CN112255643A - ToF传感装置及其距离检测方法 - Google Patents
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Abstract
本申请公开一种TOF传感装置及其距离检测方法,所述TOF传感装置的距离检测方法,包括采用所述散斑光源发射检测光,照射检测视场;传感阵列接收检测视场内的被测物体的反射光,并产生传感信号;根据所述传感信号,获取所述传感阵列内亮斑区域的实际检测值A以及所述亮斑区域外围的暗区域的实际检测值B,所述亮斑区域与所述检测光的光斑对应,包括亮像素单元;所述亮斑区域以外为暗区域,包括暗像素单元;根据所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得修正检测值A';根据所述修正检测值A',获取所述亮斑区域对应的被测位置处的距离信息。
Description
技术领域
本申请涉及传感技术领域,具体涉及一种ToF传感装置及其距离检测方法。
背景技术
飞行时间(ToF,Time of Flight)传感器通过检测发出的调制检测光从发射到接收的时间间隔或往返被测物体一次所产生的相位差来实现对被测物体的距离、三维结构或三维轮廓的测量。ToF传感器可同时获得灰度图像和距离图像,广泛应用在体感控制、行为分析、监控、自动驾驶、人工智能、机器视觉和自动3D建模等诸多领域。
在实际的距离检测过程中,由于被测视场内环境复杂,通常会存在多个反射表面,产生多路径反射以及散射光等非直接反射光,会影响到距离检测的准确性。但是现有的距离检测方法中,无法判断检测结果是否受到了多路径反射光的影响,以及受到影响的程度,因此,无法对检测结果进行修正。
因此,如何提高距离检测的准确性是目前亟待解决的问题。
发明内容
鉴于此,本申请提供一种ToF传感装置及距离检测方法,以提高距离检测的准确性。
本申请提供的一种ToF传感装置的距离检测方法,所述ToF传感装置包括散斑光源以及传感阵列,所述散斑光源用于发射具有多个分散的光斑的检测光,所述传感阵列包括若干阵列分布的像素单元;所述距离检测方法包括:采用所述散斑光源发射检测光,照射检测视场;传感阵列接收检测视场内的被测物体的反射光,并产生传感信号;根据所述传感信号,获取所述传感阵列内亮斑区域的实际检测值A以及所述亮斑区域外围的暗区域的实际检测值B,所述亮斑区域与所述检测光的光斑对应,包括亮像素单元;所述亮斑区域以外为暗区域,包括暗像素单元;根据所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得修正检测值A';根据所述修正检测值A',获取所述亮斑区域对应的被测位置处的距离信息。
可选的,所述亮斑区域包括接收到的直接反射光的强度大于平均反射光强度的亮像素单元,所述暗区域包括位于所述亮斑区域外围的未接收到直接反射光或接收到的直接反射光强度低于平均反射光强度的暗像素单元。
可选的,所述亮像素单元接收到的反射光强度是临近的暗像素单元接收到的反射光强度的3倍以上。
可选的,所述修正检测值A'=A-B。
可选的,根据在无非直接反射光环境下标定的亮斑区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系,以及所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得所述修正检测值A'。
可选的,标定所述亮斑区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系的方法包括:在无非直接反射光环境内的多个测量条件下,获取的亮斑区域的多个无干扰检测值A0和对应的多个暗区域的无干扰检测值B0;通过拟合运算,得到无干扰检测值A0和无干扰检测值B0之间的关系式。
可选的,所述多个测量条件包括:以不同距离照射漫反射平面板。
可选的,所述多个测量条件包括:以不同光强度照射漫反射平面板。
可选的,所述亮斑区域包括一个或多个亮像素单元,所述暗区域包括一个或多个暗像素单元。
