CN112212812B - 检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种检测方法和检测装置，能够获得待检测装置表面上采样区域中多个采样点的空间位置参数，可以基于少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数，其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。本申请技术方案可以用于确定折叠屏折叠部分的高度差和坡度变化程度。

Description

检测装置及检测方法

技术领域

本申请装置表面平整度检测技术领域，更具体的说，涉及一种检测装置及检测方法。

背景技术

装置表面高度差和坡度变化程度能够表征装置表面平整程度的平面参数，所述平面参数是表征装置性能的一个重要参数。在柔性显示屏领域，由于柔性显示屏经过多次弯曲形变后，其弯折区域存在不能展平的高低起伏区域，平整度较差，柔性显示屏的平面参数不仅影响图像显示效果，还影响用户触摸感受和视觉感受。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种检测方法和检测装置，方案如下：

一种检测方法，包括：

获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；

基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；

其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。

优选的，在上述检测方法中，所述待检测装置为显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；

其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态。

优选的，在上述检测方法中，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：

按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件；多条所述扫描线满足平行条件设置，且具有预设间距；

确定所述采样区域的平面参数包括：

计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；

从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：

确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，所述扫描方式至少满足如下条件之一：

扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；

所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；

所述扫描线等间距设置；

最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。

优选的，在上述检测方法中，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差；

计算所述扫描线的坡度变化程度的方法包括：

所述扫描线中具有N个所述采样点，N为大于1的正整数，在所述扫描线延伸方向上，设定该所述采样点依次为第1采样点至第N采样点；

其中，第K+1采样点至第N-K采样点中，每个采样点用于确定一个采样坡度变化值，K为设定常数，K为不小于0且小于N的整数，N不小于2K+1；第i采样点对应的采样坡度变化值等于第一坡度和第二坡度的差值绝对值，i为不小于K+1且不大于N-K的正整数，所述第一坡度为第i采样点与第i-K采样点在XY坐标系中的斜率，所述第二坡度为第i+K采样点与第i采样点在XY坐标系中的斜率；通过多个所述采样坡度变化值表征所述扫描线的坡度变化程度。

本申请还提供了另一种检测方法，包括：

扫描展平状态下折叠屏的折叠部分；

计算高度差和坡度变化程度；

确定折叠屏的高度差和坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，扫描展平状态下折叠屏的折叠部分包括：

扫描至少两条扫描线；

计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；

从所述至少两条扫描线的高度差和坡度变化程度中确定所述折叠屏的高度差和坡度变化程度。

优选的，在上述检测方法中，确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述折叠屏的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述折叠屏的坡度变化程度；

或，所述折叠屏包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

扫描至少两条扫描线包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向平行于所述折叠屏中三部分的排布方向；多条所述扫描线平行设置；

所述扫描方式至少满足如下条件之一：

扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；

所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；

两条最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离均为1mm；

两条最外侧的所述扫描线之间具有另外七条所述扫描线，该七条所述扫描线均匀的排布在该两条最外侧的所述扫描线之间。

本申请还提供了一种检测装置，包括：

扫描装置，朝向承载装置，所述承载装置用于放置待检测装置，所述扫描装置用于获得所述待检测装置表面上的采样区域的扫描结果；

计算装置，用于基于所述扫描结果，确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

通过上述描述可知，本申请技术方案提供的检测方法和检测装置中，能够获得待检测装置表面上采样区域中多个采样点的空间位置参数，可以基于少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数，其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。本申请技术方案可以用于确定折叠屏折叠部分的高度差和坡度变化程度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

本说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本申请可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本申请所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本申请所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。

