CN112231258A - 一种调试接口电路的切换装置、切换方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 8
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004904 shortening Methods 0.000 abstract 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 210000001503 joint Anatomy 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
- G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
- G06F13/40—Bus structure
- G06F13/4004—Coupling between buses
- G06F13/4022—Coupling between buses using switching circuits, e.g. switching matrix, connection or expansion network
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
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- G06F2213/0042—Universal serial bus [USB]
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Abstract
本发明提供一种调试接口电路的切换装置、切换方法，该装置包括主板和调试信号转接板；主板上设置有调试接口、通道选择模拟开关、主板连接器；调试接口与主板上需要切换的调试总线信号连接；调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。这样开发调试人员通过调试信号转接板和通用的USB转接线缆即可实现对产品的软件调试，固件升级，维护等工作，从而提高了产品的开发调试效率，缩短了研发周期。
Description
技术领域
本发明涉及调试接口切换技术领域，具体涉及一种调试接口电路的切换装置、切换方法。
背景技术
与HDD相比，SSD在速度，功耗，容量，噪声，可靠性等性能方面具有较大优势，在现阶段，尽管前者在价格上有一定优势，但是随着大容量FLASH闪存颗粒的出现，SDD价格也会越来越低，使其更广泛应用于服务器、存储设备中。
但是SSD由于受到PCB大小和整体结构尺寸高度的限制，例如15.00mm、7.00mm厚度的2.5寸SSD，SSD主控的一些调试接口不能对外放置，现有厂家的调试接口都是在PCB板内放置，当软硬件开发人员在调试和维护该SSD产品时，需要拆开SSD外壳，不仅给开发调试带来了一定麻烦，且费时费力。同时拆SSD外壳，由于SSD主控/DRAM/NAND芯片与外壳的导热凝胶间隙增大，可能会引起散热问题；秋冬季节空气干燥，拆盘，静电也容易造成SSD单板的器件损坏。
发明内容
针对现有厂家产品的调试接口都是在PCB板内放置，当软硬件开发人员在调试和维护该产品时，需要拆开外壳，不仅给开发调试带来了一定麻烦，且费时费力的问题，本发明提供一种调试接口电路的切换装置、切换方法。
本发明的技术方案是：
一方面，本发明技术方案提供一种调试接口电路的切换装置，包括主板和调试信号转接板；
主板上设置有调试接口、通道选择模拟开关、主板连接器；调试接口与主板上需要切换的调试总线信号连接；
调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；
通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。
优选地，通道控制模块包括电源、第一电阻、第二电阻和开关；
电源通过串联连接的第一电阻、开关和第二电阻接地；
开关和第二电阻的连接点连接到转接板连接器。通过开关的开闭进行通到控制模块高低电平的选择，进而实现通道的切换。
优选地，主板连接器和转接板连接器均为USB连接器；
主板连接器和转接板连接器通过USB线缆连接，实现主板和调试信号转接板的地线共平面。
优选地，通道选择模拟开关为2选1模拟开关；
2选1模拟开关的输出通道一路连接到主板上的USB连接器的D+端；2选1模拟开关的输出通道的另一路连接到主板上的USB连接器的D-端；
2选1模拟开关的选择位连接到主板上的USB连接器的VBUS端；
主板上的USB连接器的VBUS端与调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端对应连接；主板上的USB连接器的D+端与调试信号转接板上的USB连接器的D+端对应连接；主板上的USB连接器的D-端与调试信号转接板上的USB连接器的D-端对应连接；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端与通道控制模块连接，用于控制2选1模拟开关的通道选择。
优选地，当主板上的调试接口数量为1个时，主板上的调试接口的电路与2选1模拟开关的任意一路通道连接；
当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，主板上的第一调试接口连接2选1模拟开关的第一通道，第二调试接口连接2选1模拟开关的第二通道，相应的，第一调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第一调试接口，第二调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第二调试接口。
优选地，2选1模拟开关为使用逻辑门电路设计的模拟开关电路，其中模拟开关电路包括：
第一与门、第二与门、第三与门、第四与门、第一或门和第二或门，当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，第一调试接口的第一信号与第一与门的第一输入端连接，第一调试接口的第二信号与第三与门的第一输入端连接；2选1模拟开关的选择位控制信号通过非门分别与第一与门的第二输入端和第三与门的第二输入端连接；
2选1模拟开关的选择位控制信号分别与第二与门的第一输入端和第四与门的第一输入端连接；
