CN112433251B - 倾斜地层vsp走廊叠加剖面的校正方法及装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置，该方法包括：根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明通过分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，进而利用确定的层度速比，实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。

Description

倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置
技术领域
本发明涉及地球物理勘探技术领域，尤其涉及倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法及装置。
背景技术
本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
目前，工业界在计算VSP(Vertical Seismic Profile，垂直地震剖面)旅行时的时候，通常以水平层介质为前提。然而，实际上地震波从震源到检波器的传播遵循费马定理的最短走时原则，因此倾斜地层会给VSP走廊叠加的时深和波组带来很大的误差，从而影响倾斜地层地区的VSP走廊叠加剖面的地震地质层位标定精度。
因此，需要对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
发明内容
本发明实施例提供一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，用以校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面，该方法包括：
根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；
根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；
根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；
根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
其中，根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，包括：
利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，包括：
通过如下公式，利用层速度比Ri对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波A1i对应的初至时间T1i'进行转换：
其中，需满足倾斜地层第一层的层速度V11与水平地层模型第一层的层速度V21相等，即V11＝V21，由此可以得出T11'＝T11；T1(i-1)、T1i及T1(i+1)分别表示转换前倾斜地层第i-1层、第i层及第i+1的初至时间，T1i'及T1(i+1)'分别表示转换后倾斜地层第i层及第i+1的初至时间；通过如下方式确定层速度比Ri：
本发明实施例还提供一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，用以校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面，该装置包括：
倾斜层速度确定模块，用于根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；
水平层速度确定模块，用于根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；
层速度比确定模块，用于根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；
校正模块，用于根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
其中，校正模块包括：
校正单元，用于利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
校正单元具体用于：
通过如下公式，利用层速度比Ri对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波A1i对应的初至时间T1i'进行转换：
其中，需满足倾斜地层第一层的层速度V11与水平地层模型第一层的层速度V21相等，即V11＝V21，由此可以得出T11'＝T11；T1(i-1)、T1i及T1(i+1)分别表示转换前倾斜地层第i-1层、第i层及第i+1的初至时间，T1i'及T1(i+1)'分别表示转换后倾斜地层第i层及第i+1的初至时间；通过如下方式确定层速度比Ri：
本发明实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。
本发明实施例中，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明实施例分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，进而利用确定的VSP层速度比，实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：
图1为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法的实现流程图；
图2为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤101的实现流程图；
图3为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤102的实现流程图；
图4为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤104的实现流程图；
图5为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置的功能模块图；
图6为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中倾斜层速度确定模块501的结构框图；
图7为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中水平层速度确定模块502的结构框图；
图8为本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中校正模块504的结构框图；
图9为本发明实施例提供的倾斜地层的VSP记录示意图；
图10为本发明实施例提供的校正前倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料的匹配示意图；
图11为本发明实施例提供的校正后倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料的匹配示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合附图对本发明实施例做进一步详细说明。在此，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，但并不作为对本发明的限定。
图1示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法的实现流程，为便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
如图1所示，倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其包括：
步骤101，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；
步骤102，根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；
步骤103，根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；
步骤104，根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
在本发明实施例中，具体在对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正时，首先基于倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度，进而构建一个水平地层模型，根据水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度。
在分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度后，根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，确定VSP层速度比。其中，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值。
在确定VSP层速度比后，基于该VSP层速度比倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
在本发明实施例中，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明实施例分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，进而利用确定的VSP层速度比，实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。
