了一种交叉扫描测量方法，包括：
光栅设置：将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I；
x-y坐标轴建立：以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi；
平行扫描：从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j；
D点交叉扫描：从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q；
D点坐标计算：计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标。
作为本发明一种优选的技术方案，所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure GDA0003610653890000021
x0为GH到EF的距离，n＝q-p。
作为本发明一种优选的技术方案，所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure GDA0003610653890000022
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
作为本发明一种优选的技术方案，所述交叉扫描测量方法还包括A点坐标测量，所述A点坐标测量包括A点交叉扫描和A点坐标计算。
作为本发明一种优选的技术方案，所述A点交叉扫描包括：从EF第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p’；从EF第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q’。
作为本发明一种优选的技术方案，所述A点坐标计算：计算EF第k条光栅条纹和GH第p’条光栅条纹所在直线，和EF第j条光栅条纹和GH第q’条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为A点坐标。
作为本发明一种优选的技术方案，所述A点的x轴坐标xA的公式为：
Figure GDA0003610653890000023
x0为GH到EF的距离，n’＝q’-p’。
作为本发明一种优选的技术方案，所述A点的y轴坐标yA的公式为：
Figure GDA0003610653890000024
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
本发明第二个方面提供了一种所述的交叉扫描测量方法进行测量的测量光栅。
本发明第三方面提供了一种所述的交叉扫描测量方法在测量物体尺寸上的应用。
本发明与现有技术相比具有以下有益效果：
(1)本发明提供一种交叉扫描方法，可通过使用一套光栅进行平行扫描和交叉扫描的方式，可获得物体的高度和宽度信息，相比于目前一套光栅只能测量一个方向的尺寸，提高了测量效率和光栅的利用率；
(2)在进行D点和A点坐标计算时，通过使用两条直线交点的坐标作为D点坐标，相比于平行扫描，提高了D点纵坐标的精度，从而提高了物体高度的测量精度。
(3)本发明提供了D点和A点坐标的公式，可通过光栅条纹编号和光栅条纹纵坐标快速确认D点和A点坐标，测量方法简单，可实现快速测量。
附图说明
图1为目前光栅进行物体测量的方法示意图。
图2为本发明提供的交叉扫描测量方法进行测量的示意图。
图3为本发明提供的交叉扫描测量方法的原理示意图。
具体实施方式
参选以下本发明的优选实施方法的详述以及包括的实施例可更容易地理解本发明的内容。除非另有限定，本文使用的所有技术以及科学术语具有与本发明所属领域普通技术人员通常理解的相同的含义。当存在矛盾时，以本说明书中的定义为准。
当量、浓度、或者其它值或参数以范围、优选范围、或一系列上限优选值和下限优选值限定的范围表示时，这应当被理解为具体公开了由任何范围上限或优选值与任何范围下限或优选值的任一配对所形成的所有范围，而不论该范围是否单独公开了。例如，当公开了范围“1至5”时，所描述的范围应被解释为包括范围“1至4”、“1至3”、“1至2”、“1至2和4至5”、“1至3和5”等。当数值范围在本文中被描述时，除非另外说明，否则该范围意图包括其端值和在该范围内的所有整数和分数。
单数形式包括复数讨论对象，除非上下文中另外清楚地指明。“任选的”或者“任意一种”是指其后描述的事项或事件可以发生或不发生，而且该描述包括事件发生的情形和事件不发生的情形。
说明书和权利要求书中的近似用语用来修饰数量，表示本发明并不限定于该具体数量，还包括与该数量接近的可接受的而不会导致相关基本功能的改变的修正的部分。相应的，用“大约”、“约”等修饰一个数值，意为本发明不限于该精确数值。在某些例子中，近似用语可能对应于测量数值的仪器的精度。在本申请说明书和权利要求书中，范围限定可以组合和/或互换，如果没有另外说明这些范围包括其间所含有的所有子范围。
此外，本发明要素或组分前的不定冠词“一种”和“一个”对要素或组分的数量要求(即出现次数)无限制性。因此“一个”或“一种”应被解读为包括一个或至少一个，并且单数形式的要素或组分也包括复数形式，除非所述数量明显旨指单数形式。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
以下通过具体实施方式说明本发明，但不局限于以下给出的具体实施例。
本发明第一个方面提供了一种交叉扫描测量方法，包括：光栅设置；x-y坐标轴建立；平行扫描；D点交叉扫描；D点坐标计算。
光栅设置
如图2所示，在一种实施方式中，本发明所述光栅设置中，将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I。本发明分别将物体正面端点设为A、B、C、D，则AB或CD长度即为物体的高度，AD、BC的长度即为物体的宽度，又因为B点、C点和放置物体的机构，如传送带等是接触的，高度一定，故只需要确定A或D点的高度方向的大小即可确定物体的高度。本发明提供的方法适合于结构规整的物体，如纸箱等长方体或类似于长方体的物体的尺寸测量。
由大量等宽等间距的平行狭缝构成的光学器件称为光栅。测量光栅一种特殊的光电传感器，主要用于检测，测量产品是否符合规定要求，包含相互分离且相对放置的发射器和受光器两部分。检测，测量光栅发射器产生的检测光线并非如普通光电传感器只有一束，而是沿长度方向定间距生成光线阵列，形成一个“光幕”，以一种扫描的方式，配合控制器及其软件，实现检测和测量物体外形尺寸的功能。由发光器和受光器组成一组光幕。当物体垂直穿过光幕时，根据遮挡光束数量变化情况可检测出物体穿过光幕时的形状变化；当物体沿光幕平行移动时，根据光幕遮档光束变化情况可检测出物体的运动方向；同样也可以对穿过光幕的物体进行计数和物体感应。本发明中，在测量D点坐标时，将GH作为光栅的发射器，EF作为接收器进行测试，而当测量A点的坐标时，将EF作为光栅的发射器，GH作为接收器进行测试。
x-y坐标轴建立
如图2所示，在一种实施方式中，以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi。
平行扫描