第二调试接口的第一信号与第二与门的第二输入端连接，第二调试接口的第二信号与第四与门的第二输入端连接；
第一与门的输出端连接到第一或门的第一输入端，第二与门的输出端连接到第一或门的第二输入端；第三与门的输出端连接到第二或门的第一输入端，第四与门的输出端连接到第二或门的第二输入端，第一或门的输出端和第二或门的输出端为2选1模拟开关的输出的公共信号端。
优选地，主板上的USB连接器的地线与主板的地线共平面。
优选地，通道选择模拟开关选择型号为TMUX154E，具有关断保护和ESD保护功能的低电容双通道2:1开关。
另一方面，本发明技术方案还提供一种调试接口电路的切换方法，应用于调试接口电路的切换装置；该装置包括通道选择模拟开关、主板连接器和调试信号转接板；通道选择模拟开关、主板连接器设置在调试接口所在的主板上；调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。该方法包括如下步骤：
获取通道控制模块输出电平的状态；
根据通道控制模块输出电平的状态进行判断；
若通道控制模块输出低电平信号时，调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为低电平；
调试信号转接板上的转接板连接器的低电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第一通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口；
若通道控制模块输出高电平信号时，调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为高电平；
调试信号转接板上的转接板连接器的高电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于高电平，切换选择通道选择模拟开关的第二通道；
主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第二通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口。
优选地，该装置的通道控制模块包括电源、第一电阻、第二电阻和开关；电源通过串联连接的第一电阻、开关和第二电阻接地；开关和第二电阻的连接点连接到转接板连接器时，该方法包括如下步骤：
获取通道控制模块的开关的状态；
根据获取的通道控制模块的开关的状态进行判断；
若开关为断开状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端默认处于低电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的低电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
主板上的第一调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第一调试接口；
若开关闭合状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端连接到高电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的高电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于高电平，选择通道选择模拟开关的第二通道；
主板上的第二调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第二调试接口。
从以上技术方案可以看出，本发明具有以下优点：本专利既利用了USB接口通用型强，占用电路板空间尺寸小的特性，又利用了USB转接线缆信号传输屏蔽性能好、传输电流通流性好的优点。通过在主板上增加模拟开关和USB接口，合理分配调试接口在USB接口的信号定义，在外置调试转接板的作用下，根据调试接口的需要，通过设置切换调试信号，达到开发和调试的目的，这样开发调试人员通过调试信号转接板和通用的USB转接线缆即可实现对产品的软件调试，固件升级，维护等工作，从而提高了产品的开发调试效率，缩短了研发周期，此外借助于标准的USB线缆延长线，无需定制，节约开模和定制成本。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著地进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明一个实施例的装置的示意性连接框图。
图2是本发明一个实施例的装置的结构示意性连接图。
图3是本发明一个实施例的方法的示意性流程图。
图4是本发明一个实施例的使用逻辑门电路设计的2选1模拟开关的模拟开关电路。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。下面对本发明中出现的关键术语进行解释。
SSD(Solid State Disk，固态硬盘)、HDD(Hard Disk Drive，机械硬盘)、USB(Universal Serial Bus，通用串行总线)、PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)、DRAM(Dynamic Random Access Memory，动态随机存储器)、FLASH(Flash EEPROM Memory，闪存存储器芯片，NAND Flash是Flash的一种)、UART(Universal Asynchronous ReceiverTransmitter，通用异步收发传输器)、MCU(Microcontroller Unit，微控制器单元)、JTAG(Joint Test Action Group，联合测试工作组)、SMBus(System Management Bus，系统管理总线)、RJ45(Registered Jack 45，网口)。
如图1、2所示，本发明技术方案提供一种调试接口电路的切换装置，该装置包括主板和调试信号转接板；
主板上设置有调试接口、通道选择模拟开关、主板连接器；调试接口与主板上需要切换的调试总线信号连接；
调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；
通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。