可选的,所述实际检测值包括:单个像素单元的检测值、多个像素单元的检测值的算数平均值、多个像素单元的检测值的中位数、多个像素单元的检测值的加权平均值中的至少一种;所述无干扰检测值包括:标定过程中,单个像素单元的检测值、多个像素单元的检测值的算数平均值、多个像素单元的检测值的中位数、多个像素单元的检测值的加权平均值中的至少一种。
可选的,所述检测值为与像素单元接收到的反射光光强相关的检测量。
本发明的技术方案还提供一种ToF传感器,包括:散斑光源,所述散斑光源用于发射能够形成多个分散光斑的检测光;传感阵列,包括若干阵列分布的像素单元,用于接收被测物体的反射光;处理器,连接所述散斑光源及传感阵列,用于控制所述散斑光源发射检测光,以及获取所述传感阵列产生的检测值;存储器,所述存储器内存储有能够被所述处理器运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器运行时能够执行上述任一项所述的距离检测方法。
本发明的ToF传感装置具有散斑光源,相应的直接反射光能够在传感阵列产生亮斑区域和暗区域,由于暗区域无法接收到直接散射光,暗区域的实际检测值部分由非直接散射光造成,根据暗区域的实际检测值对亮斑区域的实际检测值进行修正,可以消除非直接散射值对亮斑区域的实际检测值的影响,从而提高距离检测的准确性。
进一步的,结合亮像素单元对暗像素单元的影响系数γ以及暗区域的实际检测值B,对亮斑区域的实际检测值进行修正,可以进一步提高距离检测的准确性。
进一步的,结合像素单元都在不同光强下的检测值之间的比例系数α、影响系数γ以及暗区域的实际检测值B,对亮斑区域的实际检测值进行修正,可以进一步提高距离检测的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一实施例的ToF传感装置的结构示意图;
图2是本申请一实施例的距离检测方法的流程示意图;
图3是本申请一实施例的亮斑区域的分布示意图;
图4a至图4e是本申请的实施例的用于实际检测值的亮像素单元和暗像素单元的分布示意图;
图5是本申请一实施例的距离检测过程的电荷累积窗口及检测光、反射光的时序示意图;
图6是本申请另一实施例的距离检测过程的电荷累积窗口及检测光、反射光的时序示意图。
具体实施方式
如背景技术中所述,现有技术利用ToF传感装置进行距离检测过程中,收到多路径反射光以及散射光等非直接反射光的影响,导致距离检测的准确性受到影响。
下面结合附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本申请一部分实施例,而非全部实施例。基于本申请中的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下,下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。
请参考图1,为本发明一实施例的ToF传感装置的结构示意图。
所述ToF传感装置包括散斑光源101、具有多个阵列排布的像素单元的传感阵列102、处理器103以及存储器104。
所述散斑光源101用于发射具有多个分散的光斑的检测光。在一些实施例中,所述检测光的分散光斑阵列分布,被测物体对检测光进行反射后的反射光在传感阵列上形成与检测光的光斑对应的阵列排布的光斑分布,使得传感阵列的部分区域接收到直接反射光较强,形成亮斑区域,与检测光的光斑对应;而其他区域的像素单元则未接收到直接反射光,或者接收到直接反射光较弱,即为暗区域。
在一些实施例中,还可以根据接收到的直接反射光的强度进行亮斑区域和暗区域的判断。所述亮斑区域包括接收到的直接反射光的强度大于平均反射光强度的亮像素单元,所述暗区域包括位于所述亮斑区域外围的未接收到直接反射光或接收到的直接反射光强度低于平均反射光强度的暗像素单元。所述平均反射光强度为单位时间内的接收到的反射光的总能量对所有像素单元的平均值,所述反射光包括直接反射光以及多路径反射光、散射光等其他非直接反射光。
在一些实施例中,所述亮像素单元接收到的反射光强度是临近的暗像素单元接收到的反射光强度的3倍以上,使得亮像素单元与暗像素单元接收到的光强度有明显的差异。
所述散斑光源101可以包括阵列分布的若干发出直线光束的点光源、或者将面光源通过光学整形等方式产生分散的光斑。
