CN112087259A - 一种光交换网络的检测方法 - Google Patents

一种光交换网络的检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN112087259A
CN112087259A CN201910505562.4A CN201910505562A CN112087259A CN 112087259 A CN112087259 A CN 112087259A CN 201910505562 A CN201910505562 A CN 201910505562A CN 112087259 A CN112087259 A CN 112087259A
Authority
CN
China
Prior art keywords
optical switch
switch unit
unit
stage
optical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201910505562.4A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112087259B (zh
Inventor
陈涛
张州
谢永强
庞辉
王元元
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZTE Corp
Original Assignee
ZTE Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ZTE Corp filed Critical ZTE Corp
Priority to CN201910505562.4A priority Critical patent/CN112087259B/zh
Publication of CN112087259A publication Critical patent/CN112087259A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112087259B publication Critical patent/CN112087259B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0793—Network aspects, e.g. central monitoring of transmission parameters
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
    • H04B10/07953—Monitoring or measuring OSNR, BER or Q
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/27—Arrangements for networking
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
    • H04Q11/0062—Network aspects
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04Q—SELECTING
    • H04Q11/00—Selecting arrangements for multiplex systems
    • H04Q11/0001—Selecting arrangements for multiplex systems using optical switching
    • H04Q11/0062—Network aspects
    • H04Q2011/0079—Operation or maintenance aspects
    • H04Q2011/0083—Testing; Monitoring

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Optical Modulation, Optical Deflection, Nonlinear Optics, Optical Demodulation, Optical Logic Elements (AREA)
  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

本文公开一种光交换网络的检测方法，其中，光交换网络包括四个光波导和六个光开关单元，四个光波导和六个光开关单元形成4×4的Benes网络，六个光开关单元分成三个阶段，每个光开关单元包括两个串联的微环谐振器，第二阶段的两个光开关单元内的每个微环谐振器具有检测单元；该光交换网络的检测方法包括：利用光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定六个光开关单元的谐振状态校准数据。