图1为本申请实施例提供的一种检测方法的流程示意图；

图2为本申请实施例提供的一种显示装置满足平面条件时的俯视图；

图3为本申请实施例提供的一种显示装置不满足平面条件时的侧视图；

图4为本申请实施例提供的一种获得采样点的空间位置参数的原理示意图；

图5为本申请实施例提供的一种确定平面参数方法的流程示意图；

图6为本申请实施例提供的一种确定扫描线中高度差和坡度变化的原理示意图；

图7为本申请实施例提供的一种确定扫描线坡度变化程度的原理示意图；

图8为本申请实施例提供的另一种检测方法的流程示意图；

图9为本申请实施例提供的一种检测装置的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请中的实施例进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种检测方法的流程示意图，所述检测方法包括：

步骤S11：获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数。

步骤S12：基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数。

其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数。

所述待检测装置可以为显示装置，所述显示装置可以为折叠屏，所述采样区域属于所述折叠屏的折叠部分，所述检测方法能够用于检测折叠屏的折叠部分的平面参数，能够表征所述折叠屏的折叠部分的高度差和坡度变化程度。需要说明的是，本申请实施例所述检测方法不局限于用于检测折叠屏的平面参数，还可以用于检测其他装置表面的平面参数，如硬质显示屏表面的平面参数，或是电子设备壳体或是盖板的平面参数等。

如果所述待检测装置为显示装置，所述显示装置的结构可以如图2和图3所示。

参考图2和图3，图2为本申请实施例提供的一种显示装置满足平面条件时的俯视图，图3为本申请实施例提供的一种显示装置不满足平面条件时的侧视图，所述显示装置包括第一部分101，第二部分102和第三部分103，至少所述第三部分103具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分101和所述第二部分102改变相对角度的能力，其中，所述第一部分101和所述第二部分102位于所述第三部分的相反侧；

基于图2和图3所示显示装置，获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分103的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；

其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态。本申请技术方案中，所述显示装置满足平面条件表征所述显示装置中三部分共面或是近似共面。

需要说明的是，图2和图3中以所述显示装置为微型计算机为例进行图示说明，显然，所述显示装置不局限于为微型计算机，还可以为全屏手机、平板电脑、笔记本电脑、一体机电脑、电视以及智能穿戴设备等具有显示功能的电子设备。另外，相邻两部分之间的虚线仅是为了便于展示不同部分的区域划分，实际产品中相邻两部分之间不存在用于区分相邻两部分的上述虚线。

如图2和图3所示，所述显示装置为折叠显示屏，能够基于其具有第一形变能力的第三部分103弯折，改变第一部分101和第二部分102的相对角度。第三部分103经过弯折后，会发生拉伸形变，当其处于第一姿态时，如果形变不能完全恢复，会在第三部分103形成高低起伏的褶皱，会影响其在第一姿态下的图像显示效果以及用户的触摸感以及视感。本申请技术方案在显示装置处于第一姿态下，能够通过采集第三部分103中采样点的空间位置参数，以检测其高度差和坡度变化程度。

如图4所示，图4为本申请实施例提供的一种获得采样点的空间位置参数的原理示意图，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线201，每条所述扫描线201上采集多个所述采样点的空间位置参数；扫描线201中采样点数量可以基于需求设定，如可以设定为200个采样点，基于扫描线201延伸方向逐一扫描线201中各个采样点，获取各个采样点的空间位置参数。按照预设扫描顺序逐一扫描各个扫描线201。

其中，在所述第一姿态下，所述扫描线201的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向(如图4中水平方向)满足平行条件；多条所述扫描线201满足平行条件设置，且具有预设间距。其中，本申请实施例中，所述满足平行条件指两对象平行或是近似平行。

如图4所示，本发明实施例中，所述扫描方式至少满足如下条件之一：

条件一，扫描同一所述扫描线201中所述采样点的步长不超过0.5mm，即同一所述扫描线201中相邻两个采样点的距离不超过0.5mm；同一所述扫描线201中采样点的数量越多，基于所述采样点确定的所述扫描线201的高度差和坡度变化程度精度越高。

发明人发现，当相邻两个采样点的距离不超过0.5mm时，能够较为精确的表征扫描线201的高度差和坡度变化程度，步长在0.5mm基础上进一步缩小，对计算精度的提升效果有限，故可以设置步长值为0.5mm。

