CN112304214B - 基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 - Google Patents
基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN112304214B CN112304214B CN201910706398.3A CN201910706398A CN112304214B CN 112304214 B CN112304214 B CN 112304214B CN 201910706398 A CN201910706398 A CN 201910706398A CN 112304214 B CN112304214 B CN 112304214B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- tool
- tested
- measured
- photogrammetric
- dimensional image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 50
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 14
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 2
- 102000007338 Fragile X Mental Retardation Protein Human genes 0.000 description 1
- 108010032606 Fragile X Mental Retardation Protein Proteins 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008707 rearrangement Effects 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明公开了一种基于摄影测量的工装检测方法和系统，一种基于摄影测量的工装检测方法，包括：使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点三维坐标值；根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的关键控制点与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差。本发明公开的基于摄影测量的工装检测方法和系统，能够提高工装型架的检测效率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及数字化检测技术，尤其涉及一种基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统。
背景技术
为了保证产品装配的可靠性，需要在指定的周期内对工装型架进行检测，从而确定工装型架符合工装图纸要求，并可以进行后续产品的装配工作。
目前工装型架的周期定检都选用激光跟踪仪进行检测，检测时需要选择骨架上的基准点建立坐标系后，对工装型架上的定位件及定位孔进行检测。但在使用激光跟踪仪对工装型架上进行检测时，激光跟踪仪主机与被测点间不允许有任何遮挡，测量基准点和定位孔时必须使用对应的反射球底座才能进行检测。而使用激光跟踪仪对大型工装型架进行检测时，需要在被测工装型架上设置众多的控制点，并且需要多次转换激光跟踪仪的位置进行检测，耗时较长。
发明内容
本发明提供一种于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统，能够提高工装型架的检测效率。
第一方面，本发明实施例提供一种基于摄影测量的工装检测方法，包括：
使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值；
根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；
确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差。
在第一方面一种可能的实现方式中，待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座；
根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐之前，还包括：
使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值；
使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。
在第一方面一种可能的实现方式中，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
在第一方面一种可能的实现方式中，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；
确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中关键控制点理论值的偏差，包括：
确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
在第一方面一种可能的实现方式中，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，包括：
根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；
将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。
第二方面，本发明实施例还提供了一种基于摄影测量的工装检测系统包括：
相机测量模块，用于使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
图像转换模块，用于将待测工装的图像转换为待测工装的三维图像；
数据处理模块，用于根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差。
在第二方面一种可能的实现方式中，待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座；
系统还包括：激光测量模块，用于使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值；
数据处理模块，还用于使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。
在第二方面一种可能的实现方式中，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
在第二方面一种可能的实现方式中，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；
数据处理模块，还用于确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
在第二方面一种可能的实现方式中，数据处理模块，具体用于根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。
