CN112328493A - 矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 200
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 title claims abstract description 78
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 31
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 claims abstract description 46
- 238000013461 design Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 34
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 3
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 238000013522 software testing Methods 0.000 description 3
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
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- G06F11/3668—Software testing
- G06F11/3672—Test management
- G06F11/3684—Test management for test design, e.g. generating new test cases
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Abstract
本发明提供一种矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质，方法包括：根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点；获取所有功能测试点对应的测试条件；将每一个功能模块及对应的功能测试点作为测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。本发明设计的测试用例简洁、全面、重点突出、针对性强、能够清晰完整地覆盖所有中断交互场景，发现很多常规情况下不易发现的Bug，避免了交互场景缺失、中断缺失等问题，保证测试质量。
Description
技术领域
本发明涉及软件测试领域，更具体地，涉及一种矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质。
背景技术
在软件测试过程中，不同阶段对测试用例要求也不同，中断交互测试是软件测试中的重要环节，即在各功能模块均开发完成后，各个单元模块之间的中断交互测试。因此，如何选择交互场景进行中断交互测试，是一个重要环节。
中断交互测试是最容易出现bug的，因此如何设计最全面、最简洁、可复用性强的测试用例至关重要。
发明内容
本发明实施例提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质。
根据本发明实施例的第一方面，提供了一种矩阵式测试用例生成方法，包括：根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点和所有功能测试点对应的测试条件；将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
在上述技术方案的基础上，本发明实施例还可以作出如下改进。
进一步的，所述每一个功能模块对应的功能测试点至少包括功能逻辑、显示和切换。
进一步的，所述测试条件至少包括极值切换条件、模式切换条件、电源变动条件、升级条件和中断条件。
进一步的，所述将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列包括：矩阵的第一列为每一个功能模块的序号，第二列为各功能模块的编号和名称，第三列为各功能模块对应的功能测试点，其中，第m个功能模块对应的功能测试点占据n行，n表示第m个功能模块对应的功能测试点有n个，m、n均为正整数。
进一步的，所述将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行包括：矩阵的第一行为每一个测试条件的序号，第二列为功能测试点对应的测试条件，第三列为测试条件对应的具体执行动作，第四列为执行动作下要测试验证的内容。
根据本发明实施例的第二方面，提供了一种矩阵式测试用例生成系统，包括：制定模块，用于根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；提取模块，用于提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点和所有功能测试点对应的测试条件；生成模块，用于将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
根据本发明实施例的第三方面，提供了一种电子设备，包括存储器、处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机管理类程序时实现矩阵式测试用例生成方法的步骤。
根据本发明实施例的第四方面，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机管理类程序，所述计算机管理类程序被处理器执行时实现矩阵式测试用例生成方法的步骤。
本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质，设计的测试用例简洁、全面、重点突出、针对性强、能够清晰完整地覆盖所有中断交互场景，发现很多常规情况下不易发现的Bug，避免了交互场景缺失、中断缺失等问题，保证测试质量。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成方法流程图；
图2为本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成方法的整体流程图；
图3为本发明实施例的测试用例示意图；
图4为本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成系统结构图；
图5为本发明实施例提供的一种可能的电子设备的硬件结构示意图；