条件二，所述扫描线201的端部与所述第一部分101和所述第二部分102的距离为2.5mm。扫描线201的朝向第一部分101的端部与第一部分101具有距离H1，扫描线201朝向第二部分102的端部与第二部分102具有距离H1，H1＝2.5mm。如果设定第三部分103的长度为Lf，扫描线的长度为Ls，则Ls＝Lf-2H1＝Lf-5mm。扫描线201的长度由显示装置中第三部分103的长度Lf和上述距离H1决定。也就是说，在条件二中，采样区域202与第一部分101和第二部分102均具有设定距离H1，该距离可以为2.5mm。

发明人发现，第一姿态下，由于第一部分101和第二部分102对应力的缓冲，第三部分103靠近第一部分101和第二部分102相邻的2.5mm距离内，形变量较小，设定扫描线201与第一部分101和第二部分102之间具有2.5mm的距离，可以减少无用采样点的扫描以及数据计算。

条件三，所述扫描线201等间距设置，即任意相邻两条所述扫描线201之间的间距Ws均相同。可以基于显示装置在弯折轴线方向上的宽度设定所述间距Ws，如一种宽度的折叠屏可以设定相邻两条所述扫描线201的间距Ws为2.5mm，其他宽度型号的折叠屏设置Ws为其他值。其中，第一姿态下，弯折轴线平行于显示装置的显示侧表面且垂直于三部分的排布方向。

条件四，最外侧所述扫描线201与所述显示侧表面相邻显示侧边距离H3为1mm。在垂直于显示装置三部分排布方向上，最外侧的两条扫描线201与所对应的相邻显示侧边距离H3相同，均为1mm。

发明人发现，第一姿态下，在靠近显示侧边位置，由于显示装置周边固定件的缓冲，第三部分103靠近显示侧边的1mm距离内，形变量较小，设定最外侧扫描线201与所述显示侧表面相邻显示侧边距离H3为1mm，可以减少无用采样点的扫描以及数据计算。

一般的，对于可弯折的所述显示装置，进行弯折时，通过所述第三部分103的弯曲形变，改变第一部分101和第二部分102相对角度。故当显示装置经过弯折后并恢复至第一姿态时，所述第三部分103的显示侧表面的最大高度差和最大坡度变化值应该处于平行于三部分排布方向的扫描线201上，故本申请实施例中，设置所述扫描线201的延伸方向与所述排布方向满足平行条件，可以通过扫描方式，基于扫描线201的延伸方向依次采集扫描线201上多个采样点的空间位置参数，每条所述扫描线201中所述采样点的空间位置参数用于确定所述扫描线201的高度差和坡度变化程度。可以通过多条所述扫描线201的高度差和坡度变化程度确定所述采样区域的平面参数。

其中，扫描线201为扫描装置预设的扫描路径，并非实际显示的图形。扫描线201的延伸方向不局限于显示装置中三部分排布方向，也可以为其他方向，如垂直于排布方向的方向。第三部分103的在排布方向的长度可以为100nm，该长度取决于显示装置弯折结构，不限定为100nm，也可以为为其他长度值，本申请实施例对此不做具体限定。

如图5所示，图5为本申请实施例提供的一种确定平面参数方法的流程示意图，本申请实施例中，确定所述采样区域的平面参数包括：

步骤S21：计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度。

步骤S22：从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

局部放大图中，采样区域是包括多个凸起区域和凹陷区域的三维区域，本申请实施例所述检测方法能够通过位于二维平面的扫描线中的采样点，确定采样区域的高度差和坡度变化程度，将三维区域中高度差和坡度变化程度的确定通过二维模型确定。