Description

一种光交换网络的检测方法
技术领域
本申请实施例涉及但不限于光网络技术领域，尤指一种光交换网络的检测方法。
背景技术
通信容量的爆炸式增长使得人们对于通信带宽的需求越来越大，然而基于传统电学金属线实现的互连网络在时延、功耗和带宽方面遇到瓶颈。现如今计算机的进一步发展更是依赖于多核之间的并行处理，这就对电互连提出了更苛刻的要求。与电互连相比，光互连具有大带宽、低延时和低功耗的优势，也因此片上的光网络系统成为可能替代电互连的关键技术方案。
在高性能计算机内建立光互连网络来解决电互连的弊端已经成为未来通信系统的发展方向。光传播速度快，能通过波分复用极大地拓展通信容量；而且，抗干扰能力强，能够增强通信网络的安全系数。因此，光互连网络在迅速崛起，朝着大规模、高速、高集成密度的方向发展。
光交换网络是实现光互连必不可少的器件，光交换网络的性能能够直接影响光互连网络的稳定性。为了使光交换网络能够完成核间信息快速准确交换，对其中的工作单元进行测试校准这一步骤必不可少。然而，由于通信数据增多和互连网络日益复杂，由微环谐振器等基本单元构成的光互连网络规模也日益增大。传统的对每个工作单元均单独设置测试单元的方法弊端显著，不仅不利于集成，而且势必引入大量的功耗，降低光互连网络的性能。
发明内容
本申请提供了一种光交换网络的检测方法，可以支持利用较少的检测单元实现对整个光交换网络内的微环谐振器的谐振状态进行检测和校准。
本申请提供一种光交换网络的检测方法，所述光交换网络包括四个光波导和六个光开关单元；所述四个光波导和六个光开关单元形成4×4的Benes网络，所述六个光开关单元分成三个阶段，每个光开关单元包括两个串联的微环谐振器，第二阶段的两个光开关单元内的每个微环谐振器具有检测单元；所述检测方法，包括：利用所述光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定所述六个光开关单元的谐振状态校准数据。
此外，本申请还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现上述光交换网络的检测方法的步骤。
在本申请提供的光交换网络中，通过利用部分光开关单元上引入的检测单元，可以支持实现对整个光交换网络内的微环谐振器的谐振状态进行检测和校准。如此一来，有效减少了引入的检测单元的数量，降低了整个光交换网络的插入损耗。
本申请的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。
图1为本申请实施例中的光交换网络的示意图；
图2为本申请实施例中的光开关单元的示意图；
图3为本申请实施例的光交换网络中的检测单元的横截面示意图；
图4为本申请实施例提供的光交换网络的检测方法的一种示例流程图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本申请实施例提供一种光交换网络的检测方法；其中，光交换网络可以包括四个光波导和六个光开关单元，四个光波导和六个光开关单元形成4×4的Benes网络，六个光开关单元分成三个阶段，每个光开关单元包括两个串联的微环谐振器，第二阶段的两个光开关单元内的每个微环谐振器具有检测单元。本实施例的检测方法包括：利用光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定六个光开关单元的谐振状态校准数据。
本申请实施例可以支持实现针对耦合双环的4×4无阻塞光交换网络的谐振状态校准；通过利用较少的检测单元，支持对整个光交换网络中的微环谐振器的谐振状态进行准确校准，从而降低光交换网络的功耗。
图1为本申请实施例中的光交换网络的示意图。本实施例中的光交换网络是基于Benes结构的。其中，Benes结构是一个多级互连结构。图1所示的基于Benes结构的光交换网络具有4个输入端和4个输出端，共3个阶段(每一列光开关单元对应一个阶段，即六个光开关单元分成三个阶段，且每个阶段对应了两个光开关单元)。本实施例提供的光交换网络可以通过调节6个光开关单元的工作状态，实现24组链路的无阻塞链接。
如图1所示，本实施例中的光交换网络包括：第一光波导G1、第二光波导G2、第三光波导G3、第四光波导G4、第一光开关单元S1、第二光开关单元S2、第三光开关单元S3、第四光开关单元S4、第五光开关单元S5以及第六光开关单元S6。其中，第一光波导G1和第四光波导G4为直波导，第二光波导G2和第三光波导G3通过两次交叉形成两个交叉点D1和D2。如图1所示，D1和D2可以为十字交叉点。然而，本申请对此并不限定
本实施例中，任一光波导的一端为输入端，另一端为输出端。如图1所示，第一光波导G1的一端1可以为输入端，另一端1*可以为输出端；第二光波导G2的一端2可以为输入端，另一端2*可以为输出端；第三光波导G3的一端3可以为输入端，另一端3*可以为输出端；第四光波导G4的一端4可以为输入端，另一端4*可以为输出端。然而，本申请对此并不限定。
本实施例中，以端口1、2、3、4作为输入端时，第一光开关单元S1和第二光开关单元S2对应第一阶段，第三光开关单元S3和第四光开关单元S4对应第二阶段，第五光开关单元S5和第六光开关单元S6对应第三阶段。以端口1*、2*、3*、4*作为输入端时，第五光开关单元S5和第六光开关单元S6对应第一阶段，第三光开关单元S3和第四光开关单元S4仍对应第二阶段，第一光开关单元S1和第二光开关单元S2对应第三阶段。
如图1所示，第一光波导G1为第一光开关单元S1、第三光开关单元S3以及第五光开关单元S5的公共端；第二光波导G2为第一光开关单元S1、第四光开关单元S4以及第五光开关单元S5的公共端；第三光波导G3为第二光开关单元S2、第三光开关单元S3以及第六光开关单元S6的公共端；第四光波导G4为第二光开关单元S2、第四光开关单元S4以及第六光开关单元S6的公共端。
具体而言，两个交叉点D1、D2分别将第二光波导G2和第三光波导G3分成三个部分；第一光波导G1和第二光波导G2的第一部分之间通过第一光开关单元S1耦合，第一光波导G1与第二光波导G2的第三部分之间通过第五光开关单元S5耦合；第一光波导G1与第三光波导G3的第二部分之间通过第三光开关单元S3耦合；第二光波导G2的第二部分与第四光波导G4之间通过第四光开关单元S4耦合；第三光波导G3的第一部分与第四光波导G4之间通过第二光开关单元S2耦合，第三光波导G3的第三部分与第四光波导G4之间通过第六光开关单元S6耦合。
如图1所示，任一光开关单元(S1、S2、S3、S4、S5、S6)包括两个串联的微环谐振器。本实施例的光交换网络中一共有12个微环谐振器。在一示例性实施方式中，12个微环谐振器的谐振波长可以一致；12个微环谐振器的尺寸和有效折射率也可以相同。然而，本申请对此并不限定。
本实施例中，每个微环谐振器都具有加热电极；通过调整加热电极上的加热电压，可以控制微环谐振器的工作状态，也可以用于微环谐振器的工作状态校准。
图2为本实施例中的光开关单元的示意图。如图2所示，本实施例的光开关单元可以包括耦合在两条直波导A之间的两个串联的微环谐振器B。本实施例中，两个串联的微环谐振器形成具有2个输入端和2个输出端的光开关(即2×2光开关)。
如图2所示，本实施例的光开关单元具有两种工作状态，分别为图2(a)所示的平行(Bar)状态和图2(b)所示的交叉(Cross)状态。
如图2(a)所示，设输入波长为λ1，当两个微环谐振器B在该波长都不发生谐振时，从输入端1和输入端2输入的光直接沿着直波导A分别到达输出端1和输出端2，即从输入端1输入的光沿着直波导到达输出端1，从输入端2输入的光沿着直波导到达输出端2，此时的状态称为平行状态。
如图2(b)所示，设输入波长为λ2，当两个微环谐振器在该波长同时产生谐振时，从输入端1和输入端2输入的光分别从输出端2和输出端1输出，即从输入端1输入的光从输出端2输出，从输入端2输入的光从输出端1输出，此时的状态称为交叉状态。在此状态下，两个微环谐振器均处于谐振状态。
在本实施例中，针对任一光开关单元，可以定义光开关单元的有效传输系数T＝Pout/Pin，传输损耗系数为L＝1-T；其中，Pout为光开关单元中选择的某一输出端的功率，Pin为该输出端对应的输入端的功率。
在本实施例中，如图1所示，第三光开关单元S3和第四光开关单元S4内的每个微环谐振器具有检测单元。在一示例性实施方式中，第三光开关单元S3和第四光开关单元S4内微环谐振器中的检测单元可以由含有缺陷态的掺杂区形成。