图6为本发明实施例提供的一种可能的计算机可读存储介质的硬件结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例，对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
图1为本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成方法流程图，如图1所示，方法包括：101、根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；102、提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点；获取所有功能测试点对应的测试条件；103、将每一个功能模块及对应的功能测试点作为测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
可以理解的是，针对目前存在的问题，本发明实施例提出了一种矩阵式的矩阵式测试用例生成方法，采用矩阵形式生成被测程序的各个功能模块的测试用例。
其中，被测程序中包括多个功能模块，每一个功能模块中包括多个功能测试点，测试点对应有测试条件。根据被测程序的设计需求说明书，设计测试用例模板，本发明实施例中，设计的测试用例模板为矩阵式测试用例模板。
提取被测程序中的所有功能模块，获取每一个功能模块对应的功能测试点，以及获取所有功能测试点的测试条件。将每一个功能模块及对应的功能测试点作为测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板。对于测试用例模板中的任一行和任一列的交汇位置，可填写对应的测试结果。
本发明实施例设计的测试用例简洁、全面、重点突出、针对性强、能够清晰完整地覆盖所有中断交互场景，发现很多常规情况下不易发现的Bug，避免了交互场景缺失、中断缺失等问题，保证测试质量。
在一种可能的实施例方式中，其中，根据不同功能模块的具体需求，每一个功能模块对应的功能测试点包括功能逻辑、显示和切换等。同样的，各个功能测试点对应的测试条件至少包括极值切换条件、模式切换条件、电源变动条件、升级条件和中断条件等。
在一种可能的实施例方式中，在具体设计矩阵式的测试用例模板时，将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列包括：矩阵的第一列为每一个功能模块的序号，第二列为各功能模块的编号和名称，第三列为各功能模块对应的功能测试点，其中，第m个功能模块对应的功能测试点占据n行，n表示第m个功能模块对应的功能测试点有n个，m、n均为正整数。矩阵的第一行为每一个测试条件的序号，第二列为功能测试点对应的测试条件，第三列为测试条件对应的具体执行动作，第四列为执行动作下要测试验证的内容。
通过对测试用例模板的矩阵行和矩阵列的设计，生成具体的测试用例，能够全面覆盖被测程序各个功能模块的测试用例设计。
可参见图2，对本发明实施例提出的矩阵式测试用例生成方法进行详细说明，整个设计测试用例的过程主要包括以下步骤：
(1)分析需求，根据项目需要，设计测试用例模板，比如如图3所示的测试用例模板，不同项目不限于此，根据实际情况可以对测试用例模板进行调整。
(2)根据需求设计说明书以及全功能测试用例，列出被测程序的所有的模块M1～Mn。
(3)根据不同功能模块的具体需求，列出各个功能模块对应的功能测试点F1～Fn，其中，功能测试点包括功能逻辑、显示、切换等。
(4)列出各个功能测试点对应的测试条件C1～Cn，测试条件包括极值切换、模式切换、电源变动、升级、中断等。
(5)所有功能模块M1～Mn及对应功能测试点F1～Fn作为矩阵列，其中，第一列为各个功能模块的序号，第二列为功能模块的名称M1～Mn，第三列为功能模块对应功能测试点：M1对应功能测试点F1～Fn(共占n行)，M2对应功能测试点F1～Fn(共占n行)……以此类推，一直到Mn对应功能测试点F1～Fn(共占n行)。
(6)功能测试点对应的测试条件C1～Cn作为矩阵行，其中，第一行为各个测试条件的序号；第二列为功能测试点对应测试条件C1～Cn；第三列为测试条件对应的具体执行动作，如电源ON->OFF->ON等；第四列为执行动作下要测试验证的内容，如声音、画面等。
(7)矩阵的任一行和列相交位置填写对应测试结果，测试结果下拉值包含：OK,NG,NA,NT(OK：测试通过；NG：测试不通过；NA：该项不适用；NT：由于客观原因，本轮不测试)。
本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成方法，设计的测试用例简洁、全面、重点突出、针对性强、能够清晰完整地覆盖所有中断交互场景，发现很多常规情况下不易发现的Bug，避免了交互场景缺失、中断缺失等问题，保证测试质量；针对中断交互测试，可保证测试中断交互场景全覆盖，测试无遗漏。
图4为本发明实施例提供的一种矩阵式测试用例生成系统结构图，如图4所示，系统包括制定模块401、提取模块402、生成模块403，其中：
制定模块401，用于根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；
提取模块402，用于提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点和所有功能测试点对应的测试条件；
生成模块403，用于将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；
其中，所述矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
本发明实施例提供的矩阵式测试用例生成系统与前述各实施例提供的矩阵式测试用例生成方法相对应，矩阵式测试用例生成系统的相关技术特征可参考前述各实施例提供的矩阵式测试用例生成方法的相关技术特征，在此不再重复说明。
请参阅图5，图5为本发明实施例实施例提供的电子设备的实施例示意图。如图5所示，本发明实施例实施例提了一种电子设备，包括存储器510、处理器520及存储在存储器520上并可在处理器520上运行的计算机程序511，处理器520执行计算机程序511时实现以下步骤：根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点；获取所有功能测试点对应的测试条件；将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
