CN112326601A - 单次曝光相位恢复成像装置和成像方法 - Google Patents
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Abstract
一种单次曝光相位恢复成像装置,包括LD光源、半球壳、小孔、样品、二维位移平台、二维光电探测器、电脑以及数据采集与处理软件;和成像方法,先通过二维位移平台移动样品,对照明光阵列进行标定,得到每一个照明光束的复振幅分布;再用二维光电探测器记录一幅含有30个子衍射斑的衍射图,将样品的复振幅分布恢复出来。本发明装置结构简单,造价低,数据采集时间短,相位恢复算法具有收敛速度快,成像测量精度高等特点。
Description
技术领域
本发明涉及激光相干衍射成像,特别是一种单次曝光相位恢复成像装置和成像方法。
背景技术
近年来,计算光学成像技术得到了快速的发展,基于叠层衍射成像(PIE)原理的相位恢复成像技术作为其中的一个重要分支,具有高分辨率、大视场、成像精度高等特点,得到了学者的广泛关注,并且在很多领域都得到了应用,比如生物显微成像、玻璃中的应力检测、多波长复合光场的测量等。通常情况下,为了采集到更多数据,获得更大的视场及更高的成像精度,需要通过平移装置对样品进行多点扫描,这就增加了数据采集时间。为了缩短数据采集时间,适应更多动态场景,广大学者们提出了多种快速采集数据的方法,比如利用光栅对照明光束进行分束,或者利用分布已知的相位板,对照明光携带的信息进行恢复。其中光栅在分光的过程中会出现相邻光束之间相互干涉的现象,影响成像质量。利用分布已知的相位板进行单次曝光时,需要对相位板进行严格的校准,花费大量的时间。所以在快速相位恢复领域还有许多方法值得研究和改进,本发明提出了一种分光方法,利用角度复用,在照明光已经校准的情况下,可以实现单次曝光成像。
发明内容
本发明的目的在于克服现有相位恢复成像技术的不足,提出一种单次曝光相位恢复成像装置和成像方法,该成像装置具有结构简单、造价低廉、数据采集时间短和相位恢复快速的特点。
本发明的技术解决方案如下:
一种单次曝光相位恢复成像装置,其特点在于,包括LD光源、半球壳、小孔、样品、二维位移平台、二维光电探测器、和数据采集与处理软件的电脑;
所述的30个LD光源按照5行6列的方式固定在所述半球壳上,同时指向球心,所述小孔放在球心处,所述样品放在所述小孔后面,并且在相邻光束有交叠的区域内,与所述二维位移平台相连,所述的二维光电探测器的输出端与所述的电脑的输入端相连,所述的电脑的输出端与所述的二维位移平台的控制端相连。
所述的半球壳用来固定所述LD光源和所述小孔,保证所述30个光束都指向球心,通过小孔。
所述的小孔放在所述半球壳的球心处。
所述的二维平移台通过所述电脑控制,与所述样品相连。
所述的二维光电探测器为CCD,采集和记录样品的衍射光斑。
利用上述单次曝光相位恢复成像装置对样品进行成像的方法,其特点在于该成像方法包括下列步骤:
1)所述二维平移台(5)通过所述电脑(7)控制,带动所述样品(4)进行扫描,经校准照明光,分别恢复出30束激光的复振幅分布,记为Pi,j(x,y);
2)所述二维光电探测器(6)记录一幅同时含有30个子衍射光斑的图像,30个子衍射光斑按照5行6列的方式排列,与30束照明激光相对应,并且30束照明激光在样品上相互之间有重叠,在二维探测器面上分开,相互之间无重叠;
3)所述的带有数据采集与处理软件的电脑(7)对步骤2)中采集到的衍射光斑进行下列迭代运算,包括以下步骤:
a)以小孔所在的平面为x-y平面,以垂直于该平面的轴为z轴,假设每一束激光与x轴和y轴的夹角分别为αn,βn,第一次迭代时,已知照明光的分布为Pi,j(x,y),初始猜测样品(5)的分布为O1(x,y);其中,i表示行信息,j表示列信息;
e)将更新后的光场反向传播到样品面,得到更新的样品透射光场分布(U″n(x,y)=D'n(x,y)*H*(kx+k1,ky+k2)exp[i2πdλ(k1fx+k2fy)],H*是H的共轭函数);
f)使用下面的公式更新样品分布函数:
其中,*代表复共轭操作,|Pn’(x,y)|max是当前位置处样品强度的最大值,η为常数,用于控制更新步长(0<η<1,通过控制分子与分母的比例来调控更新的速度,即更新步长);