在有些实施例中，通道控制模块包括电源VCC、第一电阻R1、第二电阻R2和开关SW；
电源VCC通过串联连接的第一电阻R1、开关SW和第二电阻R2接地；
开关SW和第二电阻R2的连接点连接到转接板连接器。通过开关SW的开闭进行通到控制模块高低电平的选择，进而实现通道的切换。
在有些实施例中，通道控制模块可以包括单片机。通过单片机输出高电平或低电平进行通道选择模拟开关通道的选择。
在有些实施例中，主板连接器和转接板连接器均为USB连接器；
主板连接器和转接板连接器通过USB线缆连接，实现主板和调试信号转接板的地线共平面。
在有些实施例中，通道选择模拟开关为2选1模拟开关；
2选1模拟开关的输出通道一路连接到主板上的USB连接器的D+端；2选1模拟开关的输出通道的另一路连接到主板上的USB连接器的D-端；
2选1模拟开关的选择位连接到主板上的USB连接器的VBUS端；
主板上的USB连接器的VBUS端与调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端对应连接；主板上的USB连接器的D+端与调试信号转接板上的USB连接器的D+端对应连接；主板上的USB连接器的D-端与调试信号转接板上的USB连接器的D-端对应连接；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端与通道控制模块连接，用于控制2选1模拟开关的通道选择。
在有些实施例中，当主板上的调试接口数量为1个时，主板上的调试接口的电路与2选1模拟开关的任意一路通道连接；
当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，主板上的第一调试接口连接2选1模拟开关的第一通道，第二调试接口连接2选1模拟开关的第二通道，相应的，第一调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第一调试接口，第二调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第二调试接口。
如图4所示，在有些实施例中，2选1模拟开关为使用逻辑门电路设计的模拟开关电路，其中模拟开关电路包括：
第一与门U1、第二与门U2、第三与门U3、第四与门U4、第一或门U5和第二或门I6，当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，第一调试接口的第一信号UART_TX与第一与门U1的第一输入端连接，第一调试接口的第二信号UART_RX与第三与门U3的第一输入端连接；2选1模拟开关的选择位控制信号SEL通过非门U7分别与第一与门U1的第二输入端和第三与门U3的第二输入端连接；
2选1模拟开关的选择位控制信号SEL分别与第二与门U2的第一输入端和第四与门U4的第一输入端连接；
第二调试接口的第一信号SMBUS_DATA与第二与门U2的第二输入端连接，第二调试接口的第二信号SMBUS_CLK与第四与门U4的第二输入端连接；
第一与门U1的输出端连接到第一或门U5的第一输入端，第二与门U2的输出端连接到第一或门U5的第二输入端；第三与门U3的输出端连接到第二或门U6的第一输入端，第四与门U4的输出端连接到第二或门U6的第二输入端，第一或门U5的输出端和第二或门U6的输出端为2选1模拟开关的输出的公共信号端A/B。
在有些实施例中，主板上的USB连接器的地线与主板的地线共平面。
在有些实施例中，通道选择模拟开关选择型号为TMUX154E，具有关断保护和ESD保护功能的低电容双通道2:1开关。
具体的，对SSD主板的调试信号分配、USB接口的信号定义、SSD调试接口电路的切换装置如图2所示。(1)、根据SSD产品控制器和软件的需求情况，扩展什么类型的调试接口信号。例如，扩展主控制器SSD NAND的SMBUS接口和UART接口，也就是，第一调试接口为UART接口，第二调试接口为SMBUS接口，转换后的第一调试接口为UART接口，转换后的第二调试接口为SMBUS接口；SMBUS接口是为了导出内部寄存器的参数信号，UART接口是为了观测主控制器的实时运行状态，观测各个核的打印信息。主板上的USB连接器为USB2.0接口，(2)、在SSD主板上，根据上述调试接口需求，选择合适的电子模拟开关。例如：TI厂家的TMUX154E，具有关断保护和ESD保护功能的低电容双通道2:1开关。(3)、在SSD主板上，根据信号切换需求，将主控制器的两路信号总线(UART/SMBUS)分别连接到通道选择模拟开关的第一通道(A0/B0)和第二通道(A1/B1)，通道选择模拟开关输出的公共信号端A/B分别连接到USB2.0接口的D+/D-端，模拟开关通道选择位SEL连接到USB2.0接口的VBUS端，此外，USB2.0接口的GND与SSD主板的GND共平面，通过USB2.0转接线缆连接到调试信号转接板上，实现SSD主板和调试信号转接板的共地平面。(4)、在调试信号转接板上，由于不受空间尺寸的限制，转接板USB连接器使用标准USB2.0 type A连接器对接SSD主板端的USB2.0接口的信号，标准USB2.0 type A连接器的D+/D-端连接到UART/SMBUS接口(可以使用4pin-2.54mm-单排黑色连接器来实现)，标准USB2.0 type A连接器的GND连接到地平面，标准USB2.0 type A连接器的VBUS端连接到通道控制模块。通道控制模块的开关选择常开开关，开关SW不动时为断开状态，VBUS端默认处于低电平，通过USB2.0转接线缆连接到SSD主板侧USB2.0接口的VBUS端，此时通道选择模拟开关选择位SEL应该处于低电平，默认选择第一通道，主控的UART信号经过通道选择模拟开关和线缆到达调试信号转接板的UART接口；反之，开关动作闭合时，调试信号转接板和SSD主板侧的VBUS端连接到高电平，此时通道选择模拟开关选择第二通道，主控的SMBUS信号经过通道选择模拟开关和线缆到达调试信号转接板的SBUS接口。(5)、根据上述引脚定义情况完成SSD主板和调试信号转接板的硬件设计，当用户在对SSD主板调试或者升级维护时，通过线缆延长线分别连接SSD主板和调试信号转接板；然后，根据上述功能和实际的端口调试切换描述，用户可以在需要使用那些调试接口时切换对应的UART/SMBUS端口，将打印的主控监控信号和需要导出的寄存器信息显示在PC端，实现SSD主板数据打印信息的查看和，测试维护，问题定位等工作。