如图1所示，第三光开关单元S3包括微环谐振器C1和C2，第四光开关单元S4包括微环谐振器C3和C4。在图1中，微环谐振器C1、C2、C3及C4上的阴影部分即为引入的含有缺陷态的掺杂区。在本示例性实施例中，通过在微环谐振器上引入含有缺陷态的掺杂区作为检测单元(光电探测器)使用，其产生的光电流可以实现对微环谐振器的工作状态的直接检测，从而不需要耦合器等额外的检测单元。
图3为本实施例提供的光交换网络中的检测单元的横截面示意图。如图3所示，微环谐振器使用的波导类型为脊波导。波导中心使用n型轻掺杂F，两侧脊使用n型重掺杂E，引入缺陷态，利用掺杂区的缺陷态吸收效应可以产生光电流，对于不同强度的光可以产生强度不同的光电流，通过检测光电流的大小就可以确定微环谐振器的工作状态。然而，本申请对此并不限定。在其他实现方式中，还可以采用其他方式在微环谐振器上形成检测单元。
如图1所示，在本实施例中，微环谐振器C1、C2、C3、C4处于同一列，为了减少串扰，微环谐振器C1和C2中的检测单元的位置可以相互交错，微环谐振器C3和C4中的检测单元的位置可以相互交错。然而，本申请对此并不限定。
基于图1所示的光交换网络，本申请实施例提供的检测方法，可以利用仅在4个微环谐振器内引入的检测单元(光电探测器)，通过检测光电流支持实现对6组耦合双环(即6个光开关单元)的谐振状态测试和校准；相较于传统方式采用12个额外的检测单元(比如，耦合器)对光交换网络中每个工作单元进行检测，本申请实施例简化为只需要4个检测单元，在有效减小检测单元的数量的同时，可以支持对光交换网络中每个光开关单元进行谐振状态的准确校准，从而降低整个光交换网络的功耗，并提高光交换网络的集成度。
在一示例性实施方式中，利用光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定六个光开关单元的谐振状态校准数据，可以包括：针对第二阶段的任一光开关单元，利用该光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据；针对第一阶段或第三阶段的任一光开关单元，利用第二阶段的任一个光开关单元内的检测单元，确定第一阶段或第三阶段的光开关单元的谐振状态校准数据。其中，基于图1所示的光交换网络，可以利用第三光开关单元S3和第四光开关单元S4内微环谐振器上引入的检测单元，确定六个光开关单元(S1、S2、S3、S4、S5、S6)的谐振状态校准数据。
在一示例性实施方式中，针对第一阶段或第三阶段的任一光开关单元，利用第二阶段的任一个光开关单元内的检测单元，确定第一阶段或第三阶段的光开关单元的谐振状态校准数据，可以包括：针对第一阶段或第三阶段中任一个待检测的光开关单元(图1中的光开关单元S1、S2、S5或S6)，选择一个端口输入光，基于光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，选择适用于检测所述待检测的光开关单元的第二阶段的一个光开关单元(图2中的光开关单元S3或S4)；利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
在本示例性实施方式中，利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据，可以包括：当选择所述待检测的光开关单元的传输损耗量输入的一个第二阶段的光开关单元用于检测所述待检测的光开关单元，则固定除所述待检测的光开关单元之外的光开关单元的状态，调节所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最小值；将在所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最小值时，所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
在本示例性实施方式中，利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据，可以包括：当选择所述待检测的光开关单元的有效传输量输入的一个第二阶段的光开关单元用于检测所述待检测的光开关单元，则固定除所述待检测的光开关单元之外的光开关单元的状态，调节所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最大值；将在所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最大值时，所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
在一示例性实施方式中，针对第二阶段的任一光开关单元，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据，可以包括：针对第二阶段的任一个光开关单元，选择一个端口输入光，基于所述光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据。
在本示例性实施方式中，基于所述光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据，可以包括：
当所述光经过所述具有检测单元的光开关单元的理论输出量根据所述光开关单元的传输损耗系数得到，则固定除所述具有检测单元的光开关单元外的光开关单元，调节所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最小值；将所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最小值时，所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述具有检测单元的光开关单元的谐振状态校准数据；
或者，当所述光经过所述具有检测单元的光开关单元的理论输出量根据所述光开关单元的有效传输系数得到，则固定除所述具有检测单元的光开关单元外的光开关单元，调节所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最大值；将所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最大值时，所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述具有检测单元的光开关单元的谐振状态校准数据。
在本实施例中，在确定光交换网络内的六个光开关单元的谐振状态校准数据之后，在使用光交换网络时，可以采用光交换网络内的六个光开关单元的谐振状态校准数据，对光交换网络内的六个光开关单元分别进行校准。
下面结合图1所示的含有检测单元的4×4无阻塞光交换网络对本申请实施例提供的检测方法进行举例说明。
图4为本申请实施例的光交换网络的检测方法的一种示例流程图。如图4所示，本示例性实施例提供的检测方法，包括以下处理：
S401、利用第四光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第一光开关单元的谐振状态校准数据。
基于图1，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第二光波导G2的端口2输入时，光交换网络的第一阶段和第二阶段的理论输出量如表1所示。
表1
输入端口 第一阶段 第二阶段
1 P<sub>0</sub>T<sub>1</sub> P<sub>0</sub>T<sub>1</sub>L<sub>3</sub>
2(P<sub>0</sub>) P<sub>0</sub>L<sub>1</sub> P<sub>0</sub>T<sub>1</sub>T<sub>3</sub>
3 0 P<sub>0</sub>L<sub>1</sub>L<sub>4</sub>
4 0 P<sub>0</sub>L<sub>1</sub>T<sub>4</sub>
在表1中，输入端口2的输入功率设为P0；T1表示第一光开关单元S1的有效传输系数，L1表示第一光开关单元S1的传输损耗系数；T3表示第三光开关单元S3的有效传输系数，L3表示第三光开关单元S3的传输损耗系数；T4表示第四光开关单元S4的有效传输系数，L4表示第四光开关单元S4的传输损耗系数。其中，关于有效传输系数和传输损耗系数的计算方式如前所述，故于此不再赘述。表1中第一阶段和第二阶段中每一行所表示的输出量分别对应图1中相应阶段从上至下每一行的输出量。第一阶段的输出量对应第一光开关单元S1和第二光开关单元S2的输出量，第二阶段的输出量对应第三光开关单元S3和第四光开关单元S4的输出量。
