CN112230691A - 一种环境试验测试系统 - Google Patents

一种环境试验测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN112230691A
CN112230691A CN202010858654.3A CN202010858654A CN112230691A CN 112230691 A CN112230691 A CN 112230691A CN 202010858654 A CN202010858654 A CN 202010858654A CN 112230691 A CN112230691 A CN 112230691A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
control module
module
environmental
temperature
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202010858654.3A
Other languages
English (en)
Inventor
江红
郑朝晖
倪卫华
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Giga Force Electronics Co ltd
Original Assignee
Giga Force Electronics Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Giga Force Electronics Co ltd filed Critical Giga Force Electronics Co ltd
Priority to CN202010858654.3A priority Critical patent/CN112230691A/zh
Publication of CN112230691A publication Critical patent/CN112230691A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05D—SYSTEMS FOR CONTROLLING OR REGULATING NON-ELECTRIC VARIABLES
    • G05D23/00—Control of temperature
    • G05D23/19—Control of temperature characterised by the use of electric means
    • G05D23/20—Control of temperature characterised by the use of electric means with sensing elements having variation of electric or magnetic properties with change of temperature

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)

Abstract

本技术方案公开了一种环境试验测试系统，包括环境试验箱、第一控制模块、第二控制模块、测试模块和温度调节模块。通过本技术方案将产生测试信号的控制模块放在环境试验箱内，同时采用独立温控的方式，能够提高控制模块的可靠性，简化了系统设计，具有广泛的适用性和可推广性。

Description

一种环境试验测试系统
技术领域
本发明涉及老化测试技术领域，尤其涉及一种环境试验测试系统。
背景技术、
当前，多数老化设备采用的均是由环境试验箱外的控制计算机和驱动板提供测试信号，老化板放在环境试验箱内的传统设计，而由于老化试验需要的信号众多，为了同时连接几块老化板，接口往往需要设置得极为复杂；进一步的，当待测芯片数量较多，测试信号也较多时，需要的测试接口体积大，需要从环境试验箱的箱体穿过，此时箱体如何开槽、保温，都是需要精心设计的；而箱体开槽区域大，能量耗散多，为了在保障环境试验箱内外的信号连接的同时减少箱体内外的热量交换，箱体的结构往往还需要复杂的设计。
此外，对于将测试信号生成装置内置于环境试验箱内的设计尝试，由于老化温度往往高于控制模块的正常工作温度，进而导致控制模块失效的概率大大提升。因此亟需新提出一种环境试验测试系统来解决上述技术问题。
发明内容
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种环境试验测试系统，具体技术方案如下所示：
一种环境试验测试系统，包括：
环境试验箱，用于提供一试验测试环境；
第一控制模块，设置于环境试验箱的外部，用于根据接收到的外部测试指令生成相应的测试指令；
第二控制模块，设置于环境试验箱的内部并连接第一控制模块，用于根据测试指令，生成至少一测试信号，测试信号中包括温度控制参数；
测试模块，设置于环境试验箱的内部并连接第二控制模块，包括至少一待测试芯片，用于根据测试信号对待测试芯片进行测试，每个待测试芯片对应一测试信号；
测试模块还用于返回一测试结果；
温度调节模块，设置于环境试验箱的内部并连接第二控制模块，根据温度控制参数进行温度控制。
优选的，该种环境试验测试系统，其中环境试验箱提供一恒温试验测试环境。
优选的，该种环境试验测试系统，其中第二控制模块和测试模块集成设置于一设置于环境试验箱的内部的老化板上。
优选的，该种环境试验测试系统，其中第二控制模块还用于接收测试结果，并将测试结果返回至第一控制模块。
优选的，该种环境试验测试系统，其中测试模块还连接第一控制模块；
测试模块将测试结果直接返回第一控制模块。
优选的，该种环境试验测试系统，其中第一控制模块包括一存储子单元，用于存储测试结果。
优选的，该种环境试验测试系统，其中温度调节模块为半导体制冷器。
本技术方案具有如下优点或有益效果：
通过本技术方案将产生测试信号的控制模块放在环境试验箱内，同时采用独立温控的方式，能够提高控制模块的可靠性，简化了系统设计，具有广泛的适用性和可推广性
附图说明
图1为本发明一种环境试验测试系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种环境试验测试系统，具体技术方案如下所示：
一种环境试验测试系统，如图1所示，包括：
环境试验箱1，用于提供一试验测试环境；
第一控制模块2，设置于环境试验箱的外部，用于根据接收到的外部测试指令生成相应的测试指令；
第二控制模块3，设置于环境试验箱1的内部并连接第一控制模块2，用于根据测试指令，生成至少一测试信号，测试信号中包括温度控制参数；
测试模块4，设置于环境试验箱1的内部并连接第二控制模块3，包括至少一待测试芯片，用于根据测试信号对待测试芯片进行测试，每个待测试芯片对应一测试信号；
测试模块4还用于返回一测试结果；
温度调节模块5，设置于环境试验箱1的内部并连接第二控制模块3，根据温度控制参数进行温度控制。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中环境试验箱1提供一恒温试验测试环境。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中第二控制模块3和测试模块4集成设置于一设置于环境试验箱1的内部的老化板上。
在本发明的一较佳实施例中，将第二控制模块3放在老化板上，使得第二控制模块3与测试模块4间实现最短的距离连接，能够有效减少接插件的个数，利于改善信号质量，特别适用于生成高频测试信号，可以省去寻找耐高温的高频电缆的麻烦。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中第二控制模块3还用于接收测试结果，并将测试结果返回至第一控制模块2。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中测试模块4还连接第一控制模块2；
测试模块4将测试结果直接返回第一控制模块2。
在本发明的另一较佳实施例中，为了实现测试结果的有效备份，测试模块4通过连接方式能够将测试结果直接返回第一控制模块2，对于部分较为关键的测试信号而言可不经由第二控制模块3直接返回，提升了系统整体的可靠性。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中第一控制模块2包括一存储子单元，用于存储测试结果。
作为优选的实施方式，该种环境试验测试系统，其中温度调节模块5为半导体制冷器。
在本发明的另一较佳实施例中，采用半导体制冷器作为温度调节模块：在高温试验的时候，使用制冷功能，降低核心测试控制模块的温度；在进行低温试验时，使用加热功能，升高核心测试控制模块的温度，能够有效实现温控作用。
现提供一具体实施例对本技术方案进行进一步阐释和说明：
在本发明的具体实施例中，将控制组成部分划分为第一控制模块2和第二控制模块3两个部分，其中第一控制模块2用于接收来自用户的检测需求，并根据检测需求生成相应的电控端测试指令，此处测试指令不包含具体的设置参数而仅涵盖测试任务控制的设置性指令，因而对于环境试验箱1与外部的接口设置要求得到了极大的降低和简化；同时，由于仅涵盖设置性指令，在设置工作完成后，具体测试信号由第二控制模块3开始自主生成，不需要第一控制模块2继续进行在线控制。
于上述具体实施例中，为了提高设置于环境试验箱1中的第二控制模块3的可靠性，为其配备了温度调节模块5，用于改善第二控制模块3的工作条件，确保第二控制模块3在试验所需的工作时间内稳定、可靠的工作。在本具体实施例中，可以设定老化温度为150摄氏度，此时能够通过温度调节模块5将第二控制模块3降温到80摄氏度的正常工作温度中，大幅降低第二控制模块3作为核心控制组件的失效概率。
于上述较佳实施例中，考虑到实际应用效果和应用成本，温度调节模块5在设计中仅需要改善第二控制模块3的工作温度、达到提高可靠性的目的即可，不需要精确的温度控制，能够进一步简化系统的整体设计。
综上所述，通过本技术方案将产生测试信号的控制模块放在环境试验箱内，同时采用独立温控的方式，能够提高控制模块的可靠性，简化了系统设计，具有广泛的适用性和可推广性。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。