请参阅图6，图6为本发明实施例实施例提供的一种计算机可读存储介质的实施例示意图。如图6所示，本实施例提供了一种计算机可读存储介质600，其上存储有计算机程序611，该计算机程序611被处理器执行时实现如下步骤：根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点；获取所有功能测试点对应的测试条件；将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；其中，矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
需要说明的是，在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详细描述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。
本领域内的技术人员应明白，本发明实施例的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明实施例可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明实施例可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明实施例是参照根据本发明实施例实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式计算机或者其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明实施例的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明实施例范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本发明实施例进行各种改动和变型而不脱离本发明实施例的精神和范围。这样，倘若本发明实施例的这些修改和变型属于本发明实施例权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明实施例也意图包括这些改动和变型在内。
Claims (8)
1.一种矩阵式测试用例生成方法，其特征在于，包括：
根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；
提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点；
获取所有功能测试点对应的测试条件；
将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；
其中，所述矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
2.根据权利要求1所述的矩阵式测试用例生成方法，其特征在于，所述每一个功能模块对应的功能测试点至少包括功能逻辑、显示和切换。
3.根据权利要求1所述的矩阵式测试用例生成方法，其特征在于，所述测试条件至少包括极值切换条件、模式切换条件、电源变动条件、升级条件和中断条件。
4.根据权利要求1所述的矩阵式测试用例生成方法，其特征在于，所述将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列包括：
矩阵的第一列为每一个功能模块的序号，第二列为各功能模块的编号和名称，第三列为各功能模块对应的功能测试点，其中，第m个功能模块对应的功能测试点占据n行，n表示第m个功能模块对应的功能测试点有n个，m、n均为正整数。
5.根据权利要求1所述的矩阵式测试用例生成方法，其特征在于，所述将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行包括：
矩阵的第一行为每一个测试条件的序号，第二列为功能测试点对应的测试条件，第三列为测试条件对应的具体执行动作，第四列为执行动作下要测试验证的内容。
6.一种矩阵式测试用例生成系统，其特征在于，包括：
制定模块，用于根据被测程序的设计需求说明书，制定测试用例模板；
提取模块，用于提取被测程序中的所有功能模块，并获取每一个功能模块对应的功能测试点和所有功能测试点对应的测试条件；
生成模块，用于将每一个功能模块及对应的功能测试点作为所述测试用例模板中的矩阵列，将每一个测试条件作为所述测试用例模板的测试行，生成矩阵式测试用例模板；
其中，所述矩阵式测试用例模板的任一行和任一列的相交位置填写对应的测试结果。
7.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器，所述处理器用于执行存储器中存储的计算机管理类程序时实现如权利要求1-5任一项所述的矩阵式测试用例生成方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有计算机管理类程序，所述计算机管理类程序被处理器执行时实现如权利要求1-5任一项所述的矩阵式测试用例生成方法的步骤。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011341078.1A CN112328493A (zh) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | 矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202011341078.1A CN112328493A (zh) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | 矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112328493A true CN112328493A (zh) | 2021-02-05 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202011341078.1A Pending CN112328493A (zh) | 2020-11-25 | 2020-11-25 | 矩阵式测试用例生成方法、系统、电子设备及存储介质 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN112328493A (zh) |
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|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
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