g)移动至下一个子衍射光斑位置,令n=n+1,返回步骤b,当下一个子衍射光斑位置(i>5,j>6),进入下一步骤:
h)计算均方根误差Erro,其定义为:
i)当衍射光斑均方根误差Erro小于自己设定的精度要求,比如10-3时,迭代结束;当衍射光斑均方根误差Erro大于自己设定的精度要求时,返回步骤b);
本发明的技术效果如下:
1、本发明单次曝光相位恢复成像装置利用多光束多角度照明,在各个照明光束复振幅分布已知的情况下,利用相邻照明光之间相互重叠的部分,快速将样品的复振幅分布恢复出来。本发明采用多光束多角度同时照明待测样品,缩短了系统采集数据的时间,同时增加系统的成像视场。
2、本发明具有结构简单,成本低廉,数据采集时间短,计算过程收敛速度快,成像精度高的特点。
附图说明
图1是本发明单次曝光相位恢复成像装置的结构示意图
图1中:1-LD光源、2-半球壳、3-小孔、4-样品、5-二维位移平台、6-二维光电探测器、7-电脑以及数据采集与处理软件。
图2是LD光源在半球壳上的排布示意图
图2中:2-半球壳、11-LD光源在所述的半球壳2上的投影。
图3是照明光束在所述的样品面上的位置关系示意图。
图3中:4-样品、12-照明光束在所述的样品表面的投影。
图4是衍射斑62在所述的二维光电探测器的CCD靶面61上的位置示意图。
图4中:61-CCD靶面、62-衍射斑。
具体实施方式
参见图1和图2,由图可见,本发明单次曝光相位恢复成像装置,包括光源1、半球壳2、小孔3、样品4、二维位移平台5、二维光电探测器6、电脑以及数据采集与处理软件7;
所述的30个LD光源1按照5行6列的方式固定在所述的半球壳2上,同时指向球心,所述的小孔3位于所述的半球壳2球心处,所述的样品4放在所述的小孔3的后面并且在相邻光束有交叠的区域内,与所述的二维位移平台5相连,所述的二维光电探测器6的输出端与所述的电脑7的输入端相连,所述的电脑7的输出端与所述的二维位移平台5的控制端相连。
实施例:
所述的光源1为LD光源,中心波长为638纳米,
所述的半球壳2用来固定所述LD光源1,所述的小孔3放在所述的半球壳2的球心处。所述的样品4置于所述的二维平移台5上,所述的样品4置于所述的二维平移台5上,所述的二维平移台5通过所述电脑7控制,所述的二维光电探测器6为CCD,采集和记录所述的样品4的衍射光斑。所述30个LD光源1的光束都指向球心并通过所述的小孔3,透过所述的样品4,在所述的二维光电探测器6为CCD面上成像;
利用上述快速相位恢复成像装置对样品的成像方法,该成像方法包括下列步骤:
1)所述的二维平移台5通过所述电脑7控制,带动所述的样品4进行扫描,所述的二维光电探测器6记录一幅同时含有30个子衍射光斑的图像并输入所述的电脑7,30个子衍射光斑按照5行6列的方式排列,与30束照明激光相对应,并且30束照明激光在样品4上相互之间有重叠(参见图3),在所述的二维探测器6的面上分开,相互之间无重叠(参见图4);
3)所述的电脑7对所述的衍射光斑进行下列迭代运算,包括以下步骤:
a)以小孔3所在的平面为x-y平面,以垂直于该平面的轴为z轴,假设每一束激光(i,j)与x轴和y轴的夹角分别为αn,βn,第一次迭代时,已知照明光的分布为Pi,j(x,y),初始猜测在所述的样品4上的分布为O(x,y);其中,i表示行信息,j表示列信息;
c)将出射光场传递到所述的二维探测器6的CCD面,并计算衍射强度;
d)应用衍射强度约束更新衍射面光强分布,保持光场相位值不变,振幅值用记录到的衍射强度的平方根来替换;
e)将更新后的光场反向传播到样品面,得到更新的样品透射光场分布;
f)使用下面的公式更新样品分布函数:
其中,*代表复共轭操作,|Pn’(x,y)|max是当前位置处样品强度的最大值,η为常数,用于控制更新步长;
g)移动至下一个子衍射光斑位置,当所有衍射光斑都更新完成后,进入下一步骤:
h)计算均方根误差Erro,其定义为:
i)当衍射光斑均方根误差Erro小于自己设定的精度要求,比如10-3时,迭代结束;当衍射光斑均方根误差Erro大于自己设定的精度要求时,返回步骤b)。
下面是本发明一个实施例的参数:
照明光矩阵大小为5×6,测量样品为南瓜茎横切片,CCD的分辨率为4008*2672,最小单元为9微米。先用迭代算法标定出各个照明光的复振幅分布,然后记录一幅含有30个子衍射光斑的衍射图,照明光在样品面与相邻照明光之间有重叠,但是在CCD面上分开,相互之间没有重叠。利用已知的照明光复振幅分布,通过相干衍射理论计算传播过程,具体步骤包括:
a)以小孔所在的平面为x-y平面,以垂直于该平面的轴为z轴,假设每一束激光与x轴和y轴的夹角分别为αn,βn,第一次迭代时,已知照明光的分布为Pi,j(x,y),初始猜测样品(5)的分布为O(x,y);其中,i表示行信息,j表示列信息;
c)将出射光场传递到CCD面,并计算衍射强度;
d)应用衍射强度约束更新衍射面光强分布,保持光场相位值不变,振幅值用记录到的衍射强度的平方根来替换;
e)将更新后的光场反向传播到样品面,得到更新的样品透射光场分布;
f)使用下面的公式更新样品分布函数:
其中,*代表复共轭操作,|Pn’(x,y)|max是当前位置处样品强度的最大值,η为常数,用于控制更新步长;
g)移动至下一个子衍射光斑位置,当所有衍射光斑都更新完成后,进入下一步骤:
h)计算均方根误差Erro,其定义为:
i)当衍射光斑均方根误差Erro小于自己设定的精度要求,比如10-3时,迭代结束;当衍射光斑均方根误差Erro大于自己设定的精度要求时,返回步骤b)。
Claims (4)
1.一种单次曝光相位恢复成像装置,其特征在于,包括LD光源(1)、半球壳(2)、小孔(3)、样品(4)、二维位移平台(5)、二维光电探测器(6)和电脑(7);
所述的LD光源(1)按照5行6列的方式固定在所述的半球壳(2)上,同时指向该半球壳(2)的球心,所述的小孔(3)位于所述的半球壳(2)的球心处,所述的样品(4)置于所述的二维位移平台(5)上并放在所述的小孔(3)后面相邻光束有交叠的区域内,所述的二维光电探测器(6)置于所述的样品(4)的衍射光方向,所述的二维光电探测器(6)的输出端与所述的电脑(7)的输入端相连,所述的电脑(7)的输出端与所述的二维位移平台(5)的控制端相连。
2.根据权利要求1所述的单次曝光相位恢复成像装置,其特征在于所述的半球壳(2)用来固定所述的LD光源(1)和所述小孔(3),保证所述的LD光源(1)输出的30个光束都指向球心并通过所述的小孔(3)。
3.根据权利要求1所述的单次曝光相位恢复成像装置,其特征在于所述的二维光电探测器(6)为CCD,采集和记录所述的样品(4)的衍射光斑。
4.利用权利要求1所述的单次曝光相位恢复成像装置对样品成像的方法,其特征在于该成像方法包括下列步骤:
1)所述的二维平移台(5)在所述的电脑(7)的控制下,带动所述的样品(4)进行扫描,用迭代算法分别恢复出30束激光的复振幅分布,记为Pi,j(x,y);
2)所述二维光电探测器(6)记录一幅同时含有30个子衍射光斑的图像并输入所述的电脑(7),30个子衍射光斑按照5行6列的方式排列,与30束照明激光相对应,并且30束照明激光在所述的样品(4)上相互之间有重叠,在所述的二维探测器(6)的成像面上分开,相互之间无重叠;
3)所述的电脑(7)对所述的衍射光斑进行下列迭代运算,包括以下步骤:
a)以小孔(3)所在的平面为x-y平面,以垂直于该平面的轴为z轴,假设每一束激光与x轴和y轴的夹角分别为αn,βn,第一次迭代时,已知照明光的分布为Pi,j(x,y),初始猜测所述的样品(4)的分布为O(x,y);其中,i表示行信息,j表示列信息;
c)将出射光场传递到所述的二维探测器(6)的CCD面,并计算衍射强度;
d)应用衍射强度约束更新衍射面的光强分布,保持光场相位值不变,振幅值用记录到的衍射强度的平方根来替换;
e)将更新后的光场反向传播到所述的样品(4)的样品面,得到更新的样品透射光场分布;
f)使用下面的公式更新样品分布函数:
其中,*代表复共轭操作,|Pn’(x,y)|max是当前位置处样品强度的最大值,η为常数,用于控制更新步长;
g)移动至下一个子衍射光斑位置,当所有衍射光斑都更新完成后,进入下一步骤:
h)计算均方根误差Erro,其定义为:
i)当衍射光斑均方根误差Erro小于设定的精度要求时,迭代结束;当衍射光斑均方根误差Erro大于设定的精度要求时,返回步骤b)。
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