本申请实施例所述检测方法中，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。

本申请实施例中，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差，最高点和最低点的高度差为扫描线对应的最大采样高度差。扫描线位于显示装置的一垂直于排布方向的切面上，其最高点为具有最大高度的采样点，由于扫描线可能具有一个或是多个凸起区域，故可能存在多个高度相同的最高点，故最高点具有至少一个，最低点为具有最小高度的采样点，由于扫描线可能具有一个或是多个凹陷区域，故可能存在多个高度相同的最低点，故最低点具有至少一个。

如图6所示，图6为本申请实施例提供的一种确定扫描线中高度差和坡度变化的原理示意图，在图6中示出了位于同一扫描线201中的多个采样点104。所述空间位置参数包括：第一位置参数x和第二位置参数y，所述第一位置参数x能够表征所述采样点104在第一坐标轴X上的位置坐标，所述第二位置参数y能够表征所述采样点104在第二坐标轴Y上的位置坐标。所述第一坐标轴X与所述第二坐标轴Y满足垂直条件，构成平面直角坐标系。

在第一姿态下，图6为显示装置中第三部分103的一条扫描线201的局部放大图，在宏观视觉上，所述显示装置的三部分的显示侧表面近似共面。在所述第一姿态下，所述第一坐标轴X与所述显示侧表面满足平行条件，且与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件，所述第二坐标轴Y与所述显示侧表面满足垂直条件；所述扫描线201与所述第一坐标轴X满足平行条件。本申请中实施例中，满足垂直条件指两对象垂直或是近似垂直。

在图6所示扫描线201中，采样点104中的最高点为A，最低点为B。需要说明的是，同一所述扫描线201中，最高点A和最低点B可以分别为相邻的一个凸起区域的顶点和一个凹陷区域的谷点，其他方式中，二者也可以为不相邻的一个凸起区域的顶点和一个凹陷区域的谷点。

最高点A相对于参考面S1的高度为Hmax，最低点B相对于参考面S1的高度为Hmin。同一所述扫描线201中，最大采样高度差为最高点A与最低点B在所述第二坐标轴Y上的位置坐标的差值，故该扫描线201对应的最大采样高度差△H＝Hmax-Hmin。可以设定坐标原点位于参考面S1，Hmin为负值，Hmax为正值。第一部分101和第二部分102可以不进行弯折，二者在第一姿态下所处的平面可以作为所述参考面。参考面S1位置可以基于需求设定，也可以设定平行于第一姿态下显示侧表面的其他平面为参考面。

在图6所示方式中，以显示装置处于第一姿态下，三部分初始平整状态所处平面作为第二坐标轴Y的零点位置，其他方式中，也可以将采集空间位置参数的采集装置的位置作为第二坐标轴Y的零点位置。第二坐标轴Y的零点位置可以基于需求设定，以平行于显示装置的不同平面为参考面，不改变扫描线201中各个采样点104的相对位置，故不影响最大采样高度差和最大采样坡度变化值的计算结果。所述扫描线的坡度可以通过其不同位置的切线L0表征。

所述扫描线201中，所述采样点的数量以及步长可以基于需求设定。本申请实施例中对此不做具体限定。同一所述扫描线201中的多个采样点能够确定多个坡度变化值，基于该多个坡度变化值可以确定扫描线201对应的最大采样坡度变化值。

如图7所示，图7为本申请实施例提供的一种确定扫描线坡度变化程度的原理示意图，图7为扫描线201的局部放大图，计算所述扫描线201的坡度变化程度的方法包括：所述扫描线201中具有N个所述采样点104，N为大于1的正整数，在所述扫描线201延伸方向上，设定该所述采样点依次为第1采样点P₁至第N采样点P_N；其中，第K+1采样点P_K+1至第N-K采样点P_N-K中，每个采样点104用于确定一个采样坡度变化值，K为设定常数，K为不小于0且小于N的整数，N不小于2K+1；第i采样点P_i对应的采样坡度变化值等于第一坡度k₁和第二坡度k₂的差值绝对值，i为不小于K+1且不大于N-K的正整数，所述第一坡度k₁为第i采样点P_i与第i-K采样点P_i-K在XY坐标系中的斜率，所述第二坡度k₂为第i+K采样点P_i+K与第i采样点P_i在XY坐标系中的斜率；通过多个所述采样坡度变化值表征所述扫描线201的坡度变化程度。