如图2所示，一般来说，物体的高度是通过被遮挡的光线中最上面一条光线的纵坐标，也就是本发明提供的EF上未接收光线的光栅条纹，编号中最大的光栅条纹对应的纵坐标确定，这是物体高度由光栅的精度，也就是相邻光栅条纹间的距离确定，而本申请通过使用未接收光线的第二大和第三大的光栅条纹，也就是被遮挡的光线中从上向下排序，第二条光线和第三条光线对应的位置，通过下面交叉扫描的方式，找到交点，可提高高度测量的精度。在一种实施方式中，本发明所述从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j。
D点交叉扫描
如图3所示，在平行扫描过程中找到k和j的编号，并从GH的k发出向上偏转的光线，并令kD在EF上的交点为P，则EF在P点下方光线被遮挡，未接受光线，同样，从GH的j发出向上偏转的光线，并令jD在EF上的交点为Q，则EF在Q点下方光线被遮挡，未接收光线，此时D点坐标应该是kP和jQ的交点，但因为P和D的坐标不能确定，故将P点下方最后被遮挡的光栅条纹，也就是编号p的光栅条纹模拟P点，编号为q的光栅条纹模拟Q点，用kp和jq的交点模拟D点，作为D点的坐标，又因为k、p、j、q坐标都是已知的，就可以得到D点的坐标。
在一种实施方式中，从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q。
D点坐标计算
在一种实施方式中，计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标。
如图3所示，利用相似三角形比例运算，可得到D点x轴坐标，具体为令kp和jq交点为d，利用kjd三角形和qpd三角形作为相似三角形，可得到
Figure GDA0003610653890000061
又令yq-yp＝(q-p)△＝n△，则
Figure GDA0003610653890000062
优选地，本发明所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure GDA0003610653890000063
x0为GH到EF的距离，n＝q-p。
如图3所示，利用相似三角形比例运算，可得到D点y轴坐标，具体为令x＝d和y＝j的交点为S，y＝j和EF的交点为J，利用jSd和jJq作为相似三角形，可得到
Figure GDA0003610653890000064
进行变换，可得到
Figure GDA0003610653890000065
更优选地，本发明所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure GDA0003610653890000066
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
在一种实施方式中，本发明所述交叉扫描测量方法还包括A点坐标测量。
A点坐标测量
利用和D点坐标测量的方法，可获得A点坐标。在一种实施方式中，本发明所述A点坐标测量包括A点交叉扫描和A点坐标计算。
优选地，本发明所述A点交叉扫描包括：从EF第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p’；从EF第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q’。
更优选地，本发明所述A点坐标计算：计算EF第k条光栅条纹和GH第p’条光栅条纹所在直线，和EF第j条光栅条纹和GH第q’条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为A点坐标。
进一步优选地，本发明所述A点的x轴坐标xA的公式为：
Figure GDA0003610653890000071
x0为GH到EF的距离，n’＝q’-p’。进一步地，所述A点的y轴坐标yA的公式为：
Figure GDA0003610653890000072
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。本发明所述A点和D点y轴坐标相同。
更进一步优选地，本发明所述AD的宽度L为
Figure GDA0003610653890000073
本发明第二个方面提供一种如上所述的交叉扫描测量方法进行测量的测量光栅。
本发明第三个方面提供一种如上所述的交叉扫描测量方法在测量物体尺寸上的应用。
实施例
下面通过实施例对本发明进行具体描述。有必要在此指出的是，以下实施例只用于对本发明作进一步说明，不能理解为对本发明保护范围的限制，该领域的专业技术人员根据上述本发明的内容做出的一些非本质的改进和调整，仍属于本发明的保护范围。
实施例1
如图2所示，本例提供一种交叉扫描测量方法，包括：
光栅设置：将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I；
x-y坐标轴建立：以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi；
平行扫描：从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j；
D点交叉扫描：从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q；
D点坐标计算：计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标；所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure GDA0003610653890000081
x0为GH到EF的距离，n＝q-p，所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure GDA0003610653890000082
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
实施例2
如图2所示，本例提供一种交叉扫描测量方法，包括：
光栅设置：将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I；
x-y坐标轴建立：以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi；
平行扫描：从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j；
D点交叉扫描：从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q；
D点坐标计算：计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标；所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure GDA0003610653890000091
x0为GH到EF的距离，n＝q-p，所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure GDA0003610653890000092
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