Claims (7)

1.一种环境试验测试系统，其特征在于，所述环境试验测试系统包括：
环境试验箱，用于提供一试验测试环境；
第一控制模块，设置于所述环境试验箱的外部，用于根据接收到的外部测试指令生成相应的测试指令；
第二控制模块，设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第一控制模块，用于根据所述测试指令，生成至少一测试信号，所述测试信号中包括温度控制参数；
测试模块，设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第二控制模块，包括至少一待测试芯片，用于根据所述测试信号对所述待测试芯片进行测试，每个所述待测试芯片对应一所述测试信号；
所述测试模块还用于返回一测试结果；
温度调节模块，设置于所述环境试验箱的内部并连接所述第二控制模块，根据所述温度控制参数进行温度控制。
2.如权利要求1所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述环境试验箱提供一恒温试验测试环境。
3.如权利要求1所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述第二控制模块和测试模块集成设置于一设置于所述环境试验箱的内部的老化板上。
4.如权利要求1所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述第二控制模块还用于接收所述测试结果，并将所述测试结果返回至所述第一控制模块。
5.如权利要求1所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述测试模块还连接所述第一控制模块；
所述测试模块将所述测试结果直接返回所述第一控制模块。
6.如权利要求4或5所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述第一控制模块包括一存储子单元，用于存储所述测试结果。
7.如权利要求1所述的环境试验测试系统，其特征在于，所述温度调节模块为半导体制冷器。
CN202010858654.3A 2020-08-24 2020-08-24 一种环境试验测试系统 Pending CN112230691A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010858654.3A CN112230691A (zh) 2020-08-24 2020-08-24 一种环境试验测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010858654.3A CN112230691A (zh) 2020-08-24 2020-08-24 一种环境试验测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN112230691A true CN112230691A (zh) 2021-01-15

Family

ID=74116563

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010858654.3A Pending CN112230691A (zh) 2020-08-24 2020-08-24 一种环境试验测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112230691A (zh)