设定第i-K采样点P_i-K的空间位置参数为(x_i-K，y_i-K)，第i采样点P_i的空间位置参数为(x_i，y_i)，第i+K采样点P_i+K的空间位置参数为(x_i+K，y_i+K)，则所述第一坡度k₁和所述第二坡度k₂分别为：

故第i采样点P_i对应的采样坡度变化值S_i为：

S_i＝|k₁-k₂|

如果设定K＝15，i＝n，则采样坡度变化值Sn为：

如果设定同一扫描线201中相邻两采样点的在第一坐标轴X上的步长为0.5mm，则有：

x_n-x_n-15＝x_n+15-x_n＝7.5

每一条扫描线201能够基于自身的最高点和最低点确定其对应最大采样高度差，并能够对应第K+1采样点P_K+1至第N-K采样点P_N-K确定N-2K个采样坡度变化值，可以选择该N-2K个采样坡度变化值中的最大值作为所述扫描线201的最大采样坡度变化值。

每条扫描线201对应确定一个最大采样高度差和一个最大采样坡度变化值，各个扫描线201确定的多个最大采样高度差和多最大采样坡度变化值能够用于确定显示装置的最大高度差和最大坡度变化程度。

设定上述基于扫描线确定平面参数的方式为第一种方式。

第二种方式中，还可以无需基于扫描线获得扫描结果，直接基于点状扫描获得多个采样点的空间位置参数。该方式可以基于在所述第三部分103显示侧表面内确定的多个采样点确定第三部分103的最大高度差和最大坡度变化值。采样点可以基于需求在所述第三部分103中任意选择确定。多个采样点可以在所述第三部分103中阵列排布或是随机排布。所述采样点用于获取所述第三部分103中对应位置的空间位置参数，所述第三部分103中并未具有可视的标识图形展示所述采样点位置，采样点可以基于检测设备对应所述第三部分103的采样位置确定。

在第二种方式中，在所有采样点中确定最高点和最低点，基于所述最高点和所述最低点的空间位置参数即可以确定所述第三部分103的显示侧表面的最大高度差。该方式中，当确定所述最高点和所述最低点后，只需要一次减法运算即可确定所述确定第三部分103的最大高度差。

在第二种方式中，可以将所有所述采样点分为多个测试组，每个测试组具有三个不同的采样点。同一测试组中的三个采样点位于同一平面线，在所述第一姿态下，所述平面线位于垂直于所述显示装置的平面内。平面线的延伸方向可以基于需求任意设定，可以为显示装置中三部分的排布方向，也可以为在所述第三部分103内的其他任意延伸方向。所述第三部分103中并未具有可视的标识图形展示所述平面线位置，平面线用于分组采样点，以便于计算坡度变化。

不同所述测试组中所述采样点不完全相同，如果一个测试组包括ABC三个采样点，其他测试组至多具有ABC三个采样点中的两个，或，不同所述测试组中所述采样点完全不同，此时一个采样点仅属于一个测试组。该方式中，对于一个测试组中的三个采样点，在对应平面线上，中间的采样点能够分别与其两侧的另外两个采样点确定一个斜率，该两个斜率的差值绝对值可以确定该测试组的采样坡度变化值。基于所有采样坡度变化值能够确定所述第三部分103的显示侧表面的最大坡度变化值。如可以选择最大的采样坡度变化值作为所述第三部分103的显示侧表面的最大坡度变化值。

第三种方式中，所述第三部分的显示侧具有多个采样点集合，所述采样点集合具有多个采样点；同一所述采样点集合中，所述采样点位于相邻的一个凸起区域和一个凹陷区域，所述采样点中最高点和最低点的空间位置参数用于确定所述最大高度差，所有采样点的空间位置参数用于确定所述最大坡度变化值。