此外考虑到不同的SSD主控器对外的调试接口类型不同，如主控的JATG接口，SSD带外管理单元MCU的烧写接口等不同类型进行扩展，可以选择不同位宽的通道选择模拟开关，如4位2选1模拟开关；8位2选1模拟开关。然后选择不同位宽所对应的高密连接器和转换线缆，例如USB3.1 type C连接器具有24pin引脚定义；标准的USB3.1 type C线缆延长线可以传输更多的信号。
如图3所示，本发明技术方案还提供一种调试接口电路的切换方法，应用于调试接口电路的切换装置；该装置包括通道选择模拟开关、主板连接器和调试信号转接板；通道选择模拟开关、主板连接器设置在调试接口所在的主板上；调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。该方法包括如下步骤：
S1：获取通道控制模块输出电平的状态；
S2：判断通道控制模块是否输出低电平，若是，执行步骤S3，若否，执行步骤S6；
S3：调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为低电平；
S4：调试信号转接板上的转接板连接器的低电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
S5：主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第一通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口；
S6：通道控制模块输出高电平信号，调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为高电平；
S7：调试信号转接板上的转接板连接器的高电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于高电平，切换选择通道选择模拟开关的第二通道；
S8：主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第二通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口。
在有些实施例中，该装置的通道控制模块包括电源、第一电阻、第二电阻和开关；电源通过串联连接的第一电阻、开关和第二电阻接地；开关和第二电阻的连接点连接到转接板连接器时，该方法包括如下步骤：
获取通道控制模块的开关的状态；
根据获取的通道控制模块的开关的状态进行判断；
若开关为断开状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端默认处于低电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的低电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
主板上的第一调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第一调试接口；
若开关闭合状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端连接到高电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的高电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于高电平，选择通道选择模拟开关的第二通道；
主板上的第二调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第二调试接口。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种调试接口电路的切换装置，其特征在于，包括主板和调试信号转接板；
主板上设置有调试接口、通道选择模拟开关、主板连接器；调试接口与主板上需要切换的调试总线信号连接；
调试信号转接板上设置有转接板连接器、转接后的调试接口和通道控制模块；
通道选择模拟开关一端与调试接口，另一端与主板连接器连接；主板连接器通过转接板连接器与转接后的调试接口连接，通道控制模块与转接板连接器连接，用于控制通道选择模拟开关的通道选择，实现调试接口的选择。
2.根据权利要求1所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，通道控制模块包括电源、第一电阻、第二电阻和开关；
电源通过串联连接的第一电阻、开关和第二电阻接地；
开关和第二电阻的连接点连接到转接板连接器。
3.根据权利要求2所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，主板连接器和转接板连接器均为USB连接器；
主板连接器和转接板连接器通过USB线缆连接，实现主板和调试信号转接板的地线共平面。
4.根据权利要求3所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，通道选择模拟开关为2选1模拟开关；
2选1模拟开关的输出通道一路连接到主板上的USB连接器的D+端；2选1模拟开关的输出通道的另一路连接到主板上的USB连接器的D-端；
2选1模拟开关的选择位连接到主板上的USB连接器的VBUS端；
主板上的USB连接器的VBUS端与调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端对应连接；主板上的USB连接器的D+端与调试信号转接板上的USB连接器的D+端对应连接；主板上的USB连接器的D-端与调试信号转接板上的USB连接器的D-端对应连接；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端与通道控制模块连接，用于控制2选1模拟开关的通道选择。
5.根据权利要求4所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，当主板上的调试接口数量为1个时，主板上的调试接口的电路与2选1模拟开关的任意一路通道连接；
当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，主板上的第一调试接口连接2选1模拟开关的第一通道，第二调试接口连接2选1模拟开关的第二通道，相应的，第一调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第一调试接口，第二调试接口对应调试信号转接板上的转接后的第二调试接口。