本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统，使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值；根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，通过摄影测量的方式对待测工装进行测量，提高了测量效率，节约了测量所需时间。
附图说明
图1为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统实施例一的流程图；
图2A-图2D为不同的摄影测量编码点的示意图；
图3示出四种不同而对摄影测量反射靶座的结构示意图；
图4为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例一的流程图；
图5为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例二的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。
在大型设备的装配过程中，为了便于装配，并保证装配精度，需要使用工装型架辅助装配。工装型架由多个组合在一起或分离的部件组成，那么为了确保使用工装型架进行设备装配的精度，首先需要保证工装型架的精度符合工装图纸要求。为了确保工装型架的精度，目前主要选用激光跟踪仪对激光型架进行检测，但由于激光跟踪仪的测量范围有限，对于大型工装型架的检测，需要多次转换激光跟踪仪的位置，耗时较长。另外，采用激光跟踪仪进行检测时，激光跟踪仪与被测点间不允许有任何遮挡。因此采用激光跟踪仪对工装型架进行检测虽然能够保证工装型架的精度，但效率较低。而工装型架又需要按照指定的周期进行检测，导致对工装型架的检测占用了很多时间，影响生产效率。
图1为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统实施例一的流程图，如图1所示，本实施例提供的摄影测量的工装检测系统包括：
相机测量模块11，用于使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点。图像转换模块12，用于将待测工装的图像转换为待测工装的三维图像。数据处理模块13，用于根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。
由于待测量的工装型架的尺寸一般较大，采用激光跟踪仪对工装型架进行测量需要频繁转换激光跟踪仪的位置，导致检测效率下降。因此本实施例采用相机摄影测量的方法对工装型架进行检测。摄影测量是采用相机拍照的方式对目标物的形状、大小和空间位置进行测量的技术。由于工装型架的检测精度要求很高，因此本实施例将摄影测量应用于工装型架的测量中时，对其进行了创新的改进。
首先，本实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统包括相机测量模块11，相机测量模块11是用来获取被拍摄物体图像的设备，主要由相机、镜头和光源组成。相机测量模块11可以是单相机测量模块，包括一个镜头，也可以包括多个镜头。相机测量模块11的镜头对准待测工装，即可获取待测工装的图像。相机测量模块11可获取图像的范围由镜头的规格决定，但相机测量模块11能够获取图像的范围远大于激光跟踪仪能够测量的范围，且相机测量模块11与待测工装之间并没有严格的遮挡限制，有效避免使用激光跟踪仪对工装进行测量时的光线遮挡等问题，并提高了检测效率。即使待测工装的尺寸较大，相机测量模块11的镜头无法一次拍摄到待测工装的全部图像，也可以通过有限的挪动几次相机测量模块11的位置拍摄到待测工装的多个图像，再通过拼接得到待测工装的整个图像，与激光跟踪仪的测量相比，通过相机测量模块11进行测量，移动相机测量模块11的次数将大大减少。
由于相机测量模块11是通过镜头拍摄待测工装的图像，对图像进行分析后确定待测工装的尺寸，并不是精确的测量，为了保证测量的准确性，需要在待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点。摄影测量编码点是按照一定规则分布的点，形成一个唯一的分布，并对应一个编码号，通过图像处理识别的方法，可以准确唯一的确定此编码。摄影测量编码点的示意图如图2A-图2D所示，图2A-图2D为不同的摄影测量编码点的示意图。摄影测量反射基准点是采用了一种含有高反射率玻璃微珠或者微晶立方角体，将入射光按原路反射回光源出，形成回归反射的材料。将摄影测量反射基准点命名为FMRP点。各摄影测量编码点之间的距离需要在一定的阈值范围内，例如相距0.5米内。由于各摄影测量编码点的图像是已知的，因此在通过相机测量模块11拍摄到待测工装的图像后，通过比对图像中的摄影测量编码点与已知的摄影测量编码点，就可以对拍摄到的待测工装的图像进行校正，从而确定待测工装的真实尺寸。
由于相机测量模块11通过拍摄获取的图像是二维图像，而待测工装是处于三维空间的，因此在通过相机测量模块11拍摄待测工装的图像后，还需要使用图像转换模块12，将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值。将二维图像转换为三维图像的具体方法可以有多种方法，例如通过比对待测工装上设置的摄影测量编码点，距离相机测量模块11的镜头距离不同的摄影测量编码点在拍摄的图像中的比例不同，通过对比例的分析将二维图像转换为三维图像。或者当相机测量模块11的镜头为两个以上时，还可以通过两个以上的镜头分别拍摄的图像中相同坐标点的差距进行计算，从而将二维图像转换为三维图像。
接着，由数据处理模块13根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差。对待测工装进行测量的目的是为了找到待测工装中存在误差的位置，而误差的比对标准是待测工装的图纸，因此在获取到待测工装的三维图像后，将其与待测工装图像的坐标系进行对齐，从而就可以在对齐后的坐标系中找到待测工装三维图像与待测工装图纸的偏差，从而完成了待测工装的检测。
图像转换模块12和图像处理模块13可以设置于一个或多个具有数据处理能力的计算机或服务器上。
本实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统，包括相机测量模块，用于使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点，图像转换模块，用于将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值，数据处理模块，用于根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐；确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差，通过摄影测量的方式对待测工装进行测量，提高了测量效率，节约了测量所需时间。