在第三种方式中，每一个所述采样点集合对应一个三维的起伏区域，所述起伏区域包括相邻的一个三维的凸起区域和一个三维的凹陷区域。每个所述采样点集合可以确定一个最大采样高度差，所述最大采样高度差等于所述采样点集合中最高点和最低点的高度差。每个所述采样点集合可以确定一个最大采样坡度变化值。对于所述采样点集合，可以如第二种方式确定最大采样坡度变化值。

可以设置最大高度差不超过1mm；最大坡度变化值不超过0.3。这样，能够使得显示装置具有较好的平面显示效果，还能够避免由于平整度参数过大导致用户感知的不平整性问题。

本发明实施例中，可以进一步设定显示装置的最大高度差不超过0.25mm，最大坡度变化值不超过0.03。在所述第一姿态下，当所述第三部分103的显示侧表面满足所述最大高度差不超过0.25mm，且满足最大坡度变化值不超过0.03时，能够使得显示装置具有较高的平面显示效果，避免由于具有弯折导致的较大高度差和坡度变化值影响显示效果，在该最大高度差和最大坡度变化范围内，可以使得用户在视觉和/或触觉极上极难感知第三部分的高低起伏变化。宏观视觉效果极难感知第三部分103由于弯折导致的高度变化和坡度变化，避免人眼能够察觉到明显的高度差和坡度变化。

基于上述实施例，本申请另一实施例还提供了另一种检测方法，该检测方法如图8所示，图8为本申请实施例提供的另一种检测方法的流程示意图，所述检测方法包括：

步骤S31：扫描展平状态下折叠屏的折叠部分。

步骤S32：计算高度差和坡度变化程度。

步骤S33：确定折叠屏的高度差和坡度变化程度。

该检测方法能够检测折叠屏的高度差和坡度变化程度。

其中，扫描展平状态下折叠屏的折叠部分包括：扫描至少两条扫描线；计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；从所述至少两条扫描线的高度差和坡度变化程度中确定所述折叠屏的高度差和坡度变化程度。这样，通过二维平面中的扫描线模型，即可确定折叠屏的高度差和坡度变化程度。

本申请所述的检测方法中，确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述折叠屏的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述折叠屏的坡度变化程度。

本申请所述的检测方法中，所述折叠屏包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧。扫描至少两条扫描线包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向平行于所述折叠屏中三部分的排布方向；多条所述扫描线平行设置。

本申请所述的检测方法中，所述扫描方式至少满足如下条件之一：扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；相邻两条所述扫描线的间距为2.5mm；最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。

基于该检测方法对折叠屏进行检测时，过程如下：

a)，可以将折叠屏展平放置于大理石平台上。所述大理石平台为校准后的复合国标的大理石平台。

b)，通过高度仪呈线状扫描折叠屏的折叠部分。所述高度仪为激光式高度仪。

该过程中可以取9条扫描线，进行高度扫描测量，同一扫描线中，相邻两个采样点的测量补偿不大于0.5mm，如可以取0.5mm。

在垂直于折叠屏弯折轴线方向上，扫描线的长度Ls由折叠装置中可以自由形变的折叠部分的长度Lf决定，满足Ls＝Lf-5mm，且扫描线两端关于弯折轴线对称。

在平行于折叠屏弯折轴线的方向上，扫描线的间距按照如下方式确定：以9条扫描线为例，该9条扫描线在平行于折叠屏弯折轴线方向上依次为第一扫描线至第九扫描线，上下边缘两扫描线距离可视区1mm，即两条最外侧所述扫描线(第一扫描线和第九扫描线)与所述显示侧表面相邻显示侧边距离均为1mm；之后，取两上下边缘两扫描线距离中心为第五扫描线的位置，而后分别取上边缘扫描线(第一扫描线)和第五扫描线中心为第三扫描线的位置，取下边缘扫描线(第九扫描线)和第五扫描线中心为第七扫描线的位置，基于此去中心的方法，以此类推，确定第二扫描线、第四扫描线、第六扫描线和第八扫描线的位置长度Ls为在X轴上的投影长度，非扫描线实际弯曲延伸长度。