图2示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤101的实现流程，为便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高确定倾斜地层的VSP层速度的准确性，如图2所示，步骤101，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度，包括：
步骤201，提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；
步骤202，根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。
参考图9，为本发明实施例提供的倾斜地层的VSP记录示意。其中，层速度计算公式为：
其中，Vi表示第i层的层速度，Vi+1表示第i+1层的层速度，Hi-1、Hi及Hi+1分别表示第i-1层、第i层及第i+1层的观测点深度，X表示井源距，Ti-1、Ti及Ti+1分别表示第i-1层、第i层及第i+1层的初至时间。另图9中Ai及Ai+1分别表示第i层及第i+1层的反射波。
在确定倾斜地层的VSP层速度时，首先提取倾斜地层的VSP记录的初至时间T1i，进而基于倾斜地层的VSP记录的初至时间T1i，通过上述公式确定倾斜地层的VSP层速度V1i，可以表示为(Hi,T1i,V1i)。
在本发明实施例中，通过提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；进而根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度，能够提高确定倾斜地层的VSP层速度的准确性。
图3示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤102的实现流程，为便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高确定水平地层模型的VSP层速度的准确性，如图3所示，步骤102，根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度，包括：
步骤301，利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录；
步骤302，提取水平地层模型的VSP记录的初至时间；
步骤303，根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。
在确定水平地层模型的VSP层速度时，基于地质资料构建水平地层模型，然后通过正演模拟的方式确定构建的水平地层模型的VSP记录。进而根据水平地层模型的VSP记录，提取水平地层模型的VSP记录的初至时间T2i，然后基于提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间T2i，通过上述VSP层速度计算公式确定水平地层模型的VSP层速度V2i。水平地层模型的VSP层速度V2i可以表示为(Hi,T2i,V2i)。
在本发明实施例中，基于地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录，通过提取水平地层模型的VSP记录的初至时间，确定水平地层模型的VSP层速度，能够提高确定水平地层模型的VSP层速度的准确性。
故，在分别确定倾斜地层的VSP层速度V1i及水平地层模型的VSP层速度V2i时，通过如下方式确定层速度比Ri：层速度比Ri可以记录为(Hi,T1i,Ri)。
图4示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法中步骤104的实现流程，为便于描述，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面的准确性，如图4所示，步骤104，根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，包括：
步骤401，利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
具体在校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面时，具体可以通过如下公式，利用层速度比Ri对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波A1i对应的初至时间T1i'进行转换：
其中，需满足倾斜地层第一层的层速度V11与水平地层模型第一层的层速度V21相等，即V11＝V21。由此可以得出T11'＝T11。T1(i-1)、T1i及T1(i+1)分别表示转换前倾斜地层第i-1层、第i层及第i+1的初至时间，T1i'及T1(i+1)'分别表示转换后倾斜地层第i层及第i+1的初至时间。
按照上述方式对倾斜地层每一层的反射波A1i对应的初至时间进行转换，以实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正。
在本发明实施例中，利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，能够提高校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面的准确性。
图10为本发明实施例提供的校正前倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料的匹配示意，图11为本发明实施例提供的校正后倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料的匹配示意，为便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
如图10至图11所示，分别为校正前后倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料的匹配示意，通过对比可以发现，校正前的倾斜地层VSP走廊叠加剖面X1、X2及X3与井点处地震资料波存在错动，匹配不上(参见图10中黑色箭头部分)。参见图11，经本发明提供的校正方法校正后的倾斜地层VSP走廊叠加剖面与井点处地震资料波X1和X2匹配关系良好，可以准确、精细的标定地震地质层位，提高了地震成果精度。
本发明实施例还提供一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，如下面的实施例所述。由于这些装置解决问题的原理与倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法相似，因此这些装置的实施可以参见方法的实施，重复之处不再赘述。
图5示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置的功能模块，为便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
参考图5，所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置所包含的各个模块用于执行图1对应实施例中的各个步骤，具体请参阅图1以及图1对应实施例中的相关描述，此处不再赘述。本发明实施例中，所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置包括倾斜层速度确定模块501、水平层速度确定模块502、层速度比确定模块503及校正模块504。
倾斜层速度确定模块501，用于根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度。
水平层速度确定模块502，用于根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度。
层速度比确定模块503，用于根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比。
校正模块504，用于根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
在本发明实施例中，倾斜层速度确定模块501根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；水平层速度确定模块502根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；层速度比确定模块503根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；校正模块504根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明实施例分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，进而利用确定的VSP层速度比，实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。
图6示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中倾斜层速度确定模块501的结构示意，为便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高确定倾斜地层的VSP层速度的准确性，参考图6，所述倾斜层速度确定模块501所包含的各个单元用于执行图2对应实施例中的各个步骤，具体请参阅图2以及图2对应实施例中的相关描述，此处不再赘述。本发明实施例中，所述倾斜层速度确定模块501包括倾斜初至提取单元601及倾斜层速度确定单元602。