根据表1可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第二光波导G2的端口2输入，且输入功率为P0，则在第一阶段的第二端(对应表1中的第一阶段的第二行)输出为P0L1，第二阶段的第四端(对应表1中的第二阶段的第四行)输出为P0L1T4。这两端的输出功率都含P0L1部分，因此，可以通过固定第四光开关单元S4的状态，调节第一光开关单元S1的电极加热数据(即，第一光开关单元S1内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第四端的输出P0L1T4达到最小值，此时L1最小，即第四光开关单元S4的检测单元产生的光电流处于最小值，代表第一光开关单元S1内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第一光开关单元S1内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第一光开关单元S1的谐振状态校准数据。
S402、利用第四光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第四光开关单元的谐振状态校准数据。
本示例中，在调整第一光开关单元S1的电极加热电压之后，可以保持第一光开关单元S1的状态，调节第四光开关单元S4自身的电极加热数据(即，第四光开单元S4内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使其输出P0L1T4达到最大值，此时T4达到最大，第四光开关单元S4的检测单元产生的光电流也会达到最大值，代表第四光开关单元S4内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第四光开关单元S4内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第四光开关单元S4的谐振状态校准数据。
S403、利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第二光开关单元的谐振状态校准数据。
基于图1，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第三光波导G3的端口3输入时，光交换网络的第一阶段和第二阶段的理论输出量如表2所示。
表2
输入端口 第一阶段 第二阶段
1 0 P<sub>0</sub>L<sub>2</sub>T<sub>3</sub>
2 0 P<sub>0</sub>L<sub>2</sub>L<sub>3</sub>
3(P<sub>0</sub>) P<sub>0</sub>L<sub>2</sub> P<sub>0</sub>T<sub>2</sub>T<sub>4</sub>
4 P<sub>0</sub>T<sub>2</sub> P<sub>0</sub>T<sub>2</sub>L<sub>4</sub>
在表2中，输入端口3的输入功率设为P0；T2表示第二光开关单元S2的有效传输系数，L2表示第二光开关单元S2的传输损耗系数；T3表示第三光开关单元S3的有效传输系数，L3表示第三光开关单元S3的传输损耗系数；T4表示第四光开关单元S4的有效传输系数，L4表示第四光开关单元S4的传输损耗系数。关于表2的相关说明可以参照表1的描述，故于此不再赘述。
根据表2可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第三光波导G3的端口3输入，且输入功率为P0，在第一阶段的第三端(对应表2中的第一阶段的第二行)输出为P0L2，第二阶段的第一端(对应表2中的第二阶段的第一行)的输出为P0L2T3。这两端的输出功率都含P0L2部分，因此，可以通过固定第三光开关单元S3的状态，调节第二光开关单元S2的电极加热数据(即，第二光开关单元S2内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第一端的输出P0L2T3达到最小值，此时L2最小，即第三光开关单元S3的检测单元产生的光电流处于最小值，代表第二光开关单元S2内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第二光开关单元S2内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第二光开关单元S2的谐振状态校准数据。
S404、利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第三光开关单元的谐振状态校准数据。
本示例中，在调整第二光开关单元S2的电极加热电压之后，可以保持第二光开关单元S2的状态，调节第三光开关单元S3自身的电极加热数据(即，第三光开单元S3内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使其输出P0L2T3达到最大值，此时T3达到最大，第三光开关单元S3的检测单元产生的光电流也会达到最大值，代表第三光开关单元S3内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第三光开关单元S3内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第三光开关单元S3的谐振状态校准数据。
在本示例性实施例中，由于从图1中左端输入到第三阶段(对应第五光开关单元S5和第六光开关单元S6)的输出结果太过复杂，因此，可以采用从右端的端口1*和端口4*输入，并按照上述方式确定第五光开关单元S5和第六光开关单元S6的谐振状态校准数据。
S405、利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第五光开关单元的谐振状态校准数据。
基于图1，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第一光波导G1的端口1*输入时，光交换网络的第一阶段和第二阶段的理论输出量如表3所示。
表3
输入端口 第一阶段 第二阶段
1*(P<sub>0</sub>) P<sub>0</sub>L<sub>5</sub> P<sub>0</sub>L<sub>5</sub>L<sub>3</sub>
2* P<sub>0</sub>T<sub>5</sub> P<sub>0</sub>L<sub>5</sub>T<sub>3</sub>
3* 0 P<sub>0</sub>T<sub>5</sub>L<sub>4</sub>
4* 0 P<sub>0</sub>T<sub>5</sub>T<sub>4</sub>
在表3中，输入端口1*的输入功率设为P0；T5表示第五光开关单元S5的有效传输系数，L5表示第五光开关单元S5的传输损耗系数；T3表示第三光开关单元S3的有效传输系数，L3表示第三光开关单元S3的传输损耗系数；T4表示第四光开关单元S4的有效传输系数，L4表示第四光开关单元S4的传输损耗系数。其中，关于有效传输系数和传输损耗系数的计算方式如前所述，故于此不再赘述。表3中第一阶段和第二阶段中每一行所表示的输出量分别对应图1中相应阶段从上至下每一行的输出量。第一阶段的输出量对应第五光开关单元S5和第六光开关单元S6的输出量，第二阶段的输出量对应第三光开关单元S3和第四光开关单元S4的输出量。
根据表3可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第一光波导G1的端口1*输入，且输入功率为P0，则在第一阶段的第一端(对应表3中的第一阶段的第一行)输出为P0L5，第二阶段的第二端(对应表1中的第二阶段的第二行)输出为P0L5T3。这两端的输出功率都含P0L5部分，因此，可以通过固定第三光开关单元S3的状态，调节第五光开关单元S5的电极加热数据(即，第五光开关单元S5内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第二端的输出P0L5T3达到最小值，此时L5最小，即第三光开关单元S3的检测单元产生的光电流处于最小值，代表第五光开关单元S5内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第五光开关单元S5内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第五光开关单元S5的谐振状态校准数据。