c)，基于扫描结果，计算扫描线的高度差△H和坡度变化程度：

△H＝Hmax-Hmin

其中，y表示采样点的高度位置，即在第二坐标轴Y上的位置坐标，x表示扫描方向上的位置，即在第一坐标轴X上的位置坐标，k为正整数，如可以为15。将9条扫描线中最大Sn的△H作为折叠屏的高度差，将9条扫描线中最大的S_n作为折叠屏的坡度变化程度。

基于上述实施例，本申请另一实施例还提供了一种检测装置，所述检测装置如图9所示，图9为本申请实施例提供的一种检测装置的结构示意图，包括：扫描装置41，朝向承载装置42，所述承载装置42用于放置待检测装置，所述扫描装置41用于获得所述待检测装置表面上的采样区域的扫描结果；计算装置43，用于基于所述扫描结果，确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。待检测装置可以为上述显示装置或折叠屏。

其中，所述计算装置43与所述扫描装置41通信连接，用于获取扫描结果。所述检测装置还包括支撑组件44，所述支撑组件44和/或所述承载装置42能够基于计算装置43控制进行移动，以使得所述扫描装置41与放置于所述承载装置42上的待检测装置相对移动，以采集不同采样点的空间位置参数。所述计算装置43可以为计算机，具有数据处理系统。

所述扫描装置41可以为高度仪，所述高度仪包括激光测距传感器，包括用于发射检测光的信号发射元件以及接收待检测装置反射的检测光的信号接收装置。所述承载装置可以为大理石平台。

可以设置朝向承载装置42固定不同，通过所述计算装置43控制所述支撑组件44在平行于承载装置42的平面内进行线状扫描，以采集采样点的空间位置参数。

设置所述承载装置42水平放置。设置支撑组件44能够调节角度，以保证扫描装置41垂直于待测装置表面，或者，设置承载装置42能够基于转动基准转动，如基于其一条侧边转动，以保证扫描装置41垂直于待测装置表面。

所述可移动支架44包括支架以及固定在所述支架上的悬臂。所述扫描装置41固定在所述悬臂上。所述计算装置能够通过扫描装置获得所述待检测装置中多个采样点的空间位置参数，用于确定待检测装置的高度差和坡度变化程度。

本申请实施例所述检测装置，能够用于实现上述检测方法，实现待测装置表面高度差和坡度变化程度的检测。

本说明书中各个实施例采用递进、或并列、或递进和并列结合的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的检测装置而言，由于其与实施例公开的检测方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见检测方法部分说明即可。

需要说明的是，在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。

还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括上述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (8)

1.一种检测方法，包括：

获得待检测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数；

基于至少两个采样点的所述空间位置参数，确定所述采样区域的平面参数；

其中，所述平面参数包括：能够表征所述采样区域高度差的第一参数和能够表征所述采样区域坡度变化程度的第二参数；

所述待检测装置为显示装置，所述显示装置包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

获得待测装置表面上的采样区域中多个采样点的空间位置参数包括：在第一姿态下，获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数；

其中，所述第一姿态是所述显示装置满足平面条件的姿态；

所述采样区域是包括多个凸起区域和凹陷区域的三维区域，通过位于二维平面的扫描线中的采样点，确定所述采样区域的高度差和坡度变化；

获得所述第三部分的显示侧表面的多个采样点的空间位置参数包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在所述第一姿态下，所述扫描线的延伸方向与所述显示装置中三部分的排布方向满足平行条件；多条所述扫描线满足平行条件设置，且具有预设间距；所述扫描线朝向所述第一部分的端部与所述第一部分具有距离，且朝向所述第二部分的端部与所述第二部分具有距离。

