CN112269696A - 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质 - Google Patents

一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN112269696A
CN112269696A CN202011090549.6A CN202011090549A CN112269696A CN 112269696 A CN112269696 A CN 112269696A CN 202011090549 A CN202011090549 A CN 202011090549A CN 112269696 A CN112269696 A CN 112269696A
Authority
CN
China
Prior art keywords
iops
node
performance
bottleneck
topology
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN202011090549.6A
Other languages
English (en)
Inventor
于泉泉
王鹏
王焕超
刘闻禹
孙珑玲
闫玉婕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN202011090549.6A priority Critical patent/CN112269696A/zh
Publication of CN112269696A publication Critical patent/CN112269696A/zh
Priority to PCT/CN2021/109448 priority patent/WO2022078009A1/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2205—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing using arrangements specific to the hardware being tested
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/2273—Test methods
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02D—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00—Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明提供了一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质，属于计算机存储系统的技术领域，该计算机存储系统性能测试方法包括：根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；计算每个带宽拓扑节点的性能最高值，和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。

Description

一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质
技术领域
本发明涉及计算机存储系统技术领域，尤其是涉及一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质。
背景技术
伴随着互联网的快速发展，云计算技术的不断兴起，网上业务量不断增加。面对服务器技术变革日新月异的变化，如何提高存储系统的性能一直以来都是重要技术难题，性能是评价一个存储系统的关键因素。理解性能测试的方法、计算测试结果的合理性、掌握必要的整改方法是解决性能问题的关键，体现存储系统性能优劣的参数主要有两个：带宽(Throughout)和IOPS。带宽用于衡量存储系统处理顺序读写大数据块的IO(16KB以上)能力，单位是MB/s，带宽越高，性能越好；IOPS用于衡量存储系统处理随机读写小数据块的IO(16KB以下)能力，即每秒进行读写(I/O)操作的次数，IOPS越高，代表存储系统处理IO的能力越强，同时，性能测试是针对特定设备或者特定拓扑的测试。测试特定部件性能时，应保证系统中其他设备的带宽等性能优于该测试设备，确保该测试设备是唯一瓶颈，以测试出设备的最大性能；测试系统性能时，应保证所有接口和部件工作在最佳状态，以便测量出整个系统的极限性能值，并且找到限制性能的瓶颈点，而言之，性能测试不是单一部件的测试，而是整个存储系统的综合能力测试。受限于此,针对性能测试的方法千差万别，但是却少有针对存储拓扑下对性能的理论计算方法。
传统的存储系统性能测试搭建简单的经验数据库或者数学模型方案，依赖测试人员的经验数据，或者已有的测试数据库的经验积累，没有分析拓扑下设备的性能参数和链路关系，导致：
1、灵活性差。当前模型只针对特定的某个拓扑或者某几种拓扑才有效，换成其他拓扑，需要根据实测结果重新搭建数学模型。
2、精确度不高。当存储系统下设备变更时，如硬盘由HDD变为SSD，即使拓扑一致，但是结果变化很大。
3、验证成本高。需要覆盖多种配置、多种拓扑下的性能测试，提供充分的实测数据，才能验证数据的正确
为此本文提出一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质。
发明内容
本发明的目的在于提供一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质，以缓解了现有技术中存在的灵活性差，精确度不高和验证成本高的技术问题。
第一方面，本发明提供的一种计算机存储系统性能测试方法，包括：
根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；
基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；
将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
进一步的，基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式BWBottleneck＝Minimum(BWNode1,BWNode2,...,BWNodeN)计算带宽瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，BWBottleneck为带宽瓶颈节点的性能最高值，BWNodei为每个带宽拓扑节点的带宽最高值。
进一步的，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式IOPSBottleneck＝Minimum(IOPSNode1，IOPSNode2，...，IOPSNodeN)计算IOPS瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，IOPSBottleneck为IOPS瓶颈节点的性能最高值，IOPSNodei为每个IOPS拓扑节点的IOPS最高值。