A点坐标测量：所述A点坐标测量包括A点交叉扫描和A点坐标计算；所述A点交叉扫描包括：从EF第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p’；从EF第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q’；所述A点坐标计算：计算EF第k条光栅条纹和GH第p’条光栅条纹所在直线，和EF第j条光栅条纹和GH第q’条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为A点坐标，所述A点的x轴坐标xA的公式为：
Figure GDA0003610653890000093
x0为GH到EF的距离，n’＝q’-p’，所述A点的y轴坐标yA的公式为：
Figure GDA0003610653890000094
实施例3
如图2所示，本例提供一种交叉扫描测量方法，包括：
光栅设置：将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I；
x-y坐标轴建立：以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi；
平行扫描：从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j；
D点交叉扫描：从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q；
D点坐标计算：计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标；所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure GDA0003610653890000101
x0为GH到EF的距离，n＝q-p，所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure GDA0003610653890000102
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
A点坐标测量：所述A点坐标测量包括A点交叉扫描和A点坐标计算；所述A点交叉扫描包括：从EF第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p’；从EF第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q’；所述A点坐标计算：计算EF第k条光栅条纹和GH第p’条光栅条纹所在直线，和EF第j条光栅条纹和GH第q’条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为A点坐标，所述A点的x轴坐标xA的公式为：
Figure GDA0003610653890000103
x0为GH到EF的距离，n’＝q’-p’，所述A点的y轴坐标yA的公式为：
Figure GDA0003610653890000104
所述AD的宽度L为
Figure GDA0003610653890000105
前述的实例仅是说明性的，用于解释本发明所述方法的一些特征。所附的权利要求旨在要求可以设想的尽可能广的范围，且本文所呈现的实施例仅是根据所有可能的实施例的组合的选择的实施方式的说明。因此，申请人的用意是所附的权利要求不被说明本发明的特征的示例的选择限制。在权利要求中所用的一些数值范围也包括了在其之内的子范围，这些范围中的变化也应在可能的情况下解释为被所附的权利要求覆盖。

Claims (10)

1.一种交叉扫描测量方法，其特征在于，包括：
光栅设置：将物体正面端点分别设为A、B、C、D点，A点、D点分别位于B点、C点正上方，分别在CD左侧、AB右侧设置光栅的发射端GH和光栅的接收端EF，GH和EF上分别包括轴对称的I条光栅条纹，光栅条纹从下到上第i条光线的编号记为i，i＝1，2，…，I；
x-y坐标轴建立：以GF方向为x轴、GH方向为y轴，建立x-y坐标轴，第i条光栅条纹的纵坐标记为yi；
平行扫描：从GH的光栅条纹发射平行于x轴的光线，判断EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中第二大的编号k和第三大的编号j；
D点交叉扫描：从GH第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p；从GH第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，EF是否接收光线，记录EF上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q；
D点坐标计算：计算GH第k条光栅条纹和EF第p条光栅条纹所在直线，和GH第j条光栅条纹和EF第q条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为D点坐标。
2.根据权利要求1所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述D点的x轴坐标xD的公式为：
Figure FDA0003610653880000011
x0为GH到EF的距离，n＝q-p。
3.根据权利要求1所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述D点的y轴坐标yD的公式为：
Figure FDA0003610653880000012
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
4.根据权利要求1～3任意一项所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述交叉扫描测量方法还包括A点坐标测量，所述A点坐标测量包括A点交叉扫描和A点坐标计算。
5.根据权利要求4所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述A点交叉扫描包括：从EF第k条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号p’；从EF第j条光栅条纹沿平行于x轴的方向向上偏转发射光线，判断GH是否接收光线，记录GH上未接收光线的光栅条纹的编号中最大的编号q’。
6.根据权利要求5所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述A点坐标计算：计算EF第k条光栅条纹和GH第p’条光栅条纹所在直线，和EF第j条光栅条纹和GH第q’条光栅条纹所在直线的交点的坐标作为A点坐标。
7.根据权利要求6所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述A点的x轴坐标xA的公式为：
Figure FDA0003610653880000021
x0为GH到EF的距离，n’＝q’-p’。
8.根据权利要求1所述的交叉扫描测量方法，其特征在于，所述A点的y轴坐标yA的公式为：
Figure FDA0003610653880000022
yj为第j条光栅条纹的纵坐标，n＝q-p，m＝q-j，△为相邻光栅条纹间距离。
9.一种根据权利要求1～8任意一项所述的交叉扫描测量方法进行测量的测量光栅。
10.一种根据权利要求1～8任意一项所述的交叉扫描测量方法在测量物体尺寸上的应用。
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