2.根据权利要求1所述的检测方法，确定所述采样区域的平面参数包括：

计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；

从至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

3.根据权利要求2所述的检测方法，从所述至少两条扫描线对应的高度差和坡度变化程度中确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度包括：

确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述采样区域的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述采样区域的坡度变化程度。

4.根据权利要求2所述的检测方法，所述扫描方式至少满足如下条件之一：

扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；

所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；

所述扫描线等间距设置；

最外侧所述扫描线与所述显示侧表面相邻显示侧边距离为1mm。

5.根据权利要求2所述的检测方法，计算所述扫描线的高度差的方法包括：计算所述扫描线中最高点和最低点的高度差；通过所述最高点和所述最低点的高度差表征所述扫描线的高度差；

计算所述扫描线的坡度变化程度的方法包括：

所述扫描线中具有N个所述采样点，N为大于1的正整数，在所述扫描线延伸方向上，设定该所述采样点依次为第1采样点至第N采样点；

其中，第K+1采样点至第N-K采样点中，每个采样点用于确定一个采样坡度变化值，K为设定常数，K为不小于0且小于N的整数，N不小于2K+1；第i采样点对应的采样坡度变化值等于第一坡度和第二坡度的差值绝对值，i为不小于K+1且不大于N-K的正整数，所述第一坡度为第i采样点与第i-K采样点在XY坐标系中的斜率，所述第二坡度为第i+K采样点与第i采样点在XY坐标系中的斜率；通过多个所述采样坡度变化值表征所述扫描线的坡度变化程度。

6.一种检测方法，包括：

扫描展平状态下折叠屏的折叠部分；

计算高度差和坡度变化程度；

确定折叠屏的高度差和坡度变化程度；

扫描展平状态下折叠屏的折叠部分包括：

扫描至少两条扫描线；

计算每条所述扫描线的高度差和坡度变化程度；

从所述至少两条扫描线的高度差和坡度变化程度中确定所述折叠屏的高度差和坡度变化程度；

所述折叠部分为采样区域，所述采样区域是包括多个凸起区域和凹陷区域的三维区域，通过位于二维平面的扫描线中的采样点，确定所述采样区域的高度差和坡度变化；所述折叠屏包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；所述扫描线朝向所述第一部分的端部与所述第一部分具有距离，且朝向所述第二部分的端部与所述第二部分具有距离。

7.根据权利要求6所述的检测方法，确定所述至少两条扫描线中具有的最大高度差，用于表征所述折叠屏的高度差，确定所述至少两条扫描线中具有的最大坡度变化程度用于表征所述折叠屏的坡度变化程度；

或，所述折叠屏包括第一部分，第二部分和第三部分，至少所述第三部分具有第一形变能力，所述第一形变能力包括让所述第一部分和所述第二部分改变相对角度的能力，其中，所述第一部分和所述第二部分位于所述第三部分的相反侧；

扫描至少两条扫描线包括：按照预设扫描方式，扫描多条扫描线，每条所述扫描线上采集多个所述采样点的空间位置参数；其中，在第一姿态下，所述扫描线的延伸方向平行于所述折叠屏中三部分的排布方向；多条所述扫描线平行设置；所述第一姿态是折叠屏满足平面条件的姿态；

所述扫描方式至少满足如下条件之一：

扫描同一所述扫描线中所述采样点的步长不超过0.5mm；

所述扫描线的端部与所述第一部分和所述第二部分的距离为2.5mm；

两条最外侧所述扫描线与显示侧表面相邻显示侧边距离均为1mm；

两条最外侧的所述扫描线之间具有另外七条所述扫描线，该七条所述扫描线均匀的排布在该两条最外侧的所述扫描线之间。

8.一种检测装置，用于实现如权利要求1-7任一项所述检测方法，包括：

扫描装置，朝向承载装置，所述承载装置用于放置待检测装置，所述扫描装置用于获得所述待检测装置表面上的采样区域的扫描结果；

计算装置，用于基于所述扫描结果，确定所述采样区域的高度差和坡度变化程度。

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