进一步的，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点作为IOPS瓶颈节点。
进一步的，对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点系统性能最高值的步骤，包括：
通过算式LatencyBottleneck＝Sum(LatencyNode1,LatencyNode2,...,LatencyNodeN)计算系统总延时LatencyBottleneck；其中，LatencyNodei为每个IOPS拓扑节点的延时最高值；
通过算式
Figure BDA0002721963260000031
计算单盘瓶颈节点的性能最高值IOPSBottleneck；其中，Latencydisk为单盘延时，IOPSdisk为单盘IOPS最高值。
进一步的，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值的步骤，包括：
将带宽瓶颈节点与IOPS瓶颈节点中较低的性能最高值作为系统性能最高值。
进一步的，基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果的步骤之后，还包括：
将所述测试结果与实测结果进行对比；
若对比差值超出预设值，则调节拓扑节点的配置参数，并返回计算每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值的步骤。
第二方面，本发明还提供一种计算机存储系统性能测试装置，包括：
拓扑模块，用于根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
计算模块，用于获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
测算模块，用于基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
输出模块，用于基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
本发明提供的一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有机器可运行指令，所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时，所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述计算机存储系统性能测试方法。
有益效果
本发明实施例提供的一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质，根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点，并获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值，获得带宽瓶颈节点和IOPS瓶颈节点，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值，最后输出测试结果。因此本发明针对各种拓扑模型都能有效获得测试结果解决了现有技术灵活性差的问题，存储系统下设备变更时，也能够保证测试精确度，并且不需要覆盖多种配置、多种拓扑，节省了测试的验证成本。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的存储系统性能测试方法流程图；
图2为本发明实施例提供的储拓扑下性能方法示意图；
图3为本发明实施例提供的存储拓扑的带宽节点图；
图4为本发明实施例提供的存储拓扑的IOPS节点图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例中所提到的术语“包括”和“具有”以及它们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括其他没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
本发明实施例提供一种技术方案，一种计算机存储系统性能测试方法，包括：
根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；
基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；
将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
进一步的，基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式BWBottleneck＝Minimum(BWNode1,BWNode2,...,BWNodeN)计算带宽瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，BWBottleneck为带宽瓶颈节点的性能最高值，BWNodei为每个带宽拓扑节点的带宽最高值。
进一步的，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式IOPSBottleneck＝Minimum(IOPSNode1，IOPSNode2，...，IOPSNodeN)计算IOPS瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，IOPSBottleneck为IOPS瓶颈节点的性能最高值，IOPSNodei为每个IOPS拓扑节点的IOPS最高值。
进一步的，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点作为IOPS瓶颈节点。
进一步的，对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点系统性能最高值的步骤，包括：
通过算式LatencyBottleneck＝Sum(LatencyNode1,LatencyNode2,...,LatencyNodeN)计算系统总延时LatencyBottleneck；其中，LatencyNodei为每个IOPS拓扑节点的延时最高值；
通过算式
Figure BDA0002721963260000071
计算单盘瓶颈节点的性能最高值IOPSBottleneck；其中，Latencydisk为单盘延时，IOPSdisk为单盘IOPS最高值。
进一步的，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值的步骤，包括：
将带宽瓶颈节点与IOPS瓶颈节点中较低的性能最高值作为系统性能最高值。
进一步的，基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果的步骤之后，还包括：
将所述测试结果与实测结果进行对比；运行性能测试是指运用性能测试工具(如IOMeter、FIO等)并输出性能测试结果的过程，比较理论计算结果与实测结果之间是否有差异从而修正和调优性能计算的理论模型。
若对比差值超出预设值，则调节拓扑节点的性能，并返回计算每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值的步骤。例如，在之前的测试中，硬盘的运行参数是以适合顺序读写的方式设置的，那么本步骤中可以将硬盘的运行参数调整为更适合随机读写的配置，使得硬盘在之后的测试中，能够发挥出更高的性能。又如，可以对主板的BIOS参数进行调节，使主板在之后的测试中发挥出更高的性能。根据多次性能测试，通过节点法计算存储拓扑下性能的方法与实测结果比较发现基本一致，证明该理论分析方法有效。
本发明实施例提供的计算机存储系统性能测试方法，根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点，并获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值，获得带宽瓶颈节点和IOPS瓶颈节点，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值，最后输出测试结果。因此本发明针对各种拓扑模型都能有效获得测试结果解决了现有技术灵活性差的问题，存储系统下设备变更时，也能够保证测试精确度，并且不需要覆盖多种配置、多种拓扑，节省了测试的验证成本。
本发明实施例提供一种计算机存储系统性能测试装置，包括：
拓扑模块，用于根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
计算模块，用于获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
测算模块，用于基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
输出模块，用于基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
本发明实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有机器可运行指令，所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时，所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述计算机存储系统性能测试方法。
在本实施例中需要说明的是，如图1所示，根据存储拓扑划分节点。存储系统的拓扑是在系统设计之初就已成型的，此时直接获得系统的存储拓扑划分节点即可。如典型的存储拓扑节点划分如下图所示：主板CPU通过PCIe槽位连接SAS Card，SAS卡通过SAS线缆与Expander级联背板连接，Expander级联背板又与12张SATA SSD硬盘通过连接器连接：
理论带宽节点拓扑如下图所示：Node1是主板PCIe与SAS Card之间的PCIe链路；Node2是SAS卡与Expander级联背板之间的SAS链路；Node3是Expander级联背板与12张硬盘之间的所有SATA链路。
如图2所示，将存储系统各设备单元按照拓扑中的位置划分为多个不同的节点(NODE)；节点之间的箭头代表存储IO的流向；当计算理论最大带宽时，节点代表存储系统拓扑中上行和下行设备之间高速信号的交互速率；当计算理论最大IOPS时，节点代表存储系统拓扑中个设备单元；
其中，每个节点的性能最高值，是每个节点设备单元的固有属性，比如出厂参数、设计参数等，在本步骤中节点设备单元的出厂批次、型号、设计参数直接获取即可。
每个节点需分别计算理论最大带宽(BWNodeN)和最大IOPS(IOPSNodeN)。
当节点的理论最大带宽BWNodeN等于BWBottleneck时，说明当前存储系统的带宽性能瓶颈为节点N，且节点N的最大带宽就是存储系统的最大带宽值；当节点的理论最大IOPS值IOPSNodeN等于IOPSBottleneck时，说明当前存储系统的IOPS性能瓶颈为节点N，且节点N的最大IOPS就是存储系统的最大IOPS值。
存储系统拓扑下，由于IOPS＝IOdepth/Latency，即在IOdepth不变的情况下系统的延时(Latency)与IOPS成反比，所以系统的IOPS也可以用系统的延时来表征。
LatencyBottleneck＝Sum(LatencyNode1,LatencyNode2,...,LatencyNodeN)——公式
如图3-4所示，分别计算每个节点的最大带宽和最大IOPS值。
Figure BDA0002721963260000101
Figure BDA0002721963260000102
得到性能瓶颈节点和理论最大带宽、最大IOPS值。
根据公式1，得到带宽瓶颈节点为Node1(即主板PCIe槽位与SAS卡之间的PCIe链路)，最大带宽为6400MB/s；
根据公式2，得到IOPS瓶颈节点为Node4(即12张硬盘总的4K性能)，最大IOPS为1164K IOPS。
可以看出来，性能带宽和IOPS可能分别对应不同的瓶颈节点。这并不矛盾，因为性能测试项主要包括了带宽和IOPS两类，二者测试方法不同。
运行性能测试是指运用性能测试工具(如IOMeter、FIO等)并输出性能测试结果的过程，比较理论计算结果与实测结果之间是否有差异从而修正和调优性能计算的理论模型。
根据多次性能测试，通过节点法计算存储拓扑下性能的方法与实测结果比较发现基本一致，证明该理论分析方法有效。
例如，该拓扑下一组并行性能带宽测试数据比较：
Figure BDA0002721963260000111
例如，该拓扑下一组并行性能IOPS测试数据比较：
Figure BDA0002721963260000112
与并行测试的结果不同，当对所有硬盘逐一做单盘性能测试IOPS实测时，理论上该拓扑中硬盘应该成为这种拓扑中的IOPS瓶颈点。但是实测结果却显示，硬盘在4K RR性能测试过程中无法达到厂商规定的最大IOPS值。这种拓扑下的单盘性能测试IOPS时，需要运用公式3来解决。
Figure BDA0002721963260000121
根据公式3，单盘性能测试时，系统理论延时瓶颈往往是SSD或者HDD硬盘；总的延时为：Latencybottleneck＝Sum(5,60,50,400)＝515us。实测的IOPS值与单盘IOPS的比值，可以用硬盘的理论延时占总的延时的比例来计算：
Figure BDA0002721963260000122
即400/515＝77.7％
Figure BDA0002721963260000123
理论IOPS节点拓扑如下图所示：Node1是主板，Node2是SAS Card，Node3是Expander级联背板，Node4是所有的12张SSD硬盘
应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该发明产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

Claims (9)

1.一种计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，包括：
根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点；
基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点；
将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
2.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式BWBottleneck＝Minimum(BWNode1,BWNode2,...,BWNodeN)计算带宽瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，BWBottleneck为带宽瓶颈节点的性能最高值，BWNodei为每个带宽拓扑节点的带宽最高值。
3.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
通过算式IOPSBottleneck＝Minimum(IOPSNode1，IOPSNode2，...，IOPSNodeN)计算IOPS瓶颈节点；
其中，Bottleneck为瓶颈节点，IOPSBottleneck为IOPS瓶颈节点的性能最高值，IOPSNodei为每个IOPS拓扑节点的IOPS最高值。
4.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点的步骤，包括：
对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点作为IOPS瓶颈节点。
5.根据权利要求4所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，对每个硬盘进行单盘IOPS测试，获得单盘瓶颈节点系统性能最高值的步骤，包括：
通过算式LatencyBottleneck＝Sum(LatencyNode1,LatencyNode2,...,LatencyNodeN)计算系统总延时LatencyBottleneck；其中，LatencyNodei为每个IOPS拓扑节点的延时最高值；
通过算式
Figure FDA0002721963250000021
计算单盘瓶颈节点的性能最高值IOPSBottleneck；其中，Latencydisk为单盘延时，IOPSdisk为单盘IOPS最高值。
6.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值的步骤，包括：
将带宽瓶颈节点与IOPS瓶颈节点中较低的性能最高值作为系统性能最高值。
7.根据权利要求1所述的计算机存储系统性能测试方法，其特征在于，基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果的步骤之后，还包括：
将所述测试结果与实测结果进行对比；
若对比差值超出预设值，则调节拓扑节点的配置参数，并返回计算每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值的步骤。
8.一种计算机存储系统性能测试装置，其特征在于，包括：
拓扑模块，用于根据存储拓扑中各个设备之间的链路划分带宽拓扑节点，根据存储拓扑中的各个设备划分IOPS拓扑节点；
计算模块，用于获取每个带宽拓扑节点的性能最高值和每个IOPS拓扑节点的性能最高值；
测算模块，用于基于各个带宽拓扑节点的性能最高值进行测算获得带宽瓶颈节点，基于各个IOPS拓扑节点的性能最高值进行测算获得IOPS瓶颈节点，将带宽瓶颈节点或IOPS瓶颈节点的性能最高值作为系统性能最高值；
输出模块，用于基于所述系统性能最高值获得测试结果，并输出所述测试结果。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有机器可运行指令，所述计算机可运行指令在被处理器调用和运行时，所述计算机可运行指令促使所述处理器运行所述权利要求1至7任一项所述的方法。
CN202011090549.6A 2020-10-13 2020-10-13 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质 Withdrawn CN112269696A (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011090549.6A CN112269696A (zh) 2020-10-13 2020-10-13 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质
PCT/CN2021/109448 WO2022078009A1 (zh) 2020-10-13 2021-07-30 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202011090549.6A CN112269696A (zh) 2020-10-13 2020-10-13 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112269696A true CN112269696A (zh) 2021-01-26

Family

ID=74338441

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202011090549.6A Withdrawn CN112269696A (zh) 2020-10-13 2020-10-13 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

Country Status (2)

Country Link
CN (1) CN112269696A (zh)
WO (1) WO2022078009A1 (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113568798A (zh) * 2021-09-28 2021-10-29 苏州浪潮智能科技有限公司 服务器故障定位方法、装置、电子设备及存储介质
WO2022078009A1 (zh) * 2020-10-13 2022-04-21 苏州浪潮智能科技有限公司 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9525598B1 (en) * 2014-11-13 2016-12-20 Amazon Technologies, Inc. Network testing device for automated topology validation
CN104363142B (zh) * 2014-11-25 2017-12-26 中国人民解放军国防科学技术大学 一种自动化数据中心网络性能瓶颈分析方法
CN111090551A (zh) * 2019-11-22 2020-05-01 苏州浪潮智能科技有限公司 一种存储服务器性能测试调优方法和装置
CN111209178A (zh) * 2020-01-13 2020-05-29 中信银行股份有限公司 全链路瓶颈测试方法及系统
CN112269696A (zh) * 2020-10-13 2021-01-26 苏州浪潮智能科技有限公司 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022078009A1 (zh) * 2020-10-13 2022-04-21 苏州浪潮智能科技有限公司 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质
CN113568798A (zh) * 2021-09-28 2021-10-29 苏州浪潮智能科技有限公司 服务器故障定位方法、装置、电子设备及存储介质
CN113568798B (zh) * 2021-09-28 2022-01-04 苏州浪潮智能科技有限公司 服务器故障定位方法、装置、电子设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
WO2022078009A1 (zh) 2022-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3306475B1 (en) System and method for predicting disk failure
US7058843B2 (en) Method and apparatus for computer network analysis
CN112269696A (zh) 一种计算机存储系统性能测试装置、方法及其存储介质
CN108075951B (zh) 一种基于玩家分布的服务器压力测试方法和装置
CN111475355B (zh) 高速链路信号完整性评估方法、系统、终端及存储介质
CN115248757A (zh) 一种硬盘健康评估方法和存储设备
CN113961413A (zh) 服务器功耗测试方法及装置
CN113568798B (zh) 服务器故障定位方法、装置、电子设备及存储介质
CN111090551A (zh) 一种存储服务器性能测试调优方法和装置
CN110532187B (zh) 一种hdfs吞吐性能测试方法、系统、终端及存储介质
WO2017172051A1 (en) Method and apparatus to coordinate and authenticate requests for data
CN113688564A (zh) 一种预测ssd硬盘剩余寿命的方法、装置、终端及存储介质
CN115794570A (zh) 压力测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质
CN116682479A (zh) 一种企业级固态硬盘时延指标的测试方法及测试系统
CN111858287A (zh) 代码性能评价方法及装置、电子设备和存储介质
CN109542695A (zh) 确定逻辑存储单元性能的方法和装置
CN117520086B (zh) 一种存储性能监控方法、系统及存储介质
CN114363205B (zh) 高速链路阻抗突变分析方法、系统、终端及存储介质
TW202343245A (zh) 電腦裝置效能測試方法
US20160239363A1 (en) Analysis device and information processing system
CN114039889B (zh) 基于往返时延的时间序列的网络异常检测方法及相关装置
CN113904957B (zh) 采样点测试方法及其系统及主控设备
CN118132357A (zh) 存储系统的测试方法及装置
US20230370322A1 (en) Impact-aware mitigation for computer networks
CN116756018A (zh) 压力测试方法、装置、电子设备及存储介质

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20210126