S406、利用第四光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第六光开关单元的谐振状态校准数据。
基于图1，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第四光波导G4的端口4*输入时，光交换网络的第一阶段和第二阶段的理论输出量如表4所示。
表4
输入端口 第一阶段 第二阶段
1* 0 P<sub>0</sub>T<sub>6</sub>T<sub>3</sub>
2* 0 P<sub>0</sub>T<sub>6</sub>L<sub>3</sub>
3* P<sub>0</sub>T<sub>6</sub> P<sub>0</sub>L<sub>6</sub>T<sub>4</sub>
4*(P<sub>0</sub>) P<sub>0</sub>L<sub>6</sub> P<sub>0</sub>L<sub>6</sub>L<sub>4</sub>
在表4中，输入端口4*的输入功率设为P0；T6表示第六光开关单元S6的有效传输系数，L6表示第六光开关单元S6的传输损耗系数；T3表示第三光开关单元S3的有效传输系数，L3表示第三光开关单元S3的传输损耗系数；T4表示第四光开关单元S4的有效传输系数，L4表示第四光开关单元S4的传输损耗系数。关于表4的相关说明可以参照表3的描述，故于此不再赘述。
根据表4可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第四光波导G4的端口4*输入，且输入功率为P0，则在第一阶段的第四端(对应表4中的第一阶段的第四行)输出为P0L6，第二阶段的第三端(对应表4中的第二阶段的第三行)的输出为P0L6T4。这两端的输出功率都含P0L6部分，因此，可以通过固定第四光开关单元S4的状态，调节第六光开关单元S6的电极加热数据(即，第六光开关单元S6内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第三端的输出P0L6T4达到最小值，此时L6最小，即第四光开关单元S4的检测单元产生的光电流处于最小值，代表第六光开关单元S6内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第六光开关单元S6内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第六光开关单元S6的谐振状态校准数据。
在本示例性实施例中，利用4个检测单元，可以确定整个光交换网络中6个光开关单元的谐振状态校准数据。在下次使用光交换网络时，可以采用记录的谐振状态校准数据对光交换网络进行快速校准，即，采用谐振状态校准数据调整各个微环谐振器的电极加热数据，支持微环谐振器达到最佳的谐振状态。
需要说明的是，本申请对于各个光开关单元的谐振状态校准数据的确定顺序并不限定。比如，可以先确定第五光开关单元和第六光开关单元的谐振状态校准数据，然后，确定第三光开关单元和第四光开关单元的谐振状态校准数据，最后确定第一光开关单元和第二光开关单元的谐振状态校准数据。或者，先确定第三光开关单元和第四光开关单元的谐振状态校准数据，再依次确定第一光开关单元、第二光开关单元、第五光开关单元以及第六光开关单元的谐振状态校准数据。
需要说明的是，在其他实现方式中，也可以采用端口1、端口4、端口2*或者端口3*作为输入端口。然而，本申请对此并不限定。
需要说明的是，在其他实现方式中，可以利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第一光开关单元的谐振状态校准数据；或者，可以利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第六光开关单元的谐振状态校准数据；或者，可以利用第四光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第二光开关单元的谐振状态校准数据；或者，可以利用第四光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第五光开关单元的谐振状态校准数据。
下面以利用第三光开关单元内微环谐振器中的检测单元，确定第一光开关单元的谐振状态校准数据为例进行说明。
在一种示例中，根据表1可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第二光波导G2的端口2输入，且输入功率为P0，则在第一阶段的第一端(对应表1中的第一阶段的第一行)输出为P0T1，第二阶段的第一端(对应表1中的第二阶段的第一行)输出为P0T1L3。这两端的输出功率都含P0T1部分，因此，可以通过固定第三光开关单元S3的状态，调节第一光开关单元S1的电极加热数据(即，第一光开关单元S1内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第一端的输出P0T1L3达到最大值，此时T1最大，即第三光开关单元S3的检测单元产生的光电流处于最大值，代表第一光开关单元S1内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第一光开关单元S1内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第一光开关单元S1的谐振状态校准数据。
在一种示例中，基于图1，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第一光波导G1的端口1输入时，光交换网络的第一阶段和第二阶段的理论输出量如表5所示。
表5
输入端口 第一阶段 第二阶段
1(P<sub>0</sub>) P<sub>0</sub>L<sub>1</sub> P<sub>0</sub>L<sub>1</sub>L<sub>3</sub>
2 P<sub>0</sub>T<sub>1</sub> P<sub>0</sub>L<sub>1</sub>T<sub>3</sub>
3 0 P<sub>0</sub>T<sub>1</sub>L<sub>4</sub>
4 0 P<sub>0</sub>T<sub>1</sub>T<sub>4</sub>
关于表5的相关说明可以参照表1的说明，故于此不再赘述。
根据表5可知，当光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态，光从第一光波导G1的端口1输入，且输入功率为P0，则在第一阶段的第一端(对应表1中的第一阶段的第一行)输出为P0L1，第二阶段的第二端(对应表1中的第二阶段的第二行)输出为P0L1T3。这两端的输出功率都含P0L1部分，因此，可以通过固定第三光开关单元S3的状态，调节第一光开关单元S1的电极加热数据(即，第一光开关单元S1内的两个微环谐振器的加热电极上的加热电压值)，使第二阶段的第二端的输出P0L1T3达到最小值，此时L1最小，即第三光开关单元S3的检测单元产生的光电流处于最小值，代表第一光开关单元S1内的微环谐振器达到最佳的谐振状态。然后，可以记录第一光开关单元S1内的微环谐振器处于最佳的谐振状态时对应的电极加热数据，作为第一光开关单元S1的谐振状态校准数据。
本实施例中，可以通过选择不同的端口作为输入端口，来选择合适的检测单元对光开关单元进行检测。然而，本申请对此并不限定。
此外，本实施例提供的检测方法可以由光交换网络内的光开关单元的控制装置实施，通过控制装置对光交换网络中的各个光开关单元的电极加热数据进行调节和记录。
此外，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现如上所述的检测方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。