进一步地，由于通过相机拍摄的图像对待测工装的测量，是通过数据处理的方法进行间接的测量，并不是直接的测量，可能与使用激光跟踪仪进行的测量之间存在误差，为了避免上述误差，还可以在待测工装的基准孔设置有摄影测量反射靶座。基于摄影测量的工装检测系统还包括：激光测量模块，用于使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值；数据处理模块13，还用于使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。激光测量模块作为摄影测量模块11的测量精度补偿模块，通过激光测量仪对待测工装上的部分关键测量点进行测量，从而实现对摄影测量模块11拍摄的图像的测量精度进行补偿。摄影测量反射靶座是用来获取被测对象孔位信息的反射靶座，同事也是用于与激光跟踪仪进行基准转换的重要转换器。摄影测量反射靶座的结构如
图3所示，图3示出四种不同而对摄影测量反射靶座的结构示意图。摄影测量反射靶座的安装位置为待测工装上的基准孔(命名为MPR点)，在待测工装上，需要设置多个摄影测量反射靶座，例如8个。虽然在待测工装上设置了多个摄影测量反射靶座，并通过激光测量模块对摄影测量反射靶座进行测量，仍然需要使用激光跟踪仪进行测量。但与使用激光跟踪仪对整个待测工装进行测量相比，本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统仍然能够节约测量时间，提高测量效率，并且在使用激光测量模块对摄影测量反射靶座进行测量并校准后，还可以提高测量精度。优选地，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。传统的摄影测量中，是使用基准尺作为比例缩放的比对标准，本发明实施例中，采用激光跟踪仪的实测数据进行比例缩放的比对标准，精度更高。
进一步地，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；数据处理模块13，还用于确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。待测工装的主定位孔或主定位件是影响待测工装精度的重要位置，通过在待测工装的主定位孔或主定位件上设置摄影测量反射靶座(称为OTP点)，可以确定主定位孔或主定位件的精确坐标，从而在于待测工装的图纸进行比对时，可以准确地获知主定位孔或主定位件与图纸的误差。当然，在待测工装非主定位孔或主定位件的位置同样可以设置相应的测量点，例如设置摄影测量反射基准点(命名为CHECK点)，从而进一步地提高检测精度。
进一步地，数据处理模块13，具体用于根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差。为了进一步地提高对工装型架的检测效率，数据处理模块13还以采用自动化的数据处理方式进行，例如在SA测量软件中，根据待测工装的三维图像生成MP格式的待测量文件，其中包括各测量点的坐标。然后将生成的待测量文件与待测工装图纸对应的标准文件进行比对，从而一键化地获取待测工装的误差。
本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测系统，在首次对待测工装进行检测后，还可以固化待测工装上的摄影测量编码点和其他各测量点的位置，并将固化的各测量点的位置设置为摄影测量驱动文件，那么后续再检测时，即可自动对齐坐标系，直接得到待测工装的偏差数据，进一步提高了工装型架的检测效率，同时可以节约检测成本。
图4为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例一的流程图，如图4所示，本实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法包括：
步骤S401，使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点。
步骤S402，将待测工装的图像转换为待测工装的关键控制点的三维坐标值。
步骤S403，根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐。
步骤S404，确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的三维理论值偏差。
本实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法应用于图1所示基于摄影测量的工装检测系统，其具体的实现方法和技术效果在图1所示实施例中已经进行了详细说明，此处不再赘述。
图5为本发明实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法实施例二的流程图，如图5所示，本实施例提供的基于摄影测量的工装检测方法包括：
步骤S501，使用相机拍摄待测工装的图像，待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点。
步骤S502，将待测工装的图像转换为待测工装的三维图像。
步骤S503，使用激光跟踪仪对待测工装的基准孔进行测量，确定待测工装的基准孔实测值。
步骤S504，使用待测工装的基准孔实测值对待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准待测工装的图像中的坐标比例。
步骤S505，根据待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将待测工装的三维图像的坐标系与待测工装的图纸坐标系对齐。
步骤S506，确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差。
在本实施例中。待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座。进一步地，摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
进一步地，在图5所示实施例的基础上，待测工装的主定位孔或主定位件上设置有摄影测量反射靶座；确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，包括：确定待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
进一步地，在图4或图5所示实施例的基础上，确定待测工装的三维图像与待测工装的图纸中的偏差，包括：根据与待测工装的图纸对齐坐标系的待测工装的三维图像生成待测量文件；将待测量文件与待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定待测工装的关键控制点的三维坐标值与待测工装的图纸中的关键控制点的理论值偏差。
注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (8)
1.一种基于摄影测量的工装检测方法，其特征在于，包括：
使用相机拍摄待测工装的图像，所述待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
将所述待测工装的图像转换为所述待测工装的三维图像；
根据所述待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将所述待测工装的三维图像的坐标系与所述待测工装的图纸坐标系对齐；
所述根据所述待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将所述待测工装的三维图像的坐标系与所述待测工装的图纸坐标系对齐之前，还包括：