倾斜初至提取单元601，用于提取倾斜地层的VSP记录的初至时间。
倾斜层速度确定单元602，用于根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。
在本发明实施例中，倾斜初至提取单元601通过提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；进而倾斜层速度确定单元602根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度，能够提高确定倾斜地层的VSP层速度的准确性。
图7示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中水平层速度确定模块502的结构示意，为便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高确定水平地层模型的VSP层速度的准确性，参考图7，所述水平层速度确定模块502所包含的各个单元用于执行图3对应实施例中的各个步骤，具体请参阅图3以及图3对应实施例中的相关描述，此处不再赘述。本发明实施例中，所述水平层速度确定模块502包括VSP记录正演单元701、水平初至提取单元702及水平层速度确定单元703。
VSP记录正演单元701，用于利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录。
水平初至提取单元702，用于提取水平地层模型的VSP记录的初至时间。
水平层速度确定单元703，用于根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。
在本发明实施例中，VSP记录正演单元701基于地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录，水平初至提取单元702通过提取水平地层模型的VSP记录的初至时间，水平层速度确定单元703确定水平地层模型的VSP层速度，能够提高确定水平地层模型的VSP层速度的准确性。
在本发明的一实施例中，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值。
图8示出了本发明实施例提供的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置中校正模块604的结构示意，为便于说明，仅示出了与本发明实施例相关的部分，详述如下：
在本发明的一实施例中，为了提高校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面的准确性，参考图8，所述校正模块504所包含的各个单元用于执行图4对应实施例中的各个步骤，具体请参阅图4以及图4对应实施例中的相关描述，此处不再赘述。本发明实施例中，所述校正模块504包括校正单元801。
校正单元801，用于利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。
在本发明实施例中，校正单元801利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，以对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，能够提高校正倾斜地层VSP走廊叠加剖面的准确性。
本发明实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。
本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有执行上述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法的计算机程序。
综上所述，本发明实施例中，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正。本发明实施例分别确定倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度，进而利用确定的VSP层速度比，实现对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正的目的。
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，包括：
根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；
根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；
根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；
根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
其中，根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正，包括：
利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，包括：
通过如下公式，利用层速度比Ri对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波A1i对应的初至时间T1i'进行转换：
其中，需满足倾斜地层第一层的层速度V11与水平地层模型第一层的层速度V21相等，即V11＝V21，由此可以得出T11'＝T11；T1(i-1)、T1i及T1(i+1)分别表示转换前倾斜地层第i-1层、第i层及第i+1层的初至时间，T1i'及T1(i+1)'分别表示转换后倾斜地层第i层及第i+1层的初至时间；
其中，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值；
通过如下方式确定层速度比Ri：
其中，V1i表示倾斜地层的VSP层速度，V2i表示水平地层模型的VSP层速度。
2.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度，包括：
提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；
根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。
3.如权利要求1所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法，其特征在于，根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度，包括：
利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录；
提取水平地层模型的VSP记录的初至时间；
根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。
4.一种倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，包括：
倾斜层速度确定模块，用于根据倾斜地层的VSP记录确定倾斜地层的VSP层速度；
水平层速度确定模块，用于根据构建的水平地层模型的VSP记录确定水平地层模型的VSP层速度；
层速度比确定模块，用于根据倾斜地层的VSP层速度及水平地层模型的VSP层速度确定VSP层速度比；
校正模块，用于根据确定的VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
其中，校正模块包括：
校正单元，用于利用VSP层速度比对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波进行转换，对倾斜地层VSP走廊叠加剖面进行校正；
校正单元具体用于：
通过如下公式，利用层速度比Ri对倾斜地层VSP走廊叠加剖面反射波A1i对应的初至时间T1i'进行转换：
其中，需满足倾斜地层第一层的层速度V11与水平地层模型第一层的层速度V21相等，即V11＝V21，由此可以得出T11'＝T11；T1(i-1)、T1i及T1(i+1)分别表示转换前倾斜地层第i-1层、第i层及第i+1层的初至时间，T1i'及T1(i+1)'分别表示转换后倾斜地层第i层及第i+1层的初至时间；
其中，VSP层速度比为倾斜地层的VSP层速度与水平地层模型的VSP层速度的比值；
通过如下方式确定层速度比Ri：
其中，V1i表示倾斜地层的VSP层速度，V2i表示水平地层模型的VSP层速度。
5.如权利要求4所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，倾斜层速度确定模块包括：
倾斜初至提取单元，用于提取倾斜地层的VSP记录的初至时间；
倾斜层速度确定单元，用于根据提取的倾斜地层VSP记录的初至时间确定倾斜地层的VSP层速度。
6.如权利要求4所述的倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正装置，其特征在于，水平层速度确定模块包括：
VSP记录正演单元，用于利用地质资料构建水平地层模型，通过正演模拟确定水平地层模型的VSP记录；
水平初至提取单元，用于提取水平地层模型的VSP记录的初至时间；
水平层速度确定单元，用于根据提取的水平地层模型的VSP记录的初至时间确定水平地层模型的VSP层速度。
7.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至3任一所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至3任一所述倾斜地层VSP走廊叠加剖面的校正方法。
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