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102360047A (zh) * 2011-08-31 2012-02-22 深圳市江波龙电子有限公司 一种高温老化测试仪及其恒温控制方法
CN202217020U (zh) * 2011-08-31 2012-05-09 深圳市江波龙电子有限公司 一种高温老化测试仪
CN102486535A (zh) * 2010-12-05 2012-06-06 西安博昱新能源有限公司 一种led路灯低温环境实验装置
CN102539310A (zh) * 2011-12-15 2012-07-04 广东工业大学 光伏电缆耐候性试验方法
CN104833388A (zh) * 2015-05-12 2015-08-12 百度在线网络技术（北京）有限公司 空气净化设备的测试系统及测试方法
CN105181563A (zh) * 2015-07-28 2015-12-23 航天材料及工艺研究所 环保型油雾环境试验箱
CN105974230A (zh) * 2016-05-10 2016-09-28 倍科质量技术服务（东莞）有限公司 基于半导体制冷装置的lm-80老化测试系统及控制方法
CN206410981U (zh) * 2016-12-28 2017-08-15 四川京炜交通工程技术有限公司 一种紫外线老化试验箱
CN207439882U (zh) * 2017-09-28 2018-06-01 韩华新能源（启东）有限公司 一种带有沙尘系统的紫外老化试验箱
CN108519548A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 杭州可靠性仪器厂 集成电路老化试验装置
CN209182450U (zh) * 2018-10-26 2019-07-30 龙芯中科技术有限公司 一种老化测试板

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102486535A (zh) * 2010-12-05 2012-06-06 西安博昱新能源有限公司 一种led路灯低温环境实验装置
CN102360047A (zh) * 2011-08-31 2012-02-22 深圳市江波龙电子有限公司 一种高温老化测试仪及其恒温控制方法
CN202217020U (zh) * 2011-08-31 2012-05-09 深圳市江波龙电子有限公司 一种高温老化测试仪
CN102539310A (zh) * 2011-12-15 2012-07-04 广东工业大学 光伏电缆耐候性试验方法
CN104833388A (zh) * 2015-05-12 2015-08-12 百度在线网络技术（北京）有限公司 空气净化设备的测试系统及测试方法
CN105181563A (zh) * 2015-07-28 2015-12-23 航天材料及工艺研究所 环保型油雾环境试验箱
CN105974230A (zh) * 2016-05-10 2016-09-28 倍科质量技术服务（东莞）有限公司 基于半导体制冷装置的lm-80老化测试系统及控制方法
CN206410981U (zh) * 2016-12-28 2017-08-15 四川京炜交通工程技术有限公司 一种紫外线老化试验箱
CN207439882U (zh) * 2017-09-28 2018-06-01 韩华新能源（启东）有限公司 一种带有沙尘系统的紫外老化试验箱
CN108519548A (zh) * 2018-03-21 2018-09-11 杭州可靠性仪器厂 集成电路老化试验装置
CN209182450U (zh) * 2018-10-26 2019-07-30 龙芯中科技术有限公司 一种老化测试板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN110716126A (zh) 芯片老化测试系统、方法及装置
US20210249852A1 (en) Energy storage system protection system
CN110907726B (zh) 车用控制器热测试系统及方法
CA3164095C (en) Rapid frequency searching method and apparatus for data processing device, and data processing device
US7539912B2 (en) Method and apparatus for testing a fully buffered memory module
EP4191905A1 (en) Test method and device
US7777513B2 (en) Power supply voltage detection circuit and semiconductor integrated circuit device
CN112230691A (zh) 一种环境试验测试系统
CN105721568A (zh) 一种远程调试系统、方法及装置
CN100372237C (zh) 用于消除移动终端中的噪声的方法
US8103927B2 (en) Field mounting-type test apparatus and method for testing memory component or module in actual PC environment
US6263386B1 (en) Computer system having condition sensing for indicating whether a processor has been installed
CN216215888U (zh) 一种数字电桥测试端的保护电路及保护系统
US20050017749A1 (en) Electronic devices mounted on electronic equipment board test system and test method
US11862266B2 (en) Chip detection method and chip detection apparatus
US11231454B2 (en) Apparatus for testing integrated circuit devices and method thereof
US11150308B2 (en) Battery management device, method and chip
CN105651808B (zh) 一种降低发热电子器件表面过热度的实验系统和实施方法
CN105163480A (zh) 电路板和智能终端
CN112710872A (zh) 用于芯片测试装置的装载器及芯片测试装置
CN116580752B (zh) 测试用温箱及其测试方法
US20220310186A1 (en) Chip detection method and device
CN113868038B (zh) 信号测试方法、装置、计算机设备和存储介质
CN111312328B (zh) 嵌入式闪存的测试方法、测试设备和嵌入式闪存芯片
US20240250519A1 (en) Fire Prevention Apparatus and Operating Method Thereof

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20210115

RJ01 Rejection of invention patent application after publication