CN112180180A - 一种多探头近场ota测试系统的多通道测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，所述多探头近场OTA测试系统内包括待测设备及双极化探头，所述多通道测试方法为：使用多台网络分析仪同时向待测设备进行功率发射；所述多台网络分析仪发射的相同功率经过一台合路器，将多路信号合为一路信号再传输到待测设备。双极化探头为多个，多个双极化探头接收到的待测设备天线辐射信号，分别同时输出到网络分析仪的各个接收端口，获得待测设备的空间辐射性能。本发明通过采用多个发送和接收通道与待测设备及双极化探头，形成多路发射和多路接收并行进行，使得测试时间缩短，开关个数减少。
Description
技术领域
本发明涉及近场OTA测试系统的测试，特别涉及一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法。
背景技术
目前，随着通信技术的迅猛发展，通信网络中接入的设备数量大幅度增加，这其中就包括了大量通过无线信道接入通信网络中的设备，天线是无线接入设备中非常重要的一个部分，其承担着信息的发送和接收作用。因此天线研发团队越来越多，竞争也越来越激烈，为了提高产品开发速度，天线的测试效率成为了天线研发团队竞争的主要因素。天线的测试一般是在微波暗室中进行，微波暗室中采用多探头测试系统对天线辐射性能进行测试。微波暗室能够节省人力，物力，财力，缩短产品的试验周期，进而缩短产品的开发周期，因此在天线测试方面尤为重要。而目前所知的近场OTA多探测试系统都是双通道的测试方法，即一路发射，一路接收，如图1所示，这样的问题是在于切换探头开关比较多易损坏，同时测试时间也长。
发明内容
本发明目的是：提供一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，即采用多路发射多路接收，解决了传统近场OTA测试系统的使用开关多及测试时间长的问题。
本发明的技术方案是：
一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，所述多探头近场OTA测试系统内包括待测设备及双极化探头，所述多通道测试方法为：
使用多台网络分析仪同时向待测设备进行功率发射；
双极化探头为多个，多个双极化探头接收到的待测设备天线辐射信号，分别同时输出到网络分析仪的各个接收端口，获得待测设备的空间辐射性能。
优选的，所述多台网络分析仪向待测设备以相同功率发射。
优选的，所述多台网络分析仪发射的相同功率经过一台合路器，将多路信号合为一路信号再传输到待测设备。
优选的，所述待测设备位于暗室中心的测试区域内，周围的多个双极化探头用于模拟各个方向的信号到达角和角度扩展。
优选的，待测设备接收到合路器的信号后，待测设备通过天线辐射在暗室空间中，周围的多个双极化探头接收到辐射在空间中的信号，传输到多个网络分析仪中进行分析，获得测试产品的空间辐射性能。
优选的，所述多通道测试方法还包括：将多台网络分析仪的发射端口分别与多个双极化探头探头相连接；通过多个双极化探头探头将网络分析仪中发射的相同功率的信号辐射到空间中，空间中的信号被待测设备中的天线接收，接收到的信号经过与网络分析仪相连的接收端口传输到网络分析仪中，获得待测设备的空间信号接收性能。
优选的，通过增加网络分析仪数量增加测试系统的通道数量。
优选的，通过增加网络分析仪的发送和接收端口数量增加测试系统的通道数量。
本发明的优点是：
本发明通过采用多个发送和接收通道与待测设备及双极化探头，形成多路发射和多路接收并行进行，使得测试时间缩短，开关个数减少。
附图说明
下面结合附图及实施例对本发明作进一步描述：
图1为传统单通道发射、单通道接收链路的测试原理图；
图2为本发明多探头近场OTA测试系统的多通道测试原理图；
其中：1、第一网络分析仪；2、第二网络分析仪，3、双极化探头；4、待测设备；5、合路器。
具体实施方式
实施例
本实施例的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，如图2所示：包括第一网络分析仪1、第二网络分析仪2、双极化探头3、待测设备（DUT）4、合路器4，两个网络分析仪均为四端口网络分析仪。
第一网络分析仪1的TX1、TX2和第二网络分析仪2的TX3、TX4同时以同等功率大小经过合路器5进行功率发射，功率经过DUT 4后通过空间发射至双极化探头3，双极化探头3接受到信号后到第一网络分析仪1的RX1、RX2和第二网络分析仪2的RX3、RX4后，第一网络分析仪1和第二网络分析仪2就可以同时采集四组双极化探头3接收到的数据。
在多探头近场OTA测试系统中，DUT位于暗室中心的测试区域内，周围的多个OTA探头用于模拟各个方向的信号到达角和角度扩展。两个四端口网络分析仪的四个发射端口输出同等功率大小的信号到合路器中，合路器将其信号合为一路信号发射到DUT中，信号经DUT中的天线辐射在暗室空间中，DUT周围的多个探头可接收到辐射在空间中的信号，并通过与探头相连的四端口网络分析仪的接收端口将信号传输到网络分析仪中进行分析，获得测试产品的空间辐射性能。
该测试系统还可测试DUT的空间信号接收性能。将四端口网络分析仪的发射端口与探头相连接，通过探头将网络分析仪中发射的相同功率的信号辐射到空间中，空间中的信号被DUT中的天线接收，接收到的信号经过与网络分析仪相连的接收端口传输到网络分析仪中，获得测试产品的空间信号接收性能。
本发明还可通过增加网络分析仪数量增加测试系统的通道数量，或者通过增加网络分析仪的发送和接收端口数量增加测试系统的通道数量。通过采用多个发送和接收通道与探头和DUT相连，形成多路发射和多路接收并行进行，使得测试时间缩短，开关个数减少。
上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明主要技术方案的精神实质所做的修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，所述多探头近场OTA测试系统内包括待测设备及双极化探头，其特征在于，所述多通道测试方法为：
使用多台网络分析仪同时向待测设备进行功率发射；
双极化探头为多个，多个双极化探头接收到的待测设备天线辐射信号，分别同时输出到网络分析仪的各个接收端口，获得待测设备的空间辐射性能。
2.根据权利要求1所述的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，其特征在于，所述多台网络分析仪向待测设备以相同功率发射。
3.根据权利要求2所述的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，其特征在于，所述多台网络分析仪发射的相同功率经过一台合路器，将多路信号合为一路信号再传输到待测设备。
4.根据权利要求3所述的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，其特征在于，所述待测设备位于暗室中心的测试区域内，周围的多个双极化探头用于模拟各个方向的信号到达角和角度扩展。
5.根据权利要求4所述的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，其特征在于，待测设备接收到合路器的信号后，待测设备通过天线辐射在暗室空间中，周围的多个双极化探头接收到辐射在空间中的信号，传输到多个网络分析仪中进行分析，获得测试产品的空间辐射性能。
6.根据权利要求5所述的多探头近场OTA测试系统的多通道测试方法，其特征在于，所述多通道测试方法还包括：
将多台网络分析仪的发射端口分别与多个双极化探头探头相连接；
通过多个双极化探头探头将网络分析仪中发射的相同功率的信号辐射到空间中，空间中的信号被待测设备中的天线接收，接收到的信号经过与网络分析仪相连的接收端口传输到网络分析仪中，获得待测设备的空间信号接收性能。
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