Claims (10)

1.一种光交换网络的检测方法，所述光交换网络包括四个光波导和六个光开关单元；所述四个光波导和六个光开关单元形成4×4的Benes网络，所述六个光开关单元分成三个阶段，每个光开关单元包括两个串联的微环谐振器，第二阶段的两个光开关单元内的每个微环谐振器具有检测单元；
所述检测方法，包括：
利用所述光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定所述六个光开关单元的谐振状态校准数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二阶段的两个光开关单元内微环谐振器中的检测单元由含有缺陷态的掺杂区形成。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二阶段的任一光开关单元内两个微环谐振器中的检测单元的位置相互交错。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述利用所述光交换网络内第二阶段的两个光开关单元内的检测单元，确定所述六个光开关单元的谐振状态校准数据，包括：
针对第二阶段的任一光开关单元，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据；
针对第一阶段或第三阶段的任一光开关单元，利用第二阶段的任一个光开关单元内的检测单元，确定所述第一阶段或第三阶段的光开关单元的谐振状态校准数据。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述针对第一阶段或第三阶段的任一光开关单元，利用第二阶段的任一个光开关单元内的检测单元，确定所述第一阶段或第三阶段的光开关单元的谐振状态校准数据，包括：
针对第一阶段或第三阶段中任一个待检测的光开关单元，选择一个端口输入光，基于所述光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，选择适用于检测所述待检测的光开关单元的第二阶段的一个光开关单元；利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据，包括：
当选择所述待检测的光开关单元的传输损耗量输入的一个第二阶段的光开关单元用于检测所述待检测的光开关单元，则固定除所述待检测的光开关单元之外的光开关单元的状态，调节所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最小值；将在所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最小值时，所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述利用所选择的第二阶段的光开关单元内的检测单元，确定所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据，包括：
当选择所述待检测的光开关单元的有效传输量输入的一个第二阶段的光开关单元用于检测所述待检测的光开关单元，则固定除所述待检测的光开关单元之外的光开关单元的状态，调节所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最大值；将在所选择的第二阶段的光开关单元内检测单元产生的光电流达到最大值时，所述待检测的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述待检测的光开关单元的谐振状态校准数据。
8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述针对第二阶段的任一光开关单元，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据，包括：
针对第二阶段的任一个光开关单元，选择一个端口输入光，基于所述光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述基于所述光交换网络内的微环谐振器均处于谐振状态时所述光的传输路径，利用所述光开关单元自身具有的检测单元，确定自身的谐振状态校准数据，包括：
当所述光经过所述具有检测单元的光开关单元的理论输出量根据所述光开关单元的传输损耗系数得到，则固定除所述具有检测单元的光开关单元外的光开关单元，调节所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最小值；将所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最小值时，所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述具有检测单元的光开关单元的谐振状态校准数据；
或者，当所述光经过所述具有检测单元的光开关单元的理论输出量根据所述光开关单元的有效传输系数得到，则固定除所述具有检测单元的光开关单元外的光开关单元，调节所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，使得所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最大值；将所述具有检测单元的光开关单元中检测单元产生的光电流达到最大值时，所述具有检测单元的光开关单元中微环谐振器的电极加热数据，作为所述具有检测单元的光开关单元的谐振状态校准数据。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的检测方法的步骤。
CN201910505562.4A 2019-06-12 2019-06-12 一种光交换网络的检测方法 Active CN112087259B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910505562.4A CN112087259B (zh) 2019-06-12 2019-06-12 一种光交换网络的检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910505562.4A CN112087259B (zh) 2019-06-12 2019-06-12 一种光交换网络的检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112087259A true CN112087259A (zh) 2020-12-15
CN112087259B CN112087259B (zh) 2023-08-25