所述处理器103连接所述散斑光源101以及传感阵列102,用于控制所述散斑光源101发射检测光,以及获取所述传感阵列内的像素单元产生的传感信号,从而获得对应的检测值,所述检测值与像素单元接收的反射光的光强相关。在一些实施例中,所述检测值对应于像素单元在一定时间内产生的感应电荷总量,具体的,可以为电压或电流等模拟或数字形式的电信号。
所述处理器103被配置为控制所述ToF传感装置进行距离检测。
所述存储器104,与所述处理器103连接。所述存储器104内存储有能够被所述处理器103执行的计算机程序,当所述计算机程序被所述处理器103执行时,能够进行距离检测。
以下实施例中,对所述距离检测方法进行具体描述。
请参考图2,为本发明一实施例的距离检测方法的流程示意图。
所述距离检测方法包括如下步骤:
步骤S101:采用所述散斑光源发射检测光,照射检测视场。
所述检测光为经过调制的周期性光波,具体的,可以为具有一定占空比的周期性脉冲光,还可以为正弦波等经过调制的具有一定周期以及相位的检测光。
步骤S102:传感阵列接收检测视场内的被测物体的反射光,并产生传感信号。
当检测光照射检测视场,检测视场内的被测物体对所述检测光产生反射,产生反射光,反射光返回至ToF传感装置,被所述传感阵列102接收。
实际检测过程中,检测光直接到达被测物体表面后被反射,直接被传感阵列接收的反射光为直接反射光,直接反射光的飞行时间对应于被测物体的距离。在一些情况下,部分反射光会经过多次反射之后才会到达传感阵列或者检测光经过多次反射后才会由被测物体反射到达传感阵列,此时的反射光为多路径反射光(MPI)。传感阵列接收到的反射光中,大部分为直接反射光,MPI或其他非直接反射光占少量,但是所述非直接反射光依旧会对距离检测结果造成影响。
同时,反射光在经过镜头进入ToF检测装置照射在传感阵列的过程中,由于镜头的光学结构或其他因素,部分反射光会被散射,变成散射光,照射在非对应位置处的像素单元,对接收到散射光的像素单元的距离检测结果造成影响。
由于散斑光源产生的光斑分布,反射光照射传感阵列,会在传感阵列上产生相应的亮斑区域和暗区域。所述亮斑区域内的像素单元为亮像素单元;所述暗区域内的像素单元为暗像素单元。
在一些实施例中,所述亮斑区域包括接收到的直接反射光的强度大于平均反射光强度的亮像素单元,所述暗区域包括位于所述亮斑区域外围的未接收到直接反射光或接收到的直接反射光强度低于平均反射光强度的暗像素单元。所述平均反射光强度为单位时间内的接收到的反射光的总能量对所有像素单元的平均值,所述反射光包括直接反射光以及多路径反射光、散射光等其他非直接反射光。
在一些实施例中,所述亮像素单元接收到的反射光强度是临近的暗像素单元接收到的反射光强度的3倍以上,使得亮像素单元与暗像素单元接收到的光强度有明显的差异。
请参考图3,为本发明一实施例的亮斑区域的分布示意图。
所述亮斑区域301与检测光产生的光斑分布对应,该实施例中,所述亮斑区域301阵列分布。
所述亮斑区域301可以包括一个或多个亮像素单元,各个亮斑区域301之间为暗区域302。亮斑区域301接收到的光强度远大于暗区域301接收到的光强度。
步骤S103:根据所述传感信号,获取所述传感阵列内亮斑区域的实际检测值A以及所述亮斑区域外围的暗区域的实际检测值B。
反射光到达传感阵列后,主要在亮斑区域内的亮像素单元上产生传感信号。而同时由于散射光及多路径反射光等非直接反射光的光线存在,以及相邻像素单元之间的传感信号的串扰等因素,所述亮斑区域周围的暗区域内的暗像素单元也会产生一定的传感信号。
根据各个像素单元接收到反射光后产生的感应信号,可以获得各个像素单元的检测值。所述检测值与对应像素单元接收到的光强对应。光强越大,产生的感应信号越大,获得的检测值越大。
在一些实施例中,像素单元在接收到反射光后,产生光生电荷,在一定时间内收集光生电荷,将收集到的光生电荷总量转换成对应的电压信号作为检测值。可以通过光生电荷对电容进行充电,以电容两端电压作为检测值。
在距离检测过程中,根据各个像素单元产生的传感信号获得亮斑区域的实际检测值A,以及暗区域的实际检测值B。
请参考图4a,在一个实施例中,所述亮斑区域仅包括1个亮像素单元401,获取该亮像素单元401的检测值作为所述实际检测值A;选择暗区域中,与所述亮像素单元401相邻的任意一个暗像素单元402的检测值,作为实际检测值B。
请参考图4b,在一个实施例中,所述亮斑区域包括1个亮像素单元401,获取所述亮像素单元401的检测值的平均值,作为实际检测值A;选择暗区域中位于亮斑区域周围的4个暗像素单元402的检测值的平均值作为实际检测值B。
请参考图4c,在一个实施例中,选择亮像素单元401周围暗区内的8个暗像素单元402的检测值的平均值或中位数作为实际检测值B。
在一些实施方式中,不同位置处的暗像素单元402受到亮像素单元401的影响不同,例如位于所述亮像素单元401四个顶角位置处的暗像素单元与侧边位置处的暗像素单元的像素中心距离不同,还可以为不同位置处的暗像素单元设置相应的权重,计算多个暗像素单元402的加权平均值作为实际检测值B。
请参考图4d,在一些实施例中,也可以选择若干与亮像素单元401具有一定间隔的暗像素单元402,以获得所述实际检测值B。
在一些实施例中,所述亮斑区域包括多个亮像素单元,可以获取其中若干亮像素单元的检测值的算数平均值、中位数或者加权平均数作为实际检测值A;同样,可以选择暗区域内的单个像素的检测值或者多个像素单元的检测值的算数平均值、中位数或者加权平均值作为实际检测值B。
请参考图4e,该实施例中,所述亮斑区域包括4个亮像素单元401,获取该4个亮像素单元401的检测值的算数平均值、中位数或者加权平均数等作为实际检测值A;选择所述4个亮像素单元401外圈的12个暗像素单元402,获取该12个暗像素单元402的检测值的算数平均值、中位数或者加权平均数等作为实际检测值B。
步骤S104:根据所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得修正检测值A'。
在理想状态下,暗区域在检测过程中,基本不会接收到直接反射光,不会产生感应信号,因此,暗区域内的理论检测值为0。但是,在实际检测过程中,由于存在散射光或多路径反射光等非直接反射光的影响,暗区域内的暗像素单元也会产生传感信号,从而在检测过程中获取实际检测值B≠0。
通常情况下,非直接反射光对传感阵列内临近像素单元的影响程度较为均匀,因此非直接反射光不仅影响到暗区域内的像素单元的检测值,也对临近亮斑区域内的亮像素单元产生同等的影响。
实际检测值A=A'+Δ,B=B'+Δ,Δ为非直接反射光产生的检测值,A’、B’为直接反射光产生的修正检测值。在一个实施例中,由于暗区域不会接收到直接反射光或接收到直接反射光很弱,可以近似为B'≈0,实际检测值B均是由非直接反射光产生,即B=Δ;从而得到修正检测值A'=A-B。
在另一实施例中,可以进一步考虑到相邻像素单元之间由于半导体衬底内信号的传输串扰或其他因素的影响,即便暗区域没有非直接反射光的影响,但是由于亮斑区域内产生的感应信号的串扰等因素,暗区域内的像素单元依旧能够产生感应信号。在无非直接反射光的场景,亮斑区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间存在一定的对应关系。可以在无非直接反射光的场景下,对所述对应关系进行标定。
具体的,所述标定方法包括:在非直接反射光环境下,获取多个测量条件下的亮斑区域的多个无干扰检测值A0和对应的多个暗区域的无干扰检测值B0;通过拟合运算,得到无干扰检测值A0和无干扰检测值B0之间的关系式。
所述多个测量条件可以为不同的检测距离,或者不同的检测光光强。具体包括:以不同距离多次照射漫反射平面板,依次获取亮斑区域的多个无干扰检测值A0和暗区域的多个无干扰检测值B0;或者,以不同光强度照射漫反射平面板,依次获取亮斑区域的多个无干扰检测值A0和暗区域的多个无干扰检测值B0。
在一个实施例中,在获取多个无干扰检测值A0和暗区域的多个无干扰检测值B0之后,以关系式进行拟合运算,获得的亮像素单元对暗像素单元的影响系数γ,从而根据所述实际检测值B和所述影响系数γ,对实际检测值A进行修正,修正检测值
具体修正的公式推导如下:
A=A'+Δ (1)
B=B'+Δ (2)
根据标定的影响系数γ,B'=γA',得到:
B=γA'+Δ (3)
公式(1)-(3)得到:
A-B=(1-γ)A' (4)
从而得到:
采用上述公式(5)对实际检测值A进行修正,可以进一步获得更准确的修正检测值A’。
为了使得标定过程中选择的暗像素单元仅受到最接近的亮斑区域内的亮像素单元的影响,可以选择与亮像素单元最接近的一个或多个暗像素单元以获取所述无干扰检测值B0,以及实际检测值B。进一步的,还可以通过调整散斑光源结构,使得相邻亮斑区域之间的暗区域的宽度在10个像素单元以上,尽量使得毗邻亮斑区域的暗像素单元仅受到该亮斑区域的影响。
在另一实施例中,还可以进一步考虑像素单元接收到的不同光强对非直接散射光的影响。在实际检测过程中,检测值随光强的影响并非线性变化,不同光强下的检测值之间存在比例系数α,无干扰检测值B'=γA',ΔA=α·ΔB。
所述比例系数可以通过标定光强与检测值的关系曲线获得,根据所述标定的关系曲线,以及实际检测过程中的各像素单元接收到的光强,就能够得到所述比例系数α的具体数值。
具体修正的公式推导如下:
A=A'+ΔA; (6)
由B=B'+ΔB,得到:
αB=αB'+αΔB; (7)
公式(6)-(7)且ΔA=α·ΔB得到:
A-αB=A'-αB'; (8)
根据标定的影响系数γ,B'=γA',得到:
A-αB=A'-αγA';
从而得到:
根据公式(9)对实际检测值A进行修正,能够进一步获得更准确的修正值。
步骤S105:根据所述修正检测值A',获取所述亮斑区域对应的被测位置处的距离信息。
请参考图5,在一个实施例中,所述检测光LO为经过调制的宽度为T的脉冲光,通过三个连续的累积窗口G1、G2和G3对像素单元产生的感应电荷进行累积,G1用于累积环境光产生的检测值,获得实际检测值A1和B1;G2和G3,分别用于累积检测光和环境光共同产生的检测值,获得实际检测值A2、B2以及A3、B3。根据上述方法对各个实际检测值A1、A2、A3进行修正,得到修正检测值A1’、A2’、A3’。
该实施例中,所述累积窗口G1、G2和G3窗口持续时间与检测光的脉冲宽度相同,均为T,且检测光的脉冲上升沿与累积窗口G2的开启边沿对齐。
根据上述修正检测值A1’、A2’、A3’,可以得到对应的亮斑区域内相应的像素单元对应的被测位置处的距离:
在其他实施例中,所述累积窗口G1、G2和G3以及检测光LO的时序还可以进行调整,相应的距离信息d的计算也进行相应的调整。
在其他实施例中,所述检测光还可以为经过调制的连续正弦波,接收到的直接反射光也是连续正弦波。
请参考图6,在一个实施例中的距离检测过程的电荷累积窗口及检测光、反射光的时序示意图。
所述反射光周期为T,在一个周期T内,依次对反射光的感应电荷在Δt时间内进行累积,获得实际检测值c(τ0)、c(τ1)、c(τ2)以及c(τ3)。对各个实际检测值进行修正,得到修正检测值c(τ0)'、c(τ1)'、c(τ2)'以及c(τ3)'。
从而得到距离:
无论采用何种距离检测方式,均需要获得实际检测值A,通过上述方法,对实际检测值A进行修正后的到修正检测值A’,能够减小非直接反射光对检测值的影响,提高最终的距离d的准确性。
当所述实际检测值A为亮斑区域内单个亮像素单元的检测值时,根据修正值A’得到的为该像素单元对应的检测距离,当亮斑区域包括多个亮像素单元时,可以分别获得每个亮像素单元对应的检测距离;当所述实际检测值A为亮斑区域内多个像素单元的检测值平均值、中位数或加权平均值时时,根据修正值A’得到的为所述多个亮像素单元对应的检测距离的平均值、中位数或加权平均值。
上述距离检测方法,通过采用散斑光源,利用暗区域内的暗像素单元的实际检测值对亮斑区域内的像素单元的实际检测值进行修正,从而提高距离检测的准确性。
即,以上所述仅为本申请的实施例,并非因此限制本申请的专利范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,例如各实施例之间技术特征的相互结合,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (14)
1.一种TOF传感装置的距离检测方法,其特征在于,所述ToF传感装置包括散斑光源以及传感阵列,所述散斑光源用于发射具有多个分散的光斑的检测光,所述传感阵列包括若干阵列分布的像素单元;所述距离检测方法包括:
采用所述散斑光源发射检测光,照射检测视场;
传感阵列接收检测视场内的被测物体的反射光,并产生传感信号;
根据所述传感信号,获取所述传感阵列内亮斑区域的实际检测值A以及所述亮斑区域外围的暗区域的实际检测值B,所述亮斑区域与所述检测光的光斑对应,包括亮像素单元;所述亮斑区域以外为暗区域,包括暗像素单元;
根据所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得修正检测值A';
根据所述修正检测值A',获取所述亮斑区域对应的被测位置处的距离信息。
2.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述亮斑区域包括接收到的直接反射光的强度大于平均反射光强度的亮像素单元,所述暗区域包括位于所述亮斑区域外围的未接收到直接反射光或接收到的直接反射光强度低于平均反射光强度的暗像素单元。
3.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述亮像素单元接收到的反射光强度是临近的暗像素单元接收到的反射光强度的3倍以上。
4.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述修正检测值A'=A-B。
5.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,根据在无非直接反射光环境下标定的亮斑区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系,以及所述实际检测值B,对所述实际检测值A进行修正,获得所述修正检测值A'。
6.根据权利要求5所述的距离检测方法,其特征在于,标定所述亮斑区域的无干扰检测值和暗斑区域的无干扰检测值之间的关系的方法包括:在无非直接反射光环境内的多个测量条件下,获取的亮斑区域的多个无干扰检测值A0和对应的多个暗区域的无干扰检测值B0;通过拟合运算,得到无干扰检测值A0和无干扰检测值B0之间的关系式。
7.根据权利要求6所述的距离检测方法,其特征在于,所述多个测量条件包括:以不同距离照射漫反射平面板。
8.根据权利要求6所述的距离检测方法,其特征在于,所述多个测量条件包括:以不同光强度照射漫反射平面板。
11.根据权利要求1所述的距离检测方法,其特征在于,所述亮斑区域包括一个或多个亮像素单元,所述暗区域包括一个或多个暗像素单元。
12.根据权利要求11所述的距离检测方法,其特征在于,所述实际检测值包括:单个像素单元的检测值、多个像素单元的检测值的算数平均值、多个像素单元的检测值的中位数、多个像素单元的检测值的加权平均值中的至少一种;所述无干扰检测值包括:标定过程中,单个像素单元的检测值、多个像素单元的检测值的算数平均值、多个像素单元的检测值的中位数、多个像素单元的检测值的加权平均值中的至少一种。
13.根据权利要求12所述的距离检测方法,其特征在于,所述检测值为与像素单元接收到的反射光光强相关的检测量。
14.一种ToF传感装置,其特征在于,包括:
散斑光源,所述散斑光源用于发射具有多个光斑的检测光;
传感阵列,包括若干阵列分布的像素单元,用于接收被测物体的反射光;
处理器,连接所述散斑光源及传感阵列,用于控制所述散斑光源发射检测光,以及获取所述传感阵列产生的检测值;
存储器,所述存储器内存储有能够被所述处理器运行的计算机程序,所述计算机程序被所述处理器运行时能够执行如权利要求1至13中任一项所述的距离检测方法。
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- 2020-11-03 CN CN202011212497.5A patent/CN112255643B/zh active Active
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