6.根据权利要求4所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，2选1模拟开关为使用逻辑门电路设计的模拟开关电路，其中模拟开关电路包括：
第一与门、第二与门、第三与门、第四与门、第一或门和第二或门，当主板上的调试接口包括第一调试接口和第二调试接口时，第一调试接口的第一信号与第一与门的第一输入端连接，第一调试接口的第二信号与第三与门的第一输入端连接；2选1模拟开关的选择位控制信号通过非门分别与第一与门的第二输入端和第三与门的第二输入端连接；
2选1模拟开关的选择位控制信号分别与第二与门的第一输入端和第四与门的第一输入端连接；
第二调试接口的第一信号与第二与门的第二输入端连接，第二调试接口的第二信号与第四与门的第二输入端连接；
第一与门的输出端连接到第一或门的第一输入端，第二与门的输出端连接到第一或门的第二输入端；第三与门的输出端连接到第二或门的第一输入端，第四与门的输出端连接到第二或门的第二输入端，第一或门的输出端和第二或门的输出端为2选1模拟开关的输出的公共信号端。
7.根据权利要求4所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，主板上的USB连接器的地线与主板的地线共平面。
8.根据权利要求4所述的调试接口电路的切换装置，其特征在于，通道选择模拟开关选择型号为TMUX154E，具有关断保护和ESD保护功能的低电容双通道2:1开关。
9.一种调试接口电路的切换方法，其特征在于，应用于权利要求1所述的调试接口电路的切换装置；该方法包括如下步骤：
获取通道控制模块输出电平的状态；
根据通道控制模块输出电平的状态进行判断；
若通道控制模块输出低电平信号时，调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为低电平；
调试信号转接板上的转接板连接器的低电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第一通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口；
若通道控制模块输出高电平信号时，调试信号转接板上的转接板连接器上的控制信号端为高电平；
调试信号转接板上的转接板连接器的高电平信号连接到主板连接器信号控制端，使通道选择模拟开关的选择位处于高电平，切换选择通道选择模拟开关的第二通道；
主板上的调试接口的信号经过选择通道选择模拟开关的第二通道到达调试信号转接板上对应的转接后的调试接口。
10.根据权利要求9所述的调试接口电路的切换方法，其特征在于，应用于权利要求6所述的调试接口电路的切换装置；其中，该装置的通道控制模块包括电源、第一电阻、第二电阻和开关；电源通过串联连接的第一电阻、开关和第二电阻接地；开关和第二电阻的连接点连接到转接板连接器；该方法包括如下步骤：
获取通道控制模块的开关的状态；
根据获取的通道控制模块的开关的状态进行判断；
若开关为断开状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端默认处于低电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的低电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于低电平，默认选择通道选择模拟开关的第一通道；
主板上的第一调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第一调试接口；
若开关闭合状态时，调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端连接到高电平；
调试信号转接板上的USB连接器的VBUS端的高电平信号通过USB连接线缆连接到主板的USB连接器的VBUS端，通道选择模拟开关选择位处于高电平，选择通道选择模拟开关的第二通道；
主板上的第二调试接口信号经过选择通道选择模拟开关和USB连接线缆到达调试信号转接板的转接口的第二调试接口。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010990059.5A CN112231258A (zh) | 2020-09-18 | 2020-09-18 | 一种调试接口电路的切换装置、切换方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202010990059.5A CN112231258A (zh) | 2020-09-18 | 2020-09-18 | 一种调试接口电路的切换装置、切换方法 |
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| Publication Number | Publication Date |
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| CN (1) | CN112231258A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114927114A (zh) * | 2022-06-29 | 2022-08-19 | 高创(苏州)电子有限公司 | 显示装置输入电路、显示装置及其控制方法 |
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2020
- 2020-09-18 CN CN202010990059.5A patent/CN112231258A/zh not_active Withdrawn
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| CN114927114A (zh) * | 2022-06-29 | 2022-08-19 | 高创(苏州)电子有限公司 | 显示装置输入电路、显示装置及其控制方法 |
| CN114927114B (zh) * | 2022-06-29 | 2024-04-09 | 高创(苏州)电子有限公司 | 显示装置输入电路、显示装置及其控制方法 |
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