Family

ID=73734447

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910505562.4A Active CN112087259B (zh) 2019-06-12 2019-06-12 一种光交换网络的检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112087259B (zh)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112799174A (zh) * 2021-04-06 2021-05-14 中国电子科技集团公司信息科学研究院 一种可调谐光滤波器
CN113031162A (zh) * 2021-03-15 2021-06-25 中国科学院半导体研究所 光学滤波器
CN113031164A (zh) * 2021-03-15 2021-06-25 中国科学院半导体研究所 光滤波器结构和光学滤波器
CN113176497A (zh) * 2021-04-21 2021-07-27 之江实验室 一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法
CN114019611A (zh) * 2021-11-16 2022-02-08 北京邮电大学 一种基于微环谐振器的波长选择性光延时线
CN115372779A (zh) * 2022-08-18 2022-11-22 无锡芯光互连技术研究院有限公司 一种热光开关阵列工作状态测试方法及装置
CN115799098A (zh) * 2022-11-15 2023-03-14 之江实验室 一种芯片的校准方法、装置、存储介质及电子设备

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016122464A1 (en) * 2015-01-27 2016-08-04 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Tunable microring resonator switches
US20160356959A1 (en) * 2015-06-05 2016-12-08 Huawei Technologies Canada Co., Ltd. Tunable Optical Element
WO2017016054A1 (zh) * 2015-07-27 2017-02-02 电子科技大学 一种自动测试微环芯片电控特性的装置
WO2018104938A1 (en) * 2016-12-05 2018-06-14 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Ltd. A radio-frequency (rf) system and a method thereof
WO2018141084A1 (en) * 2017-02-03 2018-08-09 Huawei Technologies Co., Ltd. Apparatus and method for cell calibration of optical switch matrix
US10215925B1 (en) * 2018-08-22 2019-02-26 Mcmaster University Systems and methods for resonance stabilization of microring resonator