使用激光跟踪仪对所述待测工装的基准孔进行测量，确定所述待测工装的基准孔实测值；
使用所述待测工装的基准孔实测值对所述待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准所述待测工装的图像中的坐标比例；
确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸的偏差；
所述确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸中的偏差，包括：
根据与所述待测工装的图纸对齐坐标系的所述待测工装的三维图像，采用自动化的数据处理方式，在SA测量软件中，根据所述待测工装的三维图像生成MP格式的待测量文件；
将所述待测量文件与所述待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸中的偏差；
还包括：
在首次对所述待测工装进行检测后，固化所述待测工装上的所述摄影测量编码点和其他各测量点的位置，并将固化的所述各测量点的位置设置为摄影测量驱动文件。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述待测工装的三维图像与所述待测工装的图纸的偏差，包括：
确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标值与所述待测工装的图纸中关键控制点的三维坐标理论值的偏差。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述摄影测量反射靶座与激光跟踪仪球座补偿值相同。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测工装的主定位孔或主定位件上设置有所述摄影测量反射靶座；
所述确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标三维图像与所述待测工装的图纸中关键控制点的理论值的偏差，包括：
确定所述待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与所述待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
6.一种基于摄影测量的工装检测系统，其特征在于，包括：
相机测量模块，用于使用相机拍摄待测工装的图像，所述待测工装上均匀设置有多个摄影测量编码点，每个摄影测量编码点旁设置有一个摄影测量反射基准点；
图像转换模块，用于将所述待测工装的图像转换为所述待测工装的关键控制点的三维坐标值；
数据处理模块，用于根据所述待测工装的三维图像中多个摄影测量编码点和多个摄影测量反射基准点的坐标，将所述待测工装的三维图像的坐标系与所述待测工装的图纸坐标系对齐；确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标值与所述待测工装的图纸中的偏差；
所述系统还包括：激光测量模块，用于使用激光跟踪仪对所述待测工装的基准孔进行测量，确定所述待测工装的基准孔实测值；
所述数据处理模块，还用于使用所述待测工装的基准孔实测值对所述待测工装的三维图像中的数据进行比例缩放，以校准所述待测工装的图像中的坐标比例；
所述数据处理模块，还用于根据与所述待测工装的图纸对齐坐标系的所述待测工装的三维图像，采用自动化的数据处理方式，在SA测量软件中，根据所述待测工装的三维图像生成MP格式的待测量文件；
将所述待测量文件与所述待测工装的图纸对应的标准文件进行比对，确定所述待测工装的关键控制点的三维坐标值与所述待测工装的图纸中的关键控制点理论值偏差；
还包括：
在首次对所述待测工装进行检测后，固化所述待测工装上的所述摄影测量编码点和其他各测量点的位置，并将固化的所述各测量点的位置设置为摄影测量驱动文件。
7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述待测工装的基准孔还设置有摄影测量反射靶座。
8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述待测工装的主定位孔或主定位件上设置有所述摄影测量反射靶座；
所述数据处理模块，还用于确定所述待测工装的三维图像中主定位孔或主定位件与所述待测工装的图纸中主定位孔或主定位件的偏差。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910706398.3A CN112304214B (zh) | 2019-08-01 | 2019-08-01 | 基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201910706398.3A CN112304214B (zh) | 2019-08-01 | 2019-08-01 | 基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN112304214A CN112304214A (zh) | 2021-02-02 |
| CN112304214B true CN112304214B (zh) | 2022-10-11 |
Family
ID=74485840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201910706398.3A Active CN112304214B (zh) | 2019-08-01 | 2019-08-01 | 基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN112304214B (zh) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114877870B (zh) * | 2022-05-18 | 2023-07-14 | 大连理工大学 | 基于虚拟基准尺的大尺寸摄影测量精度提升方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003062744A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-07-31 | Faro Technologies, Inc. | Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates |
| CN1605829A (zh) * | 2004-11-11 | 2005-04-13 | 天津大学 | 视觉测量系统现场校准装置及校准方法 |
| EP2511656A1 (de) * | 2011-04-14 | 2012-10-17 | Hexagon Technology Center GmbH | Vermessungssystem zur Bestimmung von 3D-Koordinaten einer Objektoberfläche |
| CN104321616A (zh) * | 2012-05-16 | 2015-01-28 | 法罗技术股份有限公司 | 用于补偿激光跟踪仪中的轴承径向跳动的装置和方法 |
| CN108344360A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-07-31 | 北京航空航天大学 | 一种视觉测量系统的激光扫描式全局校准装置及方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101387494B (zh) * | 2008-10-06 | 2010-08-25 | 天津大学 | 大型隧道管片构件几何量测量装置和方法 |
| CN101566461B (zh) * | 2009-05-18 | 2010-11-10 | 西安交通大学 | 大型水轮机叶片快速测量方法 |
| CN105157564B (zh) * | 2015-05-06 | 2018-11-02 | 浙江东南网架股份有限公司 | 一种网架单元拼装精度快速自动化摄影测量方法 |
| CN107480356B (zh) * | 2017-07-28 | 2020-09-08 | 中电莱斯信息系统有限公司 | 基于catia和激光跟踪仪的部件设计检验一体化方法 |
| CN108639374B (zh) * | 2018-05-07 | 2021-11-05 | 西北工业大学 | 一种飞机部件数字化装配实测数据处理方法及系统 |
| CN108731592A (zh) * | 2018-05-24 | 2018-11-02 | 郑州辰维科技股份有限公司 | 一种基于摄影测量的飞机制造工装的检定方法 |
-
2019
- 2019-08-01 CN CN201910706398.3A patent/CN112304214B/zh active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003062744A1 (en) * | 2002-01-16 | 2003-07-31 | Faro Technologies, Inc. | Laser-based coordinate measuring device and laser-based method for measuring coordinates |
| CN1605829A (zh) * | 2004-11-11 | 2005-04-13 | 天津大学 | 视觉测量系统现场校准装置及校准方法 |
| EP2511656A1 (de) * | 2011-04-14 | 2012-10-17 | Hexagon Technology Center GmbH | Vermessungssystem zur Bestimmung von 3D-Koordinaten einer Objektoberfläche |
| CN104321616A (zh) * | 2012-05-16 | 2015-01-28 | 法罗技术股份有限公司 | 用于补偿激光跟踪仪中的轴承径向跳动的装置和方法 |
| CN108344360A (zh) * | 2017-11-15 | 2018-07-31 | 北京航空航天大学 | 一种视觉测量系统的激光扫描式全局校准装置及方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 大尺寸工业视觉测量系统;刘建伟等;《光学精密工程》;20100115(第01期);全文 * |
| 大尺寸视觉测量精度的理论和实验研究;杨剑;《中国优秀博硕士学位论文全文数据库(博士)信息科技辑》;20101115;全文 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN112304214A (zh) | 2021-02-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR102633873B1 (ko) | 고정밀 교정 시스템 및 방법 | |
| CN102980556B (zh) | 一种测距方法及装置 | |
| WO2015154487A1 (zh) | 一种基于视觉测量的群孔垂直度检测系统和方法 | |
| US8111907B2 (en) | Method for repeatable optical determination of object geometry dimensions and deviations | |
| CN103201617B (zh) | 基板检查方法 | |
| KR102235632B1 (ko) | 머신 비전 시스템 | |
| CN101694370B (zh) | 大尺寸工业摄影测量系统的空间误差场获取方法及基准装置 | |
| CN107339935B (zh) | 用于全视角扫描测量系统的靶标空间交会测量方法 | |
| CN105403183A (zh) | 一种用于检验车钩的工作样板计量检测方法 | |
| CN109990703A (zh) | 一种预制构件的尺寸检测方法及系统 | |
| CN110044266B (zh) | 基于散斑投影的摄影测量系统 | |
| US6304680B1 (en) | High resolution, high accuracy process monitoring system | |
| CN112304214B (zh) | 基于摄影测量的工装检测方法和工装检测系统 | |
| JP6325834B2 (ja) | 整備支援システムおよび整備支援方法 | |
| Di Leo et al. | Uncertainty evaluation of camera model parameters | |
| CN112665523B (zh) | 一种复杂型面的联合测量方法 | |
| CN104034259A (zh) | 一种影像测量仪校正方法 | |
| CN112697074B (zh) | 动态待测物角度测量仪及测量方法 | |
| CN111145247B (zh) | 基于视觉的位置度检测方法及机器人、计算机存储介质 | |
| CN102155937B (zh) | 柔性网状面形照相测量方法 | |
| CN111121637A (zh) | 一种基于像素编码的光栅位移检测方法 | |
| TW201317587A (zh) | 尺寸檢測裝置及方法 | |
| Tushev et al. | Photogrammetric system accuracy estimation by simulation modelling | |
| CN114638789A (zh) | 一种用于孔位检测的方法及系统 | |
| JP2013122429A (ja) | 製作誤差評価方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20231204 Address after: Room 712, South, No. 69 Zhangjiang Road, China (Shanghai) Pilot Free Trade Zone, Pudong New Area, Shanghai, 2012 Patentee after: Shangfei Intelligent Technology Co.,Ltd. Address before: 919 Shangfei Road, Pudong New Area, Shanghai, 201324 Patentee before: SHANGHAI AIRCRAFT MANUFACTURING Co.,Ltd. |
|
| TR01 | Transfer of patent right |