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016122464A1 (en) * 2015-01-27 2016-08-04 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Tunable microring resonator switches
US20160356959A1 (en) * 2015-06-05 2016-12-08 Huawei Technologies Canada Co., Ltd. Tunable Optical Element
WO2017016054A1 (zh) * 2015-07-27 2017-02-02 电子科技大学 一种自动测试微环芯片电控特性的装置
WO2018104938A1 (en) * 2016-12-05 2018-06-14 Yissum Research Development Company Of The Hebrew University Of Jerusalem Ltd. A radio-frequency (rf) system and a method thereof
WO2018141084A1 (en) * 2017-02-03 2018-08-09 Huawei Technologies Co., Ltd. Apparatus and method for cell calibration of optical switch matrix
US10215925B1 (en) * 2018-08-22 2019-02-26 Mcmaster University Systems and methods for resonance stabilization of microring resonator

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113031162A (zh) * 2021-03-15 2021-06-25 中国科学院半导体研究所 光学滤波器
CN113031164A (zh) * 2021-03-15 2021-06-25 中国科学院半导体研究所 光滤波器结构和光学滤波器
CN113031162B (zh) * 2021-03-15 2022-08-05 中国科学院半导体研究所 光学滤波器
CN112799174A (zh) * 2021-04-06 2021-05-14 中国电子科技集团公司信息科学研究院 一种可调谐光滤波器
CN112799174B (zh) * 2021-04-06 2021-06-25 中国电子科技集团公司信息科学研究院 一种可调谐光滤波器
CN113176497A (zh) * 2021-04-21 2021-07-27 之江实验室 一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法
CN113176497B (zh) * 2021-04-21 2022-05-27 之江实验室 一种集成光交换芯片中开关单元的校准方法
CN114019611A (zh) * 2021-11-16 2022-02-08 北京邮电大学 一种基于微环谐振器的波长选择性光延时线
CN115372779A (zh) * 2022-08-18 2022-11-22 无锡芯光互连技术研究院有限公司 一种热光开关阵列工作状态测试方法及装置
CN115372779B (zh) * 2022-08-18 2024-04-05 无锡芯光互连技术研究院有限公司 一种热光开关阵列工作状态测试方法及装置
CN115799098A (zh) * 2022-11-15 2023-03-14 之江实验室 一种芯片的校准方法、装置、存储介质及电子设备
CN115799098B (zh) * 2022-11-15 2023-10-03 之江实验室 一种芯片的校准方法、装置、存储介质及电子设备

Also Published As

Publication number Publication date
CN112087259B (zh) 2023-08-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112087259B (zh) 一种光交换网络的检测方法
US6542655B1 (en) N×N crossconnect switch using wavelength routers and space switches
CN109709644B (zh) 一种基于soi材料制备的跑道型微环2×4热光开关
Ganbold et al. A large-scale optical circuit switch using fast wavelength-tunable and bandwidth-variable filters
EP3730981B1 (en) Method and apparatus for wavelength calibration of a microring filter
WO2018141084A1 (en) Apparatus and method for cell calibration of optical switch matrix
CN112383357B (zh) 一种空分复用光交换节点的功率均衡装置
CN103248578B (zh) 一种面向胖树型拓扑结构的8×8光交换阵列
Zhao et al. Bi-directional Benes with large port-counts and low waveguide crossings for optical network-on-chip
CN106936708B (zh) NxN波长路由网络拓扑、光子集成芯片及光路由器
CN104317000A (zh) 模块化可扩展的波长和空间全光路由器
CN204203497U (zh) 一种模块化可扩展的波长和空间全光路由器
Li et al. Colorless, partially directional, and contentionless architecture for high-degree ROADMs
CN108650187B (zh) 一种基于串联双环谐振器的4×4无阻塞波长选择路由器
CN204203498U (zh) 一种模块化可扩展的全光路由器
CN114019611B (zh) 一种基于微环谐振器的波长选择性光延时线
CN115412166A (zh) 基于Benes网络的大规模开光单元自动测试方法和装置
CN108307253B (zh) 一种光开关矩阵和光通信系统
CN115955620B (zh) 基于Banyan网络硅基光交换芯片中开关单元的校准方法
Zhao et al. Making Path Selection Bright: A Routing Algorithm for On-Chip Benes Networks
CN204270002U (zh) 一种模块化可扩展的n2×n2波长和空间全光路由器
CN107079205A (zh) Pic型光开关矩阵的路由配置方法及装置
CN104317137A (zh) 模块化可扩展的n2×n2波长和空间全光路由器
Konoike et al. 5.7-dB fiber-to-fiber loss 8× 8 silicon photonics switch with port-alternated switch-and-select architecture
Cheng et al. Advanced routing strategy with highly-efficient fabric-wide characterization for optical integrated switches

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant